APFとは 意味・読み方・使い方

To provide a method for calculating year-round energy consumption efficiency (APF) considering indoor sensible heat load and latent heat load, and provide a method for evaluating energy saving performance of a ventilation air conditioning system based on the APF.例文帳に追加

室内の顕熱負荷及び潜熱負荷を考慮した通年エネルギー消費効率（ＡＰＦ）の算出方法を提案し、このＡＰＦに基づいて、換気空調システムの省エネルギー性能を評価する方法を提供する。 - 特許庁

Image quality correction (APF) processing is applied to an image file saved in a memory card and an image after the APF processing is stored in the memory card (S110 and S120), and the reference destination of the image file is rewritten from the storage place (cluster number) of the body of original image data to the storage place (cluster number) of the body of the image data after the APF processing (S130).例文帳に追加

メモリーカード内に保存されている画像ファイルの画質補正（ＡＰＦ）処理を施してＡＰＦ処理後画像をメモリーカードに格納すると（Ｓ１１０，Ｓ１２０）共に画像ファイルの参照先を元画像データの本体の格納場所（クラスター番号）からＡＰＦ処理後画像データの本体の格納場所（クラスター番号）に書き換える（Ｓ１３０）。 - 特許庁

To provide animal product free (APF) media and processes for the culture and fermentation of botulinum toxin producing clostridium botulinum bacteria.例文帳に追加

動物性産物不含（ＡＰＦ）培地およびクロストリジウム・ボツリヌス菌バクテリアを産生するボツリヌス毒素の培養および発酵のための工程。 - 特許庁

To provide various chromatographic animal product free (APF) systems and processes for purifying a Clostridium toxin.例文帳に追加

クロストリジウム毒素を精製するための種々のクロマトグラフのＡＰＦシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

As a result of the comparison, the coefficient which gives characteristics closest to the reverberation characteristics of the source sound field is set to the APF 320 corresponding to the band.例文帳に追加

比較の結果、最も原音場の残響特性に近い特性を与える係数が、その帯域に対応するＡＰＦ３２０に設定される。 - 特許庁

The APF 320 is an infinite impulse response type filter and is made variable in delay quantity and gain as coefficients.例文帳に追加

ＡＰＦ３２０は無限インパルス応答型フィルタであり、遅延量と利得とが係数として可変に構成されている。 - 特許庁

The surface of the wafer is aligned to the alignment plane APF, to detect the position on the wafer surface again by a part of the light sensor in this state.例文帳に追加

ウエハの表面をその追い込み面ＡＰＦに合わせ込み、この状態で受光センサの一部により、ウエハの表面の位置を再度検出する。 - 特許庁

The step on a wafer W is detected in advance, and an approximation surface APF that is approximated to the surface of the wafer W is obtained.例文帳に追加

予めウエハＷの段差状態を検出し、そのウエハＷの表面に近似する近似平面ＡＰＦを求める。 - 特許庁