first sample inspectionとは 意味・読み方・使い方

The sample chamber 10 of a diffusibility evaluation device 1000 is separated into a first chamber 12 constituted so as to allow air to flow as inspection gas containing oxygen being a detection gas and a second chamber 11 for allowing nitrogen as a feed gas containing no detection gas by installing a first sample 20b of a water-containing state and a second sample 20a.例文帳に追加

拡散性評価装置１０００の試料室１０は、含水状態の第１試料２０ｂ、および、第２試料２０ａが設置されることによって、検知ガスとしての酸素を含む検査ガスとしての空気を流す第１室１２と、検知ガスを含まない搬送ガスとしての窒素を流す第２室１１に分離される。 - 特許庁

The first measurement signal s_i represents a part of the analysis object captured by a first measurement area after the liquid sample has been set in the inspection system, and the second measurement signal s_j represents a part of the analysis object captured by a second measurement area disposed downstream of the first measurement area in the inspection system.例文帳に追加

第１の測定信号s_iは、検査システムに液体試料が設定された後に第１の測定エリアに捕捉された分析対象部分を表し、第２の測定信号s_jは、検査システム上において第１の測定エリアの下流に配置されている第２の測定エリアに捕捉された分析対象部分を表す。 - 特許庁

The device 1 for sperm inspection is provided with a vessel body 2 for storing a sample solution 5 containing a culture solution and semen and a first tube 3 and a second tube 4 that are connected to the vessel body 2 so as to penetrate the sample solution 5 to the insides and are transparent from the base ends to the tips.例文帳に追加

精子検査器１は、培養液と精液とを含んだ試料液５を収容する容器本体２と、試料液５が内部へ浸入可能に容器本体２に接続されると共に基端から先端まで透明である第１の管３及び第２の管４とを備える。 - 特許庁

In the inspection device using an electron beam, an electron beam deflection control circuit includes a first deflection circuit part generating a signal of a component in an electron beam running direction, and a second deflection circuit part generating a signal of a component in the moving direction of an inspection object sample, and further includes a setting means for independently setting deflection circuit characteristics of the first and second deflection circuit parts.例文帳に追加

電子ビームを用いた検査装置において、電子ビーム偏向制御回路は、電子ビーム走査方向成分の信号を生成する第一の偏向回路部と、被検査試料の移動方向成分の信号を生成する第二の偏向回路部を備え、前記第一及び第二の偏向回路部の偏向回路特性を独立に設定する設定手段を備える。 - 特許庁

A defect inspection device is provided with a first irradiating means S for irradiating a sample 9 by emitting primary electron beams, mapping optical mechanisms 11 to 13 or imaging secondary electrons emitted from the surface of the sample 9 irradiated with the secondary electron beams, a detector D for detecting the secondary electrons, and an image treatment mechanism 18 for treating signals from the detector D.例文帳に追加

欠陥検査装置は、一次電子線を放出して試料９を照射するための第１の照射手段Ｓと、一次電子線で照射された試料９の表面から放出された二次電子を結像させるための写像光学機構１１〜１３と、二次電子を検出するための検出器Ｄと、検出器Ｄからの信号を処理する画像処理機構１８とを具備する。 - 特許庁

In the automatic urinal inspection equipment 1 comprising a urine sampling mechanism 17 for sampling urine 27 contained in a urine sample container 10 and injecting it into a dispensation container 13, when urine of a patient is sampled for the first time after cleaning the dispensation container 13, interior of the dispensation container 13 of that patient is washed together with the urine 27 of a patient sampled at first.例文帳に追加

採尿容器１０に収容された尿２７をサンプリングして分注容器１３に注入する尿サンプリング機構１７を備えた自動蓄尿検査装置１において、前記分注容器１３の洗浄後、患者の尿を最初にサンプリングする際に、当該患者の分注容器１３の内部を、前記最初にサンプリングされた患者の尿２７によって共洗いするようにした。 - 特許庁

The first specimen, for example, a biological sample, is immobilized overall the surface of the matrix substrate within a preliminarily specified area, then another specifimen comprising different second and layer reagents is applied in this area in the form of individually independent spots to inspect the reactivity between dindividual samples whereby the multi-item inspection of the biological specimens can be simultaneously and efficiently carried out.例文帳に追加

基板上の予め規定された領域内の全面に、例えば検体生物試料である第１番目の試料を固定し、この領域に、この試料との反応性を検査する第２番目以降の異なる試薬からなる試料をそれぞれ独立のスポットとして付与して、各試料間での反応性を検定することで、検体生物試料の多項目検査を効率良く同時検定することができる。 - 特許庁