POLARIZATION INTERFERENCE MICROSCOPE例文帳に追加

偏光干渉顕微鏡 - 特許庁

SCANNING INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査干渉電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型干渉電子顕微鏡 - 特許庁

DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

微分干渉顕微鏡装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM INTERFERENCE DEVICE AND ELECTRON BEAM INTERFERENCE MICROSCOPE METHOD例文帳に追加

電子線干渉装置、および電子線干渉顕微方法 - 特許庁

An electron interference microscope images both the specimen and an interference pattern.発音を聞く 例文帳に追加

電子干渉顕微鏡は、試料と干渉パターンの両方を結像する。 - 科学技術論文動詞集

LUMINOUS FLUX CONTROLLER, INTERFERENCE DEVICE AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE例文帳に追加

光束制御装置、干渉装置及び微分干渉顕微鏡装置 - 特許庁

INTERFERENCE OBJECTIVE LENS, AND INTERFERENCE MICROSCOPE APPARATUS WITH INTERFERENCE OBJECTIVE LENS例文帳に追加

干渉対物レンズと、その干渉対物レンズを備える干渉顕微鏡装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM INTERFERENCE DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線干渉装置および電子顕微鏡 - 特許庁

DIFFERENTIAL INTERFERENCE OBSERVATION METHOD AND MICROSCOPE例文帳に追加

微分干渉観察方法及び顕微鏡 - 特許庁

TRANSMITTED ILLUMINATION TYPE DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE例文帳に追加

透過照明型微分干渉顕微鏡 - 特許庁

DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

微分干渉顕微鏡及び欠陥検査装置 - 特許庁

INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATION FOR THE SAME例文帳に追加

干渉顕微鏡及びその作動方法 - 特許庁

SUPERCONDUCTING QUANTUM INTERFERENCE ELEMENT MICROSCOPE SENSOR AND MANUFACTURE THEREOF例文帳に追加

超伝導量子干渉素子顕微鏡用センサーとその製造方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD例文帳に追加

画像処理装置、微分干渉顕微鏡、および、画像処理方法 - 特許庁

INTERFERENCE FRINGE PROJECTION OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE USING THIS OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

干渉縞投影光学系及びこの光学系を用いた顕微鏡 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL PHASE MEASUREMENT METHOD, AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE USED FOR SAME例文帳に追加

３次元位相計測方法とそれに使われる微分干渉顕微鏡 - 特許庁

X-RAY INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD FOR TESTING X-RAY REFLECTING MIRROR例文帳に追加

Ｘ線干渉顕微鏡およびＸ線反射鏡の検査方法 - 特許庁

To provide a differential interference microscope capable of miniaturizing a device configuration.例文帳に追加

装置構成を小型化できる微分干渉顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an interference objective lens for selecting easily and surely an interference image having an interference picture and a bright field image not superposed with the interference picture, and to provide an interference microscope equipped with the interference objective lens.例文帳に追加

干渉像を有する干渉画像と干渉像が重畳されていない明視野画像を容易、且つ確実に選択可能に取得できる干渉対物レンズと、その干渉対物レンズを備える干渉顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an interference objective lens having a high NA and a long operating distance as well as a simplified configuration, and to provide a microscope device having the interference objective lens.例文帳に追加

構成の簡素化を図りつつ、高ＮＡで、長作動距離を有する干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To form the differential interference image of matter without using an exclusive interference device (e.g., a Nomarski microscope or the like).例文帳に追加

専用の干渉装置（例えばノマルスキープリズムなど）を用いることなく物体の微分干渉画像を生成する。 - 特許庁

To provide a device which detects, in a short period of time, a quantity of phase change of an observation object from a differential interference image obtained by a differential interference microscope.例文帳に追加

観察物体の位相変化量等を微分干渉顕微鏡により得た微分干渉画像から短時間で検出する装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF FORMING TENSIONED AERIAL WIRING, CHARGED PARTICLE BEAM PRISM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, OBSERVING METHOD USING INTERFERENCE FRINGE OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF FORMING INTERFERENCE FRINGE IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

緊張化した空中配線の形成方法、荷電粒子線プリズムとその製造方法、荷電粒子線の干渉縞を用いた観察方法、電子顕微鏡および電子顕微鏡における干渉縞の形成方法 - 特許庁

To facilitate the operation for setting an optical fiber axis in parallel with an optical axis of an interference microscope, when an end surface of the optical fiber is to be observed with the interference microscope.例文帳に追加

干渉顕微鏡により光ファイバ端面を観察する際のその光ファイバ軸を干渉顕微鏡の光軸に平行にセットする作業を容易化する。 - 特許庁

To provide an interference microscope which makes it possible to obtain a phase state of light to be subjected to interference in an object region and makes it possible to easily adjust (or control) the interference microscope at a low cost in accordance therewith and a method of operation for the same.例文帳に追加

物体領域において干渉を行う光の位相状態を求めることを可能にし、それに基づいて干渉顕微鏡の容易かつ低コストの調節（ないし制御）が可能となる干渉顕微鏡及びその作動方法を提供すること。 - 特許庁

This optical deflection unit 5 is insertably and removably disposed within the optical paths of the vertically illuminating light projection tube, differential interference microscope and polarizing microscope, by which the inexpensive vertically illuminating light projection tube, differential interference microscope and polarizing microscope capable of making the sharp color observation can be achieved without providing the space and mechanical structure for arranging the phase plate 2, such as the sharp color plate.例文帳に追加

この光偏向ユニット５を落射投光管、微分干渉顕微鏡、偏光顕微鏡の光路内外に挿脱可能に備えることで、安価で、鋭敏色板等の位相射板を配置するスペースやメカ構造を設けることなく鋭敏色観察を行うことが可能な落射投光管、微分干渉顕微鏡、偏光顕微鏡を達成することができる。 - 特許庁

The polarization interference microscope (1) for imaging the objects (5) comprises a light source (2), an illumination beam path (6), an imaging beam path (7) and an objective (4).例文帳に追加

対象物（５）を結像するための偏光干渉顕微鏡（１）は、光源（２）、照明ビーム路（６）、結像ビーム路（７）及び対物レンズ（４）を備える。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope which permits easy changing of observation conditions without requiring intricate operations, such as mechanical actions.例文帳に追加

機械的な動作などの煩雑な操作を必要とすることなく、観察条件を容易に変更できる微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an interference microscope capable of quantitatively detecting the phase distribution of an object to be checked with a simple device constitution.例文帳に追加

簡易な装置構成でありながら、被検物の位相分布を定量的に検出することのできる干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

First of all, an observation image of the electrode pad 3 through a transparent mounting substrate 1 by a differential interference microscope 8 is acquired as electronic image data.例文帳に追加

まず、微分干渉顕微鏡８による透明な実装基板１を介した電極パッド３の観察像を、電子画像データとして得る。 - 特許庁

The mounted position of the electronic component 2 to the electrode pad 3 is inspected from an observation image of the differential interference microscope 8.例文帳に追加

そうして、微分干渉顕微鏡８の観察像から電極パッド３に対する電子部品２の実装位置を検査する。 - 特許庁

When observed with a polarizing microscope, a cross (interference ring) indicating that starch is not gelatinized can be seen.例文帳に追加

偏光顕微鏡で観察するとデンプンが糊化していないことを示す十字（干渉輪）を見ることができる。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope capable of picking up the image of a defect without depending on the directivity of the defect even when it is the defect having the directivity.例文帳に追加

方向性を有する欠陥であっても、欠陥の方向性に依存することなく欠陥像を撮像できる微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope fabricated by using a birefringent optical member which is simply manufactured and has satisfactory performance.例文帳に追加

製造が簡単で性能のよい複屈折光学部材を使用した微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a photoelectric sensor, from which the influence of interference fringe is removed, and to provide a pattern-inspecting device using the sensor, a microscope and the manufacturing method of a mask.例文帳に追加

干渉縞の影響を除去した光電センサと、それを用いたパターン検査装置、顕微鏡およびマスクの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a relay optical system with which an image pickup unit is attached to a microscope without causing structural interference between the microscope and the image pickup unit.例文帳に追加

顕微鏡と撮像装置とが構造的な干渉を起こすことなく顕微鏡に撮像装置を装着できるようにするリレー光学系を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic treatment device for operation capable of shielding the view of a microscope even when the device is used with the microscope, preventing interference with a microscope or other treatment device, and conducting precise operation without generating sense of incongruity.例文帳に追加

顕微鏡とともに使用された場合でも顕微鏡の視野を遮ることがなく、また、顕微鏡や他の処置具との干渉を防止できるとともに、微細な操作を違和感なく行なうことができる手術用超音波処置具の提供を目的としている。 - 特許庁

To provide an easy-to-operate differential interference microscope, capable of moving a Nomarski prism to a desired position on an optical axis interlocked with the switching of an objective at observation of differential interference.例文帳に追加

微分干渉観察時に対物レンズの切換えに連動させてノマルスキープリズムを光軸上の所望位置に移動させることができる操作の容易な微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the differential interference microscope, the differential interference image of a sample is picked up by an imaging apparatus (11) and its video signal is output to an image processing device.例文帳に追加

本発明による微分干渉顕微鏡は、試料の微分干渉像を撮像装置(11)により撮像し、その映像信号を画像処理装置に出力する。 - 特許庁

A differential interference microscope 3 and a CCD camera 4 of the surface defect inspection apparatus 1 image the surface of an information recording medium to be inspected M for acquiring differential interference images.例文帳に追加

表面欠陥検査装置１の微分干渉顕微鏡３とＣＣＤカメラ４で検査対象物Ｍの情報記録媒体表面の微分干渉画像を撮像する。 - 特許庁

The shape of the surface of a disk 10 is captured as an image due to interference by using a differential interference microscope constituted of an optical detection head 16 and an analyser 22 and this image is converted to an electric signal by a photodiode 28.例文帳に追加

光学検出ヘッド１６〜検光子２２で構成される微分干渉顕微鏡を用いてディスク１０表面の形状を干渉による画像として捕らえ、この画像をホトダイオード２８で電気信号に変換する。 - 特許庁

To provide a luminous flux controller with which shear is easily, accurately and continuously varied without requiring any mechanical mechanism, and to provide an interference device and a differential interference microscope.例文帳に追加

機械的な機構を必要とせずに、容易にシア量を精度良く連続的に変化させることができる光束制御装置、干渉装置及び微分干渉顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁