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structural probeとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 構造プローブ
「structural probe」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 26件
FINE STRUCTURAL BODY, CANTILEVER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MEASURING AMOUNT OF DEFORMATION OF THE FINE STRUCTURAL BODY例文帳に追加
微細構造体、カンチレバー、走査型プローブ顕微鏡及び微細構造体の変形量測定方法 - 特許庁
The electromagnetic radiation heats the probe, supplementing the heat generated by friction between the probe and the structural member 62, and thereby increasing the speed at which the probe can be used to frictionally weld the structural materials.例文帳に追加
電磁放射はプローブを加熱し、プローブと構造部材62間の摩擦によって生成した熱を補足し、プローブによって構造部材を摩擦溶接する速度を高めることができる。 - 特許庁
A probe is constructed from the luminescent element by laminating the luminescent element onto a structural support layer.例文帳に追加
プローブはルミネセンス要素から成り、ルミネセンス要素は構造的サポート層上に積層される。 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING CARBON NANO-STRUCTURAL MATERIAL, FIELD EMISSION DISPLAY AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
カーボンナノ構造材の製造方法、フィールドエミッションディスプレイおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope that can easily scan a probe in XY directions, can perform control for bringing the probe closer to a sample surface, and can measure the undercut structural section of a sample.例文帳に追加
探針のXY方向へ走査および試料表面へ接近させる制御が簡単で、試料のアンダカット構造部分の計測が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
A sample processing means 3 is provided in opposed relation to the sample probe part 2 of the observation device of the nanolevel structural composition.例文帳に追加
ナノレベル構造組成観察装置内の試料探針部2に対向する形で、試料加工手段3を備える。 - 特許庁
To facilitate the alignment of a sample probe while preventing contamination or oxidation in the atmosphere in an observation device of a nanolevel structural composition and an observation method of the nanolevel structural composition.例文帳に追加
ナノレベル構造組成観察装置及びナノレベル構造組成観察方法に関し、試料探針の位置合わせを容易にするとともに、大気中での汚染や酸化を防止する。 - 特許庁
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「structural probe」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 26件
To enhance structural strength of a contact probe made to abut against a micro-fine electrode pad on an inspection object.例文帳に追加
検査対象物上の微細な電極パッドに当接させるコンタクトプローブの構造的強度を向上させることを目的とする。 - 特許庁
To provide a scanning type probe microscope allowing observation on real time, a structural change of one biomolecule caused by a biochemical reaction.例文帳に追加
生化学反応に起因して起こる生体分子一個の構造変化を実時間で観測し得る走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
In another structural example, a probe is placed in the inhibited space to transmit a radio wave from a mobile phone, and a normal electric field response is found.例文帳に追加
別の態様では、禁止領域にプローブを設け、携帯電話機から電波を発信し、定常的な電界応答が求められる。 - 特許庁
If the permeable membrane 1 has a structural defect such as a pinhole, helium flows out to the gas flow passage 3 side through the structural defect portion and reaches the sniffer probe 6 before it permeates the peripheral wall section.例文帳に追加
しかしながら、透過膜1にピンホール等の構造欠陥が存在する場合、ヘリウムは周壁部を透過するよりも先に構造欠陥部分を通じてガス流通経路3側に流出し、スニファープローブ6に入る。 - 特許庁
The strength, toughness, and fatigue resistance of the structural member in the region is improved by mixing the region of the structural member having the comparatively high operating stress by a rolling friction agitation welding probe and by locally refining the crystal grain structure of the structural member in the region having the high operating stress.例文帳に追加
比較的高い動作応力を有する構造部材の領域が回転摩擦攪拌溶接プローブで混合され、高い動作応力の領域内で構造部材の結晶粒構造を局所的に微細化することにより、領域における構造部材の強度、強靭性および耐疲労性を改良する。 - 特許庁
The Pt containing compound used for nucleic acid probe marking for hybridization expressed by structural formula 1 or 2, and have chemical formulas {PtII(w) (x) (y) (z)} or {PtIV(u) (v) (w) (x) (y) (z)}.例文帳に追加
下記の構造式1または2で表わされ、化学式{PtII(w)(x)(y)(z)}または{PtIV(u)(v)(w)(x)(y)(z)}を持つハイブリダイゼーションに用いる核酸プローブ標式用のPt含有化合物である。 - 特許庁
Detection is carried out by means of this magnetic field sensor structured by passing a probe, which is constructed of a structural material covered with a thin film high magnetic permeability soft magnetic body, through an opened hole on the inside of a coil.例文帳に追加
薄膜の高透磁率軟磁性体で覆われた構造材で構成された探針をコイルの内側の開いた穴を貫通した構造の磁界センサで検出する。 - 特許庁
In the method of inspecting semiconductor devices, while a plurality of electrode pads for a semiconductor device to be inspected are brought into direct contact with a plurality of corresponding probes, formed on a probe structural body to be electrically connected thereto, the board for inspecting semiconductor devices with a pass capacitor formed thereon is used for the probe structural body, to inspect the electrical characteristics.例文帳に追加
検査対象である半導体装置の複数の電極パッドとプローブ構造体上に形成された複数のプローブを個々に直接接触させて、電気的に接続しながら半導体装置を検査する方法において、前記プローブ構造体にパスコンデンサを形成した半導体装置検査用基板を用いて電気的特性検査を行う。 - 特許庁
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