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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "たかさけい"に関連した英語例文

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"たかさけい"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 91



例文

簡易高さ計例文帳に追加

SIMPLE HEIGHT METER - 特許庁

高さ計測装置例文帳に追加

HEIGHT MEASURING APPARATUS - 特許庁

高さ計測方法例文帳に追加

HEIGHT MEASUREMENT METHOD - 特許庁

高さ形状センサ例文帳に追加

HEIGHT PROFILE SENSOR - 特許庁

例文

基板高さ計測方法例文帳に追加

SUBSTRATE HEIGHT MEASURING METHOD - 特許庁


例文

高さ計測装置及び高さ計測方法例文帳に追加

HEIGHT MEASUREMENT INSTRUMENT AND HEIGHT MEASUREMENT METHOD - 特許庁

物体の三次元高さ計測方法例文帳に追加

THREE-DIMENSIONAL HEIGHT MEASURING METHOD FOR OBJECT - 特許庁

高さ計測装置及び監視装置例文帳に追加

HEIGHT MEASURING APPARATUS AND MONITORING DEVICE - 特許庁

高さ計測装置及び監視装置例文帳に追加

HEIGHT MEASURING APPARATUS AND MONITORING APPARATUS - 特許庁

例文

路面変動高さ計測装置および路面変動高さ計測方法例文帳に追加

ROAD SURFACE FLUCTUATION HEIGHT MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING FLUCTUATION HEIGHT OF ROAD SURFACE - 特許庁

例文

車両に移動距離計15と高さ計16と高さ計51と演算部20とを搭載する。例文帳に追加

The movement distance meter 15, height meters 16 and 51 and a calculation part 20 are mounted on the vehicle. - 特許庁

重心高さ計測装置、自動車検査システム、及び重心高さ計測方法例文帳に追加

GRAVITY CENTER HEIGHT MEASURING DEVICE, VEHICLE INSPECTION SYSTEM, AND GRAVITY CENTER HEIGHT MEASURING METHOD - 特許庁

球体または半球体の高さ計測方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING HEIGHT OF SPHERE OR HEMISPHERE - 特許庁

半田高さ計測装置およびその方法例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SOLDER HEIGHT - 特許庁

光モジュールおよびそのはんだ接続高さ計測方法例文帳に追加

OPTICAL MODULE, AND METHOD FOR MEASURING HEIGHT OF SOLDERED CONNECTION THEREOF - 特許庁

半田高さ計測方法およびその装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING HEIGHT OF SOLDER - 特許庁

画像処理による微小高さ計測方法例文帳に追加

MINUTE HEIGHT MEASURING METHOD BY IMAGE PROCESSING - 特許庁

電子部品の端子高さ計測方法例文帳に追加

METHOD OF MEASURING TERMINAL HEIGHT OF ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

高さ計測部20により、線形状物高さ計測領域の濃淡情報に基づいて、線形状物11の高さが計測される。例文帳に追加

The height measurement part 20 measures the height of the linear object 11 based on grey level information of the height measurement range of the linear object. - 特許庁

このようにして、3点の高さ計測とチルト角の調整を繰り返すことにより、傾きによる高さ計測の誤差は徐々に小さくなる。例文帳に追加

When the height value measurement and tilt angle adjustment are repeated, the height measurement errors due to the tilt of the work W can be reduced gradually. - 特許庁

電子部品の位置が誤ってずれていても、電子部品の高さ計測を可能とする、端子高さ計測方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for measuring a terminal height which measures a height of an electronic component even if a position of the electronic component is deviated in error. - 特許庁

ホルダー本体(1)に取っ手(2)を付けた傘携帯ホルダーである。例文帳に追加

The umbrella portable holder is obtained by fitting a handle (2) to a holder body (1). - 特許庁

低浮上高さ警告をそのままの状態で実行する方法と装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR PERFORMING LOW FLOATING HEIGHT WARNING AS IT IS - 特許庁

基板外観検査装置、およびはんだフィレットの高さ計測方法例文帳に追加

APPARATUS FOR INSPECTING APPEARANCE OF SUBSTRATE AND METHOD FOR MEASURING HEIGHT OF SOLDER FILLET - 特許庁

工具高さ計算装置とそのための計算方法とプログラム例文帳に追加

TOOL HEIGHT CALCULATION DEVICE, CALCULATION METHOD THEREFOR, AND PROGRAM - 特許庁

高さ計測装置及びこれを用いた半導体パッケ—ジの検査装置例文帳に追加

HEIGHT MEASURING INSTRUMENT AND INSPECTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE USING SAME - 特許庁

ピックアップ手段選択装置及びピックアップ手段選択方法並びに部品高さ計測装置例文帳に追加

PICKUP MEANS SELECTION DEVICE, PICKUP MEANS SELECTION METHOD, AND COMPONENT HEIGHT MEASUREMENT DEVICE - 特許庁

一つの好適な形では足のせ台の高さ、傾斜角度、または両者が調整可能である。例文帳に追加

In one preferred form, the foot rest's height or inclination angle, or both, are adjustable. - 特許庁

容器内液体充填高さ計測装置及び流量制御式充填方法例文帳に追加

APPARATUS FOR MEASURING LIQUID LEVEL IN FILLED CONTAINER AND FLOW CONTROL TYPE FILLING METHOD - 特許庁

電子部品の位置が誤ってずれていても、電子部品の高さ計測を可能とする。例文帳に追加

To enable height measurement of an electronic component even if the position of the electronic component is incorrectly deviated. - 特許庁

このときのいずれか1点の高さ計測値が加工領域の高さとなる。例文帳に追加

In this state, measured height value of one of the three points becomes the height of a machining area. - 特許庁

測定領域においてハレーションがある場合でもハレーションによる悪影響を軽減して測定領域の高さを計測できる高さ計測装置及び、高さ計測方法を提供する。例文帳に追加

To provide a height measurement instrument and height measurement method capable of measuring the height of a measurement area by reducing adverse effects caused by halation even when halation exists in the measurement area. - 特許庁

高さ計測位置を一次電子照射位置からずらし,高さ計測位置と一次電子照射位置との水平位置,および時間的な違いによる高さのずれを補正するための高さ補正機構を設ける。例文帳に追加

A height measurement position is shifted from a primary electron irradiation position, and a height correction mechanism is installed to correct height shift due to differences of horizontal position of the height measurement position, the primary electron irradiation position, and time. - 特許庁

一方の高さ計測器15によりウエハ18の中央部の高さを計測し、他方の高さ計測器15によりウエハ18の周線部の高さを計測する。例文帳に追加

The height of the central part of a wafer 18 is measured by a height-measurement instrument 15, and that of the peripheral line part of the wafer 18 is measured by the other height- measuring instrument 15. - 特許庁

共通電極層16が接合される圧電体11または他の音響整合層16bの表面の延長部分に当該圧電体11または当該他の音響整合層16bの表面の高さを計測する第2の高さ計測部19aをさらに形成し、双方の高さ計測部19、19aにおける高さ計測結果を基に前記分割手段の切り込み深さを制御してもよい。例文帳に追加

A second height measuring section 19a for measuring the height of surface of a piezoelectric 11 or other sound matching layer 16b is further formed on the extension of surface of the piezoelectric 11 to which the common electrode layer 16 is bonded or the other sound matching layer 16b, and cutting depth of the dividing means may be controlled based on the measurements at both height measuring sections 19 and 19a. - 特許庁

各画素のうち、高さ計測の対象とされた画素には、z座標として計測値が設定され、その他の画素のz座標はゼロ値に設定される。例文帳に追加

For the target pixels for measuring height among each pixel, measurement values are set as z-axis and z-axis of another pixels are set zero. - 特許庁

接着層13の層厚は、スペーサ16の形成高さ(形成厚)によって任意に調整することができる。例文帳に追加

The layer thickness of the adhesive layer 13 can be arbitrarily controlled by the formation height (formation thickness) of the spacer 16. - 特許庁

素子高さ形成時の第1の絶縁膜8上に滑らかな壁面形状を有する第3の絶縁膜10を形成する。例文帳に追加

A third insulating film 10 having a smooth wall surface shape is formed on a first insulating film 8 when the element height is formed. - 特許庁

対象道路中心線入力(図化)処理を行い(S3)、沿道建物高さ計測(図化)処理を行う(S4)。例文帳に追加

An object road centerline input (charting) process is performed (S3) and a roadside building height measuring (charting) process is performed (S4). - 特許庁

軸方向の走査なしに物体の高さ形状を計測する単色光源による共焦点顕微鏡を作成した。例文帳に追加

The confocal microscope by a monochromatic light source measures the height shape of the object without scanning in an axial direction. - 特許庁

バケット刃先高さ計算器76は、バケット昇降位置にバケット刃先高さ移動量を加算して、バケット刃先高さを求める。例文帳に追加

A bucket knife-edge height calculator 76 adds the bucket knife-edge height moving amount to a bucket elevation position to determine the bucket knife-edge height. - 特許庁

ボックス設置後でも、地表面の所定範囲の高さ、傾斜の変化に対応できるボックスを提供する。例文帳に追加

To provide a box capable of adapting to a change in its height and inclination in a predetermined range of a ground surface even after the installation of the box. - 特許庁

滴下した液滴の水平面形状が円形でない場合であっても、信頼性の高い液滴の高さ計測を可能にする。例文帳に追加

To reliably measure a height of a droplet even if the horizontal surface shape of the dropped droplet is not circular. - 特許庁

高さ計16,51には、排水用凹部の開口幅より短い第一基準長Nに対応した狭い範囲を測定するものを、採用する。例文帳に追加

The height meters 16 and 51 are employed for measuring a narrow range corresponding to a first reference length N shorter than the opening width of a water discharge recess. - 特許庁

1台の画像撮像装置を用い、設備を小規模化して低コストの高さ計測方法を提供する。例文帳に追加

To provide a low-cost height measurement method by reducing the scale of a facility by using one image pick-up device. - 特許庁

地形検出部は、例えばアンテナ部の移動距離を検出する距離計と、高さ位置を検出するための高さ計とからなる。例文帳に追加

The landform detection part is composed, e.g. of a distance meter, which detects the movement distance of the antenna part and an altimeter, which is used to detect height position. - 特許庁

照明装置並びにそれを用いた欠陥検査装置及びその方法並びに高さ計測装置及びその方法例文帳に追加

ILLUMINATING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE USING THE SAME AND DEFECT INSPECTION METHOD, AND HEIGHT MEASURING DEVICE AND HEIGHT MEASURING METHOD - 特許庁

ヘッドの低浮上高さをそのままの状態で検出し、低浮上高さ警告をそのままの状態で実行する方法と装置が必要である。例文帳に追加

To provide a method and device for detecting the low floating height of a head as it is and performing low floating height warning as it is. - 特許庁

高さ計16には、排水用凹部の開口幅より短い第二基準長Nに対応した狭い範囲を測定するものを、採用する。例文帳に追加

The altimeter 19 for measuring a narrow range corresponding to the second reference length N shorter than the opening width of a draining recessed part is adopted. - 特許庁

例文

高さ計測部5は、パルス計測部4からのパルスカウント値を距離に換算して各計測点の道路面からの高さを求める。例文帳に追加

A height measuring part 5 finds the height of the respective measurement points from the road surface by converting pulse count values from the measuring part 4 into distance. - 特許庁

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