「"diffraction method"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

X-RAY DIFFRACTION METHOD AND X-RAY DIFFRACTION APPARATUS例文帳に追加

Ｘ線回折方法及びＸ線回折装置 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND X-RAY DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

Ｘ線回折装置およびＸ線回折方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION METHOD AND X-RAY DIFFRACTION APPARATUS例文帳に追加

Ｘ線回折方法およびＸ線回折装置 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION METHOD AND PORTABLE X-RAY DIFFRACTION APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

Ｘ線回折方法及びそれを用いた可搬型Ｘ線回折装置 - 特許庁

IMAGE FORMING DEVICE FOR ENERGY RESOLUTION AND ANGULAR RESOLUTION ELECTRON SPECTRAL DIFFRACTION, METHOD FOR IT, AND SPECTROSCOPE例文帳に追加

エネルギ分解及び角度分解電子分光用の結像装置、その方法及び分光器 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CRYSTAL AXIS RATIO BY CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

収束電子回折法による結晶軸比測定方法及び結晶軸比測定装置 - 特許庁

DETERIORATION DIAGNOSING METHOD OF NI-BASED HARD METAL BY X-RAY DIFFRACTION METHOD AND FUTURE LIFETIME EVALUATION METHOD例文帳に追加

Ｘ線回折法によるＮｉ基超合金の劣化診断法および余寿命評価法 - 特許庁

To detect a defect 3 inside a welded part 2 using a TOFD(Time of Flight Diffraction) method for ultrasonic flaw detection.例文帳に追加

溶接部２内の欠陥３を、超音波探傷のＴＯＦＤ（Time of FlightDiffraction）法によって検出する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ALLOY PHASE ADHESION IN PLATED LAYER USING X-RAY DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いためっき層中の合金相付着量の測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR LATTICE DISTORTION MEASUREMENT IN LOCAL REGION IN CONVERGENT ELECTRON DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

収束電子回折法による局所領域の格子歪み測定方法及びその測定装置 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction device excellent in angle resolving power, reduced in the lowering of X-ray intensity and simplified in its structure in an X-ray diffraction method using a parallel beam method, and the X-ray diffraction method.例文帳に追加

平行ビーム法を用いたＸ線回折法において、角度分解能が優れていて、Ｘ線強度の低下が少なく、構造が簡素化されたＸ線回折装置およびＸ線回折方法を提供する。 - 特許庁

A convenient technique capable of observing simultaneously the magnetostriction and the magnetization in the same area of the sample is provided, by combining newly a technique for measuring magnetostriction by an X-ray diffraction method and an X-ray magnetic diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法による磁歪計測の手法とＸ線磁気回折法とを新たに組み合わせることで、磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に観測できる便利な手法を開発した。 - 特許庁

It is desirable that the crystallite diameter of the magnetite as measured by an X-ray diffraction method is 60-90 nm.例文帳に追加

Ｘ線回折法で測定されたマグネタイトの結晶子径が６０〜９０ｎｍであることが好適である。 - 特許庁

Specifically, an optimum ageing condition is determined while a change of Ta-N coupling is observed by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

具体的には、Ｘ線回折法によりＴａーＮ結合の変化を観察しながら、最適なエージング条件を決める。 - 特許庁

The particles 10 are formed so that the average size of crystallites 1 found by the X-ray diffraction method is ≥30 nm.例文帳に追加

金属磁性粒子１０は、Ｘ線回折法によって求められる結晶子１の平均の大きさが３０ｎｍ以上である。 - 特許庁

To calibrate the intensity of X-rays with high accuracy for a short time in quantitative analysis by an X-ray diffraction method using a monochromator.例文帳に追加

モノクロメータを用いたＸ線回折法での定量分析において、短時間で高精度なＸ線強度の較正を実現する。 - 特許庁

The resultant crystal was succeedingly used for succeed crystal structure analysis with resolution of 2.2 Å by multiwavelength anomalous diffraction method (MAD method).例文帳に追加

得られた結晶を用いて、多波長異常分散法（ＭＡＤ法）により分解能２．２Åの結晶構造解析に成功した。 - 特許庁

The electrolytic slime is mixed with an ethylenediaminetetraacetic acid ammonium solution, and a sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加

電解スライムをエチレンジアミン四酢酸アンモニウム溶液と混合して、Ｘ線回折に影響を与える硫酸鉛を溶解除去する。 - 特許庁

The negative electrode active material for a lithium ion secondary battery has a crystal phase showing peaks at 2θ=28.9°, 32.8°, 41.4°, 42.6°, and 44.3° by the powder X-ray diffraction method.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折法において、２θ＝２８．９°、３２．８°、４１．４°、４２．６°及び４４．３°にピークを持つ結晶相を有する。 - 特許庁

In the carbon power, it is preferable to have <3370 nm distance between surface (d002) of the graphite layers measured by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

炭素粉末は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満であることがより好ましい。 - 特許庁

To provide an X-ray diffractometer executing a wavelength modulation diffraction method by using an X-ray tube in stead of a radiation source as an X-ray source.例文帳に追加

Ｘ線源として放射光源ではなくＸ線管を用い、波長変調回折法を実施できるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

The crystal transformation index of the insulating layer, which is obtained from the diffraction intensity by an X-ray diffraction method, is at least a predetermined value, and preferably at least 0.6.例文帳に追加

絶縁層のＸ線回折法の回折強度から求まる結晶変換指数が所定の値以上、好ましくは、０．６以上とする。 - 特許庁

The spatical period d_1 of the first structure 21 and the spatical period d_2 of the second structure 24 are measured by an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法により第１の周期構造２１の空間的周期ｄ_１、第２の周期構造２４の空間的周期ｄ_２をそれぞれ測定する。 - 特許庁

The fine powders of copper have an integrated volume percent diameter D_50 of 1.0-3.0 μm and D_90 equal to or larger than 1.6×D_50, when being measured with a laser diffraction method.例文帳に追加

レーザー回折法で測定した積算体積百分率径Ｄ_５０が１．０〜３．０μｍであり、かつＤ_９０≧１．６×Ｄ_５０である銅微粉である。 - 特許庁

The method for manufacturing such toner of the DB value=(the volume average grain size by the Coulter method)/(the volume average grain size by a laser diffraction method) is preferably an emulsion polymerization method.例文帳に追加

ＤＢ値＝（コールター法による体積平均粒径）／（レーザー回折法による体積平均粒径）このようなトナーの製法は乳化重合法が好ましい。 - 特許庁

Next, by an in-plane method as one type of the X-ray diffraction method, the lattice surface interval of the horizontal surface direction of the thin film is measured, and distortion ε is determined.例文帳に追加

次に、Ｘ線回折法の一種であるin-plane法により、薄膜の水平面方向の格子面間隔を測定し、ひずみεを求める。 - 特許庁

At this time, the maximum value of the accumulation degree of each crystal plane in the iron base alloy sheet 2 measured by an X-ray diffraction method is preferably controlled to 20%.例文帳に追加

このとき、Ｘ線回折法によって測定される鉄基合金板２の各結晶面の集積度の最大値が２０％であることが好ましい。 - 特許庁

An anode active material of the anode 22 contains hardly graphitizable carbon with an interval of (002) face of ≥0.37 nm as measured in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

負極２２の負極活物質は、Ｘ線回折法により測定される（００２）面の面間隔が０．３７ｎｍ以上である難黒鉛化性炭素を含有している。 - 特許庁

To provide a method of analyzing crystal structures, which can be improved in detection sensitivity in comparison with conventional methods, when evaluating degradation of structure using X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いた構造劣化を評価する上で、従来と比較して検出感度の向上が可能な、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

A fiber formed product has a crystallization peak in the vicinity of an angle (2θ) of diffraction of 6-10° as a result of analysis by X-ray diffraction method and the formed product is composed of a crystallized single-wall carbon nanotube.例文帳に追加

Ｘ線回折法による解析結果、回折角２θ＝６〜１０°付近に結晶化ピークを有する、結晶化した単層カーボンナノチューブからなる繊維成型体。 - 特許庁

An example of a graph of diffraction intensity by an X-ray diffraction method of the obtained ITO film (as shown), and a strong peak corresponding to the (400) plane of ITO is observed.例文帳に追加

選択図には得られたＩＴＯ膜のＸ線回折法による回折強度のグラフの一例を示し、ＩＴＯの（４００）面に対応する強いピークが観測されている。 - 特許庁

To provide a simple method for quickly synthesizing a heavy atom-substituted protein suitable for the X-ray crystal structural analysis for protein, particularly phase determination by MAD(multiwavelength anomalous diffraction) method.例文帳に追加

タンパク質のＸ線結晶構造解析、特にＭＡＤ法による位相決定に適した重原子置換体タンパク質の迅速且つ簡便な合成方法を提供する。 - 特許庁

A particle size of the colloidal silica is indicated by a mean primary particle size calculated on the basis of a BET method and a mean secondary particle size measured on the basis of a laser beam diffraction method.例文帳に追加

前記コロイダルシリカの粒子径は、ＢＥＴ法に基づいて算出された平均一次粒子径と、レーザー光回折法に基づいて測定された平均二次粒子径とで示される。 - 特許庁

It is favorable that a particle diameter corresponding to 50% cumulative percentage of the aluminum hydroxide powder on a mass basis measured by a laser diffraction method is within a range of 10-20 μm.例文帳に追加

水酸化アルミニウム粉末は、レーザ回折法により測定される、質量基準の累積百分率５０％相当粒子径が１０〜２０μｍの範囲内であることが好ましい。 - 特許庁

To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

In a sputtering target of high-purity TaN, the intensity peak ratio (101) plane:(110) plane is 1: 0.49±30%, where the intensity peaks are measured on the surface of the target through an X-ray diffraction method.例文帳に追加

高純度ＴａＮからなるスパッタターゲットであって、ターゲット表面においてＸ線回折法で測定された (101)面のピーク強度と (110)面のピーク強度の比（(101)/(110))が0.49±30% 以内である。 - 特許庁

Further, the above oxide has a half-value width at a diffraction peak appearing at 15°<2θ<20° and 30°<2θ<45° of 5°(2θ) or more in an X-ray diffraction method using CuKα beams.例文帳に追加

また、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折法で、１５°＜２θ＜２０°および３０°＜２θ＜４５°に現れる回折ピークの半値幅が５°（２θ）以上である上記酸化物を用いる。 - 特許庁

The electrolytic slime is mixed with a solution of potassium formate, potassium carbonate, potassium hydroxide and dithylenediaminetetraacetic acid, and barium sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加

電解スライムを蟻酸カリウム、炭酸カリウム、水酸化カリウム及びジエチレントリアミン五酢酸の溶液と混合して、Ｘ線回折に影響を与える硫酸バリウムを溶解除去する。 - 特許庁

This optical lever method allows the Young's modulus to be measured with the laser beam without deforming the measuring object because measurement is performed with X-rays in the in-plane X-ray diffraction method.例文帳に追加

光てこ方式ではレーザ光によって、in-planeＸ線回折法ではＸ線によって測定を行うため被測定物を変形させることなくヤング率Εを測定することができる。 - 特許庁

On the surface of steel, a rust layer in which the size of crystallites of β-FeOOH components is ≤50 nm by an X-ray diffraction method is formed, and also, the specific surface area of the rust layer is controlled to ≥10 m2/g by a molecular adsorption method.例文帳に追加

鋼材の表面に、β−FeOOH成分の結晶子サイズがＸ線回折法で５０nm以下の錆層を形成させ、且つ該錆層の比表面積を分子吸着法で１０m^2/g以上とする。 - 特許庁

In the evaluation method for evaluating a silicon wafer that has been subjected to heat treatment, the X-ray diffraction intensity of the silicon wafer is measured by an X-ray diffraction method, thus evaluating the IG capability of the silicon wafer.例文帳に追加

熱処理後のシリコンウェーハの評価方法であって、Ｘ線回折法によりシリコンウェーハのＸ線回折強度を測定することによって当該シリコンウェーハのＩＧ能力を評価するようにした。 - 特許庁

To provide a sample position adjusting device, capable of detecting the diffraction peaks of radiation, such as X rays, neutron beams, etc. with high accuracy in short time, a radiation diffraction device and a radiation diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線及び中性子線等の放射線の回折ピークを高精度且つ短時間で検出可能とする試料位置調整装置、放射線回折装置及び放射線回折法を提供する。 - 特許庁

A composite particle having a 40-300 μm average particle size comprises melamine borate, and scale-like boron nitride powder having a ≤2.0 graphitization index (GI) by a powder X-ray diffraction method and a 5-40 μm average particle size.例文帳に追加

ホウ酸メラミンと、粉末X線回折法による黒鉛化指数（ＧＩ）２．０以下、平均粒子径５〜４０μmの鱗片状窒化ホウ素粉末からなり、平均粒子径が４０〜３００μmである複合粒子。 - 特許庁

This sintered body is obtained by sintering powder of oxides of rare earth elements having ≤2.0 μm D50 and ≤3.0 μm D90 in the grain size distribution obtained by a laser diffraction method, and 5 to 20 m2/g specific surface area.例文帳に追加

レーザー回折法による粒度分布のＤ_50が２．０μｍ以下、Ｄ_90が３．０μｍ以下、比表面積が５ｍ^2／ｇ以上２０ｍ^2／ｇ以下である希土類元素酸化物粉末を焼結する。 - 特許庁

Related to the lithium manganate, a 1/4 value width of (440) plane peak containing Kα1 ray and Kα2 ray which appears near 2θ=64° at powder X-ray diffraction method is at least 2.5 times of 3/4 value width of peak.例文帳に追加

マンガン酸リチウムが、粉末Ｘ線回折法において２θ＝６４°近傍に現れる、Ｋα１線とＫα２線とを含む（４４０）面ピークの１／４値幅が、ピークの３／４値幅の２．５倍以上である。 - 特許庁