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"diffraction method"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 133件
To provide a transmission type X-ray diffraction device capable of excluding an effect of scattered X rays in an incident part to the utmost to detect the diffracted X rays generated in a sample, and an X-ray diffraction method.例文帳に追加
入射部での散乱X線の影響を極力排して試料で生じた回折X線を検出できる透過型のX線回折装置とX線回折方法とを提供する。 - 特許庁
To enable measurement without destroying hard tissue when evaluating hard tissue is evaluating based on an X-ray diffraction method and then the evaluation of hard tissue with easiness within a short time.例文帳に追加
X線回折法に基づいて硬組織を評価する際に、硬組織を破壊することなく測定を行うことができるようにし、もって、硬組織の評価を簡単且つ短時間で行えるようにする。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method for growing a crystal of a protein, capable of growing (forming) a high-quality protein crystal large enough for use in a neutron diffraction method, with excellent reproducibility.例文帳に追加
中性子回折法に使用できる程度の大型の良質なタンパク質結晶を再現性よく成長(形成)させることが可能なタンパク質結晶成長装置、及びその方法を提案する。 - 特許庁
The inclusion of the TiC-based compound is confirmed by that a finding the diffraction line peaks at 2θ=36.2°, 42.3°, and 61.6° by X-ray diffraction method of the obtained Ti-C-based material correspond to (111), (200), and (220) in TiC.例文帳に追加
TiC系化合物の含有は、得られたTi−C系材料のX線回折法による、2θ=36.2°、42.3°、および61.6°の回折線ピークがTiCにおける(111)、(200)、および(220)に対応することにより確認された。 - 特許庁
In a preferable mode of the method for evaluating the hard texture, the orientation of the crystal is evaluated by at least one type selected from a group of an X-ray diffraction method, an SEM method, and a TEM method.例文帳に追加
また、本発明の硬組織の評価方法の好ましい態様において、結晶の配向性を、X線回折法、SEM法、TEM法からなる群から選択される少なくとも1種により評価することを特徴とする。 - 特許庁
The evaluation of the crystallinity of the aluminum electrode film 34 by the specific resistance value requires less trouble and time compared with a prior art method evaluating by using an x-ray diffraction method or the like, and a used apparatus is comparatively inexpensive.例文帳に追加
この比抵抗値によるアルミニウム電極膜34の結晶性の評価は、X線回折法などを用いて評価する従来の方法に比べて、手間や時間がかからず、また用いる装置も比較的安価である。 - 特許庁
The negative electrode active material used is a carbon whose inter layer distance d(002) by an X-ray diffraction method is not less than 0.377 nm, and the size of the crystalit in the c-axial direction is not larger than 1.29 nm.例文帳に追加
負極活物質として、X線回折法による層間距離d(002)が0.377nm以上であり、c軸方向の結晶子の大きさLcが1.29nm以下である炭素材料を用いる。 - 特許庁
To provide a method where a compound in electrolytic slime can be identified precisely and easily by using X-ray diffraction method, so that an available metal containing noble metals is separated with high efficiency from the electrolytic slime to be purified and treated.例文帳に追加
電解スライムから貴金属を含む有価金属を効率良く分離精製処理するため、X線回折法を用いて電解スライム中の化合物を正確に且つ容易に同定できる方法を提供する。 - 特許庁
The graphitized carbon fibers have a spacing (d002) of graphite layers, measured by the X-ray diffraction method, of <0.3370 nm and, at the same time, a peak intensity ratio (P101/P100) of the (101) diffraction peak to the (100) diffraction peak of ≥1.15.例文帳に追加
黒鉛化炭素繊維は、X線回折法による黒鉛層間の面間隔(d002)が0.3370nm未満で、かつ、(101)回折ピークと(100)回折ピークのピーク強度比(P101/P100)が1.15以上である。 - 特許庁
This catalyst for a fuel cell contains tungsten carbide for which a half-value width of the maximum diffraction peak in a region having a diffraction angle 2θ(±0.3°) of 40°-60° by an X-ray diffraction method (Cu-K_α ray) is not less than 0.80°.例文帳に追加
X線回折法(Cu−K_α線)による回折角2θ(±0.3゜)が40゜以上60゜以下の領域における最大回折ピークの半値幅が、0.80゜以上である炭化タングステンを含有する燃料電池用触媒。 - 特許庁
The raw material originated from shell or pearl is mechanochemically ground such that the factor of decrease based on diffraction intensity before grinding at a predetermined Miller index of aragonite crystal obtained by the X-ray diffraction method becomes a prescribed value.例文帳に追加
貝殻または真珠由来の原料をX線回折法において得られるアラゴナイト結晶の所定のミラー指数における回折強度の粉砕前を基準とした減少率を所定値とするようにメカノケミカル粉砕する。 - 特許庁
DIFFRACTION METHOD OF HIGH-INTENSITY PULSE LASER BEAM, TRANSIENT DIFFRACTION GRATING ELEMENT, METHOD OF SUPPRESSING PRE-PULSE OF HIGH-INTENSITY PULSE LASER BEAM, METHOD OF COMPRESSING CHIRPED PULSE LASER BEAM, METHOD OF GENERATING PHASE CONJUGATE BEAM, AND METHOD OF GENERATING SPECTRUM PHASE CONJUGATE BEAM例文帳に追加
高強度パルスレーザー光の回折方法、過渡回折格子素子、高強度パルスレーザー光のプレパルス抑制方法、チャープパルスレーザー光の圧縮方法、位相共役光の生成方法、およびスペクトル位相共役光の生成方法 - 特許庁
Recessed parts 221a and 221b are formed by forming a resist film 22 on an insulating film 213 and then partially removing the resist film 22 using a diffraction method generally used in a semiconductor manufacturing process or a halftone method.例文帳に追加
凹部221a及び221bは、絶縁膜213上にレジスト膜222を形成した後、半導体製造プロセスで汎用される回折法或いはハーフトーン法を用いてレジスト膜222を部分的に除去することによって形成されている。 - 特許庁
To provide a catalyst for heterogeneously catalyzed reaction, containing an active component and a catalyst carrier containing δ-Al2O3 of the amount detectable by an X-ray diffraction method, particularly a catalyst for oxychlorination of ethylene to 1,2-dichloroethane.例文帳に追加
活性成分と、X線回折法で検出可能な量のδ−Al_2O_3を含む触媒担体を含む不均一触媒反応用触媒、特にエチレンから1,2−ジクロロエタンへのオキシ塩素化のための触媒を提供する。 - 特許庁
The activated carbon is characterized by having ≥3.86 Å d_002 obtained by X-ray diffraction method, 700-2,400 m^2/g specific surface area obtained by BET(Brunauer-Emmett-Teller) method and a ratio of (oxygen atom)/(carbon atom) in the range of 0.01-0.10.例文帳に追加
X線回折法により求められるd_002が3.86Å以上、BET法による比表面積が700〜2400m^2/g、酸素原子/炭素原子の比が0.01〜0.10の範囲にあることを特徴とする活性炭。 - 特許庁
Specifically, a vacuum annealing treatment is carried out after the TaXN thin film is formed into a film, and a protecting film is fabricated on it, thereby determining an optimum annealing condition while observing a change of Ta-N coupling by the X-ray diffraction method.例文帳に追加
具体的には、TaXNを成膜してその上に保護膜を製作した後、真空アニール処理を行い、X線回折法によりTaーN結合の変化を観察しながら、最適なアニール条件を決める方法がある。 - 特許庁
Supposing that the (111) face detection peak intensity is (a) and that the (200) face detection peak intensity is b when crystal structures analysis of platinum is executed by an X-ray diffraction method, the platinum electrode films 7, 8 have the ratio (b/a) of 0.01-0.1.例文帳に追加
白金電極膜7、8は、白金をX線回折法によって結晶構造解析した際の、(111)面検出ピーク強度をaとし(200)面検出ピーク強度をbとすると、その比率(b/a)が0.01〜0.1である。 - 特許庁
This highly precise diffraction method of the present invention is invented by executing a simulation based on the principle to conduct verification, and by limiting the x-ray size incident into the test piece by a slit or a condenser.例文帳に追加
この原理に基づいてシミュレーションを行い検証し、このシミュレーションに基づき、試験片に入射するX線サイズを、スリット又は集光器により制限することにより、高い精度が得られる回折方法を発明した。 - 特許庁
The plastic structuring the container has a crystallinity measured by an X-ray diffraction method from 10 to 80%, and also has transparency capable of checking an amount of methanol inside the container.例文帳に追加
この容器は、容器を構成するプラスチックが、X線回折法によって測定された結晶化度が10〜80%であると共に容器内部のメタノールの量を確認できる透明性を有するプラスチックである点に特徴を有する。 - 特許庁
To provide an X-ray diffraction quantifying device capable of performing extremely accurate calibration, by obtaining accurate diffraction, ray strength information from a base plate in a quantitation method by a base reference absorption diffraction method.例文帳に追加
基底基準吸収回折法による定量法において基底板から正確な回折線強度情報を得ることを可能にすることにより、極めて正確な検量を行うことができるX線回折定量装置を提供する。 - 特許庁
In the graphitized fiber, the spacing d(002) between graphitized layers according to an X-ray diffraction method is within the range of ≥0.3354 to ≤0.3366 nm; and the crystallite size Lc(002) of graphite crystals is ≥60 nm.例文帳に追加
この黒鉛化繊維によれば、X線回折法による黒鉛化層間の面間隔d(002)が0.3354nm以上0.3366nm以下の範囲であり、かつ黒鉛結晶の結晶子サイズLc(002)が60nm以上である。 - 特許庁
It is preferable that the ratio (I_2/I_1) of the maximum peak value (I_1) of the Fe_3O_4 and the maximum peak value (I_2) of the metal iron is 0.05 to 0.70 by powder X-ray diffraction method from a standpoint for further improving the mechanical strength of the sintered particle.例文帳に追加
ここで、焼結粒子の機械的強度を一層向上させる観点からは、粉末X線回折によるFe_3O_4の最大ピーク値(I_1)と金属鉄の最大ピーク値(I_2)の比(I_2/I_1)を0.05〜0.70の範囲とするのが好ましい。 - 特許庁
This method for carbon fiber of vapor phase method comprises activating carbon fiber of vapor phase method having ≥0.33 nm lattice spacing (d_002) of crystal measured by X-ray diffraction method in the presence of an alkali metal compound at ≤1,000°C temperature.例文帳に追加
X線回折法で測定した結晶格子面間隔(d_002)が0.33nm以上の気相法炭素繊維をアルカリ金属化合物の存在下、1000℃以下の温度で賦活することを特徴とする気相法炭素繊維の製造方法。 - 特許庁
A part of a lightweight cellular concrete panel to be diagnosed is sampled and a repairing method is determined depending on a degree of carbonation or a degradation level determined by powder X-ray diffraction method, surface finish and a desired use years of the lightweight cellular concrete panel.例文帳に追加
診断する軽量気泡コンクリートパネルの一部を採取して、炭酸化度あるいは粉末X線回折法により得た劣化レベル、該軽量気泡コンクリートパネルの表面仕上げ、および希望使用年数に応じて、補修・改修方法を決定する。 - 特許庁
The obtained barium sulfate powder contains ≤10 wt.ppm sodium, has pH 7.0-9.0, namely, is almost neutral to weakly alkaline, and has the narrow-width particle size distribution like a particle size distribution curve, which is measured by a laser diffraction method and shown in Fig.1, and excellent dispersibility.例文帳に追加
該粉末中のナトリウムは10重量ppm以下、粉体pHが7.0〜9.0のほぼ中性から弱アルカリ性であって、レーザー回折法粒度分布曲線は図1に示す如くであり、粒度分布の幅が狭く分散性に優れる。 - 特許庁
As a positive electrode active material for a secondary battery, β-FeOOH is used with aspect ratio of particles of not more than 5, and with half-value width Y of 0.30 <Y(2θ) showing a (110) face diffraction peak with an X-ray diffraction method using a CuKα beam.例文帳に追加
二次電池用正極活物質として、粒子のアスペクト比が5以下のβ—FeOOHであって、さらにCuKα線を用いたX線回折法で、半値幅Yが0.3°<Y(2θ)の(110)面回折ピークを示すβ—FeOOHを用いる。 - 特許庁
Main components of this polyester film comprise ethylene terephthalate unit and ethylene naphthalene dicarboxylate unit, and crystal size of this polyethylene terephthalate is 10-50 Å, when the polyester film is measured by X-ray diffraction method.例文帳に追加
ポリエステルの主たる成分がエチレンテレフタレート単位とエチレンナフタレンジカルボキシレート単位であるポリエステルフィルムであり、かつ、ポリエステルフィルムをX線回折法で測定したときのポリエチレンテレフタレートの結晶サイズが10〜50オングストロームであるポリエステルフィルムである。 - 特許庁
To reduce with superior reproducibility in-plane uniformity of a TaN film to be used as a barrier layer of a semiconductor element by a method wherein the peak intensity in a specified direction measured by an X rays diffraction method is specified on the surface of a sputtering target composed of high pure TaN.例文帳に追加
Cu配線のバリア層などとして用いられるTaN膜において、膜厚の面内均一性を例えば5%以下とすることが望まれており、そのようなTaN膜を再現性よく得ることを可能にしたスパッタターゲットが求められている。 - 特許庁
To improve the measurement accuracy of the amount of adhesion of a metallic phase by improving X-ray diffraction intensity from the metallic phase contained in a plated layer in a method for measuring the amount of adhesion of the metallic phase contained in the plated layer using the X-ray diffraction method.例文帳に追加
X線回折法を用いた、めっき層に含まれる金属相の付着量を測定する方法において、めっき層に含まれる金属相からの回折X線強度を高め、金属相の付着量の測定精度を向上させる。 - 特許庁
Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加
また、その組織構造は、X線回折法によるパターン解析により金属Si及びSi化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁
In the graphite sheet, the peak strength ratio (P100/002) of (100) diffraction peak to (002) diffraction peak and the peat strength ratio (P110/002) of (110) diffraction peak to (002) diffraction peak, both by X-ray diffraction method, are set at 10 or higher.例文帳に追加
グラファイトシートにおいて、X線回折法による、(100)回折ピーク及び(002)回折ピークのピーク強度比(P100/002)と、(110)回折ピーク及び(002)回折ピークのピーク強度比(P110/002)とが10以上に設定されている。 - 特許庁
The engine additive comprises a BN powder having an average particle diameter of above 1.0 to 3.0 μm, a maximum particle diameter of at most 15 μm, a graphitization index (GI) of 4.0 or below as measured by a powder X-ray diffraction method, and a boron oxide content of 0.5-5 mass %.例文帳に追加
平均粒径1.0μm超3.0μm以下、最大粒径15μm以下、粉末X線回折法による黒鉛化指数(GI)4.0以下、酸化ほう素含有率0.5〜5質量%のBN粉末からなることを特徴とするエンジンオイル添加剤。 - 特許庁
To provide an apparatus for correcting deviation of an irradiation position and precisely measuring strain through diffraction, when a position irradiated with electromagnetic waves is deformed by the movement and deformation of an object to be measured, during measurement in measurement of strain by a diffraction method of electromagnetic waves, such as X-rays.例文帳に追加
X線など電磁波の回折法によるひずみ測定において、測定中に被測定物の移動や変形により電磁波照射位置が変化した場合に、照射位置のずれを補正し、回折によるひずみ測定を精度良くする装置を提供する。 - 特許庁
After filling paste-like active material on a substrate made of a lead alloy, and spraying dilute sulfuric acid aqueous solution of spray particles with an average particle size of 10 to 20 μm in a laser diffraction method on the surface, and the material is passed through a preliminary drying furnace, in the manufacturing method of the electrode plate for a lead storage battery.例文帳に追加
鉛合金からなる基板にペースト状活物質を充填後、表面に噴霧粒子の平均粒径がレーザー回折法で10〜20μmの希硫酸水溶液を噴霧した後、予備乾燥炉を通過させる鉛蓄電池用極板の製造方法。 - 特許庁
The conductive substrate has an ITO film formed thereon, in which the integrated intensity ratio A/C of the integrated intensity A of 2θ peak corresponding to (222) plane and the integrated intensity of 2θ peak corresponding to (440) plane by the X-ray diffraction method is not less than 5.0.例文帳に追加
X線回折法による(222)面に相当する2θピークの積分強度Aと(440)面に相当する2θピークの積分強度Cとの積分強度比A/Cが5.0以上であるITO膜が形成されていることを特徴とする、導電性基板。 - 特許庁
The carbon catalyst has a crystallinity degree of 41.0% or less as determined by an X-ray diffraction method, a (nitrogen atom)/(carbon atom) ratio of 0.7 or more as determined by an X-ray photoelectron spectroscopy, and oxygen reduction onset potential of 0.774 V (vs. NHE) or more.例文帳に追加
また、本発明に係る炭素触媒は、X線回折法により得られる結晶化度が41.0%以下であり、X線光電子分光により得られる窒素原子/炭素原子比が0.7以上であり、酸素還元開始電位が0.774V(vs.NHE)以上である。 - 特許庁
Amorphous β-FeOOH having a mode diameter of particles of 10 μm or less and indicating the (110) face diffraction peak having a half- value width Y of 0.3<Y(2θ) in the X-ray diffraction method using the CuKα beam, is used as a positive electrode active material of the nonaqueous electrolyte secondary battery.例文帳に追加
非水電解質二次電池の正極活物質として、粒子のモード径が10μm以下で、CuKα線を用いたX線回折法で、半値幅Yが0.3°<Y(2θ)の(110)面回折ピークを示す非晶質β−FeOOHを用いる。 - 特許庁
The photosensitive silver paste is a photosensitive electrically conductive resin paste comprising an alkali-soluble resin, a crosslinkable monomer having an unsaturated double bond, a photopolymerization initiator, silver powder, glass frit, calcium carbonate having 0.01-1 μm average particle diameter measured by a laser diffraction method and an organic solvent.例文帳に追加
アルカリ可溶性樹脂、不飽和二重結合を有する架橋性モノマー、光重合開始剤、銀粉、ガラスフリット、平均粒径がレーザー回折法による測定で0.01〜1μmである炭酸カルシウム、有機溶剤からなる感光性の導電性樹脂ペーストである。 - 特許庁
The invention provides a fine carbon fiber having a layer spacing d_002 of 0.337 nm measured by X-ray diffraction method, a fiber diameter of ≤1,000 nm and a compact specific resistance of ≤0.02 Ω.cm and a fine carbon fiber having a metal content of ≤500 mass ppm.例文帳に追加
X線回折法で求めた層面間隔d_002が0.337nmを超え、繊維径1000nm以下、圧密比抵抗が0.02Ω・cm以下の微細な炭素繊維及び金属含有量が500質量ppm以下である微細な炭素繊維である。 - 特許庁
Requirement (1): Carbon powder obtained by subjecting the binder (B), which can be graphitized, to graphitization treatment has a spacing (d002) on the 002 face by the X-ray wide-angle diffraction method of 0.3357 nm or greater and 0.34 nm or less, and an Lc (004) of 10 nm or greater and 500 nm or less.例文帳に追加
条件(1):黒鉛化可能なバインダー(B)を黒鉛化処理して得られた炭素粉末のX線広角回折法による002面の面間隔(d002)が0.3357nm以上0.34nm以下、且つLc(004)が10nm以上500nm以下である。 - 特許庁
After removing the respective portions of the growth layers 32-34 in the object region to be measured 41, the lattice constants of the semiconductor substrate 23 and growth layers 24-31 in the object region to be measured 41 are obtained, by using X-ray diffraction method.例文帳に追加
このように測定対象領域内41で、前記成長層32〜34の各一部が除去された後、X線回折法によって、前記測定対象領域41内の半導体基板23および成長層24〜31の格子定数が求められる。 - 特許庁
Further, the stainless steel wire has a texture in which the ratio of a martensitic phase induced by wire drawing is ≤15 vol.%, and the balance austenitic phase, and the diffraction intensity of the austenitic phase by an X-ray diffraction method in the longitudinal direction satisfies both of I(200)/I(111)≥2.0 and I(220)/I(111)≥3.0.例文帳に追加
また、線引き加工によって誘起されるマルテンサイト相が15体積%以下、残部がオーステナイト相からなると共に、鋼線長手方向のX線回折法によるオーステナイト相の回折強度がI(200)/I(111)≧2.0、及びI(220)/I(111)≧3.0の双方を満たす集合組織を有する。 - 特許庁
A sample containing the hydroxyapatite is taken out and is formed into a shape with at least a detection surface 3 by such method as compression molding, then a forming body 1 is burned, and a substance existing on the detection surface 3 of an obtained sintered body 2 is analyzed, for example, by the X-ray diffraction method.例文帳に追加
ハイドロキシアパタイトを含む試料を取り出し、該試料を圧縮成形等の方法により少なくとも検出面3を有する形状に成形し、次いで、該成形体1を焼成し、得られた焼結体2の検出面3に存在する物質を例えばX線回折法により解析する。 - 特許庁
It is preferable that the aluminum source powder is composed of: 1-10 mass% aluminum hydroxide having ≤5 μm particle diameter equivalent to 50% cumulative percentage by mass measured by a laser diffraction method; and 99-90 mass% aluminum oxide powder.例文帳に追加
アルミニウム源粉末は、レーザ回折法により測定される、質量基準の累積百分率50%相当粒子径が5μm以下の範囲内である水酸化アルミニウム粉末1〜10質量%と、酸化アルミニウム粉末99〜90質量%とからなることが好ましい。 - 特許庁
To provide a compound-type ultrasonic probe capable of executing high-accuracy flaw detection of a thick-walled structure, and shortening the time required for flaw detection in ultrasonic flaw detection by TOFD (time-of-flight diffraction) method, and to provide an ultrasonic flaw detection method by the TOFD method that uses the probe.例文帳に追加
TOFD法による超音波探傷において、厚肉構造物の探傷を高精度で実行できると共に、探傷に要する時間の短縮ができる、複合型超音波探触子及びそれを用いたTOFD法による超音波探傷法を提供すること。 - 特許庁
When the GaN compound semiconductor crystal is epitaxially grown, the substrate where a diffraction angle (2θ) at which a diffraction peak by an X-ray diffraction method appears is within a prescribed range, to put it concretely, NdGaO_3 where a position of the diffraction peak is 40.200° to 40.400° is used.例文帳に追加
GaN系化合物半導体結晶をエピタキシャル成長させる際に、X線回折法による回折ピークの現れる回折角度(2θ)が所定の範囲内にある基板、具体的には、回折ピークの位置が40.200°〜40.400°であるNdGaO_3を用いるようにした。 - 特許庁
This electrode for a lithium secondary battery comprises a current collector 7 and a positive electrode active material layer that is formed on the current collector 7 by a vacuum evaporator 1 and is made mainly of Fe_3O_4 and has a diffraction peak in the vicinity of 30° when evaluated by the X-ray diffraction method.例文帳に追加
このリチウム二次電池用電極は、集電体7と、集電体7上に真空蒸着装置1により形成され、Fe_3O_4を主成分とするとともに、X線回折法により評価した場合に30°付近に回折ピークを有する正極活物質層とを備える。 - 特許庁
A base film is provided on a substrate and a perpendicular magnetic film having an easily-magnetized axis oriented principally perpendicularly to the substrate is formed on the base layer and a locking curve 21 of the perpendicular magnetic film obtained by using a θ-2θ scanning method in the X-ray diffraction method has plural maximum points 22 and 23.例文帳に追加
基板上に下地膜が設けられ、その上に磁化容易軸が基板に対し主に垂直に配向した垂直磁性膜が設けられ、この垂直磁性膜は、X線回折法によるθ−2θスキャン法を用いて得たロッキングカーブ21が複数の極大点22、23を有するものである。 - 特許庁
In this convergence electron diffraction method for acquiring a disc-shaped diffraction figure, by making electron beams converge and irradiate to a sample, all of six (a, b, c, α, β, γ) lattice constants of a crystal can be measured from the microregion smaller than 10 nm, from the distance between the intersection points of HOLZ line appearing in a transmission disc.例文帳に追加
試料に電子線を収束させて照射し、ディスク状の回折図形を得る収束電子回折法において、透過ディスク内に現れたHOLZラインの交点間の距離から、結晶の格子定数6つ(a、b、c、α、β、γ)全てを10nm以下の微小領域から測定することを可能にする。 - 特許庁
According to such a configuration, this method which is different from X-ray diffraction method or X-ray transmission method that accompanies hazards and thermal analysis method that requires cutting of a material, and the presence of the crystallization or internal flaw of the metal glass can be evaluated safely, accurately and simply by a single method.例文帳に追加
かかる構成により、従来の危険を伴うX線回折法及びX線透過法や、材料の切り出しが必要な熱分析法と異なり、金属ガラス中の結晶化や内部欠陥の有無を、単一の方法で、安全に、且つ精度よく簡単に評価することができる。 - 特許庁
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