「を試験する」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

電子試験装置、及び、電子試験の結果を表示する方法例文帳に追加

ELECTRONIC TESTING DEVICE AND METHOD OF DISPLAYING RESULT OF ELECTRONIC TEST - 特許庁

疲労試験装置は、無端金属ベルトのリングの疲労強度を試験する。例文帳に追加

This fatigue testing instrument tests the fatigue strength for the ring of the endless metal belt. - 特許庁

被試験デバイスから出力されるクロック信号を取得して試験する。例文帳に追加

To execute testing upon acquiring a clock signal output from a device under test. - 特許庁

試験は隣接する２個の半導体チップ毎に期待値照合試験を行う。例文帳に追加

An expectation value collation test is carried out for two adjacent semiconductor chips. - 特許庁

マスク捕集性能試験機およびそれを使用する試験方法例文帳に追加

COLLECTION CAPACITY TESTING MACHINE OF MASK AND TESTING METHOD EMPLOYING IT - 特許庁

動作試験装置及び電子機器並びにこれらを使用する動作試験システム例文帳に追加

PERFORMANCE TEST APPARATUS, ELECTRONIC EQUIPMENT, AND PERFORMANCE TEST SYSTEM USING THEM - 特許庁

通信試験を実行する通信装置、通信試験方法及びプログラム例文帳に追加

COMMUNICATION EQUIPMENT, COMMUNICATION TEST METHOD AND PROGRAM, FOR PERFORMING COMMUNICATION TEST - 特許庁

簡単な構成で任意の被試験デバイスを試験対象から除外する。例文帳に追加

To exclude an arbitrary device to be tested from test objects by a simple configuration. - 特許庁

試験装置の被試験デバイスの温度を、Ｓ／Ｎ良く測定する。例文帳に追加

To measure the temperature of a testing object device in a testing device with good S/N. - 特許庁

試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機例文帳に追加

AUTOMATIC TENSILE TESTER FOR FILM HAVING TEST PIECE RECOVERY MECHANISM - 特許庁

試験装置４０は、分類装置１０の分類動作を試験する装置である。例文帳に追加

The testing device 40 is a device for testing sorting operation of the sorter 10. - 特許庁

少量の試験物質を効率よく試験ユニットに投与する。例文帳に追加

To efficiently administer a small amount of sample material to a test unit. - 特許庁

生物試料の応答を決定するための試験トレイおよび試験システム例文帳に追加

TEST TRAY AND TEST SYSTEM FOR DETERMINING RESPONSE OF BIOLOGICAL SAMPLE - 特許庁

耐候性試験装置の試験チャンバ内の温度及び湿度を制御する方法例文帳に追加

HOW TO CONTROL TEMPERATURE AND HUMIDITY IN TEST CHAMBER OF WEATHERING TEST EQUIPMENT - 特許庁

誤った試験条件で規格規定試験が行われることを抑制すること。例文帳に追加

To suppress an execution of a standard regulation test under erroneous test conditions. - 特許庁

較正用試験片によって試験機の弾性変形量を算出する。例文帳に追加

The elastic deformation quantity of the testing machine is calculated by a calibrating test piece. - 特許庁

小核計数試験系の効率化および試験精度を向上する。例文帳に追加

To improve the test accuracy by enhancing the efficiency of a micronuclei counting test system. - 特許庁

ＦＡＩＬ情報解析部２３０は、メモリ試験の試験結果を取得する。例文帳に追加

A FAIL information analysis part 230 obtains the test result of the memory test. - 特許庁

半導体試験装置を小型かつ試験効率のよいものとする。例文帳に追加

To provide a semiconductor test device being compact and having high test efficiency. - 特許庁

電子部品の試験方法とその方法を実施するための試験装置例文帳に追加

METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENTS AND TEST APPARATUS FOR CARRING OUT THIS METHOD - 特許庁

試験装置の製造方法とその試験装置自体とを提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a testing apparatus, and to provide the testing apparatus itself. - 特許庁

試験制御部２４は、検出されたリソースに対して自動試験を行なうための処理を行ない、試験実行部２５は、試験を実行する。例文帳に追加

A test control part 24 performs processing for performing automatic test of detected resources, and a test performing part 25 conducts a test. - 特許庁

信号源１が試験用周波数で試験パワーを有し、かつ試験周波数成分の２次高調波成分を除去した試験信号を出力する。例文帳に追加

A signal source 1 has test power at a test frequency, and outputs a test signal obtained by removing a secondary harmonic component of a test frequency component. - 特許庁

試験により求められた値が無効となる無駄な試験を削減して、効率的にＪ_1C試験を行うことのできる試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a J1C tester capable of reducing such a useless test that a value calculated by a test becomes invalid to efficiently perform a J1C test. - 特許庁

予め多数の試験片を組み込み、連続して試験片を供給できる反発弾性試験機の新規な試験片供給装置を提供する。例文帳に追加

To provide the novel test piece supply device of an impact resilience testing machine, capable of preliminarily incorporating a large number of test pieces to continuously supply the test pieces. - 特許庁

試験槽内を搬送される被試験品を短時間で環境試験温度の状態に到達させることのできる環境試験装置を提案すること。例文帳に追加

To provide an environmental device capable of bringing a specimen conveyed in a test tank to a state of an environmental test temperature in a short time. - 特許庁

試験方法の異なる硬さ試験を同一の試験機により行うことができる硬度試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a hardness testing machine with which hardness tests of different testing methods can be executed by the same testing machine. - 特許庁

試験プログラムが簡素化でき、書込みと読出しの試験を一連の試験として行うことができる不揮発性メモリの試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for testing a non-volatile memory capable of simplifying a test program and carrying out write and read-out tests as a series of tests. - 特許庁

試験制御部Ａ１２は試験要求を受けると、試験制御部Ｂ２２に対して試験要求フレームを送信する。例文帳に追加

Upon the receipt of the test request, the test control section A12 transmits a test request frame to a test control section B22. - 特許庁

試験が容易かつ信頼性の高い試験結果を得ることができる自動制御機能の試験装置および試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide the test device and method of an automatic control function capable of easily performing a test, and obtaining a highly reliable test result. - 特許庁

バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）のかわりに、当該試験と相関関係を有する簡便な試験を行う。例文帳に追加

Instead of a bias temperature-stress test (BT test), a simple test having a correlation with the BT test is performed. - 特許庁

次の回では、バーンイン試験した半導体チップに対し選別試験を実施し、未試験の半導体チップに対しバーンイン試験を実施する。例文帳に追加

A screening test is next implemented on the burn-in tested semiconductor chip and a burn-in test is implemented on a non-tested semiconductor chip. - 特許庁

試験装置１００は、被試験デバイス１２０の電気的特性試験を行う際に、被試験デバイス１２０の温度を制御する。例文帳に追加

This tester 100 controls the temperature of a device 120 under test in testing electrical characteristics of the device 120. - 特許庁

試験途中に試験体拘束制御手段６により試験体保持手段４を停止させ、拘束状態を変更する試験方法。例文帳に追加

The testing method is constituted for changing the restraint, by making the test body holding means 4 stop in the middle of testing by the test body restraining control means 6. - 特許庁

、受験者に試験問題を提供するための試験方法及び試験システムに関し、不正行為を防止でき、かつ、効率よく試験を行える試験方法及び試験システムを提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an examination method and an examination system for providing examination questions to examinees, capable of preventing a dishonesty and efficiently carrying out the examination. - 特許庁

試験データ比較手段１ｇは、受信された試験データと、試験データ付加手段１ｃによって付加された試験データとを比較する。例文帳に追加

A test data comparing means 1g compares the received test data with test data attached by the test data attaching means 1c. - 特許庁

ＩＣ試験システム１０において、ＩＣ試験装置１５０は、被試験ＩＣに試験パターン信号を印加する。例文帳に追加

In this IC testing system, an IC testing device 150 impresses a test pattern signal to a tested IC. - 特許庁

そして、試験指示装置１０が、試験実行装置２０における試験対象ソフトウェアの試験結果を表示する。例文帳に追加

Then, the test instruction device 10 displays the test result of the test target software tested by the test execution device 20. - 特許庁

２つの試験片が実際に用いられる実機での使用状態に近い試験条件で試験できる摩擦試験機を提供すること。例文帳に追加

To provide a friction testing machine, capable of testing two test pieces on a testing conditions that are close to the using state with an actual machine that is actually used. - 特許庁

この摩擦試験機では、４つの正四角柱状の試験片の２つを一組とし、それぞれ試験片固定手段に保持し、試験する。例文帳に追加

In this friction testing device, two of four regular prism type test pieces are paired, and held in the test piece fixing means respectively so as to be tested. - 特許庁

耐候試験機における試料の試験温度に関し、同一試験槽内で同時に複数の温度条件で試験を行う技術に関する。例文帳に追加

To provide the tester performing a test under a plurality of temp. conditions in the same test tank at the same time with respect to the test temp. of a sample. - 特許庁

容易に試験部の接続や試験部の離脱が可能な試験システムおよびその制御方法並びに試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a testing system, a control method therefor and a testing device, capable of easily connecting or separating a tested part. - 特許庁

さらに、試験計画に基づいて実施された試験の試験結果を試験結果入力手段１０３にて入力する。例文帳に追加

A test result of a test carried out based on the test plan is input by a test result input means 103. - 特許庁

電子回路等の被試験装置に試験信号を印加して被試験装置を監視することにより、被試験装置の１つ又は複数の電気特性を試験する試験回路及びシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a test circuit and system that test one or more electric characteristics of a device to be tested by monitoring the device to be tested by applying a test signal to the device to be tested of an electric circuit, or the like. - 特許庁

本発明は、試験波形を被試験ＩＣに供給して試験を行う試験装置および試験方法に関し、波形成形ファイルおよびスケジュールファイルを作成してこれらをもとに被試験ＩＣのバーイン試験を行い、初心者でも簡易にバーイン試験を可能にすることを目的とする。例文帳に追加

To realize a burn-in test simply even by a beginner by forming a waveform forming file and a schedule file and performing the burn-in test of an IC to be tested in an apparatus and a method for testing which supplies a testing waveform to the IC to be tested and performing the test. - 特許庁