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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > を試験するに関連した英語例文

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を試験するの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 16326



例文

半導体試験装置1は、DUT40の試験を行う試験装置本体10と、試験装置本体10によって行われた試験で得られた信号の波形を表示する信号波形表示装置20とを備える。例文帳に追加

The semiconductor testing device 1 includes a testing device body 10 for testing a DUT 40, and a signal waveform display device 20 for displaying a signal waveform acquired by a test performed by the testing device body 10. - 特許庁

同一基板上に形成された複数の被試験デバイスに試験信号を供給して試験し、複数の被試験デバイスの良否判定を正確に行うことができる試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a testing device capable of supplying test signals to a plurality of tested devices formed on the same substrate to conduct tests, and capable of determining accurately the qualities of the plurality of tested devices. - 特許庁

試験ウェハの試験を行っている最中に、被試験ウェハの搬送、アライメントを行って次の被試験ウェハに対する試験の準備を行う技術の提供。例文帳に追加

To provide a technique with which a test of a next wafer to be tested is prepared by conveying and aligning the wafer to be tested during a test of a wafer to be tested. - 特許庁

この自己試験回路は、外部からの試験活性化信号WBIZに応答して活性化し、試験動作コマンドWBI-CMDを発生し、試験アドレスWBI-ADDを発生し、試験データWBI-DATAを発生する例文帳に追加

This self-test circuit responds to an external test activating signal WBIZ and activated, generates a test operation command WBI-CMD, generates a test address WBI-ADD, and generates a test data WBI-DATA. - 特許庁

例文

試験片に作用する引張力を調整して、真応力を一定に維持しながらクリープ試験を実施できるクリープ試験機を開発すること。例文帳に追加

To develop a creep testing machine capable of performing a creep test in a state of keeping actual stress constant by adjusting the tensile force acting on a test piece. - 特許庁


例文

誤った出力データ信号を用いて被試験デバイスを試験することを防ぐことができる試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a testing device capable of preventing the test of a tested device using a false output data signal. - 特許庁

自己試験システムは、試験セットにおける様々な試験プログラムを実行し、以前の試験セットからの試験結果の履歴レコードを不揮発性メモリに維持する例文帳に追加

The self-testing system 10 executes various testing programs in a testing set, and maintains a history record of a test result from the set in a nonvolatile memory 30. - 特許庁

試験対象部の実速度での機能試験と、試験対象部間の接続試験と、試験専用の外部ピンの削減によるコストダウンとを図ることができる半導体装置を提供する例文帳に追加

To provide a semiconductor device capable of performing functional tests at the actual speed of a part to be tested and connection tests between parts to be tested and reducing costs by reducing the number of external pins dedicated for tests. - 特許庁

試験用入出力装置30は選択された試験信号を被試験器に対して出力し、パソコン40は被試験器からの入力信号に基づいて被試験器の良否を判断する例文帳に追加

A testing input/output device 30 outputs the selected test signals to the devices to be tested, and the personal computer 40 checks the quality of each device to be tested based on input signals from the devices to be tested. - 特許庁

例文

プログラムを修正した後に行う回帰試験に用いる試験として、第2関係情報によって関係付けられた試験に関しては、第2関係情報によって関係付けられた試験のうち、1つの試験を選択する例文帳に追加

One test in tests being related by second relation information is selected for tests related by the second relation information as a test used for the regression test to be made after correcting the program. - 特許庁

例文

少ない現場対応要員で試験が可能であり、予め試験手順や試験データを準備できることのできる遠方監視制御装置の自動試験装置と試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an automatic testing apparatus for a remote monitoring control device and a testing method in which a test is enabled with a little job-site handling personnel and test procedures or test data can be prepared. - 特許庁

性能試験実施部103は、性能試験を実施し、取得した性能試験結果データに性能試験内容識別情報を付加して、性能試験結果データベース106に格納する例文帳に追加

A performance test execution part 103 executes a performance test, and stores the acquired performance test result data added with the performance test contents identification information in a performance test result database 106. - 特許庁

PMモータの特性試験を実施する場合、試験機と被試験機との接続作業に時間がかかり、多数のPMモータの試験を行うのは大変であると共に、試験機の駆動用制御装置が必要となっている。例文帳に追加

To solve problems in a characteristic test for the PM motor wherein connection work between a testing machine and a tested machine takes much time, a large number of PM motors is tested with great inconvenience and that a controller for drive of the testing machine is required. - 特許庁

長スパンの試験試験片の曲げ撓み量が大きい場合でも、試験片と支点鋼板との間に滑りが生じることがなく、常に正確な試験結果を得ることのできる曲げ試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a bending tester capable of always obtaining an accurate test result without causing a slip between a test piece and a fulcrum steel panel even in the case of a long-span test or a test piece with a large bending distortion quantity. - 特許庁

試験実行部44−1は試験対象装置であるデバイス5−nから試験プログラムをメモリ42−1へロードし、試験プログラムに基づいて試験を実行する例文帳に追加

The execution part 44-1 loads a test program from the device 5-n to a memory 42-1 and executes a test based on the test program. - 特許庁

沈下する試験地盤に対して柔軟な荷重制御が可能であり、試験員の労力を減らし、かつ、試験員の能力や個人差による試験結果の誤差を極力抑えることが可能な自動平板載荷試験装置の提供。例文帳に追加

To provide an automatic flat-plate load testing apparatus for flexibly controlling the load applied to a sinking test ground, reducing the workload of a testing person, and which is able to suppress errors, in a test result, due to the capability and individual difference in the testing person. - 特許庁

試験実行管理部11は入力された試験条件を試験条件DB15に保存し、試験開始時刻になると、試験条件初期化信号をピア制御装置2へ送信する例文帳に追加

A test execution management part 11 stores inputted test conditions in a test condition DB 15 and transmits a test condition initialization signal to a peer controller 2 when test starting time comes. - 特許庁

2 人事院は、試験を採用試験、昇任試験又はその両者を兼ねるもののいずれとするかを適宜決定する例文帳に追加

(2) The National Personnel Authority shall at its discretion decide whether the examination shall be an employment examination, a promotional examination, or both.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

複数の半導体デバイスを同時に試験する装置であって、試験時間を短縮した半導体デバイス試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a semiconductor device testing device for concurrently testing a plurality of semiconductor devices in a short test time. - 特許庁

誤り訂正機能およびデータ圧縮試験を有する半導体メモリの試験時間を短縮し、試験コストを削減する例文帳に追加

To reduce costs for a test by shortening time for testing a semiconductor memory having an error correction function and a data compression test function. - 特許庁

本発明は、コーデックソフトウェアの動作試験を効率的に実行可能な試験装置及び試験方法を提供することを目的とする例文帳に追加

To provide a testing device and testing method for efficiently executing the operation test of codec software. - 特許庁

試験回路生成ツールは、次に続いて、この欠陥情報を用い、微小回路の同定された部分内の欠陥を試験する試験回路を生成する例文帳に追加

A test circuit generation tool can then subsequently use this defect information to generate a test circuit that tests for the defect in the identified portions of a microcircuit. - 特許庁

本発明は、デジタルデータ及び同期ワード検出信号を出力する試験対象を試験する試験装置に改良を加えたものである。例文帳に追加

The present invention provides improvement for a testing device for testing the examined object for outputting a digital data and a synchronization word detecting signal. - 特許庁

誤差を含む試験波形に基づいて被試験電気部品が不良と判断されるのを防止する試験装置を提供する例文帳に追加

To prevent an electric part from being rejected based on a test waveform containing error. - 特許庁

加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する例文帳に追加

To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained. - 特許庁

電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a testing device of an electronic component which is capable of correctly controlling the temperature of the electronic component and testing the component at a desired testing temperature. - 特許庁

サーバおよびクライアントを試験対象とする場合に、試験モードを自動的に変更可能なプロトコル試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a protocol test device capable of automatically changing test mode when it executes a protocol test for a server or a client. - 特許庁

1つの評価ボード上で高速試験及び低速試験の両方を行うことができる試験装置を提供することを課題とする例文帳に追加

To provide a testing device in which both high-speed test and low- speed test can be conducted on one evaluation board. - 特許庁

地球環境への負荷を低減し、かつ、試験装置や試験のための設備を複雑にすることなく、高電圧試験を実現する例文帳に追加

To provide a testing device and a testing method that reduce load to global environment and are capable of performing high-voltage testing without making a testing device or a facility for testing complex. - 特許庁

複数のフリップフロップから構成されるスキャンチェインを有する試験デバイスの試験試験時間の短縮化を図ることを目的とする例文帳に追加

To shorten the test time of testing a device under test including a scan chain comprising a plurality of flip-flops. - 特許庁

試験機が所望の動作をしているか否かを効率的に判定することができる試験方法および試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a test method and a test device capable of efficiently determining whether a tested machine performs the desired operation or not. - 特許庁

風洞を用いない耐風試験装置と耐風試験対象物である模型の耐風安定性を確認する試験の方法を実現する例文帳に追加

To provide a wind resistance testing device using no wind tunnel and a method for wind resistance test by which the stability of the wind resistance of a model which is an object to be tested for wind resistance can be confirmed. - 特許庁

試験時間を短縮し、低速な試験装置でも検査可能な集積回路とその試験方法を提供することを目的とする例文帳に追加

To provide an integrated circuit that reduces the test time and can be inspected with a low-speed test device, and its test method. - 特許庁

一つの超電導線材試験片を、一回、試験することにより、最適線材断面形状を決定できる、試験用超電導線材を作製すること。例文帳に追加

To produce a superconductive wire for testing, which can determine optimal wire cross-section by testing one piece of the superconductive wire one. - 特許庁

試験の作業効率を向上させ、試験開始又は試験終了後の操作ミスを防止することができるテストプラグ用保護カバーを提供すること。例文帳に追加

To provide a protective cover for test plug that improves test efficiency while preventing an operation error at the start or end of a test. - 特許庁

作業性の向上を図りつつ精度の高い試験を実施する上で有利なタイヤ水圧試験装置およびタイヤ水圧試験方法を提供する例文帳に追加

To provide a device and method for a water pressure test of a tire which is advantageous for executing a test of high accuracy, while improving workability. - 特許庁

イミュニティ試験にかかる費用を抑え、イミュニティ試験の作業性を向上することのできる妨害排除能力試験装置を提供する例文帳に追加

To provide an immunity testing device capable of suppressing cost required for an immunity test, and improving workability of the immunity test. - 特許庁

防振器の試験中の過大な荷重を逃がし、防振器や試験装置の破損を未然に防止する防振器用の試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a testing device for a vibration controller for preventing the vibration controller and the testing device from being damaged, by liberating an excessive load during a test of the vibration controller. - 特許庁

板状の試験片と、円盤状の相手片とを有し、相手片を加熱し回転しながら試験片板面に圧接したのち試験片を急冷する方式とする例文帳に追加

A discoidal counterpart piece 2 is heated to a predetermined temperature and driven to rotate at a constant speed. - 特許庁

試験体の質量測定機能を具備することにより、試験体の試験加速度条件を自動的に設定可能な動電式振動発生機を提供する例文帳に追加

To provide an electrokinetic vibration generator capable of automatically setting testing acceleration condition of a testpiece by providing a mass measuring function of the testpiece. - 特許庁

高速なデータの送受信を行う被試験メモリを正確に試験することができる試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a test apparatus with which a memory to be tested for transmitting/receiving data at high speed can be exactly tested. - 特許庁

染色堅ろう度試験において、簡易、かつ、早期に試験結果を得ることができる方法及びその試験機を提供することを課題とする例文帳に追加

To provide a method which enables the simple and early acquisition of test results in a dyeing fastness test, and a testing machine therefor. - 特許庁

本発明は、試験体の漏れ試験をより短時間で行うことが可能なリークディテクタ及び漏れ試験方法を提供することを目的とする例文帳に追加

To provide a leak detector and a leakage test method capable of implementing leakage tests of test body for shorter time. - 特許庁

ガスタンクの気密試験に要する時間を短縮して、気密試験を効率的に行うことができる気密試験システムを提供する例文帳に追加

To provide an air-tight test system capable of efficiently performing air-tight test by shortening the time required to air-tight test of gas-holders. - 特許庁

試験を開始するときは、試験条件ファイルを呼び出し、変更可能な試験条件欄31a,31b,31e,31fを表示モニタ22cの表示画面に表示する例文帳に追加

When starting the test, the test condition file is called out, changeable test condition columns 31a, 31b, 31e, 31f are displayed on a display screen of a display monitor 22c. - 特許庁

複数種類の被試験器の試験を効率的に行うことを可能とする自動試験装置を提供する例文帳に追加

To provide an automatic testing apparatus that makes it possible to efficiently test a plurality of kinds of devices to be tested. - 特許庁

1自由度系の被試験体の振動試験において、試験相互間に被試験体の重量が変化しても各振動試験前の予備加振を不要にする例文帳に追加

To eliminate the need for preliminary excitation before each vibration test, even if the weight of an object to be tested changes among the respective tests in vibration tests of the object to be tested in a 1 freedom degree system. - 特許庁

パッケージに実装されたメモリチップは、モード選択信号に応じて、ロジックチップ内で発生する内部試験パターン(第1試験モード)または外部から供給される外部試験パターン(第2試験モード)を使用して試験される。例文帳に追加

The memory chip packaged in the package is tested with the internal test pattern (the first test mode) generated in the logic chip or the external test pattern (the second test mode) supplied from the outside according to the mode select signal. - 特許庁

システムが様々な試験プログラムを通して進行すると、試験プログラムは、試験結果によって、一時的なレコードを更新する例文帳に追加

When the system is advanced through various testing programs, the programs temporarily update the records according to the result. - 特許庁

例文

容易に正確な試験することができる皮膚反応試験方法とそれに用いる試験部材を提供する例文帳に追加

To provide a method and a member for examining skin reaction by which accurate examinations can be performed easily. - 特許庁

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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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