「を試験する」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity. - 特許庁

半導体試験装置１は、ＤＵＴ３０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０で得られた試験結果を表示する表示部２６を有する端末装置２０とを備える。例文帳に追加

The semiconductor test device 1 includes a test device body 10 for performing the test of DUT 30, and a terminal device 20 having a display part 26 for displaying the test results obtained by the test device body 10. - 特許庁

時間的に連続した負荷を被試験体に印加して、被試験体の試験を行うことを可能とする、評価試験装置および評価試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an evaluation test apparatus and evaluation test method in which an object to be tested can be tested by applying a load, which is temporally continuous, to the object to be tested. - 特許庁

試験条件ファイルのファイル更新をすることなく設定変更し試験を行える試験条件を選択し、その選択結果を試験条件とともに試験条件ファイルに格納する。例文帳に追加

The test condition is selected to change setting for carrying out the test without file-updating the test condition file, and a selected result is stored together with the test condition, in the test condition file. - 特許庁

半導体試験装置１は、ＤＵＴ３０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０で得られた試験結果を表示する表示部２６を有する端末装置２０とを備える。例文帳に追加

The semiconductor test apparatus 1 is equipped with a test apparatus main unit 10 which carries out a test of a DUT 30, and a terminal device 20 including a display section 26 for displaying a test result obtained by the test apparatus main unit 10. - 特許庁

マッチモード機能を利用した複数ＤＵＴの同時測定において、試験済のアドレス領域を重複試験しないで効率的なデバイス試験方法を実現する半導体試験装置の試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test method for a semiconductor test device realizing an efficient device test method without testing doubly an address region already tested, in simultaneous measurement of plural DUT(device to be tested) utilizing a matched mode function. - 特許庁

ＥＭＣ試験（特にイミュニティ試験）を行うに当たって、試験用電波を送信するのに用いられる増幅器のコストアップを招くことなく、試験対象物に対して試験用電波を適正に照射できるようにする。例文帳に追加

To allow a test object to be properly irradiated with testing purpose radio wave without incurring an increase in cost of an amplifier used for transmitting the testing purpose radio wave in the case of carrying out an EMC test (particularly, an immunity test). - 特許庁

複数の試験項目から実行対象として選択された１つ以上の試験項目を含む試験を、試験項目毎に、１つ以上の測定器用いて、被試験器に対して実行する試験実行手段と、選択された１つ以上の試験項目を含む試験画像を表示する試験項目表示手段と有する。例文帳に追加

The testing device includes: a test execution means that executes testing including one or more test items selected from among a plurality of test items as an object to be executed to a device to be tested concerning each of the test items by using one or more measuring instruments; and a test item display means that indicates a test image including one or more selected test items. - 特許庁

試験１の後に直ちに試験２を実行する場合に、試験条件の変更を行なっても、被試験半導体デバイスに与えている信号の状態が変化しない半導体デバイス試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device testing apparatus changing no state of a signal imparted to a semiconductor device to be tested even if the test condition is changed when performing a test 2 immediately after a test 1. - 特許庁

本発明は、複数の被試験デバイスを同時試験する場合に、被試験デバイスのＩ／Ｏピンのビット構成に対応して同時試験個数を効率よく容易に増加できる半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor-testing apparatus for efficiently and easily increasing the number of devices to be tested simultaneously corresponding to the bit configuration of the I/O pin of the device to be tested when simultaneously testing the plurality of devices to be tested. - 特許庁

大型の供試体の圧縮変形及び／または剪断変形の性能試験を大掛かりな設備や装置を用いることなく試験することが出来る圧縮・剪断試験試験方法及びその試験装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a compression/shear test method and its testing device capable of testing a performance test of compression deformation and/or shear deformation of a large-size sample piece without using large-scale equipment or a device. - 特許庁

透過率を低減させず、密着力、耐久性試験、高温試験、サイクル温度試験、湿度試験等の種々の環境試験をクリアする光学部材およびその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide an optical member which clears various environment tests such as a test on adhesive force, a durability test, a high-temperature test, a cycle temperature test and a humidity test without reducing transmittance, and to provide its manufacture method. - 特許庁

試験テーブル４上に備えられた平板状の試験台２と試験台に被試験紙を装着する部材３と、円筒上のローラ１を備え、試験テーブル下にはモータ等の前記ローラを駆動する機構が備えられている。例文帳に追加

This particle collector is provided with a plate type test base 2 arranged on a test table 4, a member 3 for sticking tested paper to the test base, and a cylindrical roller 1, and a mechanism such as a motor driving the roller is arranged beneath the test table. - 特許庁

また、曲げ試験ユニットをねじり試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。例文帳に追加

The card strength test can be completed by one device by installing a bending testing unit in juxtaposition in the torsion testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common. - 特許庁

また、ねじり試験ユニットを曲げ試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。例文帳に追加

The card strength test can be completed by one device by installing a torsion testing unit in juxtaposition in the bending testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common. - 特許庁

エンコードデータをデコードする被試験対象を、ＩＣ試験装置で試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。例文帳に追加

To realize a test system capable of testing a tested object for decoding encode data with an IC testing device. - 特許庁

２以上の被試験対象を試験する場合に、フォーマッタを被試験対象ごとに設ける必要がないＩＣテスタを実現することを目的にする。例文帳に追加

To provide an IC tester that does not require a formatter every tested object when two or more tested objects are tested. - 特許庁

この発明は、多値出力のパス／フェールを試験する試験時間を短縮した半導体試験装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor tester capable of reducing the test time for testing pass/fail of multi-value output. - 特許庁

試験作業の効率化を図ることができるとともに、高い試験精度を確保することができる電子部品試験装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an electronic component tester, capable of securing high testing accuracy and of increasing the efficiency of testing operations. - 特許庁

試験装置と被試験器とを接続する複数のケーブルを接続する際の作業効率を向上させることができる試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide a test system capable of improving the efficiency of operation to connect a plurality of cables connecting a test device and a tested device to each other. - 特許庁

試験作業の効率化を図ることができるとともに、高い試験精度を確保することができる電子部品試験装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an electronic component tester capable of securing a high test precision while intending to increase the effect of test operation. - 特許庁

第八条　技術士試験の第一次試験又は第二次試験（第十条第一項において「各試験」という。）に合格した者には、それぞれ当該試験に合格したことを証する証書を授与する。例文帳に追加

Article 8 A person who has passed either the first stage professional engineer examination or the second stage professional engineer examination (referred to as "each examination" in Article 10 (1)) is given a certificate of success in the corresponding examination.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。例文帳に追加

To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time. - 特許庁

データの書込み時間を短縮することで試験の高速化を可能とするデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and method for testing a device by which a test can be speeded up by shortening time for writing data. - 特許庁

リペアブロックをエリア領域毎に有する被試験メモリの試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device which can shorten a testing time of a memory to be tested having a repair block for each area domain. - 特許庁

つかみ具に対する試験片の芯出しを容易に行うことができ、材料試験を正確に実行することが可能な材料試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a material tester for easily centering a specimen relative to a gripper, and conducting a correct material test. - 特許庁

移動端末機の送信電力制御機能を試験する際に、試験時間を短縮することができる移動端末機試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a mobile terminal testing device which enables the test time for testing a transmission power control function of a mobile terminal to be shortened. - 特許庁

タイヤの試験を素早くかつ完全に実施可能にする、タイヤを試験するための試験配置並びに装置及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test configuration capable of rapidly and perfectly executing a test of a tire; its device; and its method. - 特許庁

本発明の複合小型試験は：表層小型試験片を用いて落重試験を行う工程と；内部小型試験片を用いて脆性破面率または吸収エネルギーを測定する小型試験を行う工程と；を含む。例文帳に追加

A complex miniature test includes a process to conduct a drop weight test using surface miniature specimen, and a process to conduct a miniature test for measuring brittle fracture surface ratio or absorbed energy by using an internal miniature specimen. - 特許庁

試験要求が出されたＡＴＭ伝送試験装置は、試験要求の試験モードに応じた伝送試験用ＡＴＭセルを生成し、対向するノードに送信する。例文帳に追加

The ATM transmission testing device to which the test request is sent generates an ATM cell for transmission test corresponding to the test mode of the test request and transmits the ATM cell to the opposite node. - 特許庁

試験パターンデータ生成部１１は、試験項目マトリックスファイル２１に記憶されている試験項目の組合せのうち、同時に設定することが可能な試験項目の組合せに基づいて試験パターンデータを生成する。例文帳に追加

A test pattern data generating part 11 generates test pattern data based on the combination of simultaneously settable test items among test items stored in a test item matrix file 21. - 特許庁

この装置は、ヘッドを試験することができる試験ステーションを有するデッキを有する。例文帳に追加

The apparatus has a deck having a test station at which a head can be tested. - 特許庁

本発明は、効率よく回路を試験することができる回路試験装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a circuit testing equipment capable of efficiently testing a circuit. - 特許庁

内径を有するパイプのセグメントの完全性を試験する試験プラグ組立体を提供する。例文帳に追加

To provide a test plug assembly for testing the integrity of a pipe segment having an inner diameter. - 特許庁

試験状態のＩＣに発生する自己発熱を、試験装置自体で吸熱することができる半導体試験装置を実現する。例文帳に追加

To achieve a semiconductor testing apparatus which can absorb self-heating, produced in an IC under testing by the semiconductor test apparatus itself. - 特許庁

第十七条　指定試験機関が試験事務を行う場合においては、指定試験機関は、不正の手段によつて技術士試験を受けようとした者に対しては、その試験を受けることを禁止することができる。例文帳に追加

Article 17 (1) In the case where the designated examining agency conducts the examination works, the designated examining agency may prohibit a person who has attempted to take the professional engineer examinations by illicit means from taking the examination.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

複数の感知器の試験を行なうのに、個々の感知器をその都度指定せずとも、全ての感知器の試験を行なうことの可能な試験システムおよび試験器および試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test system, a tester and a testing method for performing the test of all sensors without designating each sensor for testing a plurality of sensors. - 特許庁

簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology for significantly reducing test man-hours for the withstand voltage test of a three-terminal capacitor using a simple device, and for making the withstand voltage test by a one-time withstand voltage test process of the three-terminal capacitor to be tested completed. - 特許庁

試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1. - 特許庁

冷熱衝撃試験装置１は、高温試験室２と低温試験室３とを有し、両者の間を試料Ｗを載せたラック４が移動することにより、冷熱衝撃試験の試験環境を切り替え可能な構成とされている。例文帳に追加

This cold thermal shock testing device 1 has a high-temperature testing laboratory 2 and a low temperature testing laboratory 3 The device can change the test environment in the cold thermal shock test by moving a rack 4, on which a sample is placed between both the laboratories. - 特許庁

被試験体から削り取られたゴム粉の飛散を防止しながら、ゴム粉の被試験体や試験路面への付着を抑制して高精度の試験結果を得られるようにした加硫ゴムの動摩擦試験方法及びその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for dynamical friction testing of vulcanized rubber, preventing scattering of rubber powder cut away from a tested object, while inhibiting adherence of the rubber powder to the tested object or a surface of a testing road, to obtain test results with high accuracy. - 特許庁

ソフトウェアの試験対象オブジェクトが動作する試験サーバと複数の試験端末とオブジェクトを管理する試験管理端末から構成される複数の試験サイトとネットワーク接続したソフトウェア試験作業支援装置から構成されるソフトウェア試験環境において、試験状況情報、試験環境情報、障害情報管理を連携して行う。例文帳に追加

To cooperatively control testing situation information and testing environment information and failure information management in a software testing environment constituted of a software testing work supporting device connected through a network to plural testing sites constituted of a testing server in which the objects to be tested of software are operating and plural testing terminals and a testing control terminal for controlling the objects. - 特許庁

ソフトウェア試験を実施する際、試験項目を過不足なく自動的に抽出することができるようにする。例文帳に追加

To automatically extract test items in just proportion when a software test is performed. - 特許庁

試験対象物に作用する荷重を高精度に検出することができる風洞試験装置を提供する。例文帳に追加

To precisely detect a load acting on a testing object. - 特許庁

被試験デバイスが出力する出力信号のジッタ量を可視化する試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing apparatus which visualizes the amount of jitter of an output signal outputted by a device to be tested. - 特許庁