「を試験する」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

複数種類の気密容器の気密試験を一台の気密試験機で効率良く行うことができる気密試験機を提供する。例文帳に追加

To provide an airtightness testing machine in which a plurality of types of airtight container can be tested using a single airtightness testing machine. - 特許庁

任意の初期歪みで粘弾性体の試験を行うことが可能な試験方法および試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test method and a testing device which tests a viscoelastic body by an optional initial strain. - 特許庁

アンビルへ搬送する際の試験片の温度変化を低減し、精度良い衝撃試験を行うことができるシャルピー衝撃試験機の提供。例文帳に追加

To provide a Charpy impact tester capable of executing an accurate impact test by reducing a temperature change of a test piece when conveyed to an anvil. - 特許庁

内蔵されたＤＡコンバータおよびＡＤコンバータの試験を、アナログ試験用の試験装置を用いることなく行えるようにする。例文帳に追加

To conduct tests of built-in DA converter and AD converter without using a test device for analog test. - 特許庁

簡単なアドレス管理だけで複数個のメモリ試験を同時に実行できるメモリ試験装置およびメモリ試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a memory testing device and a memory testing method which can simultaneously execute a plurality of memory tests only by simple address management. - 特許庁

機器の確認試験を実施する場合、機器の試験を行うための専用の操作画面に遷移させて機器の確認試験が実施される。例文帳に追加

In performing the verification test of the apparatus, the apparatus verification test is performed by switching to a dedicated operation screen for the apparatus test. - 特許庁

車両試験装置上に積載された試験車両Ｖとの間に張架したベルト１１を介して、試験車両Ｖを固定する。例文帳に追加

A test vehicle V is fixed through a belt 11 stretched between the test vehicle V loaded on a vehicle testing device and the device itself. - 特許庁

走行試験中の車両の駆動力が実路走行時と異なる値になることを抑制し、その走行試験の試験結果をより正確なものとする。例文帳に追加

To make the result of a test more accurate by inhibiting the driving force of the vehicle under running test from becoming different value at running on the actual road. - 特許庁

半導体試験装置は、半導体試験用プログラムを実行することにより複数の半導体装置に対して所定のＡＣパラメトリック試験を行う。例文帳に追加

The region of a variable is ensured so as to correspond to the number of semiconductor devices. - 特許庁

設定器１Ａ，１Ｂ，１Ｄを試験パターンとしてプログラム設定し、ノイズ試験開始には試験パターンを自動的に発生する。例文帳に追加

A program is set by using the setters 1A, 1B, 1D as test patterns, and when the noise test is started, the test pattern is generated automatically. - 特許庁

本発明は、被試験対象を各種試験パターンで試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。例文帳に追加

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object in various test patterns. - 特許庁

試験の後、試験の合格者は、受験者ＰＣ７、インターネット３を介して、試験場サーバ１に合格者証情報を要求する。例文帳に追加

After an examination, the passer requires passer certificate information to an examination hall server 1 via an examinee PC 7 and the Internet 3. - 特許庁

油処理剤の有効性を評価する評価試験に必要な所定の試験用具を収納した油処理剤試験キット。例文帳に追加

The oil treatment agent test kit houses predetermined test instruments necessary for the evaluation test for evaluating the effectivenesss of the oil treatment agent. - 特許庁

安価に構成でき且つデータ採集の簡易な試験を行うことの可能な超音波試験装置及び超音波試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an ultrasonic testing device and an ultrasonic testing method capable of economical constitution and capable of testing with simple data collection. - 特許庁

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行うことが可能な揺動回転試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device for testing rocking rotation, capable of performing both endurance test and performance test of a machine component or the like. - 特許庁

高温腐食試験装置1は、試験片Sの温度を調整ガスGの温度よりも低いものとする試験片温度調節手段5を備えている。例文帳に追加

A high-temperature corrosion testing device 1 includes a test-piece temperature adjusting means 5 of adjusting the temperature of a test piece S to lower than the temperature of an adjusting gas G. - 特許庁

このため、第１メモリチップ単体を試験する試験プログラムを、半導体装置の組み立て後の試験プログラムとして流用できる。例文帳に追加

Therefore, the test program for testing a simple body of the first memory chip can be utilized as a test program for the semiconductor device after assembly. - 特許庁

半導体試験装置のピンリソースを効率的に使用できる半導体試験方法および半導体試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing method and a semiconductor test system where pin resources in a semiconductor testing apparatus can be efficiently used. - 特許庁

落下試験を繰り返し連続的に行う際に、被試験体の吊上げ作業が短時間で簡単にできて試験効率を良くする。例文帳に追加

To improve efficiency in testing by quickly and easily performing suspension work of an object to be tested when performing a drop test repeatedly and continuously. - 特許庁

剪断試験中、試験ツール(100)により結合部(302)を基板(300)から剪断させるとき、当接部(30,31)は追加のクランプ力を試験ツール(100)に付与する、例文帳に追加

During a shear test, abutments (30, 31) provide an additional clamping force on the test tool (100) while the test tool (100) is shearing the bond part (302) off of the substrate (300). - 特許庁

端子数が少なく且つ低速な試験装置を用いた試験環境で半導体装置を試験できるようにする。例文帳に追加

To test a semiconductor device in a testing environment using a low-speed test device having few terminals. - 特許庁

試料の傾きや平面度の誤差に依存せず、自動試験を行うことのできる硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a hardness testing machine and a hardness testing method that can perform an automatic test independent from an error of an inclination and a flatness of a sample. - 特許庁

本発明は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことのできるジッタ試験装置及びジッタ試験方法の提供を目的とする。例文帳に追加

To provide a device and a method for a jitter test which enable execution of a high-reliability jitter test, in a short time. - 特許庁

真空環境下において螺子がかじるかどうかの試験を行うことが可能なかじり試験装置及びかじり試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scoring test device and a scoring test method capable of testing whether a screw scores in a vacuum environment. - 特許庁

被試験機器の消費電流によらず、同一の試験条件を実現できるサージ試験回路を提供する。例文帳に追加

To provide a surge test circuit that can realize the same testing condition regardless of consumption current of tested-equipment. - 特許庁

被試験端末のレイテンシをユーザに容易に識別させることができるシーケンス試験装置及びシーケンス試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sequence test apparatus and a sequence test method capable of allowing a user to easily identify the latencies of terminals to be tested. - 特許庁

保護継電装置の回路や動作の試験を容易に実施できる試験端子と試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a test terminal and a test method capable of easily testing a circuit or operation of a protection relay device. - 特許庁

また、試験指示を受け付けると、試験モード用に設定されたプロトコルに従って、送信された試験データの受信を制御する。例文帳に追加

The storage device controls the reception of the transmitted test data according to the protocol set for the test mode upon receiving the test instruction. - 特許庁

低コストで移動通信端末の通信試験を行うことが可能な試験環境設定装置及び試験環境設定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a device and method for setting an inexpensive test environment in which a communication test of mobile communication terminal can be carried out. - 特許庁

動作速度が高速な被試験デバイスの試験を小型且つ安価に実現できる試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device capable of realizing a test of a device having a high operation speed, inexpensively in a small size. - 特許庁

試験片１に試験空気を供給する試験空気圧室２７の外周を、シール圧室３５で囲む構成とした。例文帳に追加

The outer periphery of a test air-pressure chamber 27 for supplying test air to a test piece 1 is surrounded by a sealing pressure chamber 35. - 特許庁

試験装置本体で試験のためのパターンを生成して，試験装置本体とコネクタを介して接続されたソケット基板に入力する。例文帳に追加

In the high-speed test method of ICs, a test device main body 1 produces a pattern for testing and inputs it to a socket substrate 3 connected to the test device main body through connector. - 特許庁

特に、評価条件出力部２１は、テストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に、当該試験の評価条件を出力する。例文帳に追加

The evaluating condition output section 21 outputs the evaluating conditions of the test to the test pattern testing section 1 for carrying out testing of the test pattern. - 特許庁

微小試験片の疲労特性及び引張特性を高精度に測定できる微小試験片用材料試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a material testing machine for a fine test piece capable of measuring a fatigue characteristic and a tensile characteristic of the fine test piece with high accuracy. - 特許庁

複数の下位装置対向試験を同時に行い、下位装置対向試験の試験時間を短縮する。例文帳に追加

To provide a subordinate unit opposite test system that can reduce a test time for a test opposite to a subordinate unit by conducting subordinate unit opposite tests at the same time. - 特許庁

簡易な構成で、被試験デバイスのジッタ耐力を試験するループバック試験を精度よく行う。例文帳に追加

To perform a loop back test precisely in which a jitter proof strength of a device to be tested is tested with a sufficient accuracy and a simple constitution. - 特許庁

光線路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１により、試験光遮断フィルタ８の有無を判定する。例文帳に追加

Before characteristics of an optical path are examined, a test light cutoff filter existence/absence determining device 31 determines whether there is a test light cutoff filter 8 or not. - 特許庁

小型で簡単な構造でありながら、被試験物の周囲を低圧にでき、被試験物の観察ができる簡易負圧試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a simple apparatus for a negative pressure test which can reduce the pressure around a test piece to be observe even with a small-sized, simple structure. - 特許庁

試験機器の主ユニット30を、被試験ケーブル32の一端側に接続し、遠隔ユニット34を、被試験ケーブル32の他端側に接続する。例文帳に追加

A main unit 30 of a test instrument is connected to one terminal side of a cable 32 to be tested, and a remote unit 34 is connected to another terminal side of the cable 32 to be tested. - 特許庁

プラント試験ならびにプラント試験管理業務を効率的に進めることのできるプラント試験管理装置を提供する。例文帳に追加

To provide a plant test managing device which can efficiently advance a plant test and plant test managing operation. - 特許庁

試験対象設備の機能試験を遠隔操作にて行うことが可能な遠隔自動試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a remote automatic test device capable of testing the functions of a facility to be tested by remote control. - 特許庁

サーベイランス試験に係わる全ての試験結果を一元管理すること、及びサーベイランス試験効率を大幅に向上させること。例文帳に追加

To greatly improve surveillance test efficiency by unitarily controlling all test result regarding a surveillance test. - 特許庁

試験対象の性能向上にともなう試験コストの増大を防ぐことが可能なＩＣ試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an IC testing device capable of preventing a test cost from increasing in accompaniment to enhancement of performance in a testing object. - 特許庁

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行うことが可能な揺動回転試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device for rocking/rotation testing for carrying out both an endurance test and a performance test on machine parts, etc. - 特許庁

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行う耐久性能試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an endurance performance testing apparatus performing both an endurance test and a performance test of a mechanical component, or the like. - 特許庁