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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > を試験するに関連した英語例文

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を試験するの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 16326



例文

汚泥焼却炉の性能試験において、再現性及び信頼性の高い試験データを取得することが可能な性能試験方法を提供する例文帳に追加

To provide a performance testing method capable of obtaining testing data with high reproducibility and reliability in a performance testing of a sludge incinerator. - 特許庁

試験紙を保持および分配するためのカセット、試験紙を貯蔵および分配するためのバイアル、および試験紙の分配方法例文帳に追加

CASSETTE FOR HOLDING AND DISTRIBUTING TEST PAPER, VIAL FOR STORING AND DISTRIBUTING TEST PAPER, AND DISTRIBUTING METHOD OF TEST PAPER - 特許庁

被験者の皮膚の色に関係なく、容易に正確な試験することができる皮膚反応試験パッチとその試験方法を提供する例文帳に追加

To provide a patch for testing skin reaction and its test method capable of easily and accurately performing tests regardless of the color of the skin of a subject. - 特許庁

試験信号の試験パターンをより速い速度で発生することのできる半導体試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a semiconductor testing device capable of generating the test patterns of test signals at faster speed. - 特許庁

例文

石炭燃焼試験等の試験データを長期間利用することが可能な試験データバックアップ技術を提供する例文帳に追加

To provide test data backup technology capable of utilizing the data of a test such as a coal combustion test and the like for a long period. - 特許庁


例文

試験ボード側からの更新要求に応じて簡単に試験プログラムを更新することができる半導体試験システムを提供する例文帳に追加

To provide a semiconductor testing system capable of simply updating a test program in accordance with an update request from a test board side. - 特許庁

試験を開始する前に、予め情報生成部214によってシミュレートのシナリオ(試験条件)としての試験情報224を作成する例文帳に追加

Prior to starting a test, the information creating part 214 creates the test information 224 as a simulation scenario. - 特許庁

本発明は、様々なサイズのリングギヤの試験に対応でき、エンジン試験測定誤差を抑制することができる、エンジン試験装置を提供する例文帳に追加

To provide an engine testing apparatus capable of corresponding to tests of ring gears of various sizes and capable of suppressing engine test measurement errors. - 特許庁

フィールド試験を効率よく再現することのできる無線通信端末試験装置、及び無線通信端末試験方法を提供する例文帳に追加

To provide a wireless communication terminal test apparatus and a wireless communication terminal test method which efficiently reproduce a field test. - 特許庁

例文

試験室内の回路基板への結露を防止する環境試験装置及び環境試験方法を提供する例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for testing an environment which prevents condensation on a circuit board in a testing chamber. - 特許庁

例文

試験デバイスの入力端子の仕様に応じて適切な電圧の試験信号を供給する試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a testing arrangement supplying test signal of proper voltage accordingly to the specification of the input terminal of a tested device. - 特許庁

車載機器の電圧変動試験時に車両側から試験装置へ過電流が流入するのを防止可能な車載機器試験装置を提供する例文帳に追加

To provide an on-board equipment testing device capable of preventing an overcurrent from flowing from a vehicle side into the testing device, when testing voltage fluctuation in on-board equipment. - 特許庁

試験デバイスを、被試験デバイスのクロック及びデータ信号をサンプリングすることによって試験すること例文帳に追加

TEST OF TESTED DEVICE BY SAMPLING CLOCK AND DATA SIGNAL OF TESTED DEVICE - 特許庁

低コスト、且つ高速度で半導体メモリ等の被試験デバイスを試験することができる試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a testing device capable of testing the device to be tested such as a semiconductor memory with low cost and at high speed. - 特許庁

試験の実施のためのファイル作成等の準備や、試験環境構築が簡単な自動試験方法を提供することを目的する例文帳に追加

To provide an automatic test method for preparing for file creation for execution of a test or establishing test environments easily. - 特許庁

ソフトウェアの加速試験を効率的に実行することのできるソフトウェアの加速試験装置及び加速試験方法を提供する例文帳に追加

To provide an acceleration testing device and an acceleration testing method of software for efficiently executing the acceleration test of the software. - 特許庁

複数の試験対象装置に対する複数の試験を、同時並行的に効率よく行える試験システムを提供する例文帳に追加

To provide a test system capable of efficiently performing a plurality of tests for a plurality of devices under test in parallel simultaneously. - 特許庁

半導体素子の電流試験の測定時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a semiconductor test apparatus which can reduce the measurement time of a current test on a semiconductor device, and semiconductor test method. - 特許庁

安定した低温環境で硬さ試験を実施することができる試料冷却装置、硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a sample cooling device, a hardness test device, and a hardness test method for implementing a hardness test under a stable low temperature environment. - 特許庁

一度の試験で複数の判定結果が得られ、試験時間を短縮することのできる半導体試験結果の判定方法及び判定回路を提供する例文帳に追加

To make a plurality of judgement results obtainable with a test and reducing the test time. - 特許庁

特別な試験用端末を用意することなく一般に移動端末で試験が実行できる特番発信による試験制御方式を提供する例文帳に追加

To realize a test control system by dialing a special number by which a mobile terminal can execute the test in general without the need for a special test terminal. - 特許庁

インバータを試験するに当たり、適切な回転数、回転方向で試験できるインバータ試験装置等を提供する例文帳に追加

To provide an inverter testing device and the like that can perform tests at the appropriate number of revolutions and in an appropriate rotational direction, in testing an inverter. - 特許庁

共同住宅の各住戸内に配置される警報装置に試験部を設け、試験部は、火災感知器などに対する試験を自動的に実施する例文帳に追加

A testing part is formed in an alarm device arranged in each dwelling unit of the apartment house, and the testing part executes automatically a test on the fire sensor or the like. - 特許庁

高精度、短時間、低コストで車両評価試験を実現する車両評価試験システム、車両評価試験方法を提供する例文帳に追加

To provide a vehicle evaluation test system, and a vehicle evaluation test method for accurately and inexpensively attaining vehicle evaluation test, in a short time. - 特許庁

免震ゴムなどの可撓性部材を加力試験する際、より所望の条件下で加力試験できる加力試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a load tester which accomplishes load testing under better desired conditions as done for flexible members such as anti-seismic rubbers. - 特許庁

ねじ付き試験片であってもねじ無し試験片であっても、固定具を交換することなく引張試験を実施できるようにする例文帳に追加

To conduct a tensile test without exchanging fixtures even when with a threaded test piece or an unthreaded test piece. - 特許庁

IC試験における自己診断試験に係る実行時間を短縮するとともに、IC試験全体に係る実行時間を短縮することである。例文帳に追加

To reduce the execution time for a self-diagnosi tests in IC test and at the same time, reduce the execution time for the entire IC test. - 特許庁

試験時間を短縮することができる半導体デバイスの試験装置および試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for the test of a semiconductor device whose test time can be shortened. - 特許庁

ポーズ実力等の性能の異なる複数個のメモリデバイスを同時に試験することができる試験装置及び試験方法を提供する例文帳に追加

To provide a test device and a test method which can test simultaneously a plurality of memory devices of which performances such as pause capability or the like are different. - 特許庁

プラズマディスプレイパネルの品質を容易に試験することができる試験方法及び試験装置を提供する例文帳に追加

To easily test the quality of a plasma display panel by detecting a corona discharge generated by a defect. - 特許庁

貫入試験において貫入ロッドを伝播する音を確実に聴取して記録することができる貫入試験機および貫入試験方法の提供。例文帳に追加

To provide a penetration test machine and method capable of surely hearing and recording sound propagating through a penetration rod in a penetration test. - 特許庁

筆記試験における紙の消費や試験問題の流出を防止することが可能な筆記試験システムを提供すること。例文帳に追加

To provide a written examination system capable of preventing consumption of paper and leakage of examination questions in a written examination. - 特許庁

大面積を有する基板の試験をさらに改良した基板の試験装置及び方法を提供する例文帳に追加

To provide an improved substrate test device for testing a substrate having a large area, and a method. - 特許庁

試験体の過度の乾燥を防止することを可能とした試験容器を提供する例文帳に追加

To provide a test container preventing excessive drying of a test piece. - 特許庁

利便性を向上するとともに摩擦試験の精度を向上できる摩擦試験機を提供する例文帳に追加

To provide a friction tester capable of improving convenience, and also improving accuracy of a friction test. - 特許庁

複数の試験ストリップを格納し、かつ一度に1つの試験ストリップを分与する装置を提供する例文帳に追加

To provide a device of housing a plurality of test strips and endowing one test strip each time. - 特許庁

車両の走行試験を行うにあたり、実際の運転により近い試験を可能にすることを目的とする例文帳に追加

To enable a vehicle traveling test to be carried out more similarly to an actual operation. - 特許庁

DBI機能を備えたメモリを試験することが可能なメモリ試験装置を実現する例文帳に追加

To achieve a memory test device which can test a memory provided with a DBI function. - 特許庁

監視対象装置を用意せずにマネージャに対する負荷試験を行える負荷試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a load testing device for testing a load on a manager without preparing a monitored device. - 特許庁

動物試験では、新しい治療法を人間で試験する前に、どのくらい安全で効果があるかということも試験する例文帳に追加

animal studies also test how safe and effective new treatments are before they are tested in people.  - PDQ®がん用語辞書 英語版

試験サーバは、試験開始時刻以前に、一人の受験者に対する出題数よりも多くの試験問題をデータベースに登録する例文帳に追加

A test server registers more test questions in a database than those to be set to one testee before the starting time of the test. - 特許庁

試験パターン記憶部32は、被試験対象としての半導体集積回路に供給する試験パターンを記憶する例文帳に追加

A test pattern storage part 32 stores the test pattern to be supplied to a semiconductor integrated circuit as an object to be tested. - 特許庁

作業性およびスペース効率が向上するとともに、試験効率がよくて試験装置の稼働率も向上した漏洩試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a leakage test device for improved workability and space efficiency as well as test efficiency for improved operation rate of the test device. - 特許庁

試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する例文帳に追加

To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test. - 特許庁

登録されている場合、当該試験ポイントに対する試験は実施済みとして試験ポイント一覧データの内容を更新する例文帳に追加

When it is registered, a test to the test point concerned is considered as executed and the contents of the test point list data are updated. - 特許庁

第1及び第2の端子に接続された2端子対の被試験回路の電気的特性を試験する試験回路に関する例文帳に追加

The test circuit having first and second terminals tests the electrical characteristic of a circuit to be tested having a pair of two terminals connected to the first and the second terminals. - 特許庁

加速試験方法及び加速試験装置に関し、Al配線コロージョン等の製造工程に起因する劣化を再現性良く加速試験する例文帳に追加

To provide an acceleration testing method and an acceleration testing device, by which deterioration caused by a manufacturing step such as A1 wiring corrosion or the like, can be accelerated for testing with reproducibility. - 特許庁

接点の開閉試験時に印加する試験電圧V_Tと試験電流I_Tを予め規定する例文帳に追加

A test voltage V_T and a test current I_T to be applied at the time of a switching test of contact points are predetermined. - 特許庁

ストレス試験回路(11)と、ストレス試験判定回路(12)とを具備する半導体装置(1)を構成する例文帳に追加

A semiconductor device (1) includes a stress test circuit (11) and a stress test determination circuit (12). - 特許庁

例文

化学物質毒性試験の各種試験に対応した項目を有する帳票を簡単に作成する例文帳に追加

To easily create a business form having items corresponding to various tests for chemical material toxicity tests. - 特許庁

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