「を試験する」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

材料試験機における耐力試験、弾性率試験が終了した後、試験片伸び計が試験片から自動的に離脱することができる試験片伸び計を提供する。例文帳に追加

To provide a test piece extensometer capable of enabling a test piece extensometer to automatically separate from a test piece after breakdown test and elastic modulus test in a material testing machine. - 特許庁

試験終了後の試験片の残存や、次回試験片の大きさの変化等があっても、次回試験のためのクロスヘッドがこれら試験片等に衝突することがない材料試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a material testing machine preventing collision of a crosshead to a test piece or the like for a next test even when there is a remaining test piece after a test or a change in size or the like of a next test piece. - 特許庁

情報処理装置は、基本仕様、試験路、試験車両および試験員に関する能力マップおよびスケジュール表に基づいて該基本仕様に適した試験路、試験車両および試験員を選出する。例文帳に追加

The information processing apparatus selects a test route, a test vehicle, and a testing stuff suitable for the basic specifications, on the basis of the schedule table and the capability map concerning the basic specifications, test routes, test vehicles, and testing members. - 特許庁

試験を効率化でき、試験担当技術者が試験を行いやすく、柔軟に試験の条件を設定できる呼接続試験プログラムおよび試験用端末を提供する。例文帳に追加

To provide a call-connection test program that achieves an efficient test, facilitates an engineer in charge of testing a call connection to perform the test, and allows the engineer to flexibly set the test conditions, and a test terminal. - 特許庁

一般的な強度試験機を用いて効率良く試験を行え、また、試験歯車がはすば歯車であっても安定した試験が行える歯車の歯折れ強度試験方法と歯折れ強度試験治具を提供することを課題としている。例文帳に追加

To provide a method and a tool for testing breakage strength for a gear tooth capable of carrying out a test efficiently using a general strength testing machine, and capable of conducting the stable test even when a testing gear is a helical gear. - 特許庁

複数の試験項目による冗長救済前試験を行い、冗長救済前試験の試験結果を解析し、その解析結果に基づいて、続いて行われる冗長救済後試験の試験項目を選択する。例文帳に追加

A redundancy relieving previous test having plural test items is performed, a test result of the redundancy relieving previous test is analyzed, and a test item of a redundancy relieving post test being performed successively is selected based on the analyzed result. - 特許庁

本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。例文帳に追加

This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored. - 特許庁

試験結果解析部６は、試験実行部８によって実行された動作試験の試験結果を示す試験結果データＤ１０を作成し、この試験結果データＤ１０をシナリオエディタ部２に通知する。例文帳に追加

A test result analysis section 6 creates test result data D10, indicating a test result of the performance test executed by the test execution section 8 and notifies the scenario editor section 2 of the test result data D10. - 特許庁

この試験は、試験時間の短いＤＲＡＭ１１，１２，１３をシリアルに試験し、このシリアルな試験に平行して試験時間の最も長いＤＲＡＭ１４をパラレルに試験する。例文帳に追加

In this test, the DRAM 11, 12, 13 having a short test time are tested in serial, the DRAM 14 having the longest test time is tested in parallel to this serial test. - 特許庁

加入者試験制御手段１１は、加入者試験に関する試験情報及び試験対象となる加入者である試験加入者の識別情報を送信し、試験制御を行う。例文帳に追加

A subscriber test control means 11 transmits test information related with the test of a subscriber and the identification information of a test subscriber being a subscriber to be tested, and operates test control. - 特許庁

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを試験する複数の試験ユニットと、複数の試験ユニットのそれぞれに対してコマンドを送信して、複数の試験ユニットのそれぞれの動作を制御する制御装置と、制御装置から複数の試験ユニットのそれぞれに対して送信されたコマンドを順次受信して記憶するトレースメモリとを備える試験装置を提供する。例文帳に追加

The testing device that tests devices to be tested comprises a plurality of testing units that test the devices to be tested; a controller that sends commands to the plurality of testing units, respectively and controls the operations of the plurality of testing units, respectively; and a trace memory that receives in sequence the commands sent from the controller to the plurality of testing units, respectively to store the commands. - 特許庁

一部の実施形態では、装置は、埋め込み試験特性を有する試験パターン信号を搬送する導体と、試験パターン信号を受信して試験特性を抽出しかつ抽出試験特性が予想試験特性に適合するか否かを判断する受信機試験回路と、を含む。例文帳に追加

Also in one embodiment, the device comprises the conductor which conveys the test pattern which has the embedded test characteristics, and a receiver test circuit which judges whether the test pattern signal is received, and test characteristics are extracted, and extracted test characteristics adapt a predetermined test characteristics. - 特許庁

本装置は、被試験対象のアナログ試験を行い、リタイミングクロックを出力するアナログ試験部と、このアナログ試験部のリタイミングクロックによりリタイミングを行うと共に、被試験対象のデジタル試験を行うデジタル試験部とを有することを特徴とする装置である。例文帳に追加

The tester has an analog test portion which makes an analog test of each device under test and outputs a retiming clock, and a digital test portion which performs retiming by the retiming clock of this analog test portion and makes a digital test of the device under test. - 特許庁

被試験装置の第１の端子及び第２の端子の両方に試験信号を入力して試験を行うことができ、複数の被試験装置の出力信号の周波数成分が混合されることを防ぎ、複数の被試験装置を正しく試験することができる試験装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide test equipment which can input test signal to both first and second terminals of a device under test, further can prevent mixing of frequency component in signals output from plural devices under test so as to properly test these plural devices under test. - 特許庁

被試験体Ｗを回転させたときの被試験体Ｗの釣合い状態を試験する横型釣合い試験機１０は、被試験体Ｗを支持する支持部１と、被試験体Ｗを回転させる駆動手段と、駆動手段の駆動力を被試験体Ｗに伝達するベルト３と、を備えている。例文帳に追加

This horizontal balancing machine 10 for testing a balancing condition of a body W to be tested when rotating the body W is provided with a support part 1 for supporting the body W to be tested, a driving means for rotating the body W to be tested, and the belt 3 for transmitting driving force of the driving means to the body W to be tested. - 特許庁

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。例文帳に追加

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board. - 特許庁

タイヤ試験施設を改善するために、タイヤ試験施設は、タイヤ（１）の内側走行表面（８）を試験する１つ以上の試験ヘッド（５）、およびタイヤ（１）の外側サイドウォール（３、２）を試験する１つ以上の試験ヘッド（５）を持つタイヤ試験装置を備える。例文帳に追加

In order to improve the tire testing facility, the tire testing facility comprises a tire testing device which has one or more testing heads 5 testing an inside cruise surface 8 of the tire 1, one or more testing heads 5 testing outside walls 3, 2 of the tire 1. - 特許庁

試験制御装置２０は、ロット内の少なくとも１つの被試験回路をサンプルとして試験し、このサンプルに対する試験結果に基づいて、条件設定部１０により許可情報が設定された試験項目の、サンプル以外の被試験回路に対する試験を省略する。例文帳に追加

A test controlling device 20 performs a test while using at least one tested circuit in the lot as a sample, and on the basis of the result of the test on this sample, a test on a tested circuit other than the sample is omitted as to the test item for which the allowance information is set by the condition setting part 10. - 特許庁

広いひずみ速度域での材料試験に好適に対応することができ、また、圧縮試験のみならず引張試験にも好適に対応することのできる、応用性の広い材料試験機、材料試験機用引張試験用治具セット、材料試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a material tester wide in application range capable of suitably corresponding not only to a material test in a wide strain speed region but also to a compression test and a tensile test. - 特許庁

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。例文帳に追加

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand. - 特許庁

本発明の試験システム１は、試験装置２と、試験装置２とデータ通信線５及び電源供給線６によって接続されており、試験装置２からの電源の供給によって試験プログラムが稼働する被試験装置３と、被試験装置３の稼働電流を検出する検出手段４と、を備える。例文帳に追加

The test system 1 includes: a test device 2; a tested device 3 connected to the test device 2 by a data communication line 5 and a power supply line 6, where a test program runs with power supplied from the test device 2; and a detection means 4 detecting operation current of the tested device 3. - 特許庁

送信子２０から超音波を試験体１００に送信することにより試験体に板波を発生させ、試験体を伝搬する板波を受信子３０で受信することにより板波の伝搬経路における試験体を試験する。例文帳に追加

A sheet wave is formed in the test target 100 by transmitting an ultrasonic wave to the test target 100 from a transmitter 20 and the test target in the propagation route of the sheet wave is tested by receiving the sheet wave propagated through the test target by a receiver 30. - 特許庁

被試験デバイスを試験する試験装置を診断する診断装置であって、被試験デバイスを試験する試験プログラムに基づいて、試験装置の複数の構成要素のうち、被試験デバイスの試験に用いる構成要素を抽出する機能抽出部と、機能抽出部が抽出したそれぞれの構成要素を診断する診断部とを備える診断装置を提供する。例文帳に追加

A diagnostic system for testing a device to be tested, based on the test program selected among the plurality of constitutional components may comprise: a function extraction part for extracting the constitutional components to be used for testing the objective device; and a diagnostic part for diagnosing each constitutional components extracted by the function extracting part. - 特許庁

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。例文帳に追加

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program. - 特許庁

本発明は、複数の被試験体の温度試験を自動で行いつつ、装置全体のサイズを変えることなく、被試験体の個々の詳細な加熱試験及び冷却試験を行うことができる温度試験装置及び温度試験方法を得ることを目的とするものである。例文帳に追加

To provide a temperature tester and a temperature test method for individually performing detailed heating tests and cooling tests on specimens while automatically performing temperature tests on the plurality of specimens without changing the size of the tester in its entirety. - 特許庁

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a test system, a test method and a sensor, allowing reduction of a time required for a test of a tester even when requiring a time for a test of the sensor, especially allowing confirmation of whether or not the sensor normally operates even without performing the sensitivity test of the sensor. - 特許庁

上記で生成した試験仕様書の各試験項目と、設備変化情報を照合することによって、試験結果を判定する試験端末を作成することにより、表示装置画面の全点試験の自動化を実現する。例文帳に追加

Each test items of the generated test specification is collated with the facility change information to create a test terminal which determines a result of the test, thereby automating the full-point test of the display device screen. - 特許庁

試験片の端部を保持することができる凹部を有するフランジを２個有し、これらのフランジの一方又は両方から試験片に対して圧縮応力又は引張応力を作用させることによって試験片に圧縮応力又は引張応力を負荷する応力試験用治具であって、応力試験中に試験片に対する応力負荷方向と試験片長手方向が常に一致するように少なくとも２本のガイド材が試験片に対する応力負荷方向に平行に設置されてなることを特徴とする応力試験用治具と、試験片に１．５％以上の歪みを付与する圧縮試験又は引張試験を１回又は２回以上行う応力試験方法。例文帳に追加

The stress test method implements one or two or more compression tests or tensile tests for applying a distortion of 1.5% or more to the test piece. - 特許庁

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供する。例文帳に追加

To provide a test method and a sensor which shorten time required for a test in a test unit even if time is required for the test of a sensor in a test system. - 特許庁

通常モード動作試験（１６ビットでの動作試験）と、テストモード動作試験（４ビットのパラレル試験）とを、同一の試験用ボードを用いて行うことができる半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験用ボードを提供する。例文帳に追加

To provide a test method of a semiconductor device and a test board for the semiconductor device, capable of performing a normal mode operation test (16-bit operation test) and a test mode operation test (4-bit parallel test) by using the same test board. - 特許庁

過去に同一の試験処理がなければ、その試験条件を試験条件設定部１４から試験条件記憶部１３に記憶させて試験処理を実行し、この試験処理終了後、実行状況記憶部１５にその試験条件の処理履歴を記憶する。例文帳に追加

If no same test process existed in the past, the test conditions are stored in the test condition memory section 13 from a test condition set section 14, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in the implementation state memory section 15 after the completion of the test process. - 特許庁

本発明の一形態に係る半導体試験システム１は、試験対象の半導体装置４が搭載される試験ボード２と、試験ボード２に半導体装置４の試験信号を出力する半導体試験装置３と、を備える半導体試験システムである。例文帳に追加

A semiconductor testing system 1 includes: a test board 2 on which a semiconductor device 4 of an object to be tested is mounted; and a semiconductor testing device 3 which outputs test signals of the semiconductor device 4 to the test board 2. - 特許庁

試験実施サーバ３０４の担当者は、ユーザが試験の予約を行う最後の日時である試験予約終了日時と、試験問題配布開始日時と、試験問題配布終了日時と、試験時間と、試験解答送信時間とを予め設定する。例文帳に追加

A person in charge of the test conducting server 304 previously sets test reservation terminating date and time which is the last date and time for a user to make a reservation for the test, test questions distribution start date and time, test questions distribution terminating date and time, test time, and test answer transmitting time. - 特許庁

試験データ制御部１４５は制御部１５からの送信指示に基づいて、「試験データＡ」がある格納部を検索し、試験データＡが試験データ格納部１４１にある場合、試験データ切替部１４４に試験データ格納部１４１からの試験データ選択を指示する。例文帳に追加

A testing data control unit 145 retrieves a storage where [testing data A] are present based on an indication transmitted from a control unit 15 and indicates a testing data switching unit 144 to select the testing data A from a testing data storage 141 when the testing data A are present in the testing data storage 141. - 特許庁

試験信号を印加する度にクロック遅延が異なるＤＵＴを試験する場合であっても、試験精度の低下を招くことなく高い精度で試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing apparatus which can perform a test with high precision, without causing decreases in testing accuracy, even when performing a test of a DUT having different clock delays for each application of a test signal. - 特許庁

試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートする試験エミュレート装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test emulator which emulates the test device equipped with a plurality of the test modules supplying a test signal to the test device to be tested. - 特許庁

本発明の試験紙の接着剥離強度評価方法は、試験紙と試験紙とを接着によって貼り合わせ、試験紙の紙層の破壊強度を測定することにより、試験紙の接着剥離強度を評価することを特徴とする。例文帳に追加

In this method for evaluating adhesive peel strength of test paper, the adhesive peel strength of test paper is evaluated by bonding test papers by an adhesive to measure the breaking strength of paper layers of the test papers. - 特許庁

建具を試験する試験方法であって、試験用建具保持部材に前記建具を、変形させた状態で支持させるステップと、前記試験用建具保持部材に支持された前記建具を用いて試験するステップと、を有する。例文帳に追加

The test method for testing fitting comprises steps of supporting the fitting by a fitting holding member for test in a deformed state; and performing test using the fitting supported by the fitting holding member. - 特許庁

被試験歯車の中心の孔の形状や径の歪みの影響を受けることなく、被試験歯車の歯溝の歪みを測定する歯車試験方法と、この歯車試験方法を実現する歯車試験装置とを提供する。例文帳に追加

To provide a method and device for testing gear wherein the strain of a tooth space of the gear which is to be tested is measured without affected by the strain of diameter or shape of the center hole of the gear which is to be tested. - 特許庁

押込み試験機による測定値の信頼性を確保するための押込み試験機における試験管理方法と、その試験管理方法を用いて試料の材料特性の評価を管理する押込み試験機と、を提供する。例文帳に追加

To provide a test management method for indentation tester for securing confidence in measured values of an indentation tester and an indentation tester which controls evaluation of material properties of a sample by using the test management method. - 特許庁

メモリ試験システムは、被試験メモリの試験結果を格納するフェイルメモリ１５を有するメモリ試験装置１０と、メモリ試験装置１０を制御する制御装置１とを備える。例文帳に追加

The memory test system is equipped with a memory testing device 10 having the fail memory 15 for storing a test result of the memory to be tested and a controller 1 for controlling the memory testing device 10. - 特許庁

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。例文帳に追加

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition. - 特許庁

複数の試験片を同時に試験することができるとともに、試験片ごとの正確なデータを取得することができる材料強度試験装置および材料強度試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a material strength testing device and a material strength test method capable of testing a plurality of test pieces simultaneously, and acquiring accurate data of each test piece. - 特許庁

多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals. - 特許庁

電子機器の温度試験に関し、個別の被試験装置に対応する温度試験を実行して機種別、号機別に温度試験管理を実現する電子機器の温度試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide a temperature test system for an electronic apparatus by which a temperature test corresponding to each apparatus to be tested is executed regarding the temperature test of the electronic apparatus, and by which a temperature is tested and controlled by type and by apparatus. - 特許庁