「を試験する」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

試験を管理する例文帳に追加

administer an exam  - 日本語WordNet

電気試験片を試験するための電気試験装置例文帳に追加

ELECTRICAL TESTER FOR TESTING ELECTRICAL TEST PIECE - 特許庁

試験勉強をする.例文帳に追加

study for an exam  - 研究社 新英和中辞典

(試験の)答案を採点する.例文帳に追加

mark papers  - 研究社 新英和中辞典

試験の準備をする例文帳に追加

to prepare oneself for an examination―read up for an examination  - 斎藤和英大辞典

試験の監督をする例文帳に追加

to invigilate  - 斎藤和英大辞典

試験を挙行する例文帳に追加

to hold an examination  - 斎藤和英大辞典

小便を試験する例文帳に追加

to test the urine  - 斎藤和英大辞典

試験の用意をする例文帳に追加

to prepare oneself for the examination  - 斎藤和英大辞典

水の清濁を試験する例文帳に追加

to test the purity of water  - 斎藤和英大辞典

英語を試験する例文帳に追加

to examine one in English  - 斎藤和英大辞典

試験の準備をする例文帳に追加

to prepare oneself for an examination―read up for an examination―mug up for an examination  - 斎藤和英大辞典

試験の監督をする例文帳に追加

to watch over the students at an examination―invigilate  - 斎藤和英大辞典

強度を試験する例文帳に追加

to test the strength  - 斎藤和英大辞典

人物を試験する例文帳に追加

to put one's character to the test―put one's character to the touch―take one's measure  - 斎藤和英大辞典

（試験を）監督する人例文帳に追加

someone who supervises (an examination)  - 日本語WordNet

試験でカンニングをする例文帳に追加

cheat on an exam - Eゲイト英和辞典

ダイを試験する方法例文帳に追加

METHOD OF TESTING DIE - 特許庁

試験対象に対する能動試験と受動試験とを効率的に実施する。例文帳に追加

To effectively perform a passive test and an active test for a test object. - 特許庁

従来の試験方法に比べて、試験効率を向上することができる試験方法、試験プログラム、試験装置及び試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide a test method, a test program, a test device and a test system, allowing improvement of test efficiency compared to a conventional test method. - 特許庁

閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験構成例文帳に追加

METHOD, TEST CHAMBER AND TEST SETUP FOR LEAK TESTING OF CLOSED CONTAINERS - 特許庁

直流試験装置及びこの試験装置を使用する直流試験方法例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR DIRECT CURRENT, AND METHOD OF TESTING DIRECT CURRENT USING THE SAME - 特許庁

材料試験機１０に装着した試験片に試験荷重を印加して材料試験を実行する。例文帳に追加

Material test is executed by applying a test load to a test piece fixed to a material test machine. - 特許庁

通信試験装置、通信試験機能を有するネットワーク、接続試験方法および接続試験プログラム例文帳に追加

COMMUNICATION TEST DEVICE, NETWORK WITH COMMUNICATION TEST FUNCTION, COMMUNICATION TEST METHOD AND COMMUNICATION TEST PROGRAM - 特許庁

被試験メモリの試験を被試験メモリの容量よりも少ない内部メモリで試験する。例文帳に追加

To perform a memory test using an internal memory with smaller capacity than that of a memory under test. - 特許庁

被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。例文帳に追加

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20. - 特許庁

タイヤを試験するタイヤ試験施設を提供する。例文帳に追加

To provide a tire testing facility which tests a tire. - 特許庁

自己試験機能を有する電子装置の試験方式例文帳に追加

TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS HAVING SELF-TESTING FUNCTION - 特許庁

引張り試験機能を有する材料試験機例文帳に追加

MATERIAL TESTER HAVING TENSILE TESTING FUNCTION - 特許庁

試験光送出器１は、試験光を出射する。例文帳に追加

A test light transmitter 1 emits test light. - 特許庁

被試験デバイス及び試験装置を保護する。例文帳に追加

To protect a tested device and a testing device. - 特許庁

試験処理や試験データの生成を高速化すること。例文帳に追加

To speed up a test processing or generation of test data. - 特許庁

試験対象システムの動作を試験する試験仕様の生成を容易にするとともに、試験漏れを少なくして、試験の信頼性を向上する。例文帳に追加

To facilitate the generation of test specifications for testing the operations of a system to be tested and enhance the reliability of the test by reducing test leakage. - 特許庁

試験条件発生装置１９は、試験開始、試験解除等の試験条件を指示する試験条件情報Ｓ１９を移動局１２に出力する。例文帳に追加

A test condition producing device 19 outputs test condition information S19 which indicates test conditions such as test start and test release, to the mobile station 12. - 特許庁

試験終了時における試験片の状態に係わらず、試験後の試験片を確実に回収することのできる材料試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a material testing machine, capable of reliably recovering a test piece after testing, regardless of the state of the test piece at the completion of the test. - 特許庁

試験片の取付、取外しが容易でかつ試験に試験片の自重が作用せず精度よい試験ができる材料試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a material testing machine that allows easy attachment or detachment of a test piece, prevents the dead weight of the test piece from acting on a test, and performs an accurate test. - 特許庁

材料試験機、材料試験機に用いる引張試験用治具セット、及び材料試験機を用いて実行する材料試験方法例文帳に追加

MATERIAL TESTER, JIG SET FOR TENSILE TEST USED THEREIN AND MATERIAL TESTING METHOD USING THE SAME - 特許庁

試験項目に「優先度」と試験実施に必要な「試験時間」を設け、試験項目書作成時に、優先度が高い試験項目から先に抽出する。例文帳に追加

Test items include "priority" and "test time" necessary for test execution, and when a test item document is created, the test items whose priority is high are extracted first. - 特許庁

この試験装置は、表面性状試験装置（３），硬さ試験装置（５），引張試験装置（６）のうち２以上の装置、およびこの試験工程順に試験片を搬送する試験片搬送装置（７）、試験片の搬送及び各試験装置における試験作業を自動操作する制御装置を備えている。例文帳に追加

This testing device is provided with two or more of a surface shape testing device (3), a hardness testing device (5), and tensile testing device (6); a test piece transporting device (7) which transports the test piece in the order of testing steps; and a controller which automatically controls the transportation of the test piece and the testing work of each testing device. - 特許庁

データをクロックと共に出力する被試験デバイスを正確に試験する試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test apparatus which accurately tests a device to be tested outputting data with clock. - 特許庁

異なるパスを選択するスイッチを備える、被試験デバイスを試験する試験デバイス例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, HAVING SWITCH FOR SELECTING DIFFERENT PATHS - 特許庁

試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する交換可能な複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートし、被試験デバイスや試験モジュール等の実物を用いることなく試験環境を検証する。例文帳に追加

The testing device having a plurality of replaceable test modules that supply test signals to devices to be tested is emulated to verify a testing environment without use of the real items such as the devices to be tested and the test modules. - 特許庁

ＩＣ試験装置の試験時間を短縮するＩＣ試験装置およびその制御方法を提供する。例文帳に追加

To provide an IC testing apparatus for shortening its test time and to provide a method of controlling the IC testing apparatus. - 特許庁

試験時間を短縮することができる加速度センサの試験装置および試験方法を実現する。例文帳に追加

To provide an acceleration sensor testing system and a testing method capable of shortening test time. - 特許庁

変流器試験などを試験する金属閉鎖型スイッチギヤ用試験治具を提供する。例文帳に追加

To provide a test jig for a metal-enclosed switch gear which is used for testing a current transformer. - 特許庁