「を試験する」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

この露出部分が４点曲げ試験を実行する際に試験片に当接する部分となる。例文帳に追加

The exposed parts are used as parts abutting on a test piece when executing the four-point bending test. - 特許庁

試験パケット生成手段１１は、伝送路毎に対応する試験パケットを生成する。例文帳に追加

A test packet generating means 11 generates a corresponding test packet by each transmission line. - 特許庁

曲げ疲労検出用試験体６は、マイクロ材料の曲げに対する疲労を試験するものである。例文帳に追加

The specimen 6 for bending fatigue detection is used for testing a fatigue to the bending of the micro material. - 特許庁

本発明は、結合部(302)と基板(300)との間の取付け強度を試験する剪断試験装置（12）に関する。例文帳に追加

The present invention relates to the shear testing device (12) for testing the strength of attachment between a bond part (302) and a substrate (300). - 特許庁

また、顧客の発注条件に適合する受託試験の試験計画をサーバーが生成する。例文帳に追加

Besides, the server generates the test schedule of the entrusted test matched to the ordering conditions of the client. - 特許庁

各装置による試験が終了すると、出力装置５は試験結果を表示する。例文帳に追加

When the test by each device is finished, an output device 5 displays the result of test. - 特許庁

ＰＣＢに実装する前の個々のダイを試験し、できることならバーインまで試験できるようにする。例文帳に追加

To test individual dies before mounted onto a PCB (printed circuit board), and to conduct a test up to burn-in when possible. - 特許庁

本発明は、被試験対象とキャパシタによりＡＣカップリングを行い、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。例文帳に追加

The present invention performs AC coupling by the test object and the capacitor to improve the IC tester for testing the test object. - 特許庁

より多くのタイプのエンジンを含む試験体の試験を実施可能な試験用エンジン冷却水循環システムを提供する。例文帳に追加

To provide an engine cooling water circulation system for test which is capable of testing test pieces including more types of engines. - 特許庁

本発明は、電子機器の試験対象のモジュール近傍の雰囲気のみを昇温して試験を行う温度試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a temperature test device of performing test by increasing only the temperature of an atmosphere in the vicinity of a module of a test object of electronic equipment. - 特許庁

材料試験機において、試験条件の設定を容易にすることで、使い勝手をよくし、試験の手間を省く。例文帳に追加

To provide a material testing machine which improves ease of use and saves the labor of testing by facilitating setting a test condition. - 特許庁

低速の試験装置を使用しつつも半導体装置の高速試験を可能にした半導体試験回路を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing circuit that can realize a high- speed test for semiconductor device even by using a low-speed testing device. - 特許庁

ほぼ同じ条件で複数回の横風試験を行って試験精度を向上させることができる横風試験設備を提供すること。例文帳に追加

To provide a cross-wind test facility capable of improving the test accuracy by performing a cross wind test a plurality of times, under substantially identical conditions. - 特許庁

実試験時に必要な風速を確保しつつ、全試験中の平均風量を低下させることができる試験設備を提供すること。例文帳に追加

To provide a laboratory capable of lowering an average wind amount in the whole test, while ensuring a required wind velocity during actual testing. - 特許庁

試験信号波形の劣化を抑えながら、複数のＤＵＴの試験を同時に高速で行える半導体試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing device testing a plurality of DUTs simultaneously at a high speed, while suppressing deterioration of a test signal waveform. - 特許庁

金属ポゴピンを使用して行う試験を安定した状態で行なうことができる回路試験用治具および回路試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a circuit test tool and a circuit testing method capable of stably performing a test using metal pogo pins. - 特許庁

摩耗条件と疲労条件とを各々独立して制御し得るゴム試験機、及びかかる試験機を用いたゴム試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a rubber testing machine capable of controlling the abrasion conditions and fatigue conditions, respectively independently, and to provide a rubber test method which uses the testing machine. - 特許庁

微摺動試験を行う際に試験片間に生じる摩擦力を正確に測定できるフレッチング腐食試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fretting corrosion testing device capable measuring accurately frictional force generated between test pieces when conducting a fine sliding test. - 特許庁

プラント試験調整支援装置を保守ツール２２と計器試験装置３１とにより構成し、これらを試験情報ケーブルを介して接続する。例文帳に追加

A plant test adjustment support device consists of a maintenance tool 22 and a measuring instrument test device 31, and they are connected through a test information cable. - 特許庁

被試験装置の試験範囲を切替えるレンジ切替制御装置に関し、不連続的な特性を含むことなく、広範囲の特性試験を可能とする。例文帳に追加

To provide a range change-over controller that changes over the test regions of test devices, capable of implementing a broad range of characteristic test without including discontinuous characteristics. - 特許庁

このため、レギュラーメモリセルおよびパリティメモリセルを試験するために共通の試験パターンを使用でき、試験コストを削減できる。例文帳に追加

Therefore, a common test pattern can be used in order to test a regular memory cell and a parity memory cell, and the test cost can be reduced. - 特許庁

そして、試験問題を表示完了後、試験時間に試験解答送信時間を加算した時間内にユーザから受けた解答を採点する。例文帳に追加

After the test questions are displayed, the answers received from the user within the test time added with test answer transmitting time are graded. - 特許庁

作業時間の短縮を図って効率よく漏洩試験を行い得るガス供内管の漏洩試験方法および漏洩試験用工具を提供する。例文帳に追加

To provide a leak test method for a gas supply inner pipe and a tool for leak test capable of efficiently conducting a leak test by shortening work time. - 特許庁

試験体の交換を専用の工具を用いることなく、より容易に行うことのできる釣合い試験機の試験体固定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a specimen fixing device of a balancing machine capable of easily replacing a specimen without having to use dedicated tools. - 特許庁

作業者が装置の前にいなくとも試験を行い、試験の工数を削減可能な負荷試験性能評価システムを提供する。例文帳に追加

To provide a load test performance evaluation system for performing a test even if a worker is not present in front of an apparatus and capable of reducing the man-hour of the test. - 特許庁

高速に被試験対象の試験を行うことができ、被試験対象の出力値を得ることができるを目的にする。例文帳に追加

To potentiate high-speed testing of a tested object and to make it possible to obtain an output value of the tested object. - 特許庁

微摺動試験を行う際に試験片間に生じる摩擦力を正確に測定できるフレッチング腐食試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fretting corrosion test device which can accurately measure a frictional force between specimens caused by a microsliding test. - 特許庁

防振器の伸縮動と試験装置の伸縮駆動との動作方向を一致させて、試験の精度を向上させる試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a testing device for enhancing precision of a test, by making an operation direction of expansion movement in a vibration controller consistent with an operation direction of expansion drive in the testing device. - 特許庁

複数の入力端子を備えたＬＳＩの試験を短時間かつ低コストで行うことができる回路試験装置および回路試験方法を提供する。例文帳に追加

To conduct a test of an LSI provided with a plurality of input terminals in a short time and at low cost. - 特許庁

発熱素子の熱試験装置に関し、試験作業性を良好にし、かつ、試験精度を高めることを目的とする。例文帳に追加

To improve test workability, and to improve test accuracy, concerning a thermal test device for a heater element. - 特許庁

高精度の性能試験を行うことができ、また能率のよい試験を行うことができるエアフィルタ試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an air filter testing device capable of testing precisely performance, and allowing an efficient test. - 特許庁

従来の半導体メモリ試験装置において、同時試験個数を２倍以上にすることができ、また、試験可能なデータビット数以上のメモリの試験を可能にする半導体メモリ試験装置に接続する外付け半導体メモリ試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an external semiconductor memory test device connected to a semiconductor memory test device which can increase the number of simultaneous test by double or more, and can test memories of the number of data bits or more, in a conventional semiconductor memory test device. - 特許庁

雰囲気制御装置を必要とせず、大気中で酸化や窒化の影響を受けないクリープ試験方法、及び、その試験方法を適用する試験体の製造方法、及び、クリープ試験機で前記試験方法を行うために前記試験体を固定する固定具等を提供すること。例文帳に追加

To provide a creep test method that does not require an atmosphere controller and is not affected by oxidation or nitriding in the atmospheric air, a manufacturing method of a specimen using the test method, and a fixture or the like for fixing the specimen in order to perform the test method with a creep testing machine. - 特許庁

試験のスループットを向上させることができる試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing apparatus by which a throughput of the test can be improved. - 特許庁

プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program. - 特許庁

長時間に及ぶ加圧加振試験における加圧加振試験機のランニングコストを抑える加圧加振試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a pressurization excitation testing machine capable of suppressing a running cost of the pressurization excitation testing machine in a pressurization excitation test extending in long hours. - 特許庁

緩衝器の使用環境に適した試験を行うことができる試験装置および試験方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a testing apparatus and a testing process capable of performing tests suitable for operating environments of a buffer. - 特許庁

システム試験によって試験され、複数のコンポーネントを備えている試験対象システム（ＳＵＴ）における故障を診断するための方法１００。例文帳に追加

This method 100 is used for diagnosing faults of a system under test (SUT) tested by a system test and having a plurality of components. - 特許庁

このように、被試験ケーブル32の両側から連続して試験を実行するので、試験時間を短縮できる。例文帳に追加

Thus, tests are continuously executed from both the sides of the cable 32 to be tested, thereby shortening time for test. - 特許庁

モバイル端末MNは、評価試験サーバ５から取得した評価試験プログラムを実行し、その後、評価結果を評価試験サーバ５へ送信する。例文帳に追加

The mobile terminal MN executes the evaluation test program acquired from the evaluation test server 5, and transmits the evaluation result to the evaluation test server 5. - 特許庁

複数の試験プログラムでのある試験プログラムから他の試験プログラムへの遷移を検出して、そのプログラムのバグを検出する。例文帳に追加

To detect transition to the other test program from some test program in a plurality of test programs and to detect bug of the program. - 特許庁

同一の試験装置で異なる種類のエンジンの耐久および性能試験を行うことができる内燃機関の試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device of internal engines that can perform the durability and performance test of different types of engines, using the same testing device. - 特許庁

ドラム耐久試験において、試験速度を段階的に増加させると共に、各段階の試験速度を少なくとも５時間維持する。例文帳に追加

In the drum durability test, the test speed is increased stepwise, and the test speed in each step is maintained for at least 5 hours. - 特許庁

ＬＡＮスイッチ及びＬＡＮスイッチ内又はＬＡＮスイッチ間の試験を行う試験方法に関し、ネットワーク運用中でも試験を可能とする。例文帳に追加

To enable testing even during an network operation in an LAN switch and a testing method for testing in or between LAN switches. - 特許庁

本発明は、被試験対象をテストヘッドにより試験する半導体試験装置に改良を加えたものである。例文帳に追加

The present invention has improved a semiconductor testing apparatus testing a test object with a test head. - 特許庁