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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > を試験するに関連した英語例文

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を試験するの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 16326



例文

簡易化且つ小型化を可能とする曲げ疲労試験機及び曲げ疲労試験方法を提供する例文帳に追加

To provide a machine and a method for testing bending fatigue enabling simplification and miniaturization. - 特許庁

短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験方法を提供する例文帳に追加

To provide a degradation test method capable of performing degradation tests precisely in a short time. - 特許庁

探針の針先の異常を発見することが可能な試験装置及び試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a testing device and testing method for finding abnormalities of the needle of a probe. - 特許庁

この一体性試験は、正圧および負圧を使用する、複数の空気圧減衰試験を包含する例文帳に追加

The integrity test includes a plurality of air pressure decay tests, using positive and negative pressure. - 特許庁

例文

試験時の加振に起因する地震動の発生を抑制できる耐震試験設備を提供すること。例文帳に追加

To provide an earthquake resistance testing facility capable of suppressing occurrence of seismic ground motion caused by vibration applied during testing. - 特許庁


例文

集積回路デバイスを試験するための集積回路デバイス試験を検証する方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR VERIFYING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE TEST FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁

半導体装置の生産試験時間を低減する試験システム及び方法を提供する例文帳に追加

To provide a system and a method for testing which reduce a production test time for semiconductor devices. - 特許庁

試験時に複数のCRに任意の動作モード情報を設定するとともに試験コストを削減する例文帳に追加

To set arbitrary operation mode information to a plurality of CR during a test and to reduce a test cost. - 特許庁

低コストの試験用装置で試験を実行可能とする電子装置を提供する例文帳に追加

To provide electronic equipment capable of performing a test by low-cost test equipment. - 特許庁

例文

光信号の送受信部を有する試験デバイスのループバック試験を実行する例文帳に追加

To execute a loopback test for a device to be tested having a transmission part of a light signal. - 特許庁

例文

試験用出力信号の劣化を低減するための集積回路及び試験方法を提供する例文帳に追加

To provide an integrated circuit and a testing method to reduce the deterioration of an output signal for testing. - 特許庁

電子デバイスのジッタ耐力を精度よく試験することができる試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a testing apparatus which can examine the jitterproof strength of an electronic device, with precision. - 特許庁

試験対象物の損傷を長期に抑制する試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a test device which inhibits an object to be tested from being damaged for a long period of time. - 特許庁

測定精度を確保するのに有利な剥離強さ試験方法及び剥離強さ試験治具を提供する例文帳に追加

To provide a peel strength testing method advantageous to ensure measuring accuracy and a peel strength testing jig used therein. - 特許庁

試験液の加熱効率を向上することができる溶出試験器を提供する例文帳に追加

To provide an elution tester for improving heating efficiency of test liquid. - 特許庁

精度の高い試験を効率的に実施することが可能な感圧センサ試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a pressure-sensitive sensor testing device for effectively performing an accurate test. - 特許庁

点検に要する時間を短縮することが可能な車上試験装置および車上試験方法を得る。例文帳に追加

To provide an onboard test device and an onboard test method for shortening a time required for inspection. - 特許庁

詳細な材料特性を取得することのできる硬さ試験方法及び硬さ試験機を提供する例文帳に追加

To provide a hardness testing method which can acquire detailed material characteristics, and a hardness tester. - 特許庁

冷熱サイクル試験とパワーサイクル試験の双方を満足する絶縁基板を提供すること。例文帳に追加

To provide an insulating substrate that passes both a cooling cycle test and a power cycle test. - 特許庁

ボーリング孔内の試験区間における試験装置周囲の空隙をごく僅かにすることを可能とする例文帳に追加

To minimally reduce an airspace around a testing apparatus in a test section in a boring hole. - 特許庁

ベンダ提供試験モジュールをモジュール式試験システムに統合する方法を提供する例文帳に追加

To provide a method of integrating a vendor provision test module into a modular test system. - 特許庁

試験精度と試験速度との間のバランスを最適化するようなコンピュータシステムを提供する例文帳に追加

To provide a computer system for optimizing balance between test accuracy and test speed. - 特許庁

試験機本体のチャックに試験片を移載する際の動作を確実にする例文帳に追加

To perform the operation surely in transferring a test piece to the chuck of a tester body. - 特許庁

実機条件の負荷による疲労試験を実施することが可能な疲労試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a fatigue testing device capable of executing a fatigue test by load in actual conditions. - 特許庁

安価に高温試験環境を構成することが可能な高温試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a high-temperature testing device capable of constituting a high-temperature testing environment at a low cost. - 特許庁

メモリ部の試験において、試験時間を短縮することができる半導体装置を提供する例文帳に追加

To obtain a semiconductor memory that can shorten the test time in the test of a memory section. - 特許庁

本発明は、多しきい値メモリを試験可能とする半導体試験装置のパターン発生器を提供する例文帳に追加

To provide a pattern generator for a semiconductor tester which enables tests of multi-threshold memories. - 特許庁

差動式分布型の熱感知器を簡単に試験することができる試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a testing device for easily testing a differential distribution type heat sensor. - 特許庁

試験対象ごとの遅れ時間の調整が不要な試験装置を実現することを目的にする例文帳に追加

To eliminate regulation for a time lag in every examined object. - 特許庁

短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a deterioration testing device capable of executing a highly-accurate deterioration test in a short time. - 特許庁

試験体を設置する試験室には、風を供給する送風機構が接続されている。例文帳に追加

An air blowing mechanism for supplying air is connected to a laboratory at which a test body is placed. - 特許庁

試験片の伸びを自動計測することができる引張り試験の伸び計測方法を提供する例文帳に追加

To automatically measure the elongation of a test piece. - 特許庁

充填装置の試験を簡単化するための試験用ダミー容器を提供する例文帳に追加

To provide a dummy container for testing for simplifying the testing for a filling apparatus. - 特許庁

冷熱サイクル試験とパワーサイクル試験の双方を満足する絶縁基板を提供すること。例文帳に追加

To provide an insulation substrate capable of satisfying both of a cold heat cycle test and a power cycle test. - 特許庁

不揮発性メモリの消去試験を短縮するメモリ試験方法及び装置を提案する例文帳に追加

To provide a method and device for testing memory for shortening an erase test of non-volatile memory. - 特許庁

試験システムの平面化プロセス後に基板を試験する方法を提供する例文帳に追加

To provide a testing method of a substrate after the planarization process of a testing system. - 特許庁

パケット方式のメモリデバイスを試験するメモリデバイス試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a test equipment for a memory device testing a memory device of a packet type. - 特許庁

試験項目の試験を実施するのに必要な測定器を即座に把握する例文帳に追加

To provide a test management system for allowing a testing personnel to immediately grasp the measurement apparatus required for testing each test item. - 特許庁

試験条件をしばしば変更する必要がある半導体デバイスの試験時間を短縮する例文帳に追加

To shorten the time for testing of a semiconductor device requiring frequent changes of test conditions. - 特許庁

試験巻線内部の微小な絶縁不良部分を検知することのできる巻線試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a winding test device capable of detecting a minute insulation defect in the winding. - 特許庁

試験の実施状況を容易に確認することができる試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a testing system that can easily confirm the implementation status of test. - 特許庁

簡単な構成で、試験紙を移動させながら呈色測定することができる試験紙測定装置を実現する例文帳に追加

To conduct color measurement with simple constitution while moving test paper. - 特許庁

試験塗布部は、試験塗布用のテープ712を載置するテープ台711を有する例文帳に追加

The test coating part has a tape mount table 711 on which the tape 712 for test coating is placed. - 特許庁

コンセントへの配線回路を試験するための簡易な構造の配線試験器を提供する例文帳に追加

To provide a wiring tester having a simple structure for testing a wiring circuit to a plug socket. - 特許庁

多軸試験プログラムの容量を小さくするとともに、多軸試験を容易に実行できるようにする例文帳に追加

To reduce the capacity of a multi-axis test program and at the same time easily execute a multi-axis test. - 特許庁

効率よく排煙の挙動を試験することができる排煙挙動試験装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a smoke exhaustion behavior test device capable of efficiently testing behavior of smoke exhaustion. - 特許庁

試験物に複数の分銅の荷重を同時に負荷する試験、被試験物に荷重を段階的に増加させて負荷する試験等複数の試験を専用の治具の着脱を要することなく行うことができる荷重試験機を提供する例文帳に追加

To provide a load testing machine for performing a plurality of tests, such as a test for simultaneously applying loads of a plurality of weights to a test object and a test for applying a load to the test object while increasing the load in steps, without requiring any attachment/detachment of a dedicated tool. - 特許庁

試験体の疲労を試験する疲労試験装置であって、試験体における被測定部位の残留応力を測定するX線残留応力測定装置と、試験体における被測定部位の応力振幅を測定する応力集中ゲージを備えることを特徴とする、疲労試験機が提供される。例文帳に追加

This fatigue tester for testing fatigue of a test body includes an X-ray residual stress measuring device capable of measuring a residual stress of a portion to be measured in the test body, and a stress concentration gage for measuring a stress amplitude of the portion to be measured in the test body. - 特許庁

トータルの試験時間を短縮して試験全体の効率の向上を図るとともに、コストの低減を実現した半導体試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a semiconductor test device achieving cost reduction by shortening the total test time to achieve the improvement of the efficiency of the whole test. - 特許庁

例文

負荷試験機能を備えた中継装置に関し、ネットワークテストツール(負荷試験機)を用いることなく、負荷試験を行うことを可能にする例文帳に追加

To perform a load test without using a network test tool (load tester), in a repeater provided with a load testing function. - 特許庁

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