「を試験する」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

第１試験ステップにより複数の半導体装置から第１試験データを取得する。例文帳に追加

At a first test step, first test data is acquired from a plurality of semiconductor devices. - 特許庁

試験片は複数の試験項目の実施に必要な面積サイズに調製したものを使用する。例文帳に追加

The test piece is adjusted to the area size required for performing tests on the plurality of test items. - 特許庁

Ｎビット（Ｎは自然数）のＡ／Ｄコンバータ１を試験する試験装置２が提供される。例文帳に追加

A testing apparatus 2 is provided for testing an N-bit (N is a natural number) A/D converter 1. - 特許庁

本発明は、システムＬＳＩの試験が短時間でできる半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To obtain a semiconductor testing device capable of testing a system LSI in a short time. - 特許庁

トラフィック生成装置３２から試験サーバ装置４１へ試験トラフィックデータ５５を送信する。例文帳に追加

The traffic generation apparatus 32 sends test traffic data 55 to the testing server apparatus 41. - 特許庁

オートバイ用チェーンの動力試験装置と、それを使用するオートバイ用チェーンの試験方法例文帳に追加

POWER TESTING DEVICE FOR MOTORCYCLE CHAIN AND TESTING METHOD FOR MOTORCYCLE CHAIN USING IT - 特許庁

短いテストタイムで半導体装置の試験ができる半導体装置試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device inspecting apparatus capable of testing a semiconductor device for a short test time. - 特許庁

自動試験装置（ＡＴＥ）のためのセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）（２２）を提供すること。例文帳に追加

To provide a self test adapter (STA) (22) for automatic test equipment (ATE). - 特許庁

メッセ—ジ／シ—ケンス編集機能を有する自動通信プロトコル試験システムおよび試験方法例文帳に追加

AUTOMATIC COMMUNICATION PROTOCOL TEST SYSTEM HAVING MESSAGE/SEQUENCE COMPILATION FUNCTION AND TET METHOD - 特許庁

再生骨材に対する評価試験を行う際の前処理方法、および再生骨材の試験方法例文帳に追加

PRETREATMENT METHOD IN PERFORMING EVALUATION TEST FOR REGENERATED AGGREGATE AND TESTING METHOD FOR REGENERATED AGGREGATE - 特許庁

試験信号レシーバ２１ａ〜２１ｄは、掩蔽物に反射される試験信号を検出する。例文帳に追加

The test signal reflected by the shield is detected by the test signal receivers 21a and 21d. - 特許庁

絶縁抵抗試験または耐電圧試験による残留電荷を短時間で確実に除去できるようにする。例文帳に追加

To remove residual charges surely in a short time after insulation resistance test or withstand voltage test. - 特許庁

テーパ付き試験管でも安定して把持できる試験管搬送装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test tube carrying device capable of stably holding even a tapered test tube. - 特許庁

コリメーション装置、放射線装置及び試験キット、並びに放射線装置を試験する方法例文帳に追加

COLLIMATION DEVICE, RADIOLOGY APPARATUS, TEST KIT, AND METHOD OF TESTING RADIOLOGY APPARATUS - 特許庁

通信装置18では、要求された試験用パケットを試験用通信装置10へ送信する。例文帳に追加

The apparatus 18 transmits the request testing packet to the apparatus 10. - 特許庁

試験対象の微小異常をも適切に検出できるインパルス電圧試験装置提供する。例文帳に追加

To provide an impulse voltage testing apparatus capable of properly detecting even fine abnormality of a test object. - 特許庁

外套型試験穿刺針および該試験穿刺針を使用する深部血管穿刺具および深部血管穿刺法例文帳に追加

SHEATH TYPE TEST PUNCTURE NEEDLE AND DEPTH-BLOOD-VESSEL PUNCTURE APPLIANCE AND METHOD USING TEST PUNCTURE NEEDLE - 特許庁

バーンイン試験時の半導体装置及びその試験装置の損傷を回避する。例文帳に追加

To prevent damage of a semiconductor device and a testing apparatus therefor during burn-in test. - 特許庁

コンパクトな構造で大きな試験力に対応可能な構造物試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a structure testing machine capable of responding to great testing force with a compact structure. - 特許庁

ベクトル・セット生成方法、試験システム及び試験プログラムを格納する記録媒体例文帳に追加

VECTOR SET GENERATION METHOD, TESTING SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM FOR STORING TEST PROGRAM - 特許庁

次に、該試験ガスが存在しない環境内における該試験ガスの量を検出する。例文帳に追加

Then, the amount of the test gas in the environment wherein the test gas does not exist is detected. - 特許庁

被試験素子の端子に印加される試験信号の信号波形を改善する。例文帳に追加

To improve a signal waveform of a test signal applied to a terminal of an element to be tested. - 特許庁

試験管ホルダーにおいて、外径の異なる試験管を適度な保持力で挟持する。例文帳に追加

To clamp each test tube having each different outer diameter with a proper holding power on a test tube holder. - 特許庁

ＳＭＤ型受動素子を試験する際の傷の減少方法及び試験システム例文帳に追加

METHOD FOR REDUCING FLAW WHEN TESTING SMD TYPE PASSIVE ELEMENT AND TEST SYSTEM - 特許庁

トランシーバ試験の際にレシーバの過負荷を防止する試験装置及び方法。例文帳に追加

TESTING APPARATUS AND METHOD FOR PREVENTING OVERLOAD OF RECEIVER IN TRANSCEIVER TEST - 特許庁

試験信号発生回路６０は、交流の試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを生成する。例文帳に追加

A test signal generating circuit 60 generates an AC test signal S_TEST. - 特許庁

プログラマブルな条件でプログラム試験が行えるプログラム試験装置を提供する例文帳に追加

To provide a program testing apparatus to test a program under programmable conditions. - 特許庁

試験管の搬送において、試験管の向きを簡便かつ確実に判定できるようにする。例文帳に追加

To easily and surely determine the direction of a test tube, when carrying the test tube. - 特許庁

反力桁の姿勢が把握できる載荷試験装置及び載荷試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a loading test apparatus capable of grasping an attitude of a reaction girder, and a loading test method. - 特許庁

判定部は、試験部による試験の結果に基づいて、回路ブロックの動作の良否を判定する。例文帳に追加

The determination unit determines the quality of the operation of the circuit block on the basis of the results of the test by the test unit. - 特許庁

ＬＳＩ試験装置は、試験部と、判定部と、選択部と、制御部とを具備する。例文帳に追加

The LSI test apparatus includes a test unit, a determination unit, a selection unit, and a control unit. - 特許庁

微小、薄膜状の試験片に対する材料試験を高精度に行うこと。例文帳に追加

To perform highly accurately a material test to a fine and thin film-shaped test piece. - 特許庁

放射線試験により、放射線試験前後におけるＳＤＲＡＭの状態を把握することができる。例文帳に追加

A state of the SDRAM in before and after radiation test can be grasped. - 特許庁

そして内部標準を組み込んだ試験片ホルダーは試験片載置位置に停止しないよう制御する。例文帳に追加

The test piece holder, incorporated with the internal standard, is controlled so as not to stop at a test piece mounting position. - 特許庁

すなわち、試験においてオペレータが指示すべき情報を予め試験情報２２４として生成する。例文帳に追加

That is, information to be instructed by an operator during the test is created as the test information 224 in advance. - 特許庁

受検者および試験結果の利用者の双方にとって利便性のある試験運用システムを提供する。例文帳に追加

To provide a test administration system convenient to both a examinee and a test results user. - 特許庁

ケーブルの試験体に対して１００℃以上の加熱温度で一次加速試験を実施する。例文帳に追加

A primary accelerated test is executed relative to a test body of the cable at 100°C or higher. - 特許庁

試験構成回路（１０）は被試験部品（１０８）から実時間測定値（４２）の現集合を取得する。例文帳に追加

A test constituting circuit 10 gains a present set of an actual time measurement value 42 from a tested part 108. - 特許庁

試験信号発生部１２は、周期的な試験信号によりスピーカ２２を駆動する。例文帳に追加

A test signal generating section 12 drives the speaker 22 based on a cyclic test signal. - 特許庁

メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a memory testing method using a universal testing program independent of the internal configuration of a memory. - 特許庁

被試験デバイスの分析のためのシステムおよび被試験デバイスをテストする方法例文帳に追加

SYSTEM FOR ANALYZING DEVICE TO BE TESTED AND METHOD FOR TESTING DEVICE TO BE TESTED - 特許庁

検定試験の不合格者が次に受験すべき検定試験の選択を容易にすること。例文帳に追加

To facilitate selection of a certification examination to be next taken by an unsuccessful applicant of the certification examination. - 特許庁

作動流体用試験台調整システム及びこの種の試験台調整システムを駆動する装置例文帳に追加

TEST BENCH CONDITIONING SYSTEM FOR WORKING FLUID, AND DEVICE FOR OPERATING TEST BENCH CONDITION SYSTEM OF THIS TYPE - 特許庁

制御装置１０３は、材料試験機本体１００による試験結果をモニタ１０４にする。例文帳に追加

The control device 103 outputs a test result by the material testing machine body 100 to a monitor 104. - 特許庁

不揮発性半導体記憶装置の書き換え耐久試験において、試験時間の短縮を課題とする。例文帳に追加

To shorten a test time in a rewriting durability test of a nonvolatile semiconductor memory apparatus. - 特許庁