「複合顕微鏡」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

複合型顕微鏡例文帳に追加

COMPOUND TYPE MICROSCOPE - 特許庁

レーザ顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡を備えた複合型顕微鏡例文帳に追加

COMPOUND MICROSCOPE EQUIPPED WITH LASER MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡と近接場光学顕微鏡の複合型顕微鏡例文帳に追加

COMPOUND MICROSCOPE OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE - 特許庁

複合顕微鏡及び複合顕微鏡の測定方法例文帳に追加

COMPOUND MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF COMPOUND MICROSCOPE - 特許庁

高分解能複合型顕微鏡例文帳に追加

HIGH-RESOLUTION COMPOUND MICROSCOPE - 特許庁

複合型走査プローブ顕微鏡及び複合型走査プローブ顕微鏡のカンチレバー位置表示方法例文帳に追加

COMPOUND SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR DISPLAYING CANTILEVER POSITION OF THE SAME - 特許庁

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡を用いたパターンの複合検査方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPOUND INSPECTION METHOD OF PATTERN BY USING IT - 特許庁

複合放出電子顕微鏡におけるその場観察システム例文帳に追加

IN SITU OBSERVATION SYSTEM IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

化学分析用複合放出電子顕微鏡装置例文帳に追加

COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE FOR CHEMICAL ANALYSIS - 特許庁

複合型顕微鏡装置及び試料観察方法例文帳に追加

COMPOUND MICROSCOPE DEVICE AND METHOD OF OBSERVING SAMPLE - 特許庁

光学顕微鏡とＸ線分析装置の複合装置例文帳に追加

COMBINED DEVICE OF OPTICAL MICROSCOPE AND X-RAY ANALYZER - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡用半導体・セラミックス複合カンチレバー例文帳に追加

SEMICONDUCTOR/CERAMICS COMBINED CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

複合放出電子顕微鏡における放出電子加速方法例文帳に追加

EMITTED ELECTRON ACCELERATING METHOD IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

小型カラム電子顕微鏡複合装置及び欠陥観察方法例文帳に追加

COMPACT COLUMN ELECTRON MICROSCOPE COMBINED DEVICE, AND DEFECT OBSERVATION METHOD - 特許庁

レーザー照明顕微鏡を備えた、レーザー照明、透過照明及び同軸落射照明の一体化複合顕微鏡。例文帳に追加

LASER ILLUMINATION, TRANSMITTED ILLUMINATION, AND COAXIAL VERTICAL ILLUMINATION INTEGRATED COMPOUND MICROSCOPE PROVIDED WITH LASER ILLUMINATED MICROSCOPE - 特許庁

共焦点顕微鏡からの出力される各種画像情報と電子顕微鏡の出力画像情報とが合成された特有の画像情報を出力でき、試料分析に有用な複合型顕微鏡装置を実現する。例文帳に追加

To provide a compound microscope device effective to analyze a sample and capable of outputting a proper image information obtained by synthesizing various image information output from a confocal microscope and image information output from an electronic microscope. - 特許庁

短時間に、精度の高いＳＰＭ測定を行うことができる複合型顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a compound microscope capable of performing highly accurate SPM measurement in a short time. - 特許庁

プローブ付き複合顕微鏡、並びにプローブの高さ算出方法及びプローブ駆動方法例文帳に追加

COMPOUND MICROSCOPE EQUIPPED WITH PROBE, METHOD OF CALCULATING HEIGHT OF PROBE, AND METHOD OF DRIVING PROBE - 特許庁

光学顕微鏡等が複合された走査型プローブ顕微鏡で、試料表面やカンチレバーの背面への光学顕微鏡等の焦点合せ操作を容易に行え、簡易な方法で自動的な焦点合せを可能とし、測定の自動化に適した焦点合せ方法を提供する。例文帳に追加

To facilitate a focusing operation for an optical microscope or the like onto a sample surface or a backface of a cantilever, to allow automatic focusing by a simple method, and to make a focusing method suitable for automatic measurement, in a scanning type probe microscope compounded with the optical microscope. - 特許庁

複合材料を原子間力顕微鏡を用いて解析するとき、少なくとも２つの設定温度の条件下、原子間力顕微鏡の非接触モードを用いて得られる複合材料の位相遅れのデータを取得する。例文帳に追加

When analyzing the composite material by using the atomic force microscope, data of the phase delay of the composite material acquired by using a noncontact mode of the atomic force microscope are acquired under the condition of at least two set temperatures. - 特許庁

本発明は複合電子顕微鏡に関し、ＳＥＭ／ＳＴＥＭ像とＴＥＭ像との対応を正確にとることができる複合電子顕微鏡を提供することを目的としている例文帳に追加

To provide a complex electron capable of obtaining accurate correspon dence between the SEM/STEM image and TEM image. - 特許庁

この複合体は,金属/セラミックス複合組織の光学顕微鏡観察により計測算出される指数Pp，Psが1.5以下である複合組織を有する。例文帳に追加

This composite body has the composite structure having ≤1.5 indexes Pp and Ps measured and calculated by an optical microscopic observation of the metal/ceramics composite structure. - 特許庁

複合装置１は、光学顕微鏡系２とＸ線分析系３とを備えると共に、光学顕微鏡系２とＸ線分析系３が共有する回転自在のレボルバ５を備える。例文帳に追加

This combined device 1 includes an optical microscope system 2 and an X-ray analysis system 3 while including a revolvable revolver 5 shared between the microscope system 2 and the analysis system 3. - 特許庁

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッド、及び該透過型電子顕微鏡グリッドに用いられるグラフェンシートーカーボンナノチューブフィルム複合構造体に関するものである。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope grid, and a graphene sheet-carbon nanotube film composite structure to be used for the same. - 特許庁

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法、及び該透過型電子顕微鏡グリッドに用いられるグラフェンシート−カーボンナノチューブフィルム複合構造体の製造方法。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid, and a method of manufacturing a graphene sheet-carbon nanotube film composite structure to be used for the transmission electron microscope grid. - 特許庁

光学顕微鏡の対物レンズの視野とＳＰＭユニットのカンチレバーとの位置関係を正確に表示できる複合型走査プローブ顕微鏡及びそのカンチレバー位置表示方法を提供する。例文帳に追加

To provide a compound scanning probe microscope, capable of accurately displaying a positional relation between the visual field of the objective lens of an optical microscope and the cantilever of an SPM unit, and to provide a method for displaying the position of the cantilever. - 特許庁

まず、顕微鏡によって複合材料の試験片を拡大して、複合材料の微視的画像を取得する（ステップＳ１０１）。例文帳に追加

A specimen of a composite material is magnified using a microscope to acquire a microscopic image of the composite material (step S101). - 特許庁

集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法例文帳に追加

METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

複合荷電粒子ビーム装置、それを用いた試料加工方法及び透過電子顕微鏡用試料作製方法例文帳に追加

COMPOSITE CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SAMPLE PROCESSING METHOD USING IT AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

カーボンナノチューブフィルム複合構造体及びその製造方法、透過型電子顕微鏡グリッドを提供する。例文帳に追加

To provide a carbon nanotube film composite structure, a method for manufacturing the same, and a transmission electron microscope grid. - 特許庁

装着されるケーブル付きの付属機器に制約を生じることなく、安価で汎用性の高い複合顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide a general purpose composite microscope free from restriction by an auxiliary unit with a cable to be connected thereto at low cost. - 特許庁

同一の試料の同一部分を、同時に異なる方法によって観察することが可能な複合顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a compound microscope capable of simultaneously observing the same part of the same sample by different methods. - 特許庁

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。例文帳に追加

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope. - 特許庁

電子顕微鏡が特定位置で焦点を結ぶことを利用し、その位置に開口半径の小さいアパーチャーを入れ、ＬＥＥＭやＸＰＥＥＭ観察を触媒反応条件下で容易に行えるようにした複合放出電子顕微鏡におけるその場観察システムを提供する。例文帳に追加

To provide an in situ observation system in a composite emission electron microscope capable of facilitating LEEM or XPEEM observation under a catalytic reaction condition by utilizing such a characteristic that an electron microscope forms the focal point in a specified position and putting an aperture having a small opening radius in this position. - 特許庁

光増感型複合材料及び三次元メモリ材料と記録媒体、光制限材料と素子、光硬化材料と光造形システム、多光子蛍光顕微鏡用蛍光材料と装置例文帳に追加

PHOTOSENSITIZING TYPE COMPOSITE MATERIAL AND THREE-DIMENSIONAL MEMORY MATERIAL AND RECORDING MEDIUM, OPTICAL CONTROL MATERIAL AND ELEMENT, PHOTOCURING MATERIAL AND OPTICAL MODELING SYSTEM, FLUORESCENCE MATERIAL FOR MULTIPHOTON FLUORESCENCE MICROSCOPE, AND DEVICE - 特許庁

(1) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメーターＲａが１０〜５０ｎｍである異型断面再生セルロース繊維を含有する複合糸。例文帳に追加

(1) This composite yarn comprises the modified cross-section regenerated cellulose fibers having 1.1-10 degree of modified cross section of the fibers and 10-50 nm fiber surface roughness parameter Ra measured under an atomic force microscope. - 特許庁

複数種類のポリマーを含む複合材料を、原子間力顕微鏡を用いて解析する際、複数種類のポリマーがゴム状態にある場合でも位相遅れの情報を検出する。例文帳に追加

To detect the information of a phase delay even if a plurality of kinds of polymers are in rubber states, when analyzing a composite material including the plurality of kinds of polymers by using an atomic force microscope. - 特許庁

（Ａ）原子間力顕微鏡により測定される表面積比が１．００〜１．１０であり、かつ引張弾性率が３３０ＧＰａ〜１０００ＧＰａである炭素繊維 （Ｂ）エポキシ樹脂 （Ｃ）硬化剤 さらに、該プリプレグが加熱硬化されてなる層が含まれてなる繊維強化複合材料製管状体。例文帳に追加

The tubular body made of the fiber-reinforced composite material includes a layer obtained by heating and hardening the prepreg. - 特許庁

試料に電子線を照射して、その電子線照射により試料から発生した光を検出するカソードルミネッセンス装置において、集光システムとして探針をプローブとする原子間力顕微鏡を設けたことを特徴とするカソードルミネッセンス複合装置。例文帳に追加

An atomic force microscope with a probe in its light condensing system is installed in the cathode luminescence composite device which detects light from a sample irradiated by a electron beam. - 特許庁

貴金属微粒子がＣｅＯ_２を含有する複合酸化物粒子に担持された排ガス浄化触媒であって、担体上のＰｄ微粒子を側面から透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）により測定した写真が平坦な頂部を有する台形状のナノ粒子を示す、前記排ガス浄化触媒。例文帳に追加

The exhaust gas cleaning catalyst is held by composite oxide particles in which particulates of a noble metal contain CeO_2 and a photograph, which is measured Pd fine particles on a support from a side face by a transmission electron microscope (TEM), exhibits trapezoidal shaped nanoparticles having smooth tips. - 特許庁

また、砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体で一体成型したプローブ（チップ+ビーム+小台座）とセラミクス、ガラス、水晶で作製した大台座を複合化して走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。例文帳に追加

Otherwise, the cantilever for the scanning probe microscope or the sensor is manufactured by compounding a probe (a chip, a beam and a small pedestal) molded integrally from the arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor with a large pedestal manufactured from ceramics, glass and a cystal. - 特許庁

ペロブスカイト型複合酸化物の単結晶粒子からなり、透過型電子顕微鏡の観測結果から求めた平均粒子径が５ｎｍ以上５０ｎｍ以下であり、その結晶格子中に貴金属元素が含まれている構成とする。例文帳に追加

The perovskite type compound oxide particle consists of a single crystal particle of a perovskite type compound oxide, has 5-50 nm average particle size, which is calculated by using the results measured by using a transmission electron microscope, and contains a noble metal in a crystal lattice of the single crystal particle. - 特許庁

セリア−ジルコニア系複合酸化物を表面積から推定される平均粒子径Ａと電子顕微鏡観察から測定される平均粒子径比Ｂの比Ａ／Ｂが＜１．５であり、かつ１０００℃で３時間焼成後の比表面積が４０ｍ^２／ｇ以上とする。例文帳に追加

The ceria-zirconia based compound oxide satisfies A/B<1.5 wherein A is an average particle diameter estimated from surface area and B is an average particle diameter ratio measured by observation with an electron microscope, and a specific surface area of the compound oxide after firing at 1,000°C for 3 h is ≥40 m^2/g. - 特許庁

(2) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメーターＲａが１０〜５０ｎｍであり、５０％平均粒径が０．０５〜１０μｍである微粉末を０．２〜５重量％含む異型断面再生セルロース繊維を含有する複合糸。例文帳に追加

(2) Alternatively, the composite yarn comprises the modified cross-section regenerated cellulose fibers having 1.1-10 degree of modified cross section of the fibers, 10-50 nm fiber surface roughness parameter Ra measured under the atomic force microscope and containing 0.2-5 wt.% of a fine powder having 0.05-10 μm 50% average particle diameter. - 特許庁

ＦＩＢ等の荷電粒子ビーム装置とプローブ顕微鏡が一体システムとなった複合装置において、プローブ先端部の摩耗や欠損に対して自前の荷電粒子ビーム装置を用いて容易に安定して加工が施せる手段を備えた装置を提供する。例文帳に追加

To provide a composite apparatus which is an integral system of a probe microscope and a charged particle beam device, such as an FIB or the like, and has a means, capable of easily and stably processing a probe head section being worn or damaged, by using own charged particle beam device. - 特許庁