DEFECTIVEを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10568件
A prediction section references the newest number of the defective pixels stored in the defective pixel correction memory 41 and the number of the defective pixels having been detected before to predict a date and time when the number of the defective pixels exceeds the number of correction limit pixels at which a defective pixel correction section cannot correct the defective pixels.例文帳に追加
予測部は、欠陥画素補正用メモリ４１に記憶した最新の欠陥画素の個数とそれ以前に検出した欠陥画素の個数とを参照して欠陥画素補正部が欠陥画素を補正することができない限界の個数を超える時期を予測する。 - 特許庁
In this semiconductor testing apparatus, a row defective-bit storage memory 3 which corresponds to a spare row circuit and a column defective-bit storage memory 5 which corresponds to a space column circuit are installed separately, and defective bits of the defective-bit storage memories are counted respectively by a row defective-bit counter 4 and a column defective-bit counter 6.例文帳に追加
スペア行回路に対応する行不良ビット記憶メモリ（３）およびスペア列回路に対応する列不良ビット記憶メモリ（５）を別々に設け、これらの不良ビット記憶メモリの不良ビットを行不良ビットカウンタ（４）および列不良ビットカウンタ（６）でそれぞれカウントする。 - 特許庁
Further, a solder resist film 7 is formed on the upper surface of each of the defective/non-defective display pads 1a-1d.例文帳に追加
また、良否表示用パッド１ａ〜１ｄの上面には、ソルダーレジスト膜７が形成されている。 - 特許庁
A mean value Cfav of the defective sheet levels is computed by dividing the computed sum value Cfs of the defective sheet levels by 100 as the number of the defective paper sheets.例文帳に追加
算出された損券レベルの合計値Ｃｆｓを損券枚数１００枚で割って損券レベルの平均値Ｃｆａｖが算出される。 - 特許庁
NONDEFECTIVE/DEFECTIVE INSPECTION METHOD FOR DELAYED SYNCHRONOUS LOOP CIRCUIT, AND NONDEFECTIVE/DEFECTIVE INSPECTION CIRCUIT OF DELAYED SYNCHRONOUS LOOP CIRCUIT例文帳に追加
遅延同期ループ回路の良否検査方法及び遅延同期ループ回路の良否検査回路 - 特許庁
METHOD FOR PRINTING INDICATION OF DEFECTIVE PRINTING, INKJET PRINTER, PRINTER DRIVER, AND METHOD FOR NOTIFYING DEFECTIVE PRINTING例文帳に追加
印刷無効表示の印刷方法、インクジェットプリンター、プリンタードライバーおよび印刷無効報知方法 - 特許庁
To specify a defective block even if a function of acquiring a defective block address is not supported.例文帳に追加
不良ブロックアドレスを取得する機能がサポートされてない場合でも、不良ブロックを特定し得る。 - 特許庁
DEFECTIVE POSITION INDICATING METHOD FOR SUBSTRATE MATERIAL, DEFECTIVE POSITION MARKING DEVICE, MARK DETECTOR, AND SUBSTRATE MATERIAL例文帳に追加
基板材料の欠陥位置指示方法、欠陥位置マーキング装置、マーク検出装置、基板材料 - 特許庁
DEFECTIVE ELEMENT DETECTING DEVICE, DEFECTIVE ELEMENT DETECTING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR LASER ELEMENT例文帳に追加
欠陥素子検出装置、欠陥素子検出方法および半導体レーザ素子の製造方法 - 特許庁
DEFECTIVE GROUNDING DETECTING METHOD, DEFECTIVE GROUNDING DETECTING DEVICE, AND AUTOMATIC STOP CONTROL DEVICE FOR ENGINE例文帳に追加
接地不良検出方法及び接地不良検出装置及びエンジンの自動停止制御装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING DEFECTIVE SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROGRAM FOR ANALYZING DEFECTIVE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体不良解析装置、半導体不良解析方法、及び半導体不良解析プログラム - 特許庁
To provide a defective-clustering retrieval method, in which defective clustering can be retrieved quantitatively.例文帳に追加
定量的なクラスタリング検索を行うことができる不良クラスタリング検索方法を提供する。 - 特許庁
DEFECTIVE PIXEL CORRECTING CIRCUIT AND ITS CORRECTING METHOD例文帳に追加
欠陥画素補正回路およびその補正方法 - 特許庁
DEFECTIVE PICTURE ELEMENT COORDINATE SPECIFYING APPARATUS FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加
表示装置の欠陥絵素座標特定装置 - 特許庁
At disagreement, another defective waveform is taken out of the defective waveform database again for comparison.例文帳に追加
合致しない場合は、再度不良波形データベースから別の不良波形を取り出し比較を行う。 - 特許庁
A defective waveform data for a circuit is taken out of a defective waveform database where defective waveform data is accumulated, and materialized at a waveform generating part.例文帳に追加
不良波形データを蓄積した不良波形データベースから該当する回路の不良波形データを取り出し、波形発生部にて実体化する。 - 特許庁
METHOD FOR COMPRESSING DEFECTIVE BITMAP DATA, AND METHOD AND DEVICE FOR DISPLAYING DEFECTIVE BITMAP例文帳に追加
不良ビットマップデータの圧縮方法、不良ビットマップ表示方法、及び、不良ビットマップ表示装置 - 特許庁
Laser beam is irradiated to the cathode defective part to selectively melt aluminum so as to repair the defective part.例文帳に追加
陰極欠陥部にレーザを照射し、選択的にアルミニウムを溶融して欠陥部を修復する。 - 特許庁
To avoid deterioration of normally-formed pixels arranged around a defective pixel, in repairing the defective pixel.例文帳に追加
欠陥のある画素の修復の際に、正常に形成された周囲の画素の劣化を避ける。 - 特許庁
Since a non-defective portion of the solar battery cells emits light and a defective portion emits slight light or no light, the defective portion is estimated.例文帳に追加
太陽電池セルの良好な部分は発光するが、欠陥部分は発光が弱くなるか発光しないことから、欠陥部分を推定する。 - 特許庁
CIRCUIT AND METHOD FOR DETECTING DEFECTIVE INSULATION例文帳に追加
絶縁不良を検出する回路および方法 - 特許庁
Thereby, the organic EL device 1 is prevented from generating defective display or performing defective operation by the heat.例文帳に追加
これにより、有機ＥＬ装置１が熱により表示不良や動作不良を起こすことも無い。 - 特許庁
A first detection unit 41 detects a block including a defective cell as a congenital defective block.例文帳に追加
第１検出部４１は、不良セルを含むブロックを先天性不良ブロックとして検出する。 - 特許庁
To perform highly accurate defective pixel correction while reducing the influence of a defective pixel.例文帳に追加
欠陥画素の影響を低減しつつ、精度の高い欠陥画素補正を行うことを課題とする。 - 特許庁
The pseudo defective region is skipped without being accessed, by registering it as a defective region similarly to the real defective region.例文帳に追加
疑似欠陥領域は、実欠陥領域と同様にして欠陥領域として登録することで、アクセスが行われずにスキップされるようにする。 - 特許庁
The defective of both sensors or the defective of a film-feeding system can be considered for this error state.例文帳に追加
このエラー状態は、両方のセンサの不良、あるいはフィルム給送系の不良が考えられる。 - 特許庁
If I buy something online, a defective good will be delivered...例文帳に追加
通販で買物をすれば不良品が届く、 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
backflow of blood through a defective heart valve 例文帳に追加
不完全な心臓弁による血液の逆流 - 日本語WordNet
On the basis of the result of the wafer test (S1), defective chips are classified into defective groups such that adjacent defective chips belong to the same group (S2).例文帳に追加
ウエハテスト（Ｓ１）の結果に基づいて、隣接する不良チップは同じグループに属するように不良チップを不良グループに分別する（Ｓ２）。 - 特許庁
A defect correction circuit 110 uses defect information (a defective position and a defective level) stored in a defect information storage RAM 120 to particularize a defective pixel in the image signal thereby correcting the defective pixel.例文帳に追加
欠陥補正回路１１０は、欠陥情報格納ＲＡＭ１２０に格納された欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を用いて、画像信号の欠陥画素を特定し、この欠陥画素の補正を行う。 - 特許庁
DEFECTIVE PIXEL CORRECTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL例文帳に追加
液晶表示パネルの欠陥画素修正方法 - 特許庁
DEFECTIVE PIXEL CORRECTION CIRCUIT AND SOLID-STATE IMAGING DEVICE例文帳に追加
欠陥画素補正回路及び固体撮像装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND DEFECTIVE CELL TEST METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置、および欠陥セルテスト方法 - 特許庁
DEFECTIVE PATTERN ANALYZING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
半導体記憶素子の不良パターン解析方法 - 特許庁
When an inputted column address CA is compared with a defective address, the defective address and a defective conversion address to which the defective address is inversely converted are both inputted to a comparison circuit.例文帳に追加
入力されたコラムアドレスＣＡと不良アドレスとを比較する場合に、予め設定された不良アドレスおよび不良アドレスを逆変換した不良変換アドレスを共に比較回路に入力する。 - 特許庁
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