「FBM」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To reduce manpower in sample creation for FBM verification, and to shorten a period of time required for the verification for the FBM.例文帳に追加

ＦＢＭ検証用のサンプル作成の労力を軽減し、ＦＢＭの検証のために必要な期間を短縮する。 - 特許庁

To generate an FBM (fail bit map) which achieves easy association with memory cells of an actual memory macro.例文帳に追加

実際のメモリマクロが備えるメモリセルとの対応付けが簡単なＦＢＭを作成する。 - 特許庁

When the FBM data of RAM 1-1 are acquired, the data are written into the RAM 1-1 in the first place.例文帳に追加

ＲＡＭ１−１のＦＢＭデータ取得時には、まず、ＲＡＭ１−１にデータを書き込む。 - 特許庁

This means a semiconductor memory sample for the FBM verification, in which the defective position is clear, can be created.例文帳に追加

すなわち、不良位置が明確なＦＢＭ検証用半導体メモリサンプルを作成することができる。 - 特許庁

To make it possible to acquire FBM (Fail Bit Map) data at the actual operating speed (high speed operation) of a mounted memory even without providing an external memory for storing the FBM data in between a tester, with respect to a semiconductor device having a plurality of memories.例文帳に追加

複数のメモリを有する半導体装置に関し、テスタとの間にＦＢＭデータ格納用の外部メモリを設けなくとも、搭載メモリの実動作速度（高速動作）でのＦＢＭデータを取得できるようにする。 - 特許庁

To obtain a measuring system for a fail bit map of a semiconductor memory in which FBM data at high speed operation of a memory can be gathered even when a fault exists in a RAM for storing FBM data.例文帳に追加

ＦＢＭデータを保管する保管用ＲＡＭ自体に故障がある場合でも、メモリを高速で動作させた時のＦＢＭデータを採取することを可能にする半導体記憶装置フェイルビットマップ測定方式を得る。 - 特許庁

A failure bit map (FBM) 11 is displayed on the basis of failure address information 10 provided by a TEST 3.例文帳に追加

ＴＥＳＴ３により得られた不良アドレス情報１０に基づき不良ビットマップ（ＦＢＭ）表示１１を行う。 - 特許庁

To enable everybody to easily create a transformation program for transforming a FBM address system into a FBM physical coordinate system in a short time by only simple operation of a creator and to efficiently and highly precisely verify the created transformation program.例文帳に追加

作成者の簡単な操作だけでＦＢＭアドレス系からＦＢＭ物理座標系の変換プログラムを誰にでも短時間且つ容易に作成でき、その上、作成された変換プログラムの検証を効率的且つ高精度で行うこと。 - 特許庁

An original FBM 27a is made on the basis of the result of the prescribed test performed by using an LSI tester 2.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ２を用いて行われた所定の検査の結果に基づいて、オリジナルのＦＢＭ２７ａが作成される。 - 特許庁

Then, based on the produced failure extracted FBM, the existence of a failure per pixel is confirmed and counted (S113).例文帳に追加

そして、作成した不良抽出ＦＢＭに基づいて各ピクセルごとに不良の有無を確認してカウントする（Ｓ１１３）。 - 特許庁

By considering the on-off control of the on-off valve, an FBM (feedback member) is added to a control system, a dead zone function Ψ and a saturation function Γ are added to the prior stage of the FBM, and a dead zone compensator H is added to the dead zone function Ψ.例文帳に追加

開閉弁のｏｎ−ｏｆｆ操作を考慮して、制御系にＦＢＭを追加すると共にＦＢＭの前段に不感帯関数Ψと飽和関数Γを追加し、さらに、不感帯関数Ψに不感帯補償器Ｈを追加する。 - 特許庁

When the write-in of the output values (FBM data) of the comparator 5-1 for all cells of the RAM 1-1 into the RAM 1-2 is completed, the FBM data are read out from the RAM 1-2 and given to a scan register 8-2 through a selector 7-2.例文帳に追加

ＲＡＭ１−１の全セルについてのコンパレータ５−１の出力値（ＦＢＭデータ）のＲＡＭ１−２への書き込みが終了したときは、ＲＡＭ１−２からＦＢＭデータを読み出してセレクタ７−２を介してスキャンレジスタ８−２に与える。 - 特許庁

Also, the FBM physical coordinate obtained by the transformation program is further transformed into a layout coordinate system, and is displayed to be superposed with a layout showing the configuration of the memory cell on the same screen, thereby visually verifying whether the FBM physical coordinate is good or bad.例文帳に追加

又、前記変換プログラムにより得られた前記ＦＢＭ物理座標を更にレイアウト座標系に変換して、前記メモリセルの構成を示したレイアウトと同一画面に重ねて表示することにより、目視でＦＢＭ物理座標の良否を検証する。 - 特許庁

Then a defect rate of residual degenerartion FBM is collated with a defective shape discrimination rule, and a defective shape is specified.例文帳に追加

そして、残りの縮退ＦＢＭについての不良率を不良形状判定ルールと照合して不良形状を特定する。 - 特許庁

To easily prepare an FBM (fail bit map) by converting a logical address of a semiconductor chip with many memory macros mounted into a physical address.例文帳に追加

多数のメモリマクロが搭載された半導体チップの論理アドレスを物理アドレスに変換し、ＦＢＭの作成を容易に行う。 - 特許庁

A failure extracted FBM is produced by converting fail bits of other than failures corresponding to the selected failure shapes to pass bits (S111).例文帳に追加

選択した不良形状に該当する不良以外の不良ビットをパスビットに変換し、不良抽出ＦＢＭを作成する（Ｓ１１１）。 - 特許庁

A clutch control part 12 includes: a position control feedback loop FBM for controlling the position of a rotating member configuring the positive clutch; and a rotational speed feedback loop FBS formed in the position control feedback loop FBM and for controlling the rotational speed of the rotating member.例文帳に追加

クラッチ制御部１２には、噛み合いクラッチを構成する回転する部材の位置を制御するための位置制御フィードバックループＦＢＭと、位置制御フィードバックループＦＢＭの内側に形成される、回転する部材の回転速度を制御する回転速度フィードバックループＦＢＳとを有する。 - 特許庁

To provide a memory evaluating system which can obtain FBM required for defect analyzing and write-in data in a memory mat at the time of fail.例文帳に追加

不良解析に必要なＦＢＭおよびフェイル時のメモリマット内書き込みデータを取得することができるメモリ評価システムを提供する。 - 特許庁

A EWS2 for analyzing data performs automatically fatal defect automatic extracting processing based on FBM information totalized by a computer 1A for test.例文帳に追加

データ解析用ＥＷＳ２はテスタ用コンピュータ１Ａで集計されたＦＢＭ情報に基づき、致命不良自動抽出処理を自動的に行う。 - 特許庁

Arbitrary failure on a FBM 11 is selected with a mouse or the like, and a process 12 to convert the address of selected failure to the position data of coordinates in a physical space is performed.例文帳に追加

ＦＢＭ１１上の任意の不良をマウス等で選択し、選択した不良のアドレスを物理空間座標での位置データに変換する処理１２を行う。 - 特許庁

To provide a coordinate transformation system for transforming the physical address of FBM data, provided in the test process of a semiconductor device, into the physical coordinates of a quadrature/real coordinate system.例文帳に追加

半導体装置の テスト工程で得られるＦＢＭデータの物理アドレスを直交・実座標系である物理座標に変換するための座標変換システムを提供すること。 - 特許庁

Successively, a defective recognition object is estimated based on pars/fail condition of adjacency of a defect rate condition and a defective recognition object (ST6), a defect rate of residual degeneration FBM is calculated and standardized (ST7).例文帳に追加

続いて不良率条件と認識対象不良の隣接の可否条件に基づいて認識対象不良を推定し（ＳＴ６）、残りの縮退ＦＢＭについての不良率を計算して規格化する（ＳＴ７）。 - 特許庁

To efficiently capture FBM (a fail bit map) information for indicating physical position information of failure in a testing device and an testing method, especially in the failure analysis, for a RAM inside an LSI chip, such as a CPU and a DSP.例文帳に追加

ＣＰＵやＤＳＰ等のＬＳＩ内部におけるＲＡＭ用の試験装置及び試験方法に関し、特に障害解析において故障の物理位置情報を表すＦＢＭ情報（フェイルビットマップ）の取得を効率良く行うこと。 - 特許庁

The position control feedback loop FBM includes a first prediction control means 57 for predicting a dead time and a delay time, and a rotational speed feedback loop FBS includes a second prediction control means 58 for predicting the dead time and the delay time.例文帳に追加

位置制御フィードバックループＦＢＭには、無駄時間及び遅れ時間を予測する第１予測制御手段５７が設けられ、また、回転速度フィードバックループＦＢＳには、無駄時間及び遅れ時間を予測する第２予測制御手段５８が設けられる。 - 特許庁

A recognition rule is read (ST1), plural degeneration FBM is prepared (ST2), after a defective recognition object is selected (ST3), the prescribed region is selected based on setting of defective size (ST4), and a defect rate in the prescribed region is calculated (ST5).例文帳に追加

認識ルールを読み込んで（ＳＴ１）複数の縮退ＦＢＭを作成し（ＳＴ２）、認識対象不良を選択（ＳＴ３）した後、不良サイズの設定に基づいて所定領域を選択し（ＳＴ４）、所定領域内の不良率を計算する（ＳＴ５）。 - 特許庁

In a case where such an LSI is manufactured, defection analysis is carried out to create an FBM(fail bit map), if a plurality of continuous memory cells in the first row or column are defective, then it is judged that the contact plug 14 connecting the first and second wiring lines 12 and 13 is broken.例文帳に追加

このようなＬＳＩを製造し、不良解析を行ってＦＢＭを作成した場合、１ロウ又は１カラム内の連続する複数のメモリセルが不良であるときは、第１配線１２を第２配線１３に接続するコンタクトプラグ１４が断線していると判断する。 - 特許庁