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OF GANの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1853件
LIGHT-EMITTING ELEMENT OF GaN-BASED COMPOUND SEMICONDUCTOR例文帳に追加
GaN系化合物半導体の発光素子 - 特許庁
A principal component of the projection portion 21 is GaN.例文帳に追加
突起部21はGaNを主成分とする。 - 特許庁
VOLTAGE CONVERSION DEVICE OF GaN SEMICONDUCTOR BASE例文帳に追加
GaN半導体ベースの電圧変換デバイス - 特許庁
in the Chinese 'gan zhi' sexagenary cycle, the ninth of the ten celestial stems, called 'Mizunoe' in Japanese 例文帳に追加
十干の九番目である壬 - EDR日英対訳辞書
A GaN-based semiconductor layer 21 of the GaN-based semiconductor region 15 consists, e.g., of an n-type GaN-based semiconductor, wherein the n-type GaN-based semiconductor includes silicon.例文帳に追加
GaN系半導体領域15のGaN系半導体層21は例えばn型GaN系半導体からなり、n型GaN系半導体にはシリコンが添加されている。 - 特許庁
The GaN layer 17 is grown on a principal surface 11b of the GaN wafer 11.例文帳に追加
GaN層17はGaNウエハ11の主面11b上に成長されている。 - 特許庁
In addition, the GaN layer 5 is formed, by laterally growing the portions of the GaN layer 3 exposed through the pinholes P as nucleus for growth, until the grown portions join to each other and the surfaces of the joints are planarized.例文帳に追加
また、GaN層5は、ピンホールPから露出するGaN膜3を成長の核とする横方向の成長により合体し表面が平坦化されるまで成長させる。 - 特許庁
When a GaN layer containing Si is made to adjoin the surface of a sapphire substrate, the c-axis orientational distribution of the GaN layer becomes narrower, as compared with the case where Si is not substantially contained.例文帳に追加
また、サファイア基板面上にSiを含有するGaN層を隣接させると、Siが実質的に含有されていない場合に比べてGaN層のc軸配向性の分布は狭くなる。 - 特許庁
The GaN layer 17 is grown on a major surface 11b of the GaN wafer 11.例文帳に追加
GaN層17はGaNウエハ11の主面11b上に成長されている。 - 特許庁
The grid constant of the GaN layer 2 coincides with that of the GaN growth layer 3, and the GaN growth layer 3 is grown while succeeding the high crystallinity of the GaN layer 2 whereby the GaN growth layer 3, high in the crystallinity, is obtained.例文帳に追加
GaN層2とGaN成長層3の格子定数が一致し、GaN成長層3はGaN層2の高い結晶性を引き継いで成長するため、結晶性の高いGaN成長層3が得られる。 - 特許庁
METHOD OF PRODUCING LIGHT-EMITTING DEVICE, LIGHT-EMITTING DEVICE, METHOD FOR PRODUCTION OF GaN SUBSTRATE, AND GaN SUBSTRATE例文帳に追加
発光デバイスの製造方法、発光デバイス、GaN基板の製造方法およびGaN基板 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING GaN-BASED LIGHT EMITTING DIODE ELEMENT例文帳に追加
GaN系発光ダイオード素子の製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF GAN-BASED LIGHT-EMITTING DIODE ELEMENT例文帳に追加
GaN系発光ダイオード素子の製造方法 - 特許庁
The guard ring 30 is made of a second-conductivity-type p-type GaN to the GaN layer 13.例文帳に追加
ガードリング30は、GaN層13とは第2導電型のp型GaNからなる。 - 特許庁
To avoid absorption of light in a GaN layer in a light-emitting device using GaN.例文帳に追加
GaNを用いた発光素子において、GaN層での光の吸収を抑制する。 - 特許庁
The GaN layer 17 forms a homojunction 19 with the major surface 11b of the GaN wafer 11.例文帳に追加
GaN層17はGaNウエハ11の主面11bとホモ接合19を成す。 - 特許庁
To reduce the dislocation density of GaN layers in a GaN compound semiconductor device.例文帳に追加
GaN系化合物半導体装置において、GaN系層の転位密度を低減する。 - 特許庁
The GaN layer 17 forms a homojunction with the principal surface 11b of the GaN wafer 11.例文帳に追加
GaN層17はGaNウエハ11の主面11bとホモ接合19を成す。 - 特許庁
Thus, a GaN off substrate 25 with an off surface formed on the first GaN layer 4 is produced, and a second GaN layer is grown on the off surface of the first GaN layer 4.例文帳に追加
このようにして、第1GaN層4にオフ面が形成されたGaNオフ基板25を作製し、第1GaN層4のオフ面に第2GaN層を成長させる。 - 特許庁
Particularly, the sapphire substrate separating step can prevent the surface of a GaN crystal from being damaged and can manufacture a more excellent vertical GaN light emitting diode.例文帳に追加
特に、本発明において提案したサファイア基板の分離工程はGaN結晶面のダメージを防止でき、より優れた垂直構造GaN発光ダイオードが製造できるとの利点がある。 - 特許庁
in the Chinese 'gan zhi' sexagenary cycle, the ninth of the ten celestial stems, called 'Mizunoto' in Japanese 例文帳に追加
十干の十番目の千である癸 - EDR日英対訳辞書
On a sapphire substrate 1, an undoped GaN buffer layer 2, n-type GaN layer 3, and p-type GaN layer 4 are formed in order, part of the region from the p-type GaN layer 4 to n-type GaN layer 3 is removed, and the n-type GaN layer 3 is exposed.例文帳に追加
サファイア基板1上にアンドープのGaNバッファ層2、n型GaN層3およびp型GaN層4を順に形成し、p型GaN層4からn型GaN層3までの一部領域を除去し、n型GaN層3を露出させる。 - 特許庁
To provide a growth method of a GaN crystal capable of controlling the occurrence of cracks and growing a thick GaN crystal and a GaN crystal substrate.例文帳に追加
クラックの発生を抑制して厚いGaN結晶を成長させることが可能なGaN結晶の製造方法およびGaN結晶基板を提供する。 - 特許庁
A two-dimensional electron gas is produced at the upper side of the undioped GaN layer 102, and the upper side functions as the channel layer of the field effect transistor.例文帳に追加
アンドープGaN層102上部には二次元電子ガスが発生しており、アンドープGaN層102上部は電界効果トランジスタのチャネル層として機能する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a nitride semiconductor element by which the end face of a resonator of a GaN-based semiconductor laser can be stably formed.例文帳に追加
GaN系半導体レーザの共振器端面を安定に形成する製造方法を提供する。 - 特許庁
SiC, GaN SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF MANUFACTURING THEM例文帳に追加
SiC、GaN半導体及びその製造方法 - 特許庁
GaN-BASED LIGHT EMITTING ELEMENT AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
GaN系発光素子およびその製造方法 - 特許庁
To provide the GaN light emitting diode of a new structure that can improve the luminance and reliability of the diode.例文帳に追加
輝度及び素子の信頼性を向上させられる新たな構造のGaN発光ダイオードを提供する。 - 特許庁
Then, a GaN layer 4, which contains magnesium as a dopant is laminated thereon at a lower pressure than the GaN layer 3, by which pits formed in the GaN layer 3 are filled with the GaN layer 4, and the surface of the GaN layer 4 becomes flat.例文帳に追加
次に、その上に、マグネシウムをドーパントとして含むGaN層4をGaN層3よりも低圧で積層させ、GaN層4によって、GaN層3に生じたピットを埋めてGaN層4の表面を平坦にする。 - 特許庁
The semiconductor device is deposited on the substrate having a surface orientation of an angle of 0.05°or more different from a (0001) surface of GaN or AlN.例文帳に追加
半導体素子をGaNまたはAlNの(0001)面より0.05度以上角度の異なる面方位の基板上に堆積する。 - 特許庁
After that, polishing is performed to a part of the GaN film 2 which part is irradiated with the laser, the GaN film 2 is flattened, and a GaN wafer 21 is obtained.例文帳に追加
その後、GaN膜2のレーザを照射された部分に対し研磨を行い、GaN膜2を平らにしてGaNウェハ21を得る。 - 特許庁
A method of manufacturing a GaN-based HEMT includes a step of growing at least one GaN-based semiconductor layer 30 onto the GaN thin film 10a of the GaN thin film bonded substrate 1.例文帳に追加
GaN系HEMTの製造方法は、上記GaN薄膜貼り合わせ基板1のGaN薄膜10a上への少なくとも1層のGaN系半導体層30の成長工程を含む。 - 特許庁
The GaN crystal 550 is formed on the GaN crystal 530 and comprises a plurality of domains 540.例文帳に追加
GaN結晶550は、GaN結晶530上に形成され、複数のドメイン540からなる。 - 特許庁
The GaN crystal 550 is formed on the GaN crystal 530 and comprises a plurality of domains 540.例文帳に追加
GaN結晶550は、GaN結晶530上に形成され、複数のドメイン540からなる。 - 特許庁
The GaN layer 13 is removed for the depth of about 2 μm by dry etching and trapezoidal groove stripes are formed.例文帳に追加
GaN層13をドライエッチングにより深さ2μm程度除去し、台形状の溝ストライプを形成する。 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF GALLIUM NITRIDE (GaN) COMPOUND SEMICONDUCTOR CRYSTAL, AND GALLIUM NITRIDE (GaN) COMPOUND SEMICONDUCTOR CRYSTAL例文帳に追加
GaN系化合物半導体結晶の製造方法及びGaN系化合物半導体結晶 - 特許庁
The GaN layer 5 formed in such a way has a screw transition density lower than that of the GaN layer 2.例文帳に追加
このようにして形成されたGaN層5は、GaN層2よりもスクリュー転位密度が低い。 - 特許庁
A specimen consisting of a p-GaN layer 1, an n-GaN layer 2 and a mask 3 is formed (Fig. 1a).例文帳に追加
p−GaN層1、n−GaN層2、マスク3からなる試料を作製する(図1a)。 - 特許庁
A GaN semiconductor layer is grown from the opening 112 of the mask 11 to obtain the GaN substrate.例文帳に追加
マスク11の開口部112からGaN半導体層を成長させ、GaN基板を得る。 - 特許庁
An n^--GaN layer 11 is regrown on the upper surface of the n^--GaN layer 11 and the upper surface of the p-GaN layer 13 by an MOCVD method.例文帳に追加
n^- −GaN層11の上面、および、p−GaN層13の上面に、n^- −GaN層11をMOCVD法により再成長させる。 - 特許庁
GAN-BASED SEMICONDUCTOR OPTICAL ELEMENT, METHOD OF MANUFACTURING GAN-BASED SEMICONDUCTOR OPTICAL ELEMENT, EPITAXIAL WAFER, AND METHOD OF GROWING GAN-BASED SEMICONDUCTOR FILM例文帳に追加
GaN系半導体光素子、GaN系半導体光素子を作製する方法、エピタキシャルウエハ及びGaN系半導体膜を成長する方法 - 特許庁
Upper part of the part where GaN 32 is grown epitaxially in the lateral direction may be a region where propagation of through dislocation in the GaN layer 31 is suppressed.例文帳に追加
このときGaN32が横方向エピタキシャル成長した部分の上部は、GaN層31が有する貫通転位の伝搬が抑制された領域とすることができる。 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING GaN-BASED SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING DIODE例文帳に追加
GaN系半導体発光ダイオードの製造方法 - 特許庁
GAN-BASED SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
GaN系半導体装置及びその製造方法 - 特許庁
LIGHT-EMITTING DEVICE OF GaN GROUP, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
GaN基の発光装置及びその製造方法 - 特許庁
GaN-BASED SEMICONDUCTOR ELEMENT AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
GaN系半導体素子およびその製造方法 - 特許庁
A GaN layer 31 is etched into an island shape of dot, stripe, lattice or the like to provide step differences, and a mask 4 is formed on the bottoms of the step differences to have such a thickness that the upper surface of the step differences are lower than the upper surface of the GaN layer 31.例文帳に追加
GaN層31を点状、ストライプ状又は格子状等の島状態にエッチングして段差を設け、底部にその上面がGaN層31の上面よりも低い位置となる厚さでマスク4を形成する。 - 特許庁
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