「OF TEST」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

SYSTEM FOR OPTIMIZED GENERATION OF TEST DATA OF SYSTEM LSI例文帳に追加

システムＬＳＩのテストデータ最適化生成方式 - 特許庁

PERFORMANCE TEST SYSTEM OF EARTHQUAKE CONTROL OPERATION OF ELEVATOR例文帳に追加

エレベーターの地震管制運転動作試験システム - 特許庁

EVALUATION TEST METHOD OF GEAR NOISE OF GEAR TRANSMISSION例文帳に追加

歯車伝動機のギアノイズの評価試験方法 - 特許庁

To test a performance of data transfer of a mobile device.例文帳に追加

モバイル装置のデータ転送の性能をテストする。 - 特許庁

an index number that expresses the result of a test of human development 例文帳に追加

人間の発達の検査結果を示す指数 - EDR日英対訳辞書

METHOD OF FABRICATING TEST BLADE OF COMPOSITE MATERIAL例文帳に追加

複合材料の試験ブレードを作製する方法 - 特許庁

To shorten test time in a data holding time test of a dynamic ROM using no test circuit or a simple test circuit.例文帳に追加

ダイナミックＲＯＭのデータ保持時間検査の検査時間をテスト回路を用いずに、もしくは簡素なテスト回路を用いて短縮する。 - 特許庁

To obtain an optimum rate in a test rate for shortening a test time independently of a test environment in a test method for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト方法において、テストレートをテスト環境に拘わらずテスト時間を短縮化するための最適なテストレートを得る。 - 特許庁

Therefore, the test time, the test cost such as the man-hour for test program development can be reduced, and human errors due to the complication of the test program can be reduced.例文帳に追加

このため、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストを削減でき、テストプログラム複雑化によるヒューマンエラーを低減できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test equipment capable of controlling a test pin group individually by allocating the test pin group to a test controller online.例文帳に追加

テストコントローラへテストピングループをオンラインで割り付け、テストピングループを個別に制御することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A test control part 24 performs processing for performing automatic test of detected resources, and a test performing part 25 conducts a test.例文帳に追加

試験制御部２４は、検出されたリソースに対して自動試験を行なうための処理を行ない、試験実行部２５は、試験を実行する。 - 特許庁

The record test result storage means records the result of the record test when carrying out the record test in a prescribed record test result storage area.例文帳に追加

記録テスト結果記憶手段は、記録テストを行った際の記録テスト結果を所定の記録テスト結果記憶領域に記録する。 - 特許庁

The detecting means divides the read test image into a plurality of test image blocks, and detects an amount of displacement of each color of each of the test image blocks.例文帳に追加

前記検出手段は、読取テスト画像を複数テスト画像ブロックに分割し、各テスト画像ブロックの各色の位置のずれ量を検出する。 - 特許庁

To provide a temperature test device of performing test by increasing only the temperature of an atmosphere in the vicinity of a module of a test object of electronic equipment.例文帳に追加

本発明は、電子機器の試験対象のモジュール近傍の雰囲気のみを昇温して試験を行う温度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scan test method for reducing the number of test patterns (the number of clocks), memory capacity and a processing period of time required for a scan test.例文帳に追加

スキャンテストに必要なテストパタン数（クロック数）、メモリ容量及び処理時間を削減可能なスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁

A logical circuit selecting one test result out of test result signals 21 to 24 of the plurality of test circuits 41 to 54 is provided.例文帳に追加

複数のテスト回路５１〜５４のテスト結果信号２１〜２４の中から一のテスト結果を選択する論理回路を設ける。 - 特許庁

To provide a test circuit which performs a test of an amplifier part and a test of a leak current between light receiving elements, of which the chip size is small.例文帳に追加

増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。 - 特許庁

BUILT-IN TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF INITIALIZATION TEST OF SYNCHRONOUS CIRCUIT HAVING SCAN FUNCTION, AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN DATA例文帳に追加

ビルトインテスト回路、集積回路装置、スキャン機能付き同期回路の初期化テスト方法、およびテストパターンデータの生成方法 - 特許庁

To provide a test tube stirrer capable of shaking the bottom of each test tube to effectively perform agitation of contents in the test tubes.例文帳に追加

１本１本の試験管の底部を揺すって内容物の撹拌が効果的に行える試験管撹拌装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test piece extensometer capable of enabling a test piece extensometer to automatically separate from a test piece after breakdown test and elastic modulus test in a material testing machine.例文帳に追加

材料試験機における耐力試験、弾性率試験が終了した後、試験片伸び計が試験片から自動的に離脱することができる試験片伸び計を提供する。 - 特許庁

To provide a test printed wiring board enabling to acquire many data relating to a test body under a test with less test pieces and to easily seize a frequency of durable bending test times and variations therein.例文帳に追加

少ない試験片数で被試験体に関する多くのデータが得られ、耐屈折回数とそのバラツキを容易に把握できる試験用プリント配線基板を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and device capable of implementing a test for maintenance and operation such as a loopback test and a code error rate test by means of remote control.例文帳に追加

折返し試験や符号誤り率試験などの保守運用のための試験を遠隔制御により実施できる試験方法および装置を得ることである。 - 特許庁

To provide a partition cover for test plugs, which can prevent an operation error from the start of a test to the finish of the test by improving the work efficiency in the test.例文帳に追加

試験の作業効率を向上させ、試験開始から試験終了までの操作ミスを防止することができるテストプラグ用仕切カバーを提供すること。 - 特許庁

This mobile test apparatus for medical application predicts the amount of test data on the basis of test order information and determines whether or not the storage capacity for storing the test data remains.例文帳に追加

検査オーダー情報をもとに検査データ量を予測して、検査データを保存する容量が残っているか、判断する医療用の移動型検査装置。 - 特許庁

To provide a material testing machine that allows easy attachment or detachment of a test piece, prevents the dead weight of the test piece from acting on a test, and performs an accurate test.例文帳に追加

試験片の取付、取外しが容易でかつ試験に試験片の自重が作用せず精度よい試験ができる材料試験機を提供する。 - 特許庁

The test table generation part 14 acquires a test table of the similar equipment to generate a test table of the target equipment based on the test table.例文帳に追加

試験テーブル生成部１４は、当該類似機器の試験テーブルを取得し、当該試験テーブルに基づいて対象機器の試験テーブルを生成する。 - 特許庁

TEST STAND FOR DETERMINING SOUND INSULATION OR INSERTION LOSS OF TEST OBJECT例文帳に追加

テスト物体の遮音性または挿入損失を判定するためのテストスタンド - 特許庁

The test piece 10 is mounted on the under surface 6a of a test piece holding member.例文帳に追加

試験片保持部材の下面６ａに試験片１０が取り付けられる。 - 特許庁

The secondary accelerated test is finished before reaching the life time of the test body.例文帳に追加

試験体の寿命時点に達する前で二次加速試験を終了する。 - 特許庁

BIDIRECTIONAL PHOTOTHYRISTOR TEST DEVICE AND TEST METHOD OF BIDIRECTIONAL PHOTOTHYRISTOR, AND TESTER例文帳に追加

双方向フォトサイリスタテスト装置、双方向フォトサイリスタのテスト方法、および、テスター - 特許庁

A FAIL information analysis part 230 obtains the test result of the memory test.例文帳に追加

ＦＡＩＬ情報解析部２３０は、メモリ試験の試験結果を取得する。 - 特許庁

INSTRUMENT AND METHOD CAPABLE OF RF TEST AND DC TEST BY USING RF ELEMENT例文帳に追加

ＲＦ素子でＲＦテスト及びＤＣテストが可能な装置及び方法 - 特許庁

To provide an automatic test execution system capable of test script generation in a command parameter determination stage and test script generation independent of a test script preparer.例文帳に追加

コマンドパラメタの決定段階でのテストスクリプトの生成及びテストスクリプト作成者に依存しないテストスクリプトの生成を可能としたテスト自動実行システムの提供。 - 特許庁

ADAPTATION ELEMENT, TEST SYSTEM, AND OPERATION METHOD OF ADAPTATION ELEMENT AND TEST SYSTEM例文帳に追加

適合エレメント、テストシステム、および該適合エレメントおよびテストシステムの動作方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM FOR GENERATION OF TEST PATTERN例文帳に追加

半導体試験システム、テストパターン生成方法及びテストパターン生成プログラム - 特許庁

ERROR PROCESS TEST SYSTEM OF SOFTWARE, TESTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM FOR TEST PROGRAM例文帳に追加

ソフトウェアのエラー処理テストシステム、テスト方法及びテストプログラムの記録媒体 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DISCHARGE OF PRETREATMENT LIQUID, TEST LIQUID APPLICATOR AND TEST SHEET例文帳に追加

前処理液の吐出検査方法並びに検査液塗布具及び検査シート - 特許庁

The TDR detection part 14 measures a test sensor position at the time of the test mode.例文帳に追加

ＴＤＲ検出部１４は、テストモード時に、テストセンサ位置を測定する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF STRESS CORROSION CRACKING SAMPLE AND TEST PIECE FOR NON-DESTRUCTIVE TEST例文帳に追加

応力腐食割れサンプルの作製方法および非破壊試験用試験片 - 特許庁

To provide a multiple-test-item continuous testing device which can continuously test a plate-shaped metallic material on a plurality of test items by using one test piece at the time of testing the metallic material.例文帳に追加

板状金属材料の材料試験において複数の試験項目の試験を１枚の試験片を使用して連続的に行なう。 - 特許庁

TEST METHOD FOR ACCELERATING DETERIORATION OF ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTORECEPTOR AND TEST DEVICE FOR ACCELERATION例文帳に追加

電子写真用感光体劣化加速試験方法及び加速試験装置 - 特許庁

To provide a test method for semiconductor device by which a test time of a redundancy relieving post test can be shortened based on a result of a redundancy relieving previous test.例文帳に追加

冗長救済前試験の結果に基づいて、冗長救済後試験の試験時間の短縮を図り得る半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To perform a stable test, without reducing the number of chips at one test.例文帳に追加

一度のテストにおけるチップ数を減らすこと無く、安定した試験を行う。 - 特許庁

The other system test comparator 13B compares the input two test data, and when the two test data are not matched as the result of comparison, the other system test comparator 13B notifies a self-system CPU3A of an error.例文帳に追加

他系のテストコンパレータ１３Ｂは、入力される２つのテストデータを比較し、比較の結果、一致しない場合、自系のＣＰＵ３Ａにエラーを通知する。 - 特許庁

CARRIER FOR TEST AND MOUNTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE TO CARRIER FOR TEST例文帳に追加

試験用キャリア、及び試験用キャリアへの半導体装置の取付方法 - 特許庁