「OF TEST」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD OF TEST FOR THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置とそのテスト方法 - 特許庁

The test will continue through the end of March.例文帳に追加

この試験運用は３月末まで続く。 - 浜島書店 Catch a Wave

METHOD AND APPARATUS FOR VERIFICATION OF VALIDITY OF TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターン妥当性検証方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR SUPPORTING CONFIRMATION OF SALES TEST OF AUTOMATIC VENDING MACHINE例文帳に追加

自動販売機の販売テスト確認支援方法 - 特許庁

To provide a function capable of performing communication test of the transfer performance of a switch device in the communication test of a standby system.例文帳に追加

待機系の疎通テストでスイッチデバイスの転送性能の疎通テストを実施できる機能を提供する。 - 特許庁

The determination unit determines the quality of the operation of the circuit block on the basis of the results of the test by the test unit.例文帳に追加

判定部は、試験部による試験の結果に基づいて、回路ブロックの動作の良否を判定する。 - 特許庁

an act of stopping a nuclear test temporarily because of public protest 例文帳に追加

一方的に核実験を一時中止すること - EDR日英対訳辞書

To test one item of test data by one pattern when inputting test data at the testing of combinational circuits, to simplify the circuit configuration of a test circuit, and to shorten test time.例文帳に追加

組合わせ回路をテストする際のテストデータの入力に際し、１つのテストデータを１パターンでテストすることを可能とし、テスト回路の回路構成を簡略化し、かつテスト時間の短縮を可能にする。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals.例文帳に追加

多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

The test instructing part 14 of the receiver 1 instructs the start of a test to one fire sensor, and instructs the start of a test to another fire sensor before the test ends.例文帳に追加

受信機１の試験命令部１４は、ある火災感知器に試験開始を指示してから試験終了となる以前に、他の火災感知器に試験開始を指示する。 - 特許庁

The test control section A12 particularizes the suspicious fault location on the basis of a test result report frame from the test control section B22 and a test result of its own apparatus and informs a maintenance personnel about the result of particularization.例文帳に追加

試験制御部Ａ１２は試験制御部Ｂ２２からの試験結果報告フレームと自装置の試験結果とを基に被疑箇所を特定し、保守者に通知する。 - 特許庁

To shorten the time for testing a test circuit, and to improve the reliability of the test performed for a circuit under test, by performing detection of the malfunction of the test circuit.例文帳に追加

テスト回路の故障検出をおこなうことにより、テスト回路の試験時間の短縮化および試験対象回路におこなう試験の信頼性の向上を図ること。 - 特許庁

A test pattern generator 24 reads a test pattern out of a test pattern storage 25 and prints out the pattern by using an output device.例文帳に追加

テストパターン発生装置２４がテストパターン記憶装置２５からパターンを読み出し、出力装置に印刷する。 - 特許庁

A test is performed on the basis of the test specification file 23 and a test recording file 24 is generated (step S4).例文帳に追加

さらに、テスト仕様書ファイル２３に基づいてテストが実行され、テスト記録ファイル２４が生成される（ステップＳ４）。 - 特許庁

A test result characteristic f0 is displayed on the test result screen 100 of a display monitor 12 according to test result data.例文帳に追加

試験結果データに基づき、表示モニタ１２の試験結果画面１００に試験結果特性ｆ０を表示する。 - 特許庁

To provide a program test device for raising readability in a test scenario which is used in the test of a program to be tested.例文帳に追加

被テストプログラムのテストに使用されるテストシナリオの可読性を向上したプログラムテスト装置を提供する。 - 特許庁

Each gateway includes a test pattern generator and a test memory analyzer that are used for an in-operation test of the video signal.例文帳に追加

各ゲートウェイはビデオ信号の稼働中テストを行うためのテスト・パターン・ジェネレータ及びテスト測定アナライザを含む。 - 特許庁

A start, test program storage means 22 downloads the test program to a memory of each device in a test device group 4.例文帳に追加

起動試験プログラム格納手段２２は、試験プログラムを試験装置群４の各装置のメモリにダウンロードする。 - 特許庁

To reduce a test execution time without increasing the quantity of test data, in a built-in test using a decode circuit.例文帳に追加

デコード回路を利用した組込みテストにおいて，テストデータ量を増やさずにテスト実行時間を短縮する。 - 特許庁

To achieve reduction of time for calibration of an output and improvement of precision of a test device itself in a characteristics test method and the test device of a panel type display.例文帳に追加

パネル型表示器の特性検査方法および検査装置において、検査装置自身の出力校正の時間短縮と精度の向上を行う。 - 特許庁

To provide a test head of a test socket, which can cope with high integration and increase of pins (multi-terminal) of ICs by shortening the arrangement pitches of wires constituting conductors of a test socket.例文帳に追加

テストソケットの導電子を成すワイヤの配置ピッチを小さくしてＩＣの高集積化及び多ピン化（多端子化）に対応できるようにする。 - 特許庁

The test conditions are: the electrodes of ϕ25 mm cylindrical column/ϕ25 mm cylindrical column; the sample thickness of 0.5 mm; the test method of short time process; and the test temperature of 23°C.例文帳に追加

＜試験条件＞ 電極：φ２５ｍｍ円柱／φ２５ｍｍ円柱 試料厚み：０．５ｍｍ 試験方法：短時間法 試験温度：２３℃ - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING OF FERROELECTRIC MEMORY AND TEST SYSTEM OF THE SAME例文帳に追加

強誘電体メモリの製造方法および試験システム - 特許庁

A method of handling minimization of drive tests (MDT) for a mobile device is disclosed.例文帳に追加

モバイルデバイスのMDT（minimization of drive test）を処理する方法が開示される。 - 特許庁

A test substance is added to a test solution containing a liposome, and the irritant properties of the test substance are evaluated on the basis of changes in size of the liposome.例文帳に追加

リポソームを含む試験溶液に被験物質を加え、リポソームの大きさの変化に基づいて、被験物質の刺激性を評価する。 - 特許庁

STRUCTURE OF FUEL LINE FOR ENGINE TEST BENCH AND METHOD FOR OPERATING ENGINE TEST BENCH例文帳に追加

エンジンテストベンチ用燃料配管の構造及びエンジンテストベンチの運転方法 - 特許庁

The (p) well test voltage is varied by initial program load(IPL) of a test code.例文帳に追加

ｐウェル電圧はテスト・コードの初期プログラム・ロード（ＩＰＬ）によって変化させる。 - 特許庁

The second test module detects an error in response to reception of the test pattern.例文帳に追加

第２のテストモジュールは、テストパターンの受け取りに応答して、エラーを検出する。 - 特許庁

The test program 10 instructs execution of the test to an application program 20 to be tested (S4).例文帳に追加

テストプログラム10は、テスト対象のアプリケーションプログラム20にテスト実行を指示する（S4）。 - 特許庁

The same process is repeated to a test pattern set of merged test patterns.例文帳に追加

テストパタンの併合されたテストパタンセットに対しても、同様の処理を繰り返す。 - 特許庁

To stably perform a test by preventing the flying-out of an IC during a test.例文帳に追加

テスト時のＩＣ飛び出しを防止することにより、テストを安定して行なう。 - 特許庁

METHOD, TEST CHAMBER AND TEST SETUP FOR LEAK TESTING OF CLOSED CONTAINERS例文帳に追加

閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験構成 - 特許庁

METHOD FOR SETTING TEST SEQUENCE AND PARAMETER OF TEST SIGNAL, AND SIGNAL GENERATION DEVICE例文帳に追加

試験信号の試験シーケンス及びパラメータ設定方法及び信号生成装置 - 特許庁

To suppress an execution of a standard regulation test under erroneous test conditions.例文帳に追加

誤った試験条件で規格規定試験が行われることを抑制すること。 - 特許庁

HOW TO CONTROL TEMPERATURE AND HUMIDITY IN TEST CHAMBER OF WEATHERING TEST EQUIPMENT例文帳に追加

耐候性試験装置の試験チャンバ内の温度及び湿度を制御する方法 - 特許庁

To execute a macro program in response to the number of test pieces on which a test is finished.例文帳に追加

試験が終了した試験片の本数に応じてマクロを実行させる。 - 特許庁

A test time concentration curve is created on the basis of the test (S4 and S5).例文帳に追加

このテスト検査に基づき、テスト時間濃度曲線が作成される（Ｓ４，Ｓ５）。 - 特許庁

a personality inventory is a direct test of personality, as contrasted with a projective test 例文帳に追加

投影法と対比されるように、人格目録は人格の直接試験である - 日本語WordNet

the action of using a pre-test to eliminate candidates for a test 例文帳に追加

本来の選抜試験の前に,一定の水準以下の者を不合格にすること - EDR日英対訳辞書

a test for examining the elasticity or the processing quality of a material, called {bending test} 例文帳に追加

曲げ試験という,材料の弾性限界や加工性などを調べる試験 - EDR日英対訳辞書

a test paper for measuring the salt density in urine called {a test paper for an examination of the urine} 例文帳に追加

尿検査用試験紙という,尿中の食塩濃度を測る試験紙 - EDR日英対訳辞書

Return the default type of test result object to be used to run this test.例文帳に追加

オブジェクトが実行するテストの、デフォルトのテスト結果オブジェクトの型を返します。 - Python

MANUFACTURING METHOD OF ULTRASONIC FATIGUE TEST PIECE OF WIRE ROD例文帳に追加

線材の超音波疲労試験片の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM OF SUPPORTING A PLURALITY OF VIRTUAL TESTERS例文帳に追加

複数の仮想テスタをサポートする半導体テストシステム - 特許庁

of a test, the act of giving answers to the questions in advance 例文帳に追加

質問項目に予めコードを与えておくこと - EDR日英対訳辞書