「Probe point」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROBE FOR MONITORING DEW POINT CORROSION AND MONITORING METHOD OF DEW POINT CORROSION例文帳に追加

露点腐食モニタリング用プローブおよび露点腐食モニタリング方法 - 特許庁

Each probe pin 3 has a main probe pin 4 having one contact point and a sub-probe pin 5 having a plurality of contact points, and the contact point of the main probe pin 4 is electrically connected to the contact points of the sub-probe pin 5.例文帳に追加

各プローブピン３に、１つの接点を有する主プローブピン４と複数の接点を有する副プローブピン５とを設け、主プローブピン４の接点と副プローブピン５の接点を電気的に接続する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING PROBE POINT OF NANOSTRUCTURE例文帳に追加

ナノ構造物の探針先端生成方法及びその生成装置 - 特許庁

METHOD OF ALIGNING PROBE POINT WITH ELECTRODE OF INSPECTION BODY例文帳に追加

プローブの針先と被検査体の電極との位置合わせ方法 - 特許庁

In addition, a computer is made to automatically prepare such a probe point.例文帳に追加

また、このようなプローブ点をコンピュータに自動的に作成させる。 - 特許庁

PROBE FOR MONITORING DEW-POINT CORROSION AND COMBUSTION FACILITIES USING THE SAME例文帳に追加

露点腐食モニタリング用プローブおよびそれを用いた燃焼設備 - 特許庁

The examined region is specified from the position of a probe mark (an area on which a typical probe mark point belongs) on a body mark.例文帳に追加

被検部位は、ボディマーク上におけるプローブマークの位置（プローブマーク代表点の所属エリア）から特定される。 - 特許庁

MANUFACTURE AND TEST METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT USING HIGH DENSITY PROBE POINT例文帳に追加

高密度探触点を使用した集積回路の製作および試験方法 - 特許庁

To guide each type of probe solution to an accurate impact in a position for impact point, and prevent it from mixing with other types of probe solutions, when preparing a probe array.例文帳に追加

プローブ・アレイの調整時、各種のプローブ溶液が、正確に着弾すべき位置に着弾し他種類のプローブ溶液と混じり合わないようにする。 - 特許庁

To provide a probe head for inspecting a substrate, which allows the tip of an inspection probe to accurately contact an inspection point.例文帳に追加

検査プローブの先端を正確に検査点に接触させることができる基板検査用プローブヘッドを提供する。 - 特許庁

To provide a prober device which can locate a probe in a testing point by obtaining the height of a fine testing point.例文帳に追加

微小な試験点の高さを求め、プローブを試験点に位置決めすることができるプローバ装置を提供する。 - 特許庁

With this ultrasonic probe, the ultrasonic waves can be focused to the focal point of the recessed surface.例文帳に追加

この超音波プローブによれば、凹面の焦点に超音波を集束できる。 - 特許庁

A needle-trace confirming member arranged in a region for confirming a needle trace formed to a needle-point grinding machine 8 and the needle point of a probe needle for the probe card 5 are aligned (S2).例文帳に追加

針先研磨盤８に設けた針跡確認用領域に配置される針跡確認部材とプローブカード５のプローブ針の針先との位置合わせを行う（Ｓ２）。 - 特許庁

A Probe request transmission part 11 transmits the service ID to the access point 20.例文帳に追加

Ｐｒｏｂｅリクエスト送信部１１は、サービスＩＤをアクセスポイント２０に送信する。 - 特許庁

To connect a probe to an optional test point on a substrate without coupling/uncoupling the probe of a measuring device relative to the substrate.例文帳に追加

基板に対して計測器のプローブを着脱することなく、基板の任意のテストポイントにプローブを接続できるようにする。 - 特許庁

A current/voltage probe 10 is provided with a current probe 8 for measuring the current which flows through a point on the measurement plane of an object to be measured; a voltage probe 4 for measuring an average voltage of an area around the current probe 8; and a probe-guiding part 3 for insulating the current probe 8 and the voltage probe 4.例文帳に追加

電流・電圧プローブ１０は、測定対象の測定面上の一点を流れる電流を測定するための電流プローブ８と、電流プローブ８の周辺の平均電圧を測定するための電圧プローブ４と、電流プローブ８と電圧プローブ４を絶縁するためのプローブ導向部３とから構成される。 - 特許庁

COMBINATION MEMBERS FOR MULTIPLEX CHIP PROBE AND GENERAL-PURPOSE TESTER CONTACT POINT AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

多重チッププローブおよび汎用テスター接点組み合わせ部材およびその製造方法 - 特許庁

The first access point device receives the probe response using the channel in use.例文帳に追加

第１のアクセスポイント装置は、使用中のチャンネルを用いて、このプローブ応答を受信する。 - 特許庁

The third area (28 and 30) has a probe point to be brought into contact with an electrode (14) of an electrical device (12).例文帳に追加

第３の領域(28,30)は電気デバイス(12)の電極(14)に接触される針先を有する。 - 特許庁

The probe will drop a ball on the surface of the asteroid to mark its landing point. 例文帳に追加

探査機は着陸地点の印をつけるために小惑星の地表にボールを投下する。 - 浜島書店 Catch a Wave

Each Probe Response signal includes an SSID (Service Set Identifier) of the corresponding access point.例文帳に追加

各Ｐｒｏｂｅ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ信号は、対応するＡＰのＳＳＩＤを含む。 - 特許庁

Single probe molecules are arrayed and immobilized in regular manner at lattice point positions on the substrate surface.例文帳に追加

単一プローブ分子を基板表面の格子点位置に規則的に配列固定する。 - 特許庁

To provide an apparatus for recording values related to zero-point errors of multi-point probes, capable of easily compensating for zero-point errors, after drifts have occurred in a plurality of sensors, in a multi-point probe.例文帳に追加

多点プローブにおいて、複数のセンサのドリフトが生じた後の零点誤差の補償を容易に行うことができる多点プローブの零点誤差関連値記録装置を提供する。 - 特許庁

While scanning the measurement surface by the probe within a range (from the point B to a point C), in which the atomic force detected by the probe can be controlled to be a constant value, the path of the probe is measured to determine the radius of curvature of a corner section.例文帳に追加

測定面を、探針によって、探針により検出される原子間力を一定の値に制御できる範囲（Ｂ点〜Ｃ点）で走査しながら探針の軌跡を測定して、コーナー部分の曲率半径を求める。 - 特許庁

When the probe 15 is lowered to the blood collection tube 3 and the sample cup 4, the lower dead point Ld of the probe in the blood collection tube and the lower dead point Lu of the probe in the sample cup are set respectively, and the lowering positions of the probe 15 to the blood collection tube 3 and the sample cup 4 are restricted.例文帳に追加

採血管３とサンプルカップ４とに対してプローブ１４を下降するときの採血管プローブ下死点Ｌｄとサンプルカップ内プローブ下死点Ｌｕとをそれぞれ設定し、これら採血管３とサンプルカップ４とに対するプローブ１４の下降位置を制限する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can correctly position a probe in a short time to an observation point of a sample without making the probe approach the surface of the sample.例文帳に追加

探針を試料表面にアプローチさせること無く、試料の観察ポイントに対して探針を短時間且つ正確に位置決めさせることが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe device and an alignment method for quickly and surely detecting the position of the needle point of the probe of a probe card without erroneously recognizing it, and for shortening an alignment time.例文帳に追加

従来のアライメント方法の場合には、プローブカード１からの反射光や針先の形状の影響を受け、撮像手段２の焦点をプローブ１Ａの針先に合わせる時間が長くなる。 - 特許庁

Meanwhile, a second access point device transmits a probe response using the channel that the channel information given to the received probe request indicates.例文帳に追加

一方、第２のアクセスポイント装置は、受信したプローブ要求に付与されたチャンネル情報が示すチャンネルを用いて、プローブ応答を送信する。 - 特許庁

To provide a highly efficient semiconductor near field probe in which the focal point of a micro lens accurately coincides with the near field light probe.例文帳に追加

本発明は、マイクロレンズの焦点位置と近接場光プローブとを精密に一致させた高効率半導体近接場プローブを提供する。 - 特許庁

An access point transmits a probe request on the basis of a plurality of connection method (request).例文帳に追加

アクセスポイントは、複数の接続方法それぞれに基づいてプローブ要求を送信する（要求）。 - 特許庁

The acupuncture point is irradiated with the laser beam by being transmitted through an optical fiber 111 and the probe 101.例文帳に追加

レーザ光は、光ファイバ１１１およびプローブ１０１を伝搬して経穴に照射される。 - 特許庁

The probe is configured to measure a temperature measurement object W whose melting point is higher than that of aluminum alloy molten metal.例文帳に追加

プローブは、アルミニウム合金溶湯よりも高融点をもつ測温対象物Ｗを測温する。 - 特許庁

The radiation detector probe 10 is set so as to enable to maintain a minimum distance to a measured point.例文帳に追加

放射線測定器プローブは、被測定点に対して最短距離となるように保持可能とする。 - 特許庁

An access point transmits a probe request, on the basis of each of a plurality of connection methods (request).例文帳に追加

アクセスポイントは、複数の接続方法それぞれに基づいてプローブ要求を送信する（要求）。 - 特許庁

An access point transmits a probe request on the basis of each of a plurality of connection methods (request).例文帳に追加

アクセスポイントは、複数の接続方法それぞれに基づいてプローブ要求を送信する（要求）。 - 特許庁

If a data terminal performs parameter setting upon a wireless LAN card, a probe request is transmitted to an access point.例文帳に追加

データ端末が無線ＬＡＮカードにパラメータ設定をすると、アクセスポイントへプローブリクエストを送信する。 - 特許庁

At this point, a foreign substance 29 comprising, for example, aluminum oxide sticks to the tip of the probe 28.例文帳に追加

このとき、探針２８の先端に例えば酸化アルミニウムよりなる異物２９が付着する。 - 特許庁

To enable an automatic resistivity measuring instrument for semiconductor wafers using a four-point probe, to accurately measure the resistivity of a large diameter wafer to a point near the peripheral edge by improving the accuracy of lowering and positioning the four-point probe to a designated measuring point on the wafer.例文帳に追加

半導体ウェーハ１の４探針法による自動抵抗率測定装置において、ウェーハ１上の指定された測定点への４探針プローブ２の降下接触位置の精度を向上して、大きい直径のウェーハの周縁近くまで正確に測定できるようにする。 - 特許庁

The device for measuring the contact between the inspection point on the wiring board (2) and the inspection probe (1) has a sensor (9) which measures the magnitude of the contact pressure between the inspection probe and the inspection point.例文帳に追加

配線基板（２）上の検査点と検査プローブ（１）との接触を測定する装置において、検査プローブと検査点との間の接触圧の大きさを測定するセンサー（９）を有する装置。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided with an optical high-sensitive proximity sensor to control approximation between a sample and a probe, allowing high-speed approach to each measuring point.例文帳に追加

光学式の高感度近接センサを具備して試料と探針との接近を制御することによって、各測定箇所へのアプローチを高速化した。 - 特許庁

To provide a contact probe and its manufacturing method, which forms simply a low melting-point layer for bonding the contact probe.例文帳に追加

コンタクトプローブを接合するための低融点層を簡単に形成することができるコンタクトプローブ及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A scanning probe microscope is provided where the probe 2 is temporarily separated from the sample surface after sampling the observation data, and is moved to a next observation point.例文帳に追加

観測データを採取後は探針２を一旦試料表面から離し、次の観測点に移動させる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe needle and a probe card for preventing the shift of contact point of needle tip with an electrode due to vibration from the outside and a curve of an inspection object, and an inspection device and method using the probe needle.例文帳に追加

外部からの振動や検査対象物の反りなどによる、電極に対する針先の接触位置のずれを防ぐプローブ針、プローブカード、プローブ針を用いた検査装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

After that, the probe is moved in a direction for separating from the sample surface (2); a servo system for constantly maintaining the gap between the probe and the sample surface is stopped, and the probe is moved to a measurement point in a direction along the sample surface while the probe is being separated from the sample (3).例文帳に追加

その後、探針を試料表面から離れる方向に移動させ（ ）、探針と試料表面との間隙を一定に保つサーボ系を停止させ、探針を試料から離した状態で試料表面に沿う向に測定点まで移動させる（ ）。 - 特許庁

Scanning movement of the probe relative to the measuring point comprises a process for sending the probe at fixed intervals in the noncontact state with the sample by an XY fine-movement mechanism 29 or an XY stage 14 a process for bringing the probe close to the sample and into contact therewith at the measuring point, and a process for retreating the probe from the sample.例文帳に追加

測定点に関する探針の走査移動では、ＸＹ微動機構２９またはＸＹステージ１４によって、探針を試料と非接触状態にて一定間隔で送る行程と、測定点で探針を前記試料に接近・接触させる行程と、探針を試料から退避させる行程を行う。 - 特許庁