SCaNを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8288件
The boundary scan is formed by scan resistors CEL_-11-14.例文帳に追加
スキャンレジスタCEL_11〜14によってバウンダリ・スキャンが構成されている。 - 特許庁
To attain a scan test point circuit by a single scan flip-flop.例文帳に追加
スキャンテストポイント回路を単一のスキャンフリップフロップによって実現すること。 - 特許庁
SCAN CONDITION DETERMINING DEVICE, MEDICAL SYSTEM , AND SCAN CONDITION DETERMINING METHOD例文帳に追加
スキャン条件決定装置、医療システム、およびスキャン条件決定方法。 - 特許庁
SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT ARRAY, AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
スキャンフリップフロップ回路,スキャンフリップフロップ回路列,および集積回路装置 - 特許庁
SCAN DRIVE CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND SCAN DRIVING METHOD例文帳に追加
走査駆動回路、表示装置、電気光学装置及び走査駆動方法 - 特許庁
Each scan vector of the multiple scan chain is inputted to a corresponding scan chain being related by a corresponding scan clock signal out of multiple scan clock signals SCK1-SCKN.例文帳に追加
しかし、多重スキャンクロック信号SCK1〜SCKNのうち対応するスキャンクロック信号により関係づけられて、多重スキャンチェーンの各スキャンベクトルは対応するスキャンチェーンに入力される。 - 特許庁
SCAN CIRCUIT, AND ITS DESIGN METHOD例文帳に追加
スキャン回路及びその設計方法 - 特許庁
SCAN SYSTEM AND INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加
スキャンシステムおよび情報処理装置 - 特許庁
scan (game in the forest) with binoculars 例文帳に追加
双眼鏡での走査(森でのゲーム) - 日本語WordNet
HELICAL SCAN TYPE MAGNETIC TAPE CONTROLLER例文帳に追加
ヘリカルスキャン型磁気テープ制御装置 - 特許庁
The scan chain circuit (20) takes in test data (S1-1, 2, ...) contained in scan-in data (SI) to perform scan test.例文帳に追加
スキャンチェーン回路(20)は、スキャンインデータ(SI)に含まれるテストデータ(S1−1,2…)を取り込んでスキャンテストを行う。 - 特許庁
A B_0 magnetic field map for each scan slice of a scan volume is obtained from the B_0 magnetic field distribution in the scan volume.例文帳に追加
走査空間のB_0磁場分布から、走査空間の各々の走査スライスについてのB_0磁場マップを得る。 - 特許庁
The scan input data are read out of one of the RAMs to be input into the scan path, in the scan path test.例文帳に追加
そして、スキャンパステスト時に、一方のRAMからスキャン入力データを読み出してスキャンパスに入力する。 - 特許庁
After an image read section reads a manuscript and generates scan data, a scan data analysis section analyzes the scan data.例文帳に追加
画像読取部が原稿を読み取ってスキャンデータを生成すると、スキャンデータ解析部はスキャンデータを解析する。 - 特許庁
At scan test, the output Buffer BUFA is set at an output inhibition state by a scan signal SCAN.例文帳に追加
スキャンテスト時には、スキャン信号SCANによって、出力バッファBUFAを出力禁止状態に設定される。 - 特許庁
The image processor performs scan processing according to the instruction and keeps scan data and the instruction in a scan repository.例文帳に追加
画像処理装置は指示書に従ってスキャン処理を実施し、スキャンデータと指示書をスキャンリポジトリに保管する。 - 特許庁
Namely, the scan system 100 fixes a scan execution user, and only the scan application of the user receives image data from an MFP 2.例文帳に追加
すなわち,スキャン実行ユーザを固定し,当該ユーザのスキャンアプリのみがMFP2からの画像データを受け取る。 - 特許庁
FAILURE POSITION DETECTION DEVICE FOR SCAN CHAIN例文帳に追加
スキャンチェーン故障位置検出装置 - 特許庁
Scan data are stored in a data storage circuit in a RAM or a hard macro core, and the scan data are shifted in a scan chain, in the shift of the scan test.例文帳に追加
これを防ぐため、制御用スキャンFFや観測用スキャンFFを追加するとチップ面積の増加やハードマクロ接続部分の速度性能低下を招く。 - 特許庁
MATRIX SWITCH INCORPORATING SCAN CONVERTER例文帳に追加
スキャンコンバータを内蔵したマトリックススイッチ - 特許庁
IMAGE SCAN CONVERTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
画像走査変換方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM DEVICE FOR TWO-DIMENSIONAL SCAN TYPE RANGE SENSOR PROJECTOR SCAN AND RECORD MEDIUM WHERE TWO-DIMENSIONAL SCAN TYPE RANGE SENSOR PROJECTOR SCAN PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加
2次元走査型レンジセンサ投光器走査方法及びシステム装置並びに2次元走査型レンジセンサ投光器走査プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
The scan chain selection circuit controls the scan sub-chains so that the scan sub-chains for simultaneously performing scan operation belong to any first group.例文帳に追加
スキャンチェーン選択回路は、同時にスキャン動作するスキャンサブチェーンが、いずれかの第1種のグループに属するものとなるように、スキャンサブチェーンを制御する。 - 特許庁
SCAN TEST DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT, SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, CAD PROGRAM FOR SCAN TEST CIRCUIT INSERTION, LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUIT, AND MOBILE DIGITAL DEVICE例文帳に追加
スキャンテスト設計方法、スキャンテスト回路、スキャンフリップフロップ回路、スキャンテスト回路挿入用CADプログラム、大規模集積回路及び携帯デジタル機器 - 特許庁
INTERFEROMETER APPARATUS USING FRINGE SCAN例文帳に追加
フリンジスキャンを用いた干渉計装置 - 特許庁
I'm not just going to scan a 300page document and put it up before we've gone through every...例文帳に追加
300ページ スキャンして確認... - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Namely, the scanning is performed in such order as after a scan width W1 is scanned, a scan width W3 is scanned with a scan width W2 skipped, and then a scan width W2 is scanned by coming back one section.例文帳に追加
すなわち、走査幅W1の走査のち、一つ飛ばした幅W3を走査したのち、一つ戻ってW2を走査する、という順序とする。 - 特許庁
A scanner 10 has a scan data storage area 26 where scan data are stored.例文帳に追加
スキャナ10は、スキャンデータを記憶するスキャンデータ記憶領域26を有する。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR BROADCASTING SCAN PATTERN BY SCAN-BASED INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
スキャンベースの集積回路でスキャンパターンをブロードキャストする方法および装置 - 特許庁
SCAN BASE ATPG TEST CIRCUIT AND TEST METHOD, AND SCAN CHAIN RECONFIGURATION METHOD例文帳に追加
スキャンベースATPGテスト回路、テスト方法及びスキャンチェーン再配置方法 - 特許庁
GLASS SUBSTRATE, AND PROXIMITY SCAN EXPOSURE APPARATUS, AND PROXIMITY SCAN EXPOSURE METHOD例文帳に追加
ガラス基板および近接スキャン露光装置並びに近接スキャン露光方法 - 特許庁
A scan code analyzing part 141 analyzes a scan code from a keyboard 150.例文帳に追加
スキャンコード解析部141はキーボード150からのスキャンコードを解析する。 - 特許庁
The plurality of scan flip-flops are allocated to each of a plurality of scan paths which are formed by connection of the scan flip-flops like a shift register when a scan test is performed, and forms a plurality of partial scan paths with the same number as the plurality of scan paths.例文帳に追加
複数のスキャンフリップフロップは、スキャンテストするときに、スキャンフリップフロップがシフトレジスタ状に接続されて形成される複数のスキャンパスのそれぞれに割り当てられ、複数のスキャンパスと同数の複数の部分スキャンパスを形成する。 - 特許庁
SEQUENTIAL SCAN CONVERTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
順次走査変換装置及び方法 - 特許庁
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