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Sampleを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 30668



例文

METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING ONE OR A PLURALITY OF CHARACTERISTICS OF SAMPLE例文帳に追加

試料の1つ又は複数の特性を決定するための方法とシステム - 特許庁

EVALUATION SAMPLE AND METHOD FOR EVALUATING POSITIONING ACCURACY OF RECORDING MEDIUM TEST EQUIPMENT例文帳に追加

評価サンプルおよび記録媒体検査装置の位置決め精度評価方法 - 特許庁

Next, a thin film sample for plane observation is prepared by FIB processing.例文帳に追加

次に、平面観察用の薄膜試料をFIB加工により作製する。 - 特許庁

To properly separate a sample such as a laminating substrate or a composite member.例文帳に追加

貼り合わせ基板等の試料或いは複合部材を適切に分離する。 - 特許庁

例文

The interface facilitates delivery of the sample to the tubule through the opening.例文帳に追加

接合部により、開口部を通じて細管に試料を容易に送達できる。 - 特許庁


例文

METHOD AND APPARATUS FOR RECOVERING TRACE SOLUTION SAMPLE FROM MICROREACTOR例文帳に追加

微小反応器からの微量溶液試料の回収方法およびその装置 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPIC SYSTEM AND SAMPLE DYNAMIC IMAGE FORMING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

光学顕微鏡システムおよびこれを用いた試料動画像生成方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING INDIVIDUAL PARTICLE IN FLUID SAMPLE例文帳に追加

流動性の試料の中の個々の粒子を検出する方法及び装置 - 特許庁

A sample position where the maximum value is detected is employed as the symbol boundary position.例文帳に追加

その最大値が検出されたサンプル位置を、シンボル境界位置とする。 - 特許庁

例文

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION TECHNIQUE USING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子線装置および荷電粒子線を用いた試料観察手法 - 特許庁

例文

To provide a laser microscope capable of generating video data for the cross section of a sample.例文帳に追加

試料断面のビデオデータ生成可能なレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To perform measurement of high precision by preventing the non-specific bonding of a sample.例文帳に追加

試料の非特異的な結合を防止して、高精度な測定を行う。 - 特許庁

Light of computed polarization (α) is irradiated to the sample to inspect defects.例文帳に追加

算出した偏光(アルファ)の光を試料に照射して欠陥を検査する。 - 特許庁

This set of sample data is a group of data similar to the set of data as the analysis object.例文帳に追加

このサンプルデータセットは、分析対象データセットと類似のデータ群である。 - 特許庁

At the same time, the sample A and the reagent B are stirred by the revolution and rotation motions.例文帳に追加

同時に、公転自転運動により試料Aと試薬Bが攪拌される。 - 特許庁

To efficiently irradiate a sample flow channel with a laser beam.例文帳に追加

レーザ光を試料流路に効率よく照射することを目的としている。 - 特許庁

The cover 4 is provided with holes 9 through which lids 7 of the sample containers 2 are passed.例文帳に追加

カバー4は、試料容器2の蓋7が貫通する孔9を設ける。 - 特許庁

SYSTEM MAPPE, AND DEVICE FOR STORING AND TRANSPORTING AUTOMATIC SLIDE SAMPLE MAPPE例文帳に追加

システムマッペ及びそれを用いる自動スライド標本マッペ収納移送装置 - 特許庁

A decoding means 14 decodes each sample based on the log-PCM.例文帳に追加

復号手段14が、log−PCMに基づいて、各サンプルを復号する。 - 特許庁

SAMPLE STAND USED FOR IMAGE INFORMATION READER AND MANUFACTURE THEREOF例文帳に追加

画像情報読取装置に使用される試料台およびその製造方法 - 特許庁

To quickly and accurately measure a minute amount of gas desorbed from a sample.例文帳に追加

試料から脱離する微量のガスを迅速かつ高精度に測定する。 - 特許庁

A counter 15 counts an input sample clock and provides an output of the count.例文帳に追加

カウンタ15は、入力のサンプルクロックをカウントし、カウント値をして出力する。 - 特許庁

Multiplexing is performed over the pixel stay time during the scanning of a sample.例文帳に追加

多重化が試料のスキャンの間の画素滞留時間中に実行される。 - 特許庁

ASBESTOS ANALYTICAL METHOD, ANALYZER, AND PREPARATION METHOD FOR MEASURING SAMPLE THEREFOR例文帳に追加

アスベスト分析方法、分析装置およびその測定試料の作成方法 - 特許庁

A first sample hold circuit 28 holds an output of the operational amplifier 14.例文帳に追加

第1サンプルホールド回路28は、演算増幅器14の出力を保持する。 - 特許庁

ELECTRIC INSPECTION APPARATUS AND ELECTRIC INSPECTION METHOD FOR INSPECTION OF ELECTRIC INSPECTION SAMPLE例文帳に追加

電気被検体の検査のための電気検査装置並びに電気検査方法 - 特許庁

To enhance a function for detecting a defect of a pattern of a sample to be inspected.例文帳に追加

被検査試料のパターンの欠陥を検出する機能を高めること。 - 特許庁

As a result, the sample 1 is inclined by a prescribed amount in an arbitrary direction.例文帳に追加

この結果、試料1は任意の方向に所定量傾斜させられる。 - 特許庁

To quickly and accurately synthesize an odor which is similar to that of an unknown sample.例文帳に追加

未知サンプルのにおいに似たにおいをすばやく、かつ正確に合成する。 - 特許庁

A base material for measuring IgE in a sample is constituted.例文帳に追加

本発明は、サンプル中のIgEを測定するための基材を提供する。 - 特許庁

To evaluate a sample at a high throughput by reducing on-axis chromatic aberration.例文帳に追加

軸上色収差を小さくして、高スループットで試料の評価を行う。 - 特許庁

Then the video information editing device receives the plurality of sample images.例文帳に追加

そして、映像情報編集装置はこの複数のサンプル画像を受信する。 - 特許庁

To provide a method for separating a minute sample 1 from a work piece 2.例文帳に追加

本発明は、試験片(2)から微小サンプル(1)を分離する方法に関する。 - 特許庁

To provide a method and a device of testing a semiconductor wafer or a sample.例文帳に追加

半導体ウエハまたはサンプルを検査する方法と装置を提供する。 - 特許庁

A sample hold circuit 110 containing a capacitor C1 is composed of a low-pass filter.例文帳に追加

コンデンサC1を含むサンプルホールド回路110をローパスフィルタで構成する。 - 特許庁

The bottom surface 24 of a sample rack 2 is placed on a cooling part 14.例文帳に追加

サンプルラック2はその底面24が冷却部14上に載置されている。 - 特許庁

FOCUSING CONTROL METHOD FOR ADJUSTING FOCUS OF CHARGED PARTICLE ON SAMPLE例文帳に追加

試料に対する荷電粒子の焦点を調整する合焦制御方法 - 特許庁

A Viterbi decoder 8 outputs a binarized data from the sample value after PR.例文帳に追加

ビタビ復号器8は、PR後のサンプル値から2値化データを出力する。 - 特許庁

An imaging apparatus includes a pixel unit, a sample hold unit and a sampling adjustment unit.例文帳に追加

撮像装置は、画素部と、サンプルホールド部と、サンプリング調整部とを備える。 - 特許庁

Analog-to-digital converters 531-534 each generates a digital sample of a signal to be tested.例文帳に追加

アナログ・デジタル変換器531-534は、被試験信号のデジタル・サンプルを発生する。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER ROTATING MECHANISM AND VACUUM THIN-FILM DEPOSITION DEVICE PROVIDED THEREWITH例文帳に追加

サンプルホルダー回転機構及びこの機構を備える真空薄膜成膜装置 - 特許庁

Further, the microscope and method for imaging the sample are disclosed.例文帳に追加

さらに、試料を結像するための顕微鏡および方法が開示されている。 - 特許庁

VOLATILITY MEASURING DEVICE FOR LIQUID SAMPLE AND VOLATILITY MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

液体試料の揮発度測定装置とそれを用いた揮発度測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING QUANTITY OF IMPURITY IN ANALYZED GAS SAMPLE例文帳に追加

被分析ガス試料中の不純物量を測定する方法および装置 - 特許庁

FILM-LIKE SAMPLE FIXING METHOD, GAS CELL, AND GAS PERMEABILITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

フィルム状試料固定方法およびガスセル並びにガス透過度測定装置 - 特許庁

A sample layout can be extracted from an existing content file.例文帳に追加

また、既存のコンテンツファイルからサンプルレイアウトを抽出できるように構成する。 - 特許庁

MEASURING METHOD USING PHOTOELECTRON SPECTROSCOPE AND PRE-TREATING METHOD FOR SAMPLE例文帳に追加

光電子分光装置を用いた測定方法及び試料前処理方法 - 特許庁

METALLIC COATING SURFACE EVALUATION METHOD AND DEVICE, AND EVALUATION REFERENCE SAMPLE例文帳に追加

メタリック塗装表面評価方法および装置並びに評価基準標本 - 特許庁

SAMPLE FOR OBSERVING SEMICONDUCTOR WAFER SURFACE CRYSTAL DEFECT AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体ウェーハ表層結晶欠陥観察用試料とその作製方法 - 特許庁

例文

The moved sample fluid can be detected by the detecting element 140.例文帳に追加

検出要素(140)により、移動されたサンプル流体を検出することができる。 - 特許庁




  
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