「Test Pattern Generator」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁

PATTERN GENERATOR AND PATTERN GENERATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TEST例文帳に追加

半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法 - 特許庁

A test pattern generator 12 impresses test patterns repeatedly to the DUT 1.例文帳に追加

テストパタン発生部１２はテストパタンを繰り返しＤＵＴ１に印加する。 - 特許庁

The test aid device comprises a test pattern memory memorizing a plurality of test pattern data corresponding to a plurality of test items, and a test pattern signal generator which writes test pattern data selected from among a plurality of the test pattern data.例文帳に追加

テスト補助装置は、複数のテスト項目に対応した複数のテストパターンデータを記憶するテストパターンメモリと、複数のテストパターンデータの中から選択されたテストパターンデータを書き込テストパターン信号発生器を有する。 - 特許庁

JITTER APPLICATION CIRCUIT, PATTERN GENERATOR, TEST APPARATUS, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

ジッタ印加回路、パターン発生器、試験装置、および、電子デバイス - 特許庁

A pattern generator 20 generates a functional test pattern comprising steps of logical data.例文帳に追加

パターンジェネレータ２０は論理データの各ステップからなる機能テストパターンを発生する。 - 特許庁

SIGNAL GENERATOR, TEST PATTERN, AND EVALUATION METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加

信号発生装置、テストパターン及び映像機器の評価方法 - 特許庁

SPEED MONITORING DEVICE, PATTERN GENERATOR, AND SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS例文帳に追加

速度監視装置、パターン発生装置、及び半導体試験装置 - 特許庁

TEST PATTERN, SIGNAL GENERATOR AND METHOD OF EVALUATING VIDEO DEVICE例文帳に追加

テストパターン、信号発生装置及び映像機器の評価方法 - 特許庁

Operations for reading out the selected test pattern data from the test pattern memory, and writing it into the test pattern signal generator are controlled by a control unit.例文帳に追加

選択されたテストパターンデータをテストパターンメモリから読み出す動作と、それをテストパターン信号発生器に書き込む動作は、制御部によって制御される。 - 特許庁

Each gateway includes a test pattern generator and a test memory analyzer that are used for an in-operation test of the video signal.例文帳に追加

各ゲートウェイはビデオ信号の稼働中テストを行うためのテスト・パターン・ジェネレータ及びテスト測定アナライザを含む。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路のテストパターン生成装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE OPTIMUM INITIAL VALUE IN TEST PATTERN GENERATOR例文帳に追加

テストパターン発生器における最適初期値の決定方法および装置 - 特許庁

The scrambler 54 scrambles the test pattern from the pattern generator 52 at a compliance test using a compliant pattern.例文帳に追加

スクランブラ５４は、コンプライアントパターンを用いてテストを行うコンプライアンステスト時に、パターンジェネレータ５２からのテストパターンに対してスクランブル処理を行う。 - 特許庁

ALGORITHM PATTERN GENERATOR FOR MEMORY ELEMENT TEST, AND MEMORY TESTER USING SAME例文帳に追加

メモリ素子テストのためのアルゴリズムパターン生成器及びこれを用いたメモリテスタ - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CONTROL PROGRAM, READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体 - 特許庁

A test code generator reads out test procedure names in test procedure pattern information according to a test order and reads out test code information pieces each containing a test code fragment ID associated with the read-out test procedure name.例文帳に追加

実施形態のテストコード生成装置は、テスト手順パターン情報内のテスト手順名をテスト順番に沿って読み出し、当該読み出したテスト手順名に関連付けられたテストコード断片ＩＤを含むテストコード情報を読み出す。 - 特許庁

When a register 1 or the like is not operated, an instruction is sent to a test pattern generator 2 from a BIST controller 3, and the test pattern is sent to a circuit of the part that is not used.例文帳に追加

レジスタ１等が動作していない場合、ＢＩＳＴコントローラ３からテストパタン生成器２に指示を送り、テストパタンを未使用部回路に送出する。 - 特許庁

A test pattern is generated by a test pattern generator 230 and supplied to a semiconductor device to be tested, and the semiconductor device is operated.例文帳に追加

テストパターン発生部２３０によりテストパターンを発生して被試験デバイスである半導体装置に供給し、この半導体装置を動作状態とする。 - 特許庁

A pattern generating circuit generates a plurality of the same continuous pattern data of test rate in the generation of a test waveform at a general test rate on the basis of the clock of the test rate generated in a rate generator, and generates a plurality of different continuous pattern data of test rate in the generation of high-speed test waveform.例文帳に追加

パターン発生回路は、レート発生器で発生したテストレートのクロックに基づいて、通常のテストレートでテスト波形を生成するときはテストレートの複数の同じ連続パターンデータを発生し、高速のテスト波形を生成するときはテストレートの複数の異なる連続パターンデータを発生する。 - 特許庁

This test pattern generator 10 for generating a test pattern for scan-testing the semiconductor integrated circuit is provided with a risky portion extracting part 110, and an ATPG 150 of a pattern generation executing part for executing the generation of the test pattern.例文帳に追加

半導体集積回路をスキャンテストするためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置１００は、危険箇所抽出部１１０と、テストパターンの生成を実行するパターン生成実行部であるＡＴＰＧ１５０を備える。 - 特許庁

The pattern generator generates test signals, and the addressor designates addressing of the signals to a known server and instructs the server to return the test signals to a test system.例文帳に追加

パターン発生器はテスト信号を生成し、アドレッサは信号を公知のサーバにアドレス指定し、テスト信号をテストシステムに戻すようにサーバに命令する。 - 特許庁

A pulse pattern generator generating a test signal of specified pattern using a plurality of digital/analog converters and outputting the test signal to a test object is improved.例文帳に追加

本発明は、所定のパターンの試験用信号を、複数のデジタルアナログ変換器を用いて生成し、被試験対象に出力するパルスパターン発生装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The test pattern generated by the test pattern generator 10 is input in the tested LSI2 and the output pattern output from the tested LSI2 is input in a comparator 12.例文帳に追加

テストパターン発生部１０によって発生されたテストパターンは被試験ＬＳＩ２に入力され、被試験ＬＳＩ２から出力された出力パターンは比較部１２に入力される。 - 特許庁

A pattern generator PG generates a pattern signal S_PTN that describes a test signal S1 to be applied to a DUT1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、ＤＵＴ１に供給すべき試験信号Ｓ１を記述するパターン信号Ｓ_ＰＴＮを発生する。 - 特許庁

To provide a pattern data generator which can prepare various types of test pattern data as required by a user through a simple arrangement.例文帳に追加

簡単な構成で、使用者の希望に応じて種々のテストパターンデータを用意できるテストパターンデータの生成装置を提供する。 - 特許庁

The one chip microcomputer 10 has a starting register 18 starting a test operation and a built-in self test starting pattern generator 19 setting initial values in test control circuits (a pseudo random number generator 14, a logic circuit inspection compressor 15, a pattern generator 16 and a memory inspection compressor 17) for a built-in self test function.例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

In the test of the semiconductor device, since the clock of the scan chain need not be longer than the cycle of the clock of the pattern generator, increase in the number of the clocks of the pattern generator necessary for the test is avoided, and thereby the test time is avoided from increasing.例文帳に追加

半導体装置のテストにおいて、スキャンチェインのクロックをパタン発生器のクロックの周期よりも長くする必要がないので、テストに必要なパタン発生器のクロック数の増加が回避され、それによりテスト時間が増加するのが回避される。 - 特許庁

The pattern generator PG schedules the order of the test patterns S_PTN independently for each of the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１ごとに、テストパターンＳ_ＰＴＮの順序を独立にスケジューリングする。 - 特許庁

Moreover, since no '001' pattern generator 20 required at the outside of the transmitter, the configuration of test measurement can be simplified.例文帳に追加

更に、外部に“００１”パターン発生器２０を不要としたので、試験測定構成を簡素化することがでる。 - 特許庁

For example, a pattern generator PG produces a common test patten S_PTN to the plurality of DUT 1.例文帳に追加

たとえばパターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１に対して共通のテストパターンＳ_ＰＴＮを生成する。 - 特許庁

To realize a pulse pattern generator which outputs a test signal having high waveform quality even if the shape of an eye pattern is altered.例文帳に追加

アイパターンの形状を変更しても波形品質の高い試験用信号を出力するパルスパターン発生装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

A pattern generator ALPG generates test patterns S_PTN1 to S_PTN4 describing a test signal S_TEST to be outputted by drivers DR_1 to DR_4.例文帳に追加

パターン発生器ＡＬＰＧは、ドライバＤＲ_１〜ＤＲ_４が出力すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４を生成する。 - 特許庁

The test pattern generator and the test memory analyzer are synchronized by using a vertical integral time code and a trigger packet sent from a transmission station.例文帳に追加

テスト・パターン・ジェネレータ及びテスト測定アナライザは伝送ステーションによって送られた垂直インテグラル・タイム・コード及びトリガ・パケットを使用して同期化される。 - 特許庁

When the gray scale of a test pattern exceeds predetermined conditions, a gray scale control section 25 performs gray scale correction for a test pattern from a pattern generator 24 until a desired gray scale is attained and holds the correction amount.例文帳に追加

濃度コントロール部２５は、テストパターンの濃度が一定条件を越えた場合には、パターン発生器２４からのテストパターンに対して、所望の濃度になるまで階調補正を行い、このときの補正量を保持する。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATOR, SCAN TEST METHOD, METHOD FOR DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT, AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATING METHOD, METHOD FOR EXECUTING SCAN TEST CIRCUIT DESIGN例文帳に追加

スキャンテスト回路、自動テストパターン生成装置、スキャンテスト方法、スキャンテスト回路設計方法、自動テストパターン生成方法、スキャンテスト回路設計方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体および自動テストパターン生成方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To carry out a logic verification of an IC chip without using a complex test pattern generator.例文帳に追加

複雑なテストパタン発生器を使用することなくＩＣチップの論理検証を可能にする論理検証システムを提供する。 - 特許庁

Using the test pattern generated by the test pattern generator 4, a resistor level trouble diagnosing device 5 performs the trouble diagnosis of a resistor level so as to generate the information for performing a gate level trouble diagnosis.例文帳に追加

レジスタレベル故障診断器５はテストパタン作成器４が生成したテストパタンを用いて、レジスタレベルの故障診断を行うことにより、ゲートレベル故障診断を行うための情報を生成する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data.例文帳に追加

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

A plurality of waveform generating circuits generates the test waveform of each continuous pattern data from the continuous pattern data generated in the pattern generating circuit and the clock for determining the change timing of each continuous pattern data generated in an edge generator.例文帳に追加

複数の波形発生回路は、パターン発生回路で発生した連続パターンデータと、エッジ発生器で発生した各連続パターンデータの変化タイミングを決定するクロックとから、各連続パターンデータのテスト波形を発生する。 - 特許庁

A pattern generator PG generates test patterns S_PTN that describe test signals S_TEST to be supplied to each of the input/output terminals P3 of the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１の各入出力端子Ｐ３に供給すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮを生成する。 - 特許庁

The tester body 20 is provided with a tester controller 40 and a test unit 22, and the test unit 22 includes a pin assign converter 90, a pattern generator 50 and a waveform shaper 60.例文帳に追加

テスタ本体２０は、テスタコントローラ４０及び試験ユニット２２を有し、試験ユニット２２には、ピンアサインコンバータ９０、パターン発生器５０及び波形整形器６０が含まれる。 - 特許庁

The test pattern generator dynamically arranges a test signal to a line selected in advance for a VBI period in the video frame at a period of the frame by adopting a concealment technology.例文帳に追加

テスト・パターン・ジェネレータはＶＢＩ期間における事前選択されたラインに、ビデオ・フレームの時間周期でテスト信号を隠蔽技法を使用してそのフレームに動的に配置する。 - 特許庁

The signal selection part 6 switches a video signal decoded by the decoding part 5 and a test pattern signal b inputted from a pattern generator 10, in accordance with a mode switching signal c and selects the video signal a in a normal mode and selects the test pattern signal b in a test mode.例文帳に追加

信号選択部６は、デコード部５でデコードされたビデオ信号ａと、パターンジェネレータ１０から入力されるテストパターン信号ｂとをモード切換信号ｃに応じて切り換え、通常モードにおいてはビデオ信号ａを、テストモードにおいてはテストパターン信号ｂを選択する。 - 特許庁

A serializer 17 converts a parallel test pattern signal, which is output from a pattern generator 20 according to a clock signal CLK1 during a test mode period, into a serial signal and outputs the serial signal from an output buffer 16 to an external loopback pass on the part of a test jig.例文帳に追加

シリアライザ１７は、テストモード期間にクロック信号ＣＬＫ１に応じてパタン発生器２０が出力するパラレルのテストパタン信号をシリアル信号に変換して出力バッファ１６よりテスト治具側の外部ループバックパスへ出力する。 - 特許庁