「Test Pattern Generator」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To shorten a supply time of an address signal from a pattern generator to a defect analysis memory in a memory test device.例文帳に追加

メモリ試験装置において、パターン発生器から不良解析メモリまでのアドレス信号の供給時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To provide a pattern generator and capable of generating test pattern data by an interleave method without having to analyze or creating internal operations for pattern generation for each interleave operation, and to provide a pattern generating method.例文帳に追加

パターン生成のための内部演算をインターリーブ動作の各々に対して分析して作成しなくても、インターリーブ方式でテストパターンデータの生成が可能な半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法を提供する。 - 特許庁

A control device 5 included in the motor generator 4 controls the motor generator 4 so as to change rotational speed of the steam turbine 2 for the test following a speed change pattern settable optionally.例文帳に追加

電動発電機４に備わる制御装置５は、任意に設定できる変速パターンに従って試験用蒸気タービン２の回転速度を変速するように電動発電機４を制御する。 - 特許庁

A control section 1165 prints out a test image outputted from a pattern generator 1161 and sets a correction value of gradation correction devices 1164-1167 on the basis of an image signal obtained by reading the printed test image.例文帳に追加

制御部1165は、パターンジェネレータ1161から出力されたテスト画像を印刷し、印刷されたテスト画像を読み取った画像信号に基づき、階調補正器1164〜11167の補正値を設定する。 - 特許庁

To provide an algorithm pattern generator for a memory element test and enabling to optimize the constitution of a memory tester that includes address scrambling and data scrambling.例文帳に追加

アドレススクランブリング及びデータスクランブリングを含んでメモリテスタの構成を最適化できるメモリ素子テストのためのアルゴリズムパターン生成器を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The data transfer control device includes a pattern generator 52 for generating a test pattern of a compliant pattern, a scrambler 54 for performing scrambling, and a data scrambler 56 for scrambling and outputting transmission data.例文帳に追加

データ転送制御装置は、コンプライアントパターンのテストパターンを発生するパターンジェネレータ５２と、スクランブル処理を行うスクランブラ５４と、送信データに対してスクランブル処理を行って出力するデータスクランブラ５６を含む。 - 特許庁

This one-chip microcomputer 10 is provided with a starting register 18 for starting test operation for an incorporation self-checking function, and an incorporation self-check starting pattern generator 19 for setting an initial value to a test control circuit (a pseudo random number generator 14, a logic circuit checking compressor 15, a pattern generator 16 and a memory checking compressor 17).例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

A controller 50 writes a desired sequence pattern in the sequence pattern generator 23 and selects either the data encoded by a 64B/66B encoder 22 or a sequence pattern issued from the sequence pattern generator 23 and imparts the one selected to a test target device by controlling a data selector 24.例文帳に追加

制御部５０は、シーケンスパターン発生部２３に所望のシーケンスパターンを書き込むとともに、データ選択部２４を制御し、６４Ｂ／６６Ｂ符号化処理部２２によって符号化されたデータとシーケンスパターン発生部２３から出力されるシーケンスパターンとのいずれか一方を選択して被試験対象装置に与える。 - 特許庁

This test equipment for a memory device has a pattern generator 60, a pin data selector 70, a waveform forming device 30, a memory device insertion section 40, and a comparator 50.例文帳に追加

本発明によるメモリデバイス装置は、パターン発生器６０、ピンデータセレクタ７０、波形整形器３０、メモリデバイス差込部４０および比較器５０を有する。 - 特許庁

A test data signal and the clock signal outputted from a pulse pattern generator 11 can be adjusted on the basis of a control signal from an error detector 12.例文帳に追加

パルスパターン発生器１１が出力するテストデータ信号とクロック信号とは、エラー検出器１２からの制御信号に基づいて調整可能である。 - 特許庁

To effectively detect bus fight of a data bus when data is written from the outside in a digital processing device such as a test pattern generator or the like in which programming is freely performed.例文帳に追加

試験パターン発生器などのプログラミング自在なデジタル処理装置での外部からのデータの書き込みの際のデータバスのバスファイトを有効に検出する。 - 特許庁

An initial probability setting file 13 shows the rate of each parameter value for each parameter item, and a test parameter generator 2 generates a plurality of types of test patterns according to a rate of each parameter value of the initial probability setting file 13, and makes a test bench 4 execute simulation by using a test pattern 3.例文帳に追加

初期確率設定ファイル１３は、パラメタ項目ごとに各パラメタ値の比率を示しており、テストパターンジェネレータ２は、初期確率設定ファイル１３のパラメタ値ごとの比率に従って複数種のテストパターンを生成し、テストベンチ４にテストパターン３を用いたシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

An external inspection circuit 24 includes a control circuit 38 stored with a test pattern producing program for producing a test pattern according to a signal SIG2, a signal generator 40 for outputting a signal SIG4 (frequency setting signal) according to the test pattern, and a comparison discriminator 42 for comparing a signal SIG3 with an expected value to output a comparison result.例文帳に追加

外部検査回路２４はテストパタン生成プログラムが記憶され、信号ＳＩＧ２に応じてテストパタンを生成する制御回路３８と、テストパタンに応じて信号ＳＩＧ４（周波数設定信号）を出力する信号発生器４０と、信号ＳＩＧ３と期待値とを比較して比較結果を出力する比較判定器４２とを含む。 - 特許庁

In a test pattern for scan-designed LSIs, the generator performs a scan-out process 315 for picking up logic values from each flip flop and a scan-in process 316 for writing logic values for the next test in each flip flop at the same time.例文帳に追加

スキャン設計されたＬＳＩに対するテストパターンにおいて、各フリップフロップから論理値を取り出すスキャンアウト処理３１５と、各フリップフロップへ次のテスト用の論理値を書き込むスキャンイン処理３１６とを同時に行う。 - 特許庁

The pattern data generator generating a test pattern based on register data forming a pattern comprises means for setting the register data forming a pattern being generated, and means for generating pattern data based on the register data set by the setting means.例文帳に追加

本発明のテストパターンの生成装置は、パターン作成用のレジスタデータに基づいてパターンデータを生成する装置であって、生成しようとするパターンの作成用のレジスタデータの設定手段と、上記設定手段により設定したレジスタデータに基づいてパターンデータを生成するパターンデータ生成手段とで構成されることを特徴とする。 - 特許庁

This test facilitating circuit is functioned as a test pattern generator 100 by connecting the plurality of scan registers 14 arranged at a first stage of a plurality of scan chains constructed by connecting the scan registers 14 in series for facilitating test, to EXOR gates 31.例文帳に追加

テスト容易化のために設けられたスキャンレジスタ１４を直列に接続して構成された複数のスキャンチェーンの第１段に配置されている複数の前記スキャンレジスタ１４とＥＸＯＲゲート３１とを接続してテストパターン発生器１００としての機能を満たす。 - 特許庁

Meanwhile, in the case of a RAM disk or a hybrid disk, the length of the recording information is decided by a data amount decision part 78 and when it is not the required length, a test pattern generated in a test pattern generator 62 of a media side EN/D and servo circuit 60 is written into a RAM area of the disk.例文帳に追加

しかし、ＲＡＭディスクやハイブリッドディスクの場合は、データ量判定部７８によって記録情報の長さが判定され、これが必要な長さでない場合は、メディア側ＥＮ／Ｄ＆サーボ回路６０のテストパターン発生器６２で発生したテストパターンをディスクのＲＡＭ領域に書き込む。 - 特許庁

The delivering circuit 132 includes a rate generator 144, a fail capture control 146 which specifies a defective cell and performs an output to the outside, a timing generator 148 which generates a timing signal based on a reference test frequency signal, and a pattern generator 150 which outputs an address signal for reading pattern information from the outside to the outside.例文帳に追加

受け渡し回路１３２は、レイト・ジェネレータ１４４と、不良セルを特定して、外部に出力するフェイル・キャプチャー・コントロール１４６と、基準試験周波数信号を基に、タイミング信号を発生するタイミング・ジェネレータ１４８と、パターン情報を外部から読み出すためのアドレス信号外部に出力するパターン・ジェネレータ１５０とを備える。 - 特許庁

A pattern generator 4 repeatedly impresses the same test pattern to a DUT 2 via a driver 6, and power source current values measured in those times are turned into digital signals in a signal conversion circuit 8a so as to be supplied to an equalizing unit 8b.例文帳に追加

パタン発生器４からドライバ６を介してＤＵＴ２へ同一テストパタンを繰り返し印加し、そのとき測定された電源電流値を信号変換回路８ａでディジタル信号として平均化処理部８ｂへ供給する。 - 特許庁

A light output from a light source 102 of an optical sender 101 is modulated by using repetition signals of "0011" from a test pattern generator 105 and a data modulator 103.例文帳に追加

光送信部１０１の光源１０２から出力された光を、試験パターン発生器１０５からの“００１１”の繰り返し信号と、データ変調器１０３を用いて変調する。 - 特許庁

A frame processor 50 executes a process of decompressing the test pattern 20 output from the pattern generator 30 in operation in software manner by executing a previously set program, and generates/outputs a pulse shape signal, based on the decompressed data.例文帳に追加

フレームプロセッサー５０は、あらかじめ設定されたプログラムを実行することにより、パターンジェネレーター３０から出力されたテストパターン２０の伸張処理をソフト的に行い、さらに、伸張されたデータに基づいて、パルス波形を生成して出力する。 - 特許庁

A parametric generator 130 fetches description information from the text definition file and arranges on the basis of this reference information a segment description code describing the segment of the specific test pattern, in memory 132.例文帳に追加

パラメトリック発生器１３０は、テキスト定義ファイルから記述情報を取り出し、この基準情報に基づいて、特定テスト・パターンのセグメントを記述するセグメント記述コードをメモリ１３２に配置する。 - 特許庁

For example, the pattern generator PG schedules the order of the test patterns for each of the plurality of DUTs 1 so as to reduce a total variation in operating currents I_OP that flow through the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

たとえばパターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１に流れる動作電流Ｉ_ＯＰの合計の変動が小さくなるように、複数のＤＵＴ１ごとのテストパターンの順序をスケジューリングする。 - 特許庁

A program memory section 24 is prepared in a pattern generator generating testing patterns and one of a plurality of memory sections prepared in the semiconductor testing device to memorize test conditions of DUT.例文帳に追加

プログラムメモリ部２４は、試験パターンを生成するパターンジェネレータに設けられており、ＤＵＴの試験条件を記憶するために半導体試験装置に複数設けられているメモリ部等の１つである。 - 特許庁

A pattern generator PG generates test patterns S_PTN1 to S_PTN4 for describing test signals S_TEST to be output by drivers DR_1 to DR_4, and control patterns S_PTN5 and S_PTN6 for describing control signals S_CNT2 and S_CNT1 to be output by drivers DR_5 and DR_6.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、ドライバＤＲ_１〜ＤＲ_４が出力すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４と、ドライバＤＲ_５、ＤＲ_６が出力すべき制御信号Ｓ_ＣＮＴ２、Ｓ_ＣＮＴ１を記述する制御パターンＳ_ＰＴＮ５、Ｓ_ＰＴＮ６を生成する。 - 特許庁

To provide a digital transmission that is not susceptible to the effect of the performance of a reception circuit section 2 and can conduct a DS3 transmission pulse mask test without the need for a '001' pattern generator 20 at the outside of the transmission apparatus.例文帳に追加

受信回路部２の性能による影響を受けることなく、且つ、外部に“００１”パターン発生器２０を用意しなくともＤＳ３送信パルスマスク試験を行なうことができるディジタル伝送装置を提供する。 - 特許庁

A signal generation module M1 that is implemented by a microcomputer 24 of a television 20, generates an analog video signal capable of displaying a test pattern, so that it is not necessary to connect a signal generator or the like outside and workability is improved.例文帳に追加

テレビジョン２０のマイコン２４が実行する信号発生モジュールＭ１がテストパターンを表示可能なアナログ映像信号を生成するため、外部に信号発生器等を接続せずに済み、作業性がよい。 - 特許庁

To provide a clock data recovery (CDR) IC that can adjust a jitter transmission band at a DC test for an IC without the need for employing an expensive measurement device such as a pulse pattern generator and a jitter analyzer, and to provide its jitter transmission band adjustment method.例文帳に追加

パルスパターン発生器やジッタアナライザのような高価な測定器を用いず、しかもＩＣのＤＣテスト時でのジッタ伝達帯域調整が可能なＣＤＲ ＩＣおよびそのジッタ伝達帯域調整方法を提供することにある。 - 特許庁

A pattern generator PG produces test patterns S_PTN1-S_PTN4 describing a test signal S_TEST which drivers DR_1-DR_4 should output, and control patterns S_PTN_CMPb and S_PTN_CMPa describing control signals S_CNTb and S_CNTa which drivers DR_5 and DR_6 should output.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、ドライバＤＲ_１〜ＤＲ_４が出力すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４と、ドライバＤＲ_５、ＤＲ_６が出力すべき制御信号Ｓ_ＣＮＴｂ、Ｓ_ＣＮＴａを記述する制御パターンＳ_ＰＴＮ＿ＣＭＰｂ、Ｓ_ＰＴＮ＿ＣＭＰａを生成する。 - 特許庁

To evaluate the adjustment or the like of hue and chroma even other than a blue color signal by especially applying a test pattern, a signal generator and a method of evaluating a video device to operation confirmation of various video devices.例文帳に追加

本発明は、テストパターン、信号発生装置及び映像機器の評価方法に関し、特に各種映像機器の動作確認に適用して、青色色信号以外についてもＨＵＥ、クロマの調整等を評価することができるようにする。 - 特許庁

A data fetch control part 2 changes a raster size and makes color CRT 6 display inversely a test pattern formed by arranging a plurality of dots generated by a signal generator 4, so that positions of light-emitting fluorescent substances in the dots are different from one another among the dots.例文帳に追加

データ取込制御部２はラスタサイズを変更して信号発生器４で発生した複数個のドットを配列してなるテストパターンをドット内の発光螢光体の位置がドット間で互いに異なるようにカラーＣＲＴ６に反転表示させる。 - 特許庁

To economically and simply conduct adjustment and inspection of an optical module without the need for using an expensive exclusive measure ment instrument such as a multi-channel generator by providing a clock generat ing section generating a test pattern in an optical subscriber line terminating unit (ONU).例文帳に追加

光加入者線終端装置（ＯＮＵ）内にテストパターンを発生するクロック発生部を設けることで、マルチチャネルジェネレータ等の高価な専用測定器を用いることなく光モジュールの調整検査を経済的に、かつ簡易に行なう。 - 特許庁

The semiconductor random access memory having a complex shape is provided with a ROM device storing an all latent row data pattern to be input to a memory cell array during test procedure, a variable step address generator, a comparing device, and a control device.例文帳に追加

複雑な形状を持つ半導体ランダムアクセス・メモリが、試験手順の間に記憶セル・アレイに入力すべき悉くの潜在的な行データ・パターンを記憶するＲＯＭ装置、可変ステップ・アドレス発生器、比較装置及び制御装置を備えている。 - 特許庁

To obtain a built-in circuit for self-test in which increase of occupancy area in an integrated circuit can be suppressed by sharing a data generator generating a diagonal pattern even when RAMs having different shape are arranged in an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路内にシェイプの異なるＲＡＭが配置されている場合においても、ダイアゴナルパターンを生成するデータ生成器を共有できるようにすることによって、集積回路内に占める面積増加を減少させることができる組込み自己試験用回路を得る。 - 特許庁

A data fetch control section 2 of this luminance characteristic measurement instrument changes the raster size to display a test pattern, consisting of a plurality of longitudinal or lateral stripes generated by a signal generator 4 onto a color CRT 6, in a way such that relative positions of phosphors in each stripe differs from each other.例文帳に追加

データ取込制御部２はラスタサイズを変更して信号発生器４で発生した複数本の縦縞若しくは横縞の縞模様からなるテストパターンを、各縞内の発光螢光体の相対的な位置が異なるようにカラーＣＲＴ６に表示させる。 - 特許庁

In the calculation system, a random pattern generator 12 generates test patterns 11a, 11b by extracting respective parameters such as data transfer destination, data transfer direction and the number of bursts at random and bus operation models 10a, 10b respectively transfer data on the basis of the patterns 11a, 11b through a system bus 1.例文帳に追加

ランダムパターンジェネレータ１２でデータの転送先・転送方向・バースト数等の各パラメータをランダムに抽出してテストパターン１１ａ，１１ｂを生成し、このパターン１１ａ，１１ｂに基づいてバス動作モデル１０ａ，１０ｂはシステムバス１を介してデータを転送する。 - 特許庁