| 例文 |
cell testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 208件
To provide a macro cell capable of testing an analogue signal wiring.例文帳に追加
アナログの信号配線を試験することができるマクロセルを提供する。 - 特許庁
The testing cells opening drains for all bit lines of the memory cell array are provided on the testing cell array as an open cell, and the open cell is arranged on at least a place at every bit line.例文帳に追加
テスト用セルアレイにはメモリセルアレイのビット線の全てに対してドレインをオープンにするテスト用セルがオープンセルとして備えられており、オープンセルはビット線毎に少なくとも一か所配置されている。 - 特許庁
GAS IMPERMEABILITY/INSULATION PROPERTY TESTING METHOD OF POROUS GAS DIFFUSION ELECTRODE SEALING PORTION OF FUEL CELL, AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加
燃料電池の多孔質ガス拡散電極シール部のガス不透過性・絶縁性試験方法及び試験装置 - 特許庁
To provide a magnetic storage device having a test mode for testing a memory cell and a spare memory cell itself for saving the reference cell.例文帳に追加
リファレンスセルおよびリファレンスセルを救済するスペアメモリセル自体を試験するテストモードを備えた磁気記憶装置を提供する。 - 特許庁
When testing, a gate voltage of the reference cell transistor T2r is set, and a reference current made to flow through the reference memory cell 3 for testing is adjusted.例文帳に追加
試験時において基準セルトランジスタT2rのゲート電圧が設定され、試験用基準メモリセル3に流れる基準電流が調節される。 - 特許庁
DATA OUTPUT COMPRESSION CIRCUIT FOR TESTING CELL IN BANK AND ITS METHOD例文帳に追加
バンク内のセルをテストするためのデータ出力コンプレス回路及びその方法 - 特許庁
This flow cell system includes a flow cell which itself channels a continuous or intermittent sample liquid stream containing a compound for testing.例文帳に追加
フローセルは、試験化合物を含有する連続的または断続的試料液流を流す流体シースを流す。 - 特許庁
This circuit is provided with a coincidence detecting circuit 42 for testing whether plural output signals read out from plural memory cell arrays Cell 0-Cell 3 coincide or not.例文帳に追加
複数のメモリセルアレイCell0〜Cell3から読み出した複数の出力信号が一致しているか否かを検査する一致検出回路42を設ける。 - 特許庁
To provide a method for fabricating and testing a solar cell on which diagnostic devices are formed.例文帳に追加
診断装置が形成されたソーラーセルを製造しテストする方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of testing the life performance of a fuel cell in a short period of time.例文帳に追加
短時間で燃料電池の寿命性能を試験する方法を提供する。 - 特許庁
DATA PROCESSOR AND METHOD FOR TESTING STABILITY OF MEMORY CELL IN MEMORY DEVICE例文帳に追加
メモリ・デバイス内のメモリ・セルの安定性をテストするためのデータ処理装置および方法 - 特許庁
HUMIDIFICATION SYSTEM AND PERFORMANCE TESTING DEVICE OF ELECTROLYTE MEMBRANE FOR FUEL CELL USING IT例文帳に追加
加湿システム及びそれを用いた燃料電池用電解質膜の性能試験装置 - 特許庁
The test technique comprises a memory cell, a built-in self-testing cell, a comparing cell and a signature cell, and the signature cell contains one set of first conductive paths at a first level and one set of second conductive paths at a second level.例文帳に追加
メモリセルと、内蔵自己テストセルと、比較セルと、シグナチャセルとを有し、該シグナチャセルは、第一レベルの1組の第一導電性経路と、第二レベルの1組の第二導電性経路と包含している。 - 特許庁
To provide a method for testing cytotoxicity, by using a new established fish cell line.例文帳に追加
新規な魚類株化細胞を用いた細胞毒性試験方法を提供すること。 - 特許庁
POLYELECTROLYTE FUEL CELL AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
高分子電解質型燃料電池の試験方法、および高分子電解質型燃料電池 - 特許庁
To provide an improved circuit and a method for testing deterioration of a ferroelectric memory cell.例文帳に追加
強誘電体メモリセルの劣化をテストする改良した回路及び方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING ADHESIVE CELL COUNT AND METHOD FOR TESTING EFFECT OF DRUG USING THE SAME METHOD例文帳に追加
接着細胞数の計測方法および該方法を用いた薬剤効果試験方法 - 特許庁
In testing a reference memory cell MC_REF, the cell current of the reference memory cell MC_REF is directly measured from an external terminal 3 via a write driver 31.例文帳に追加
リファレンスメモリセルMC_REFのテスト時において、外部端子3からライトドライバ31を介してリファレンスメモリセルMC_REFのセル電流を直接測定する。 - 特許庁
The memory cell 1 is connected to a current comparison circuit 2 and a reference memory cell 3 for testing is connected to the current comparison circuit 2.例文帳に追加
メモリセル1は電流比較回路2に接続され、該電流比較回路2には試験用基準メモリセル3が接続されている。 - 特許庁
To provide an accurate, reliable, and high-throughput flow cell system for solubility testing of compounds.例文帳に追加
正確で信頼性のある化合物のハイスループット溶解度測定用フローセルシステムを提供する。 - 特許庁
IMITATION REFORMED GAS MANUFACTURING METHOD, ITS DEVICE, AND FUEL CELL TESTING DEVICE USING THIS例文帳に追加
模擬改質ガス製造方法およびその装置ならびにこれを用いた燃料電池試験装置 - 特許庁
The method for testing compounds on their suppression of HCV replication uses the host cell.例文帳に追加
この宿主細胞を用いたHCV複製の抑制について化合物を試験する方法。 - 特許庁
To provide a method for testing the mitogenic activity a test sample a keratin cell.例文帳に追加
ケラチン細胞に対する被検のサンプルのマイトジェン活性を試験する方法を提供すること。 - 特許庁
METHOD FOR TESTING ANCHOR BODY, METHOD FOR ADJUSTING, AND SUPPORTING TABLE AND LOAD CELL USED IN THESE METHODS例文帳に追加
アンカー体の試験方法及び調整方法並びにそれら方法に用いる支持台及びロードセル - 特許庁
The LED light source 23 for testing is used as a light source for the solar cell evaluation device for evaluating the output characteristics of a solar cell 22 by applying dummy sunlight to the solar cell 22 housed in a testing chamber.例文帳に追加
又、この試験用LED光源23を、試験室内に収容された太陽電池22に疑似太陽光を照射して太陽電池22の出力特性を評価する太陽電池評価装置の光源として使用する。 - 特許庁
To provide a testing method of a polymer electrode type fuel cell for comprehending a deteriorating phenomenon of a polymer electrolyte generated during an operation of the fuel cell, and securing performance of the fuel cell.例文帳に追加
燃料電池運転時の高分子電解質の劣化現象を事前に把握して燃料電池の性能を保証するための燃料電池の試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide device and method for cell testing by which any action of a damaged cell is properly verified.例文帳に追加
電池が破損した場合の振る舞いを適切に検証することが可能となる電池試験装置及び電池試験方法を提供する。 - 特許庁
To improve the test efficiency by testing simultaneously a normal memory cell space and a redundant memory cell space and to easily detect a short circuit between the normal memory cell space and the redundant memory cell space in a semiconductor memory.例文帳に追加
半導体記憶装置において、ノーマルメモリセル空間と冗長メモリセル空間を同時にテストして、テスト効率の向上、ノーマルメモリセル空間と冗長メモリセル空間とのショート検出を容易に行う。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory testing apparatus for shortening a time required for retrieving a singular cell such as a defective cell or the like included in a semiconductor memory.例文帳に追加
半導体メモリに含まれる不良セル等の特異セルの検索に要する時間を短縮できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁
Then, the core 5 is installed in triaxial testing cell 25 of a water permeable testing device 7 by flow velocity control, and side pressure is applied to the core 5 to be restricted at restriction pressure σc equivalent to rock pressure.例文帳に追加
次に、流速制御による透水試験装置7の三軸試験セル25内にコア5を設置し、コア5に側圧を印加して地圧相当の拘束圧σcで拘束する。 - 特許庁
The reference memory cell 3 for testing includes a reference selection transistor T1r, and a reference cell transistor T2r connected to the reference selection transistor T1r in series.例文帳に追加
試験用基準メモリセル3は、基準選択トランジスタT1rと、該基準選択トランジスタT1rに直列接続された基準セルトランジスタT2rとを有する。 - 特許庁
To provide an environmental testing device for a fuel cell for accurately evaluating performance of a fuel cell under stable environmental conditions.例文帳に追加
安定した環境条件下で精度良く燃料電池の性能を評価することが可能な燃料電池の環境試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a device and method for testing cracking of a power generation cell in which a cracking test of a circular flat plate type power generation cell is performed under the same temperature condition as that of an actual fuel cell stack.例文帳に追加
円形平板型の発電セルを、実際の燃料電池スタックと同じ温度条件下おいて割れ試験を行うことができる発電セルの割れ試験装置および割れ試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a fuel cell evaluation testing device in which a gas in a desired temperature condition can be supplied to the fuel cell even if supply conditions of the gas to the fuel cell are largely varied.例文帳に追加
燃料電池に対するガスの供給条件が大幅に変動しても所望の温度条件のガスを燃料電池に供給可能な燃料電池評価試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁
The fuel cell evaluation testing device 1 has a gas passage 2 through which the gas to be supplied to the fuel cell 10 is circulated, and a thermostatic means 5 capable of housing the fuel cell 10.例文帳に追加
燃料電池評価試験装置1は、燃料電池10に対して供給するためのガスが流通するガス流路2と、燃料電池10を収容可能な恒温手段5とを有する。 - 特許庁
To provide a testing device for replacing easily a load cell having a proper measuring range in response to a vibration controller.例文帳に追加
防振器に応じた適切な測定レンジを有するロードセルを簡単に取り替えることができる試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an electric cell testing apparatus for accurately determining defects in the characteristics of battery cells themselves within a relatively short time period.例文帳に追加
比較的短期間内に、電池自体の特性不良を的確に判定できる電池試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device capable of efficiently inspecting a defective cell during a testing operation.例文帳に追加
本発明は、テスト動作中に効率的に不良セルを検査可能な半導体記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
Therefore, the redundancy selection circuit 300 can program freely an address required for testing a redundant memory cell.例文帳に追加
したがって、リダンダンシ選択回路300は、リダンダントメモリセルをテストするために必要なアドレスも自由にプログラムすることができる。 - 特許庁
Thus, the cell 1 for testing the microbeads normally picks up respective images of the microbeads 7 and keeps a high analysis accuracy.例文帳に追加
したがって、本発明のマイクロビーズ検査用セル1は、各マイクロビーズ7の撮像が正常に行われ、解析精度が高い。 - 特許庁
The ATM transmission testing device to which the test request is sent generates an ATM cell for transmission test corresponding to the test mode of the test request and transmits the ATM cell to the opposite node.例文帳に追加
試験要求が出されたATM伝送試験装置は、試験要求の試験モードに応じた伝送試験用ATMセルを生成し、対向するノードに送信する。 - 特許庁
To determine whether or not a semiconductor redundant memory cell is selected without requiring an input/output terminal for testing or a test circuit for a defective memory cell.例文帳に追加
テスト用の入出力端子や不良メモリセル用のテスト回路を必要とすることなく、半導体冗長メモリセルが選択されたか否かを判断できるようにする。 - 特許庁
A transmission part 101 for transmitting the test cell for testing exchange processing and an examination part 201 for receiving the test cell transmitted from the transmission part 101 and examining that test cell are provided for every line.例文帳に追加
交換処理を試験するための試験セルを送信する送信部101と、前記送信手段より送信された試験セルを受信し、当該試験セルの検査を行う検査部201とを回線ごとに設けておく。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device which can markedly shorten time for testing a memory cell part with a small number of additional circuits.例文帳に追加
少ない付加回路でメモリセル部のテスト時間を大幅に短縮することができる半導体集積回路装置を実現する。 - 特許庁
A boundary scan cell 1 in the semiconductor storage device (memory core) is disposed corresponding to each terminal 22 to execute boundary scan testing.例文帳に追加
半導体記憶装置(メモリコア)内のバウンダリスキャンセル1は、バウンダリスキャンテストを行なうために各端子22に対応して設けられる。 - 特許庁
PRETREATMENT METHOD AND AIRTIGHTNESS TESTING METHOD FOR FUEL REFORMING APPARATUS, OPERATION PRETREATMENT METHOD FOR FUEL CELL POWER GENERATION SYSTEM例文帳に追加
燃料改質装置の前処理方法および気密試験方法、並びに燃料電池発電システムの運転前処理方法 - 特許庁
To provide a semiconductor storage device capable of independently testing a memory cell array section and a logic section in a memory circuit.例文帳に追加
メモリセルアレイ部とメモリ回路内ロジック部をそれぞれ独立してテストすることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To provide particular performance data that are not generally obtained by a large-scale integrated testing method by evaluating the performance characteristic of each memory cell in particular about a random access memory cell.例文帳に追加
ランダム・アクセス・メモリ・セルに関し、特に、個々のメモリ・セルの性能特性を評価し、それによって、一般に大規模統合テスト方法では得られない特定の性能データを与える。 - 特許庁
The built-in redundancy analysis circuit 400 determines a defective address to be replaced by a plurality of spare memory cell rows and spare memory cell columns, according to the detected result of an address signal from the built-in self-testing circuit 300 and a defective memory cell.例文帳に追加
ビルトイン冗長解析回路400は、ビルトインセルフテスト回路300からのアドレス信号と不良メモリセルの検出結果とに応じて、各複数の予備メモリセル行および予備メモリセル列で置換するべき不良アドレスを決定する。 - 特許庁
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