「crystal analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS METHOD AND CRYSTAL STRUCTURE ANALYZER例文帳に追加

結晶の構造解析方法および結晶の構造解析装置 - 特許庁

CRYSTAL GRAIN ANALYZER, AND CRYSTAL GRAIN ANALYSIS METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

結晶粒解析装置、結晶粒解析方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CRYSTAL GROWTH, AND APPARATUS AND METHOD FOR CRYSTAL ANALYSIS例文帳に追加

結晶成長装置及び方法と結晶解析装置及び方法 - 特許庁

To provide a crystal analyzer capable of carrying out the three-dimensional analysis of a crystal.例文帳に追加

三次元の結晶解析を実行し得る結晶解析装置を得る。 - 特許庁

NUMERICAL ANALYSIS METHOD IN PRODUCTION OF SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

シリコン単結晶製造における数値解析方法 - 特許庁

STRUCTURE ANALYSIS METHOD OF CRYSTAL GRAIN DISPERSION ORGANIC MATERIAL例文帳に追加

結晶粒分散有機材料の構造解析方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD FOR COMPOSITION OF SODIUM HYDROGENCARBONATE CRYSTAL PARTICLES例文帳に追加

炭酸水素ナトリウム結晶粒子の組成分析方法 - 特許庁

CRYSTAL ANALYSIS METHOD IN MATERIAL SCIENCE FOR USE IN COMPUTER例文帳に追加

計算機援用材料科学における結晶解析方法 - 特許庁

COOLING METHOD AND DEVICE FOR X-RAY CRYSTAL ANALYSIS例文帳に追加

Ｘ線結晶解析用冷却方法および冷却装置 - 特許庁

HCV POLYMERASE SUITABLE FOR CRYSTAL STRUCTURAL ANALYSIS AND USAGE THEREOF例文帳に追加

結晶構造解析に適したＨＣＶポリメラーゼ及びその利用方法 - 特許庁

CAPILLARY FOR X-RAY CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS, AND PREPARATION METHOD FOR PROTEIN CRYSTAL SAMPLE USING THE SAME例文帳に追加

Ｘ線結晶構造解析用キャピラリー及びそれを用いたタンパク質結晶試料の調製方法 - 特許庁

DIFFRACTION CONDITION SIMULATION DEVICE, DIFFRACTION MEASUREMENT SYSTEM, AND CRYSTAL ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

回折条件シミュレ—ション装置、回折測定システムおよび結晶分析システム - 特許庁

To provide a polarization microscope type crystal orientation analysis apparatus in which analysis is easily performed even in a state that a temperature load is applied on a sample, and to provide a polarization microscope type crystal orientation analysis method.例文帳に追加

試料へ温度負荷を印加した状態でも容易に解析可能な偏光顕微鏡型の結晶方位解析装置および偏光顕微鏡方式の結晶方位解析方法を提供する。 - 特許庁

GAS ANALYZER FOR AIR BUBBLE IN LIQUID CRYSTAL CELL AND GAS ANALYSIS OF AIR BUBBLE IN LIQUID CRYSTAL CELL UTILIZING THE SAME例文帳に追加

液晶セル内気泡のガス分析装置および該ガス分析装置を使用した液晶セル内気泡のガス分析方法 - 特許庁

The value of x to become the morphotropic phase boundary is determined from analysis of entire energy of a tetragonal crystal, a monoclinic crystal, and a rhombic crystal by a first principle calculation.例文帳に追加

組成相境界となるｘの値は、第一原理計算による正方晶、単斜晶、菱面体晶の全エネルギー解析から決定できる。 - 特許庁

The resultant crystal was succeedingly used for succeed crystal structure analysis with resolution of 2.2 Å by multiwavelength anomalous diffraction method (MAD method).例文帳に追加

得られた結晶を用いて、多波長異常分散法（ＭＡＤ法）により分解能２．２Åの結晶構造解析に成功した。 - 特許庁

To provide a high quality penicillin-binding protein (PBP)2b crystal enabling X-ray crystal structure analysis, inhibitor designing, and the like.例文帳に追加

Ｘ線結晶構造解析および阻害剤の設計等を可能とする高品質のペニシリン結合タンパク質（ＰＢＰ）２ｂの結晶を提供する。 - 特許庁

To provide a device for growing a crystal, which is capable of producing a large sized crystal sufficient to be subjected to X-ray structure analysis and from which the grown crystal can be easily taken out without being broken.例文帳に追加

Ｘ線構造解析を可能にし得る大型の結晶をもたらすことができ、かつ生成した結晶を破壊することなく容易に取り出すことができる装置を提供する。 - 特許庁

A single crystal sample 20 whose crystal lattice interval is known is mounted on a sample mounting section 16, and a crystal lattice image is acquired by a STEM detector 17 and an image analysis section 18.例文帳に追加

試料搭載部１６の上に結晶格子間隔が既知の単結晶試料２０を搭載し、ＳＴＥＭ検出器１７及び画像解析部１８により結晶格子像を取得する。 - 特許庁

To provide a crystal of α(1-6)fucosyltransferase capable of being provided for an X-ray structural analysis.例文帳に追加

Ｘ線構造解析に供することが可能なα(１-６)フコシルトランスフェラーゼの結晶の提供。 - 特許庁

To provide an analysis method of deviation of a crystal orientation distribution for analyzing the deviation of the crystal orientation distribution of crystalline particles in a composite member.例文帳に追加

複合部材中の結晶性粒子の結晶方位分布の偏りを解析する、結晶方位分布の偏りの解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a good quality crystal of a complex of a penicillin-binding protein, (PBP)2x with a medicinal material, capable of performing the crystal structural analysis in a good reproducibility.例文帳に追加

ペニシリン結合タンパク質（ＰＢＰ）２ｘと薬物との複合体結晶構造解析を再現性良く実施できる良質の結晶を提供する。 - 特許庁

To provide a defect analysis method of a silicon single crystal, by which distribution of crystal defects in a silicon single crystal can be easily analyzed even in pulling a silicon single crystal by MCZ (Magnetic Czochralski) method in which a magnetic field is applied in a horizontal direction.例文帳に追加

水平方向に磁場を印加するＭＣＺ法によるシリコン単結晶の引上げにおいても、シリコン単結晶の結晶欠陥の分布を容易に解析することが可能なシリコン単結晶の欠陥解析方法を提供する。 - 特許庁

To enable a void shape analysis to be applied to the reserve part of a (W) plug-attached Al alloy wiring, based on current heat transfer analysis and diffusion analysis of atoms in a crystal grain structure, in an analysis method of wiring faults accompanied with a form change in a wiring.例文帳に追加

電流伝熱解析と結晶粒組織中の原子の拡散の解析から、配線の形状変化を伴う配線故障解析方法において、タングステン（W)プラグ付きAl合金配線のリザーバー部にもボイドの形状解析を適用できるようにすること。 - 特許庁

For example, a starting point P1 and a finished point P6 of the line analysis are specified so as to become a right angle to a crystal grain boundary, and the number of analysis points (sample) 6 are specified with a key board.例文帳に追加

たとえば結晶粒界に直角となるように線分析の始点Ｐ１と終点Ｐ６を指定し、キーボード等により分析点数６を指定する。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING MINUTE FOREIGN MATTER, ANALYSIS APPARATUS, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

微小異物解析方法、分析装置、半導体装置の製造方法および液晶表示装置の製造方法 - 特許庁

METHOD OF FINDING EXPERIMENTALLY ELECTROSTATIC POTENTIAL BY MEM STRUCTURAL ANALYSIS OF X-RAY DIFFRACTION DATA OF CRYSTAL SUBSTANCE例文帳に追加

結晶物質のＸ線回折データのＭＥＭ構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法 - 特許庁

To provide a method for analyzing the structure of crystal allowing simply and deterministically analysis without requiring preliminary information.例文帳に追加

予備的情報が不要であり、より簡便に、決定論的に解析が可能な結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

BLACK CERAMIC SINTERED COMPACT, OPTICAL ANALYSIS CELL USING THE SAME AND MEMBER FOR SEMICONDUCTOR- OR LIQUID CRYSTAL-MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加

黒色系セラミック焼結体およびこれを用いた光学分析用セル並びに半導体・液晶製造装置用部材 - 特許庁

To provide a device substrate with which classification and analysis of various kinds are easily conducted, and a liquid crystal panel using the device substrate.例文帳に追加

異品種の仕分けや解析を容易に行い得るデバイス基板、及びそれを用いた液晶パネルを提供する。 - 特許庁

To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a crystal which enables conformational analysis of a receptor using the phenomenon of diffraction, wherein the receptor retains a constant conformation in a phospholipid double membrane, a production method of the crystal and a method of conformational analysis using the same.例文帳に追加

本発明は、リン脂質二重膜中で一定の立体構造を保持する受容体について、回折現象を利用した立体構造解析を可能にする結晶およびその製造方法及びこれを利用した立体構造解析方法に関する。 - 特許庁

The concentrations of the impurities in the silicon crystal are quantified by spectral analysis arising from the luminescence centers.例文帳に追加

そして、前記発光センターに起因したスペクトル解析より前記シリコン結晶中における前記不純物の濃度を定量する。 - 特許庁

On analysis by an EBSP method, the crystal structure in the foil thickness direction of the aluminum foil is based on a rolled structure containing fine crystal particles having a particle size of <10 μm as a matrix.例文帳に追加

アルミニウム箔の箔厚方向における結晶組織が、ＥＢＳＰ法で解析したとき、粒径１０μｍ未満の微細結晶粒を含む圧延加工組織を母体としている。 - 特許庁

To provide a polypeptide comprising a protein portion having a large solubility-expressing quantity and capable of being crystallized in high efficiency, and to provide a high quality crystal enabling X-ray crystal structure analysis.例文帳に追加

可溶性発現量が大きく、高効率で結晶化が可能なJSP-1の部分からなるポリペプチド、及びX線結晶構造解析を可能にする高品質の結晶を提供する。 - 特許庁

To provide a method for analyzing molecular motion of the whole or some of molecules in a crystal, by using isotropic temperature factors and atomic coordinates obtained by a crystal structure analysis.例文帳に追加

結晶構造解析により得られる原子座標と等方性温度因子を用いて結晶内の分子全体又その一部の分子の分子運動を解析するための手段の提供。 - 特許庁

Since a detailed three-dimensional structure related to rat catechol o-methyl transferase is obtained by the X-ray crystal analysis of the crystal, the crystal is useful for designing the molecule of a rat catechol o-methyl transferase inhibitor.例文帳に追加

本発明の結晶のＸ線結晶解析により、ラットカテコールＯ−メチルトランスフェラーゼに関する詳細な三次元構造が得られるので、本発明の結晶はカテコールＯ−メチルトランスフェラーゼ阻害剤の分子設計に有用である。 - 特許庁

To obtain proper spectral analysis by taking into consideration the characteristics of a liquid crystal element that makes the phase difference between ordinary/extraordinary lights change.例文帳に追加

常光・異常光間の位相差を変化させる液晶素子の特性を考慮することにより、適正な分光分析を実現する。 - 特許庁

In a measurement sample preparation method for a MALDI mass analysis method, mixed crystal of a sample containing a measurement object molecule and a matrix is deposited, and ionization efficiency is raised by utilizing specific polymorphism structure of the mixed crystal in the MALDI mass analysis method.例文帳に追加

ＭＡＬＤＩ質量分析法において、測定対象分子を含む試料とマトリックスの混合結晶を析出させ、該混合結晶のうちの特定の多形構造を利用してイオン化効率を高めることを特徴とするＭＡＬＤＩ質量分析法用測定試料調製方法。 - 特許庁

To perform each processing for preserving, transporting, conveying or the like of a frozen crystal, simply and accurately in a short time by few instruments, in a structure analysis system of a crystal.例文帳に追加

結晶の構造解析システムにおいて、凍結された結晶の保存、輸送、搬送等を行うための各処理を少ない数の器具によって簡単且つ短時間で正確に行うことができるようにする。 - 特許庁

To detect contact failure between a probe pin of a prober frame and an electrode of a liquid crystal glass substrate through a software by processing measurement signals in a liquid crystal array inspection apparatus, and to detect contact failure in the stage of measurement signals prior to defect analysis.例文帳に追加

液晶アレイ検査装置において、プローバフレームのプローブピンと液晶ガラス基板の電極との接触不良を、測定信号を信号処理することでソフトウエアによって検出する。 - 特許庁

This sintered zirconia compact has peak intensity ratios as described in the description as determined by EDS surface analysis of a surface crystal grain boundary.例文帳に追加

ジルコニア焼結体は、表面の結晶粒界におけるＥＤＳ表面分析において、明細書中に記載のピーク強度比を有する。 - 特許庁

To provide a structural analysis method of a crystal for easily deciding whether spread shape of a peak to be measured is measured, by reflecting the nonuniform distribution of the composition within the crystal, when evaluating the structure of the crystal through X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状が、結晶中の組成が不均一に分布していることを反映して決まっているか否かを、簡便に判定できる、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a structural analysis method of a crystal for easily deciding whether the spread shape of a peak to be measured is determined, by reflecting the nonuniform distribution of the composition in the crystal, when evaluating the structure of the crystal by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状が、結晶中の組成が不均一に分布していることを反映して決まっているか否かを、簡便に判定できる、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

In the analysis method, the governing factor of the spread shape of the peak to be measured is decided in the crystal structure evaluation through X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状の支配要因を判定する解析手法である。 - 特許庁