「defect test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MANUFACTURING METHOD OF BLOCK RAW MATERIAL FOR ULTRASONIC DEFECT DETECTION TEST例文帳に追加

超音波深傷試験用ブロック素材の製造方法 - 特許庁

TEST PATTERN, AND METHOD OF MONITORING DEFECT USING THE SAME例文帳に追加

テストパターン及びこれを用いる欠陥モニタリングの方法 - 特許庁

IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN TEST DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN DEFECT TEST METHOD例文帳に追加

画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TEST PIECE FOR CALIBRATION OF SEAM DEFECT INSPECTION MACHINE, AND TEST PIECE FOR CALIBRATION例文帳に追加

巻締め不良検査機の較正用試験片の作成方法および較正用試験片 - 特許庁

To shorten the test time for leak defect detection of a driver circuit.例文帳に追加

ドライバ回路のリーク不良検出のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

TEST OF SEMICONDUCTOR MEMORY, DEFECT RELIEVING METHOD, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリの検査、欠陥救済方法、及び半導体メモリ - 特許庁

The dynamic defect detection test pattern can contain a last-shift-launch test pattern and a broad-side test pattern, for example.例文帳に追加

動的欠陥検出テストパターンは、例えば、ラスト−シフト−ローンチテストパターン及びブロードサイドテストパターンを含むことができる。 - 特許庁

TEST STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR DETECTING DEFECT SIZE, AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

The patterns of the test mask are transferred onto a wafer; the certified defect dimension of each kind of defects is determined; and the detection sensitivity of the defect inspection apparatus, with respect to a semitransparent defect, is controlled by using the test mask in the defect inspecting apparatus.例文帳に追加

テストマスクをウェハーへ転写し、各種欠陥の保証欠陥寸法と決定し、欠陥検査装置にて、テストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整する。 - 特許庁

To provide an inexpensive digital eddy current defect detection test device capable of performing efficiently an eddy current defect detection test of a pipe.例文帳に追加

パイプの渦流探傷試験を効率よく実施することができる安価なデジタル式渦流探傷試験装置を提供すること。 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT RECOGNITION METHOD FOR TEST PIECE USING X-RAY INSPECTION UNIT例文帳に追加

Ｘ線検査ユニットを用いたテストピースの自動欠陥認証方法 - 特許庁

TEST PATTERN WAFER FOR DEFECT INSPECTING DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND EVALUATION METHOD OF DEFECT INSPECTION APPARATUS USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置用テストパターンウエハ、その製造方法及びそれを用いた欠陥検査装置の評価方法 - 特許庁

A test circuit generation tool can then subsequently use this defect information to generate a test circuit that tests for the defect in the identified portions of a microcircuit.例文帳に追加

試験回路生成ツールは、次に続いて、この欠陥情報を用い、微小回路の同定された部分内の欠陥を試験する試験回路を生成する。 - 特許庁

To test simply and surely defect or the like of a semiconductor memory and to relieve it.例文帳に追加

半導体メモリの欠陥等を簡単且つ確実に検査し救済する。 - 特許庁

To perform a stress test detecting defect between a pair of bit lines in a short time.例文帳に追加

ビット線対間の不良を顕在化するストレス試験を短時間で行う。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING SCREEN TEST OF DEFECT LEAKAGE FOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

メモリ・デバイス用の欠陥漏れスクリーン・テストを実行するための装置および方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory having a test mode in which defect of a boosting circuit system can be specified and its test method.例文帳に追加

昇圧回路系の不良特定を可能としたテストモードを有する半導体メモリ及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

At least some of the test elements are provided with a defect marking which includes information about defectiveness of the test elements.例文帳に追加

該テストエレメントの少なくともいくつかには、テストエレメントの欠陥についての情報を含む欠陥マークが、設けられる。 - 特許庁

To facilitate defect analysis of a semiconductor memory by performing a probe test for wafer and a chip test for single chip.例文帳に追加

ウェハ用のプローブ試験および単体チップ用のチップ試験が実施可能で半導体メモリの不良解析を容易にする。 - 特許庁

To prevent erroneous operation caused by that the prescribed test mode is not set due to defect of a line in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験におけるライン不良により所定のテストモードに入れていないことによる誤動作を防止すること。 - 特許庁

To provide a test structure of a semiconductor element for detecting a defect size.例文帳に追加

欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造を提供する。 - 特許庁

TEST MASK, MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR CONTROLLING DETECTION SENSITIVITY OF DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

テストマスク及び製造方法及び欠陥検査装置の検出感度調整方法 - 特許庁

To provide a test method of semiconductor device which reflects possibility of having potential defect in test result of a bit line pair which can be a defect, and the semiconductor device.例文帳に追加

不良となり得るビット線対のテスト結果に、潜在的な不良を有する可能性を反映する半導体装置のテスト方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently and more surely perform a test for detecting a defect on a magnetic disk.例文帳に追加

より確実に磁気ディスク上の欠陥を検出するテストを効率的に行う。 - 特許庁

TITANIUM ALLOY BILLET HAVING EXCELLENT DEFECT DETECTABILITY IN ULTRASONIC CRACK INSPECTION TEST例文帳に追加

超音波探傷試験における欠陥検出能力に優れたチタン合金ビレット - 特許庁

A wafer, test object, is inspected by a wafer defect inspection part 11, and coordinate value data S11 are outputted from the wafer defect inspection part 11.例文帳に追加

検査の対象となるウエハがウエハ欠陥検査部11で検査され、該ウエハ欠陥検査部11から座標値データS11 が出力される。 - 特許庁

To shorten a test time for detecting short circuit defect by detecting efficiently short circuit defect between a word line and another wiring.例文帳に追加

ワード線と他の配線間のショート不良を効率よく検出し、ショート不良を検出するためのテスト時間を短縮する。 - 特許庁

RELIEVING AND ANALYZING METHOD FOR DEFECT OF MEMORY AND MEMORY TEST DEVICE INCORPORATING DEFECT RELIEVING AND ANALYZING DEVICE APPLYING THIS ANALYZING METHOD例文帳に追加

メモリの不良救済解析方法及びこの解析方法を適用した不良救済解析器を搭載したメモリ試験装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING TEST PATTERN BOARD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PHOTO MASK MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE SUBSTRATE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査用テストパターン基板、及びパターン欠陥検査装置、並びにフォトマスクの製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁

To precisely detect a defect including dropout of a label in a label tape test device.例文帳に追加

ラベルテープの検査装置において、ラベルの脱落を含む欠陥を精度良く検出する。 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGING AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

An HDD 1 on one form of this invention performs the defect test of a magnetic disk 11.例文帳に追加

本発明の一形態にかかるＨＤＤ１は、磁気ディスク１１の欠陥テストを行う。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DISK DEFECT MANAGEMETN AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

ディスクの欠陥管理領域情報の検出方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THIS例文帳に追加

ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

METHOD OF PREPARING ELECTROLYTIC CORROSION TEST SAMPLE FROM DEFECT GENERATING BASE MATERIAL OF THROUGH HOLE SECTION OF PRINTED BOARD例文帳に追加

プリント板のスルーホール部基材欠陥発生品の電食試験サンプル作製方法 - 特許庁

A detecting mechanism (108) includes a means for detecting a peel defect of a test specimen (106).例文帳に追加

探知機構（１０８）には、試験片（１０６）の剥離不良を検出する手段を含む。 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

ディスクの欠陥管理領域情報検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

To provide a cam which can test for the presence of defect of a priority encoder, and a method of testing the presence of defect of a priority encoder.例文帳に追加

優先順位エンコーダの欠陥有無テストが可能なＣＡＭ及び優先順位エンコーダの欠陥有無テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit and a memory test method capable of easily obtaining a state of defect and collecting all defect information even with a small capacity of memory for storing the defect information.例文帳に追加

不良が発生した状態を容易に把握することができ、かつ不良情報を格納するメモリの容量が少なくともすべての不良情報を収集することができるメモリテスト回路及びメモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of generating a test program for a computer program, automatically generating a test program capable of extracting defect generated under a complicated condition to a test target program.例文帳に追加

テスト対象プログラムに対し、複雑な条件で発生する不良の摘出が可能なテストプログラムを自動で生成するコンピュータプログラムのテストプログラム生成方法を提供する。 - 特許庁

The first to m-th control circuits test respective defects of the first to m-th circuit devices, using the test signal, and stop the test when the defect is observed.例文帳に追加

第１乃至第ｍ制御回路は、前記テスト信号を用いて前記第１乃至第ｍ回路装置の各々の欠陥をテストし、欠陥が発見されればテストを止める。 - 特許庁

To provide design and test methodology for breaking a linear relation between a defect detecting range or test possibility and a design test or a cost related to production.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係をうち破る設計及びテスト方法論を得る。 - 特許庁

This method includes a step in which a reinitialization mode is performed while examining the recorder/player by using a disk for test having test reference information and a physical defect and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted form the test reference information and the physical defect is compared with the test information and verification results about the test information are provided.例文帳に追加

テスト基準情報と物理的な欠陥を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検定をしながら再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報と物理的な欠陥により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method and apparatus capable of detecting a minute surface defect and setting and changing in accordance with the depth of the minute surface defect, a criterion for determining the quality of an object under test.例文帳に追加

微細な表面欠陥を検出し、さらには微細な欠陥の深さに基づいて被検査物の良否の判定を設定、変更できる表面検査方法及び装置を得る。 - 特許庁

METHOD FOR CONFIRMING DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁