「defect test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To actualize a semiconductor memory evaluator for reducing the time for defect examination and defect analysis on semiconductor memories, by classifying test fail information on the semiconductor memories by segment to execute defect analysis and defect classification, and to actualize a defect analysis method which uses the same.例文帳に追加

半導体メモリのテストフェイル情報をセグメントごとに分類し、不良解析及び不良分類を実行して半導体メモリの不良調査及び不良解析時間を低減する半導体メモリ評価装置及びそれを用いた不良解析方法を実現する。 - 特許庁

TEG (TEST EXPERIMENTAL GROUP) FOR DETECTING PIPING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS PIPING DEFECT DETECTION METHOD, AND ITS VOID FORMATION STATE DETERMINATION METHOD例文帳に追加

半導体装置のパイピング不良検出用ＴＥＧ並びにそのパイピング不良検出方法およびそのボイド形成状態判定方法 - 特許庁

As the defect echo length, 22 mm can be obtained from a reference value 25% of the defect echo height determined beforehand by a test piece or the like.例文帳に追加

予めテストピースなどによって定める欠陥エコー高さの基準値２５％から、欠陥エコー長さとして２２ｍｍを得ることができる。 - 特許庁

To provide a defect detection device and its method capable of detecting a linear defect on a test object with high accuracy.例文帳に追加

検査対象物上の線状欠陥を高精度に検出することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To enhance productivity by detecting a defect generated in the preceding process by inline test and reducing time loss incident to investigation of the cause of defect.例文帳に追加

インライン検査で前行程での不良を検出し、不良原因究明に伴う時間ロスを低減することにより生産性を高める。 - 特許庁

In consequence of this determination, when it is normal, it is determined whether this product is a good product for changing functions after performing defect relieving for changing DRAM functions, assembly, a defect acceleration test, a selection test (step S10-S14).例文帳に追加

この判定の結果、正常の場合は、ＤＲＡＭ機能変更欠陥救済、組立、不良加速試験、選別試験を行った後に、機能変更良品か否かを判定する（ステップＳ１０〜Ｓ１４）。 - 特許庁

To provide a stator coil insulation test device and a test method capable of detecting a stator coil layer short-circuit defect after assembling it into a motor.例文帳に追加

モータを組込んだ後において、ステータコイルのレアショート不良の検出が可能なステータコイル絶縁試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a test circuit, which can improve a failure detection rate for a delayed failure or a defect caused by a short circuit across signal lines.例文帳に追加

試験方法及び試験回路に関し、信号線間のショートによる不良又は遅延故障に対する故障検出率を向上させる。 - 特許庁

To provide a self test circuit device and its self test method in which a defect part can be specified in a product actual use frequency.例文帳に追加

製品実使用周波数において不良箇所の特定をすることができる自己試験回路装置およびその自己試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce test time when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND flash memory, and furthermore extremely reduce the test time through parallel processing of a plurality of chips.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁

To provide a printed wiring board manufacturing method capable of raising electric test yield since the generation rate is reduced in an open defect and a short-circuiting defect.例文帳に追加

オープン不良及びショート不良の発生率が低くなるため、電気検査歩留まりを向上できるプリント配線基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To simulate an integrated circuit device as if provided with a known defect; and to verify that a test actually catches the defect.例文帳に追加

集積回路デバイスが既知の不良を具備しているかのような集積回路デバイスのシミュレーションを可能にし、試験が実際に不良を捕捉することを検証する。 - 特許庁

To easily test the quality of a plasma display panel by detecting a corona discharge generated by a defect.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの品質を容易に試験することができる試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

TEST METHOD FOR DETECTING DEFECT IN RECORDING DISK AND DATA STORAGE DEVICE FOR EXECUTING THE SAME例文帳に追加

記録ディスクにおける欠陥を検出するためのテスト方法及びそれを実行するデータ記憶装置 - 特許庁

The patterns on the referential substrate and on the test substrate are compared to decide whether the mask has a defect or not.例文帳に追加

参照基板およびテスト基板上のパターンを比較して、マスクに欠陥があるかどうか判断する。 - 特許庁

To conduct a defect inspection of a magnetic disk by write/read test without being influenced by random errors.例文帳に追加

ライト／リード試験による磁気ディスクの欠陥検査をランダムなエラーの影響を受けないように行う。 - 特許庁

To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel.例文帳に追加

被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。 - 特許庁

Since the gradation of the test pattern displayed on the screen is changed by a transmission defect of each bit, the defect of the low-order bit and the defect of the high-order bit can be visually judged on the single screen.例文帳に追加

このとき、各ビットの送信不良によって、画面に表示されるテストパターンの階調は変化するため、一画面上で上位ビットの不良と、下位ビットの不良を視覚的に判断できる。 - 特許庁

For example, in the case of the defect which is in communication with the bottom of the test object, the size of the defect is determined from appearances of the creeping wave, the mode transformed wave and the longitudinal wave or the transversal wave from the head edge section of the defect.例文帳に追加

例えば、欠陥が試験体の底に連通するものであり、クリーピング波、モード変換波及び欠陥先端部からの横波又は縦波の表れ方により欠陥の大きさを判別する。 - 特許庁

To partially test software, while examining whether a stub includes a defect deteriorating the reliability of a test result or not.例文帳に追加

スタブがテスト結果の信頼性を損ねるような欠陥を含んでいるかどうかを検証しつつ、ソフトウェアを部分的にテストすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a testing apparatus of a semiconductor device free from troubles such as a leak defect or a failure of a test board caused by generation of frost in the test board.例文帳に追加

テストボードに霜が生じることで発生していたＬｅａｋ不良やテストボードの故障といった不都合のない半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method in which a defect relieving process using an anti-fuse and a time required for its test process can be shortened.例文帳に追加

アンチヒューズを用いた不良救済工程及びそのテスト工程に要する時間を短縮できる半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A burn-in control device 10 performs convergence determination (finish of a test) of an initial stage defect in the burn-in test relative to each lot (each classification) in the furnace 12.例文帳に追加

バーンイン制御装置１０は、バーンイン試験における初期不良の収束の判定（試験の終了）を炉１２内のロット毎（区分毎）に行う。 - 特許庁

A defect ratio related to an inspection target, and a covering rate showing a ratio of an executed test amount of the whole test amount are measured by measurement means 3a, 3b.例文帳に追加

検査対象に係る不良比率と、全テスト量のうち実行されたテスト量の割合を示す網羅率を、計測手段３ａ、３ｂにより計測する。 - 特許庁

A program to be tested is tested, and defect information, including a test information number for indicating a test that resulted in rejection and defect phenomenon information for indicating a phenomenon generated by performing the test to the program to be tested, is created.例文帳に追加

試験対象プログラムに試験を行い、合否結果が不合格となった試験を表す試験情報番号、およびこの試験を試験対象プログラムに行うことによって生じる現象を表す欠陥現象情報を含む欠陥情報を作成する。 - 特許庁

Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.例文帳に追加

同様に、自動試験パターン生成ツールは、欠陥位置情報を用い、微小回路の指定部分内の同定された欠陥に対応する故障を検査するために特別に作成された試験データを生成し得る。 - 特許庁

To facilitate a developer of a software specifying a defect part of the software and effectively conducting a defect analysis work in a short time even in a combined test or a real test.例文帳に追加

結合テストや本番テストを行う場合であっても、ソフトウェアの開発者が容易にソフトウェアの不具合箇所を特定することができ、不具合分析作業を短時間に効率的に行うことができるようにする。 - 特許庁

In one implementation shape of this defect detecting test of the magnetic disk, a write test of each data track is carried out toward the inner peripheral side from outer peripheral side to write test data on each data track.例文帳に追加

本発明の一つの実施形態において、磁気ディスクの欠陥検出テストは、外周側から内周側に向かって、各データ・トラックのライト・テストを行い、各データ・トラックにテスト・データをライトする。 - 特許庁

Burn-in of the number of times of burn decided in this number of times deciding test are performed, after that, a function test is performed with the test object device unit, and a burn-in defect rate is monitored (step SP5, SP6).例文帳に追加

この回数決定テストにおいて決定されたバーンイン回数のバーンインを実施し、その後、テスト対象デバイス単位で機能テストを行なって、バーンイン不良率をモニタする（ステップＳＰ５，ＳＰ６）。 - 特許庁

To provide a winding test device capable of detecting a minute insulation defect in the winding.例文帳に追加

被試験巻線内部の微小な絶縁不良部分を検知することのできる巻線試験装置を提供する。 - 特許庁

An HDD1 performs the defect test of the magnetic disk 11 by utilizing a TFC (Thermal Fly-height Control).例文帳に追加

本発明の一形態にかかるＨＤＤ１は、ＴＦＣを利用して磁気ディスク１１の欠陥テストを行う。 - 特許庁

To reduce the footprint of a incorporated test circuit detecting the defect of the output data bit of a built-in memory circuit.例文帳に追加

内蔵メモリ回路の出力データビットの不良を検出する組込テスト回路の占有面積を低減する。 - 特許庁

To reduce the time required for a test by specifying a defect part generated in a memory part of a semiconductor storage circuit.例文帳に追加

半導体記憶回路のメモリ部で発生した不良箇所を特定し、テストに要する時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a semiconductor measuring system in which the algorithm of analyzing defect can be easily changed and test efficiency is high.例文帳に追加

不良解析のアルゴリズムを容易に変更可能で、テスト効率の高い半導体測定システムを提供する。 - 特許庁

To provide a device holding a semiconductor chip in a probing condition integrally with a probe card for performing a defect analysis and a burn-in test on a semiconductor integrated circuit in a bear chip condition.例文帳に追加

ベアチップ状態で、半導体集積回路の不良解析やバーンイン試験を可能にする。 - 特許庁

To provide a display device capable of easily discriminating the existence of a defect in a data line on a VI test stage.例文帳に追加

ＶＩテスト段階でデータ線の不良の有無を容易に判別することができる表示装置を提供する。 - 特許庁

This allows the defect of the memory cells to be accurately detected, when the parallel bit test of the semiconductor memory device is performed.例文帳に追加

これにより、半導体メモリ装置の並列ビットテスト時にメモリセルの欠陥を正確に検出することができる。 - 特許庁

To reduce erroneous detection to enhance reliability, in automatic defect recognition for a test piece using nondestructive analysis.例文帳に追加

非破壊分析を用いたテストピースの自動欠陥認証において、誤った検出を少なくし信頼性を高める。 - 特許庁

To detect accurately a memory cell having defect in a test stage in a nonvolatile semiconductor memory device.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置において、不具合を有するメモリセルをテスト段階で精度良く検出すること。 - 特許庁

To provide a technology capable of implementing a position adjustment and a property test with high sensitivity and detecting defects while separating a position adjustment defect and a property defect in the case where any defect occurs.例文帳に追加

高感度に位置調整と特性試験を実施することができ、不良が生じた場合には位置調整上の不良と特性不良とを切り分けて不良を検出することを可能とする技術の提供。 - 特許庁

The memory test circuit constitutes a part of a test pattern, executes the test to a memory 2 according to a pattern mode signal for specifying the partial pattern consisting of a plurality of operation and stores the pattern mode signal in a defect information storing register 17 as the part of the defect information.例文帳に追加

本発明にかかるメモリテスト回路は、テストパタンの一部を構成し、複数の動作からなる部分パタンを指定するパタンモード信号に応じてメモリ２に対するテストを実行するとともに、パタンモード信号を不良情報の一部として不良情報格納レジスタ１７に格納するものである。 - 特許庁

To provide an inspection device having high detection precision, capable of preventing the influence of a formation spot of a test body, and detecting a defect even if the defect having very little difference in reflectance between itself and the test body exists.例文帳に追加

被検査体の地合い斑の影響を防止するとともに、被検査体と反射率の差がほとんどない欠陥が存在するような場合にも、このような欠陥を検出可能な検出精度の高い検査装置を提供する。 - 特許庁

During a test sequence, the output signal of a row test circuit is monitored, and whether the defect such as the short circuit or the like is likely to exist in a row or the row driver is identified.例文帳に追加

試験シーケンス中、行試験回路の出力信号を監視して、行又は行ドライバに短絡などの欠陥が存在していそうであるか否かを識別する。 - 特許庁

By changing clearance by the TFC, the defect detecting test in a different test condition can be performed without remarkably lowering the throughput of the manufacture of HDD.例文帳に追加

ＴＦＣによってクリアランスを変化させることで、ＨＤＤ製造のスループットを大きく落とすことなく、異なるテスト条件における欠陥検出テストを行うことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can quickly discriminate defect of read-out data of a test in a wafer test.例文帳に追加

本発明の目的は、ウェハテストにおいて、テストの読出データの不良判定の結果を早期に判定することが可能である半導体記憶装置を提供することである。 - 特許庁