「interatomic force」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a cantilever driven by a dynamic mode; to provide an atomic force microscope; and to improve measuring precision of an interatomic force in a method of measuring the interatomic force.例文帳に追加

ダイナミックモードで駆動されるカンチレバー、原子間力顕微鏡、および原子間力の測定方法において、原子間力の測定精度を高める。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CANTILEVER AMPLITUDE AND NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

カンチレバー振幅測定方法および非接触原子間力顕微鏡 - 特許庁

NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

非接触型原子間力顕微鏡およびそれを用いた観察方法 - 特許庁

The interatomic force microscope (AFM) has the chip coated with the hydrophobic compound.例文帳に追加

疎水性化合物で被覆されたチップを備えた原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）。 - 特許庁

OBJECT STATE DETECTING DEVICE, INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND LIGHT DISK DEVICE USED THEREOF例文帳に追加

物体の状態検出装置、並びにそれを利用した原子間力顕微鏡、及び光ディスク装置 - 特許庁

To reliably immobilize a fine specimen on a base by overcoming adsorption force by static electricity, interatomic force or intermolecular force, when transferring the fine specimen onto the base.例文帳に追加

微小検体を基台に移す際、静電気による吸着力、原子間力または分子間力等に打ち克って確実に基台上に固定する。 - 特許庁

To reliably immobilize a fine specimen on a base by overcoming an absorption force by static electricity, an interatomic force or an intermolecular force, when transferring the fine specimen onto the base.例文帳に追加

微小検体を基台に移す際、静電気による吸着力、原子間力または分子間力等に打ち克って確実に基台上に固定する。 - 特許庁

The interatomic force microscope (AFM) functions as the dipping pen nano-lithography (DPN) for writing a pattern on a gold substrate (AU) by transferring molecules from the chip of the interatomic force microscope (AFM) to the gold substrate (AU).例文帳に追加

該原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）は、原子間力顕微鏡チップ（ＡＦＭ）から金基板（ＡＵ）へ分子を移動して金基板（ＡＵ）上にパターンを書き入れるための、つけペンナノリソグラフィ（ＤＰＮ）として作動する。 - 特許庁

INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD FOR SURFACE SHAPE USING IT AND MANUFACTURE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

原子間力顕微鏡、それを用いた表面形状の測定方法及び磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁

To provide a method of drawing an interatomic force electron beam line which draws an electron beam line of a detailed pattern of 10 nm or less.例文帳に追加

１０ｎｍ以下の微細パターンの電子線描画を可能とする原子間力電子線描画法の提供。 - 特許庁

To rapidly switch an amplitude of a vibration body to an amplitude for magnetism measurement at the time of shifting from interatomic force measurement to the magnetic force measurement.例文帳に追加

原子間力測定から磁気力測定に移る時に、振動体の振幅が極めて速やかに磁気測定用に切り替わるようにする。 - 特許庁

An all metal probe suitable for an electric interatomic force microscope is manufactured only by two lithography processes.例文帳に追加

電気式原子間力顕微鏡に適した全金属プローブをたった２つのリソグラフィー工程だけで製造するようにした。 - 特許庁

To provide an evaluating method for the surface smoothness of a substrate at the micro-level of atomic arrangement by a method other than the probing method and the interatomic force microscopic method.例文帳に追加

探針法や原子間力顕微鏡法以外の方法による原子配列のミクロなレベルでの基板表面の平滑性の評価の方法の開発。 - 特許庁

To observe samples with high accuracy with respect to an approach control method and an apparatus of interatomic force microscope.例文帳に追加

本発明は原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置に関し、高精度の試料観察を行なうことができるようにすることを目的としている。 - 特許庁

To provide a manufacturing method and device for a metal atom micro-structure capable of fabricating a micro-electrode of nanometer scale using an interatomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて、ナノメータスケールの微細電極を作製することができる微細金属原子構造物の作製方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Note that the average surface roughness Ra is measured by scanning an area of 10 μmx10 μm employing an interatomic force microscope (an AFM).例文帳に追加

ここで、平均表面粗さＲａは、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を用いて、１０μｍ×１０μｍの範囲を走査して測定されたものである。 - 特許庁

Consequently, the sample image obtained by the scanning of the scanner 16 is hardly influenced by the vibration of the scanner 16, and a satisfactory interatomic force microscopic image can be provided.例文帳に追加

この結果、スキャナの走査によって得られた試料像にスキャナの振動の影響はほとんど現れず、良好な原子間力顕微鏡像を得ることができる。 - 特許庁

(1) The modified cross-sectional regenerated cellulose fiber characterized by having a degree of modification of 1.1 to 10 and a fiber surface roughness parameter Ra of 10 to 50 nm measured with an interatomic force microscope.例文帳に追加

(1) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメータＲａが１０〜５０ｎｍである異型断面再生セルロース繊維。 - 特許庁

To provide a noncontact interatomic force microscope that can solve a variation problem of the sensitivity of each probe in a multiprobe and allows accurately to observe a sample surface.例文帳に追加

マルチプローブにおける各プローブ毎の感度のばらつきの問題を解決し、サンプル表面を正確に観察することができる非接触型原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope which can precisely detect interaction quantity due to interatomic force between a cantilever and a sample with a measurement method using light such as an optical lever method, even when the cantilever is driven in high speed in the Z direction, and to provide a cantilever support of the atomic force microscope.例文帳に追加

カンチレバーをＺ方向に高速に駆動した場合にも、光てこ法等の光を使った測定法でカンチレバーの試料との間の原子間力による相互作用量を正確に検出できる原子間力顕微鏡及びそのカンチレバー支持具を提供する。 - 特許庁

A surface of a sample placed on a sample table 15 of an atomic force microscope and a probe provided on an end of a cantilever are brought close to each other and surface data of the sample are obtained based on an elastic deformation of the cantilever caused by interatomic force produced between the two.例文帳に追加

原子間力顕微鏡の試料台上に載置された試料表面とカンチレバー先端に設けられた探針とを近接させて両者間の原子間力によるカンチレバーの弾性変形に基づいて試料の表面情報を得る。 - 特許庁

The aluminum support shows a surface area ratio ΔS of not less than 5% calculated by formula (I) based on three-dimensional data measured using an interatomic force microscope (AFM) and not higher than 20% steepness a45.例文帳に追加

ここで、ΔＳ^5(0.02-0.2)は、原子間力顕微鏡を用いて得られる３次元データから、波長０．０２〜０．２μｍの成分を抽出して求めた値であり、ΔＳ^5は以下の式（Ｉ）より算出した値である。 - 特許庁

The real-time rapid and accurate evaluation and measurement of the durability of the bacterial spore can be carried out by measuring the hardness of the spore by an interatomic force microscope or the like equipped with a cantilever.例文帳に追加

カンチレバーを装備する原子間力顕微鏡等により、芽胞の硬度を測定することにより、リアルタイムで迅速かつ正確な細菌芽胞の耐久性の評価・測定を行なうことができる。 - 特許庁

The probe 2C is mounted at such a position as being displaced according to the vibration of the vertical spring 2A and as allowing the vibration part to excite the vibration of the rotary spring 2B by a change in the interatomic force based on the displacement.例文帳に追加

探針２Ｃは、縦バネ２Ａの振動に伴って変位する位置であって、且つ、当該変位に基づく原子間力の変化により回転バネ２Ｂの振動を振動部に励起させる位置に付設される。 - 特許庁

A probe 10 or an atom 50 on a surface of a sample is vibrated in two directions parallel to the surface of the sample, and a frequency variation amount of the probe 10 based on interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.例文帳に追加

探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な２方向に振動させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

By driving a first control system for performing the feedback control of the movement of a probe 9 in a Z-direction and the second control system, the probe 9 can be stably operated at the position, where interatomic force is weak on a focusing curve.例文帳に追加

探針９のＺ方向の移動をフィードバック制御する第１の制御系と第２の制御系とを動作させることにより、探針９をフォースカーブ上の原子間力の弱い位置で安定的に動作させることができるようになる。 - 特許庁

Alternatively, the probe 10 or the atom 50 on the surface of the sample is rotated on a plane parallel to the surface of the sample, and the frequency variation amount of the probe 10 based on the interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.例文帳に追加

または、探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な平面で回転させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

The tunnel barrier 12 has such a quantum thin line constriction structure that a silicon oxide film 17 as an electric boundary supporting oxide film formed using an interatomic force microscope or the like is formed by oxidizing the quantum thin line from its surface to its nearly central part.例文帳に追加

トンネル障壁部１２は、原子間力顕微鏡等を用いて形成された電界支援酸化膜であるシリコン酸化膜１７が量子細線１１の表面からそのほぼ中心部まで酸化して形成された量子細線コンストリクション（＝くびれ）構造を有している。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32, or the like, for measuring the interatomic force generated between the probe and a sample when scanning the sample 12 surface by the probe or the like, a sample stage 11 and an optical microscope 18.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料１２の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（２４，３２等）、試料ステージ１１、光学顕微鏡１８を備える。 - 特許庁

(2) The modified cross-sectional regenerated cellulose fiber characterized by having a degree of modification of 1.1 to 10 and a fiber surface roughness parameter Ra of 10 to 50 nm measured with an interatomic force microscope and containing fine powder having a 50% average particle diameter of 0.05 to 10 μm in an amount of 0.2 to 5 wt.%.例文帳に追加

(2) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメータＲａが１０〜５０ｎｍであり、かつ５０％平均粒径が０．０５〜１０μｍである微粉末を０．２〜５重量％含有する異型断面再生セルロース繊維。 - 特許庁

There is provided the CVD coated cutting tool insert including: a TiCxNy layer having a low tensile stress level of 50-390 Mpa; and Al_2O_3 having surface smoothness having a high average Ra of 0.12 μm or lower measured by an interatomic force microscope (AFM) technology.例文帳に追加

本発明は、５０〜３９０Ｍｐａの低引張応力レベルを有するＴｉＣ_ＸＮ_Ｙ層と、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）技術によって測定される平均Ｒａが０．１２μｍ以下の高い表面平滑度を有するＡｌ_２Ｏ_３と備えるＣＶＤ被覆切削工具インサートに関する。 - 特許庁

To provide a technique capable of measuring accurately a topograph relative to even the sample surface whose accurate surface topograph measurement is difficult by a conventional method, by overcoming a defect that the accurate surface topograph can not be measured because an attraction detected by a cantilever tip includes both an interatomic force and an electrostatic force when executing the surface topograph measurement by a conventional noncontact type atomic force microscope.例文帳に追加

本発明は、従来の非接触型原子間力顕微鏡による表面トポグラフ計測の際に、カンチレバー先端で検出される引力には原子間力と静電気力の両方が含まれるために正確な表面トポグラフを計測できないという欠点を克服し、従来法では正確な表面トポグラフ計測が困難であった試料表面に対しても、そのトポグラフを正確に計測する技術を提供するものである。 - 特許庁

An AC voltage applied between an electrode 11 of a piezoelectric element 3 and a cantilever 1 has a frequency nearly corresponding to a characteristic frequency of the cantilever 1, while an amplitude of the AC voltage is controlled to vibrate a probe 2 such that the probe 2 comes into an area where the interatomic force acts between the probe 2 and a sample 4.例文帳に追加

圧電素子３の電極１１、カンチレバー１間に印加される交流電圧はカンチレバー１の固有振動数にほぼ対応した振動数を有し、且つ、探針２と試料４間に原子間力が働く領域内に前記探針２が入るように該探針を振動させる振幅にコントロールされる。 - 特許庁

The method of drawing the interatomic force electron beam line comprises the steps of: impressing a voltage between a cantilever 11 and an exposed substrate 13; focusing by a focusing magnetic field 16 an electron beam line 15 consisting of a tunnel electron emitted from a probe 12 attached to the cantilever 11; and focusing and irradiating the electron beam line 15 on a resist film 14 of the exposed substrate 13.例文帳に追加

原子間力電子線描画法は、カンチレバー１１と被露光基板１３との間に電圧を印加して、該カンチレバー１１に取り付けられたプローブ１２から放出するトンネル電子から成る電子線１５を集束磁界１６で収束して、被露光基板１３のレジスト膜１４上に収束照射させるものである。 - 特許庁

This scanning type probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 opposed to a sample 12, a measuring part (optical lever type optical microscope and feedback servo control loop) for measuring interatomic force or the like generated between the probe and the sample when the probe scans a surface of the sample, and a moving mechanism for varying relatively positions of the probe and the sample to conduct a scanning operation.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対向する探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（光てこ式光学顕微鏡やフィードバックサーボ制御ループ）、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構を備える。 - 特許庁

A measuring means is the one that measures the change of interatomic force generated between the probe 21 and the surface of the semiconductor substrate W, or measures the change of a tunnel current made to flow between the probe 21 and the surface of the semiconductor substrate W, or measures the change of the scattering state of light which passes through between the probe 21 and the surface of the semiconductor substrate W.例文帳に追加

測定手段は、プローブ２１と半導体基板Ｗ表面間に生じる原子間力の変化を測定する手段、或いはプローブ２１と半導体基板Ｗ表面間に流したトンネル電流の変化を測定する手段、或いはプローブ２１と半導体基板Ｗ表面間を通過させた光の錯乱状態の変化を測定する手段である。 - 特許庁