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n layerの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 6825



例文

An electrode 5 is formed at the n-type semiconductor layer 2, while an electrode 6 is formed at the p-type semiconductor layer.例文帳に追加

n形半導体層2に電極5を形成し、p形半導体層に電極6が形成してある。 - 特許庁

An N^+-type source region 9 is formed on a surface layer portion of the epitaxial layer 3 along the trench 6.例文帳に追加

また、エピタキシャル層3の表層部には、N^+型のソース領域9がトレンチ6に沿って形成されている。 - 特許庁

Between the n^--type semiconductor layer 4 and the p-type semiconductor layer 5, a pn junction plane 7 is formed.例文帳に追加

n^−型半導体層4とp型半導体層5との間にはpn接合面7が形成されている。 - 特許庁

An N-type embedded diffusion layer 6 as a collector region is formed across the substrate 2 and the epitaxial layer 3.例文帳に追加

コレクタ領域としてのN型の埋め込み拡散層6が基板2とエピタキシャル層3に渡り形成されている。 - 特許庁

例文

A surface denaturation layer 20 and reaction layer 31 is disposed, between the GaN substrate 1 and n electrode 10.例文帳に追加

GaN基板1とn電極10との間には、表面変性層20および反応層31が設けられる。 - 特許庁


例文

Here, a p-type first layer and an n-type sixth layer on both ends as well as a p-type third layer and an n-type fourth layer in the center are provided with an electrode, with an pn layer given a light-emitting diode function while a pnpn 4-layer a thyristor function.例文帳に追加

pnpnpn6層半導体構造の発光素子を構成し、両端のp型第1層とn型第6層、および中央のp型第3層およびn型第4層に電極を設け、pn層に発光ダイオード機能を担わせ、pnpn4層にサイリスタ機能を担わせる。 - 特許庁

A luminescent thyristor L includes a distribution Bragg reflection layer 81 and a semiconductor layer 60 (a structure of a p-type first semiconductor layer 82, an n-type second semiconductor layer 83, a p-type third semiconductor layer 84, and an n-type fourth semiconductor layer 85 laminated in sequence) on a p-type substrate 80.例文帳に追加

発光サイリスタLは、p型の基板80上に、分布ブラッグ反射層81と半導体層60(p型の第1半導体層82、n型の第2半導体層83、p型の第3半導体層84およびn型の第4半導体層85が順に積層された構造)とを備えている。 - 特許庁

This light modulator 10 has a laminated structure on an n-InP substrate 12, consisting of an n-InP layer 14, an MQW 16 of an AlGaInAs group, a GaIn AsP layer 18, a p-InP layer 20, a p-AlInAs layer 22, a p-InP layer 24, and a p-GaInAs layer 26.例文帳に追加

本光変調器10は、n−InP基板12上に、n−InP層14、AlGaInAs系MQW16、GaInAsP層18、p−InP層20、p−AlInAs層22、p−InP層24、及び、p−GaInAs層26からなる積層構造を備える。 - 特許庁

Thereafter, a second n-type GaN layer 107, a multilayer quantum well layer 108 consisting of In_xGa_1-xN and GaN, a p-type GaN layer 109, and a p-type GaN contact layer 110 are sequentially grown epitaxially on the first n-type GaN layer 105 from the opening of the mask layer 106.例文帳に追加

次に第一のn型GaN層105上に、マスク層106の開口部から第二のn型GaN層107、In_xGa_1-xNとGaNからなる多層量子井戸層108、p型GaN層109、p型GaNコンタクト層110を順次エピタキシャル成長させる。 - 特許庁

例文

The memory element comprises a lower electrode, an n+ interface layer formed on the lower electrode, a buffer layer formed on the n+ interface layer, an oxide layer which has a variable resistance characteristics and is formed on the buffer layer, and an upper electrode formed on the oxide layer.例文帳に追加

下部電極と、下部電極上に形成されたn+界面層と、n+界面層上に形成されたバッファ層と、バッファ層上に形成されて可変抵抗特性を有する酸化物層と、酸化物層上に形成された上部電極とを備えるメモリ素子である。 - 特許庁

例文

Barrier layers 201a-201c are provided with a well adjacent layer 203y which is a GaN layer 203y doped with an n-type impurity such as Si being in contact with a well layer 202, and an intermediate layer 204 which is an undoped GaN layer not doped with the n-type impurity disposed between the well adjacent layer 203y.例文帳に追加

障壁層201a〜201cが、井戸層202と接するSi等のn型不純物がドープされたGaN層である井戸近接層203yと、井戸近接層203yの間にn型不純物のドープされていないアンドープのGaN層である中間層204とを備える。 - 特許庁

The p-type polysilicon layer 14A1 and n-type polysilicon layer 14B1 have a joint P joined mutually right above an element isolation layer 12, and at least one of the p-type polysilicon layer 14A1 and n-type polysilicon layer 14B1 has a narrow segment 17 right above the element isolation layer 12.例文帳に追加

p型ポリシリコン層14A1およびn型ポリシリコン層14B1は、互いに接合された接続部Pを素子分離層12の直上に有し、p型ポリシリコン層14A1およびn型ポリシリコン層14B1の少なくとも一方は、素子分離層12の直上に狭窄部17を有する。 - 特許庁

The semiconductor light-emitting element 1 has a semiconductor layer 11, in which an n-type clad layer 12, a photoactive layer 13, and a p-type clad layer 14 are formed in turn on one main face of an n-type substrate 10, and each p-type cap layer 21-23 formed on the semiconductor layer 11.例文帳に追加

半導体発光素子1は、n型基板10の一方の主面上に、n型クラッド層12,光活性層13およびp型クラッド層14が順に形成された半導体層11を有し、この半導体層11の上にp型キャップ層21〜23が形成されている。 - 特許庁

An n-type DBR layer 12 (distribution Bragg reflection layer of first conductivity type), an i-InGaAs optical absorption layer 14 (optical absorption layer) with low carrier concentration, and a p-type InP window layer 16 (semiconductor layer of second conductivity type) are formed in order on an n-type InP substrate 10 (semiconductor substrate).例文帳に追加

n型InP基板10(半導体基板)上に、n型DBR層12(第1導電型の分布ブラッグ反射層)、低キャリア濃度のi−InGaAs光吸収層14(光吸収層)、及びp型InP窓層16(第2導電型の半導体層)が順番に形成されている。 - 特許庁

Each of the plurality of regions 15a includes a p-type semiconductor layer 16 formed on the active layer 12 and an n-type semiconductor layer 17 formed on the p-type semiconductor layer 16, and the p-type semiconductor layer 16 and the n-type semiconductor layer 17 mutually constitute a tunnel junction.例文帳に追加

複数の領域15aのそれぞれは、活性層12上に設けられたp型半導体層16と、p型半導体層16上に設けられたn型半導体層17とを含み、p型半導体層16及びn型半導体層17が互いにトンネル接合を構成する。 - 特許庁

In a group III nitride compound semiconductor light emitting element 100, a sapphire substrate 10, a buffer layer comprising an aluminum nitride (AlN) not shown in a figure, an n-contact layer 11, an n-cladding layer 12, a multiple quantum well layer 13 having a light emitting wavelength of 470 nm, a p-cladding layer 14 and a p-contact layer 15 are formed.例文帳に追加

III族窒化物系化合物半導体発光素子100は、サファイア基板10、図示しない窒化アルミニウム(AlN)から成るバッファ層、nコンタクト層11、nクラッド層12、発光波長470nmの多重量子井戸層13、pクラッド層14、pコンタクト層15が形成されている。 - 特許庁

The group III nitride-based compound semiconductor light-emitting element 100 has a sapphire substrate 10, an n-type GaN layer 11, an n-type AlGaN layer 12, a light-emitting layer 13 of GaN/InGaN multiple quantum well structure, a p-type AlGaN layer 14, a p-type GaN layer 15, and a p^+-type GaN layer 16.例文帳に追加

III族窒化物系化合物半導体発光素子100は、サファイア基板10、n型GaN層11、n型AlGaN層12、GaN/InGaN多重量子井戸構造の発光層13、p型AlGaN層14、p型GaN層15、p^+型GaN層16を有する。 - 特許庁

Then, an n-type GaN layer 3 made of group III nitride semiconductor, a p-type GaN layer 4 and an n-type GaN layer 5 are grown in this order from the n-type GaN layer 7 exposed from the opening 9 of the insulation film mask 8, forming a mesa lamination part 15 with npn structure.例文帳に追加

そして、この絶縁膜マスク8の開口部9から露出するn型GaN層7から、III族窒化物半導体からなるn型GaN層3、p型GaN層4およびn型GaN層5が、この順に成長させられてnpn構造からなるメサ状積層部15が形成される。 - 特許庁

The structure of the semiconductor switch comprises Al electrode/p-type single crystal silicon carbide layer, gradient composition layer/n-type single crystal silicon substrate/Al electrode (Al/p-SiC/GCL/n-Si/Al) while the gradient composition layer is a buffer layer between p-SiC and n-Si.例文帳に追加

前記半導体スイッチの構造は、Al電極/p型単結晶炭化シリコン層/勾配組成物層/n型単結晶シリコン基板/Al電極(Al/p−SiC/GCL/n−Si/Al)を含み、前記勾配組成物層はp−SiCとn−Siの間の緩衝層である。 - 特許庁

An n-type drift area 14 and a p-type well area 3 are formed in the 1st SiC layer 2, an n-type accumulation channel layer 6 is formed on the center part of the 2nd SiC layer 12 and n-type contact layers 4 are formed on both the end parts of the 2nd SiC layer 12.例文帳に追加

そして、第1SiC層2にはn型のドリフト領域14とp型のウェル領域3とが設けられ、第2SiC層12の中央部にはn型の蓄積型チャネル層6が、第2SiC層12の両端部にはn型のコンタクト層4が設けられている。 - 特許庁

This semiconductor light emitting element 1 includes an n-type semiconductor layer 140, a light emitting layer 150, a p-type semiconductor layer 160, a transparent electrode 170, a p-side electrode 300 formed on the transparent electrode 170, and an n-side electrode 400 formed on the n-type semiconductor layer 140.例文帳に追加

半導体発光素子1は、n型半導体層140、発光層150、p型半導体層160、透明電極170、透明電極170に形成されるp側電極300、n型半導体層140に形成されるn側電極400を備える。 - 特許庁

A ZnTe-based compound semiconductor crystal is constituted to have a superlattice layer, formed by laminating n-type CdSe and n-type ZnTe upon another or an n-type contact layer containing a ZnCdSeTe graded layer on a ZnTe-based compound semiconductor layer.例文帳に追加

ZnTe系化合物半導体結晶において、ZnTe系化合物半導体層の上にn型CdSeとn型ZnTeとが積層されてなる超格子層またはZnCdSeTeの組成勾配層を含むn型コンタクト層を有するようにした。 - 特許庁

A lightly doped n--type semiconductor layer 19 is provided between a p+-type semiconductor substrate 10 and an n+-type semiconductor layer 11 in a conventional PT-type IGBT structure, and furthermore a low life time layer 20 is provided inside the N--type semiconductor layer 19.例文帳に追加

従来のPTタイプIGBTの構造において、p^+型半導体基板10とn^+型半導体層11の間に低不純物濃度のn^−型半導体層19を設け、更にこのn^−型半導体層19中に低ライフタイム層20を設けたことを特徴としている。 - 特許庁

An i-type amorphous silicon layer 14 and a p-type amorphous silicon layer 15 get into a via hole of an n-type single-crystal silicon substrate 11 while an i-type amorphous silicon layer 12 and an n-type amorphous silicon layer 13 get into a via hole of the n-type single-crystal silicon substrate 11.例文帳に追加

i型非晶質シリコン層14とp型非晶質シリコン層15とは、n型単結晶シリコン基板11が有する貫通孔内に入り込み、i型非晶質シリコン層12とn型非晶質シリコン層13とは、n型単結晶シリコン基板11が有する貫通孔内に入り込む。 - 特許庁

An n-channel FET 3 comprises: the high-concentration n-type semiconductor layers 22 forming source/drain; the high-concentration p-type semiconductor layer 33 forming a gate; a low-concentration n-type semiconductor layer 21 under the high-concentration p-type semiconductor layer 33; the first electrode layer 41; and the second electrode layers 42.例文帳に追加

nチャネルFET3は、ソース/ドレインを形成する高濃度n型半導体層22と、ゲートを形成する高濃度p型半導体層33と、その下方に形成された低濃度n型半導体層21と、第1電極層42と、第2電極層42とを備える。 - 特許庁

A GaN buffer layer 14, an n-type GaN contact layer 16, an n-type AlGaN clad layer 18, and an n-type GaN optical waveguide layer 20, are successively grown on a (c) surface sapphire substrate 12 at 1,000°C by an MOCVD method, in the same way as conventional manner.例文帳に追加

本方法では、従来と同様にして、MOCVD法により1000℃で、c面のサファイア基板上12上に、GaNバッファ層14、n型GaNコンタクト層16、n型AlGaNクラッド層18、及びn型GaN光導波層20を順次成長させる。 - 特許庁

The device has a sapphire substrate 1 whose c-surface is nitrided, a GaN buffer layer 2, an N-polarity GaN layer 3, an N-polarity AlN layer 4, an N-polarity InN/InGaN multilayer device structure 5, an Al-polarity AlN 6 and a GaN cap layer 7.例文帳に追加

本発明によるデバイスは、表面を窒化したc面サファイア基板1と、GaNバッファ層2と、N極性GaN層3と、N極性AlN層4と、N極性InN/InGaN多重層デバイス構造5と、Al極性AlN6と、GaNキャップ層7とを有する。 - 特許庁

The VCSEL device 10 has a tunnel junction 17 between an n-type lower DBR mirror 12 and an n-type upper DBR mirror 19, and the tunnel junction 17 has a quantum dot layer 32 of 2.5 mono layer thickness between a p^+-GaAs layer 31 and an n^+-InGaAs layer 33.例文帳に追加

VCSEL素子10は、n型下部DBRミラー12とn型上部DBRミラー19との間にトンネル接合17を有し、トンネル接合17は、p^+−GaAs層31とn^+−InGaAs層33との間に2.5モノレーヤ厚みの量子ドット層32を有する。 - 特許庁

In the manufacturing method of a semiconductor laser, a waveguide mesa composed of an n-type InP clad layer 3, a waveguide layer 4, and an InP cover layer 5 is formed on a substrate 1, a growth inhibiting mask 6 is formed only directly above the waveguide mesa, and a n-type InP current block layer 7, and an n-type InP current block layer 8 are formed (a).例文帳に追加

基板1面上に、n型InPクラッド層3、導波路層4、InPカバー層5からなる導波路メサを形成した後、導波路メサの直上部のみに成長阻止マスク6を形成し、p型InP電流ブロック層7、n型InP電流ブロック層8を形成する(a)。 - 特許庁

The nitride semiconductor light emitting element comprises a first n-type nitride semiconductor layer, a light emitting layer, a p-type nitride semiconductor layer, and a second n-type nitride semiconductor layer, in sequence, wherein an electrode consisting of a transparent conductive film is formed on the second n-type nitride semiconductor layer.例文帳に追加

第1のn型窒化物半導体層、発光層、p型窒化物半導体層、第2のn型窒化物半導体層をこの順で含む窒化物半導体発光素子であって、該第2のn型窒化物半導体層上に、透明導電膜からなる電極を有する窒化物半導体発光素子である。 - 特許庁

The semiconductor light-emitting device 1 comprises a substrate side reflection layer 3 formed on a substrate 2, an n-type clad layer 4, a light emitting layer 5, a p-type clad layer 6, a p-type contact layer 7, and an electrode side reflection layer 8.例文帳に追加

半導体発光素子1は、基板2上に形成された基板側反射層3と、n型クラッド層4と、発光層5と、p型クラッド層6と、p型コンタクト層7と、電極側反射層8とを備えている。 - 特許庁

Next, an n-type conductive layer 14, a light emitting layer 15, a p-type cladding layer 16, and a p-type conductive layer 17 are constituted from such a nitride semiconductor layer that contains less Al content than that of underlying layer 13.例文帳に追加

次いで、n型導電層14、発光層15、p型クラッド層16及びp型導電層17を下地層13よりもAlの少ない含有量となるような窒化物半導体層から構成する。 - 特許庁

A semiconductor light-emitting function layer 20, formed on an Si substrate 11, has a laminate structure comprising an n-type GaN layer (first semiconductor layer) 21, an MQW layer 22, and a p-type GaN layer (second semiconductor layer) 23.例文帳に追加

半導体発光機能層20は、Si基板11上に形成され、n型GaN層(第1の半導体層)21、MQW層22、p型GaN層(第2の半導体層)23からなる積層構造をもつ。 - 特許庁

The transistor comprises: a third p-type semiconductor layer 8 between a gate region layer 6 and a drain region layer 7; and a potential fixed layer 4 extending from an n-type epitaxial layer 3 to a p^--type epitaxial layer 2.例文帳に追加

ゲート領域層6とドレイン領域層7との間に、p型の第3半導体層8が設けられ、また、n型エピタキシャル層3からp^-型エピタキシャル層2に達するように電位固定層4が設けられている。 - 特許庁

An n- epitaxial layer 12B with impurity concentration higher than the epitaxial layer 12A and thinner than the epitaxial layer is formed on the epitaxial layer 12A, and a (p) buried layer 13B is formed in the epitaxial layer 12B.例文帳に追加

エピタキシャル層12A上には、エピタキシャル層12Aに比べて、不純物濃度が高くかつ厚さが薄いn^−エピタキシャル層12Bが形成され、エピタキシャル層12Bにはp埋め込み層13Bが形成されている。 - 特許庁

On one surface, a dispersion type Bragg reflector, an n-type confinement layer, an active layer, a p-type confinement layer, a current diffusion layer, an ohmic contact layer with a mesh structure, a transparent conductive oxide layer and a front electrode are formed.例文帳に追加

一方の面に分散型ブラッグ反射体、n型閉込め層、活性層、p型閉込め層、電流拡散層、メッシュ構造オーミック・コンタクト層、透明導電性酸化物層、および前面電極を形成する。 - 特許庁

According to a diode element 1 presented here, a p-type SiC anode layer 12, a p-type SiC drift layer 13 and an n+ type SiC cathode layer 14 are formed on an n-type SiC substrate 21 by epitaxial growth and then the n-type SiC substrate 21 is removed.例文帳に追加

このダイオード素子1によれば、p型のSiCアノード層12,p型のSiCドリフト層13とn+型SiCカソード層14をn型SiC基板21上にエピタキシャル成長により形成してから、n型SiC基板21を除去した。 - 特許庁

In the region other than the light receiving portion S among the n-type semiconductor layer 12 (the outer edge region of the n-type semiconductor layer 12), a plurality of p-type semiconductor region 16 is formed regularly in the in-plane direction of the n-type semiconductor layer 12.例文帳に追加

n型半導体層12のうち受光領域S以外の領域(n型半導体層12の外縁領域)には、複数のp型半導体領域16がn型半導体層12の面内方向に規則的に形成されている。 - 特許庁

Furthermore, an N+ type conductive layer 7 is formed which is united with an end of the N+ type buried layer 3, extends to a surface of an N type epitaxial layer 5 formed on the P type semiconductor substrate 1, and is electrically connected to the collector electrode 15.例文帳に追加

また、N+型埋め込み層3の端部と一体となり、前記P型半導体基板1上に形成されたN型エピタキシャル層5の表面まで延在し、コレクタ電極15と電気的に接続されたN+型導電層7を形成する。 - 特許庁

In the ZnO semiconductor light emitting diode element 10, an i-type ZnO light emitting layer 2 and an n-type ZnO layer 3 are laminated in order on a sapphire substrate 1, and an n-type ITO transparent conductive film 4 is formed on the n-type ZnO layer 3.例文帳に追加

このZnO半導体発光ダイオード素子10では、サファイア基板1上にi型ZnO発光層2、n型ZnO層3が順に積層され、n型ZnO層3上にn型のITO透明導電膜4が形成されている。 - 特許庁

A vertical semiconductor device 1 has an N-type epitaxial layer 12 and a P-type base layer 13 formed on an N^+type silicon substrate 11, and also has N^+type source layers 14 and P^+ type carrier extraction layers 15 formed on the base layer 13.例文帳に追加

縦形の半導体装置1において、N^+型のシリコン基板11上に、N型のエピタキシャル層12及びP型のベース層13を形成し、ベース層13上にN^+型のソース層14及びP^+型のキャリア抜き層15を形成する。 - 特許庁

The n-type diamond layer 5 contains n-type dopant, and carrier diffuses to the first non-doped diamond layer 7 by carrier concentration gradient with the first non-doped diamond layer 7, so that the resistance of the n-type semiconductor diamond 1 can be reduced.例文帳に追加

n型ダイヤモンド層5はn型不純物を含んでおり、第1のノンドープダイヤモンド層7とのキャリア濃度勾配によって第1のノンドープダイヤモンド層7へキャリアが拡散することにより、n型半導体ダイヤモンド1の抵抗を低くできる。 - 特許庁

An n-carrier block layer 8 with a large band gap, consisting of BAlGaN or AlGaN is provided between an n-light guide layer 7, that is made of BGaN or GAN and an n-MQW active layer 9 made of BInGAN or InGaN.例文帳に追加

BGaNまたはGaNからなるn−光ガイド層7とBInGaNまたはInGaNからなるn−MQW活性層9との間にBAlGaNまたはAlGaNからなる大きなバンドギャップを有するn−キャリアブロック層8を設ける。 - 特許庁

A recess is formed in a central region of the second doped layer 8, the side-etching prevention layer 7 and the first doped layer 6, so as to expose the layer 5 of n-Al0.22Ga0.78As there.例文帳に追加

第2ドープ層8、サイドエッチング防止層7および第1ドープ層6の中央部の領域にn−Al_0.22Ga_0.78As層5が露出するように凹部が形成される。 - 特許庁

An n type cladding layer 21, an active layer 22, a p type cladding layer 23, a p-side contact layer 24, and a p-side electrode 30 are laminated on a first surface 11 of a substrate 10 in this order.例文帳に追加

基板10の第1面11に、n型クラッド層21,活性層22,p型クラッド層23,p側コンタクト層24およびp側電極30をこの順に積層する。 - 特許庁

In the active layer 3, the width of the n-type nitride semiconductor layer 2 is not aligned to that of the p-type nitride semiconductor layer 4, and the active layer 3 has been scraped off slightly.例文帳に追加

活性層3は、n型窒化物半導体層2とp型窒化物半導体層4と横幅が揃っておらず、少し削られたような形状となっている。 - 特許庁

A transparent layer 20, an N type layer 14, a P type layer 16, and a P type ohmic layer 22 are formed sequentially on a sapphire substrate 10 thus forming a PN junction light emitting element.例文帳に追加

サファイア基板10上に順次透明層20、N型層14、P型層16、P型オーミック層22を形成し、PN接合型発光素子を形成する。 - 特許庁

The semiconductor multilayer structure 3 is provided with an n-type contact layer 11, an active layer 12, a p-type electron stopping layer 13 and a p-type contact layer 14 sequentially from the substrate 2 side.例文帳に追加

半導体積層構造3は、基板2側から順に、n型コンタクト層11と、活性層12と、p型電子阻止層13と、p型コンタクト層14とを備えている。 - 特許庁

On the void-containing layer, a semiconductor device layer is formed, which includes an n-type semiconductor layer and a p-type semiconductor layer each made of a group III nitride-based compound semiconductor.例文帳に追加

空洞含有層の上に、III族窒化物系化合物半導体からなるn型半導体層およびp型半導体層を含む半導体デバイス層を形成する。 - 特許庁

例文

An n-Si substrate 20, an MgO layer 30 (strong field layer), and a p-type semiconductor layer 40 (luminous layer) are interposed sequentially between a pair of electrodes (a negative electrode 10, a positive electrode 50).例文帳に追加

一対の電極(陰極10、陽極50)の間に、n−Si基板20、MgO層30(強電界層)、p型半導体層40(発光層)を順次介設する。 - 特許庁




  
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