「probe-like」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SHEET-LIKE PROBE AND APPLICATION THEREOF例文帳に追加

シート状プローブおよびその応用 - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE, PROBE CARD, AND WAFER INSPECTION METHOD例文帳に追加

シート状プローブおよびプローブカードならびにウエハの検査方法 - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

シート状プローブおよびその製造方法 - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE AND METHOD FOR MANUFACTURING OF SAME例文帳に追加

シート状プローブおよびその製造方法 - 特許庁

GRAIN-LIKE SAMPLE OBSERVATION METHOD BY SCANNING PROBE MICROSCOPE AND GRAIN-LIKE SAMPLE BODY FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法及び走査プローブ顕微鏡用粒子状試料体 - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR AND APPLICATION THEREOF例文帳に追加

シート状プローブおよびその製造方法ならびにその応用 - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR AND APPLICATION THEREOF例文帳に追加

シート状プローブおよびその製造方法並びにその応用 - 特許庁

In a film-like probe unit 12, a plurality of distributing wires 26 are formed in a sheet-like member.例文帳に追加

フィルム状プローブユニットは、複数の配線をシート状部材に形成している。 - 特許庁

SKIN WASHING METHOD BY PROBE IN BATHTUB, FACE WASHING CONTAINER, OR THE LIKE例文帳に追加

浴槽、洗顔容器等におけるプローブの皮膚洗浄方法 - 特許庁

Preferably, an oxide film is removed from the tip end of the probe without exposing the probe in the atmosphere through dry processing using an ion source or the like, and the probe is housed in the probe housing container.例文帳に追加

好ましくは、大気暴露することなく、イオン源等を用いたドライ処理により探針先端部の酸化膜を除去し、探針を探針収納容器に収容する。 - 特許庁

To provide a probe approach method for bringing a probe closer quickly, reliably avoiding the collision between the probe and the sample, and surely preventing the damage in the probe or the like when bringing the probe closer to the sample surface in a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で、試料表面に向かって探針を接近させるとき、探針を短時間で接近させ、かつ探針と試料の衝突を確実に避け、探針等の破損を確実に防止する探針接近方法を提供する。 - 特許庁

The received probe information is transmitted to a probe information collection apparatus 3A via a center router 4, or the like.例文帳に追加

受信したプローブ情報は中央ルータ４等を経由してプローブ情報収集装置３Ａに送信される。 - 特許庁

To provide a calibration instrument for calibrating a temperature probe (pyrometer or the like).例文帳に追加

温度プローブ（パイロメータ等）を校正するための校正機器を提供する。 - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ITS APPLICATION例文帳に追加

シート状プローブおよびシート状プローブの製造方法ならびにその応用 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR ATOM PROBE, AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

アトムプローブ用針状試料の加工方法及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

This probe 3 comprises a first probe element 4 having a shaft-like part 9, a second probe element 6 of an unbottomed cylindrical shape into which the shaft-like part 9 of the probe element 4 is slidably fitted, and a spring 5 standing in a contracted form between the two probe elements 4 and 6.例文帳に追加

プローブ３を、軸状部９を有する第１のプローブ素子４と、該プローブ素子４の軸状部９が慴動自在に嵌合される無底筒状の第２のプローブ素子６と、該二つのプローブ素子４・６間に縮設状に介在するスプリング５とで構成する。 - 特許庁

To provide an optical probe preventing a sheath from being buckled if the optical probe is pressed on a subject or the like; and an optical tomographic imaging apparatus equipped with the probe.例文帳に追加

光プローブが被検体などに押し付けられてもシースが座屈しない光プローブおよび当該プローブを有する光断層画像化装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe position adjusting film capable of adjusting efficiently the position of a probe disposed on electronic component inspection equipment or the like such as a probe card.例文帳に追加

プローブカード等の電子部品検査機器等に配設されたプローブの位置の調整を効率よく行うことができるプローブ位置調整用フィルムを提供する。 - 特許庁

FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE例文帳に追加

電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体 - 特許庁

This instrument is further provided with a storage device 303 storing the position of the probe, and the like, as well as measurement data and determines the position of the probe using the past position of the probe as a recommended position of the probe.例文帳に追加

また、計測データとともにプローブ位置等を保存する記憶装置３０３を備え、過去のプローブ位置を推奨プローブ位置として、プローブ位置を決定する生体光計測装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe which permits the surface temperature of the ultrasonic probe to be accurately measured in real time without forming many temperature sensors even in a probe having a large opening like a linear convex probe.例文帳に追加

リニア、コンベックスプローブのような開口の大きいプローブにおいても多数の温度センサを形成せず、超音波プローブの表面温度をリアルタイムで正確に測定できる超音波プローブの提供。 - 特許庁

To provide a grain-like sample observation method based on a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法を提供する。 - 特許庁

To avoid transmitting probe information including unnecessary position information or the like to a probe information collection center before it happens.例文帳に追加

無駄な位置情報などを含むプローブ情報をプローブ情報収集センターへ送信してしまうことを未然に回避する。 - 特許庁

To suppress ultrasonic wave reflection or the like from a backing layer in a mechanical sector type ultrasonic probe or the like.例文帳に追加

メカニカルセクタ型超音波探触子などにおいて、バッキング層における超音波の反射などを抑制する。 - 特許庁

To provide a floating probe head structure probe card, including a probe head having a function of self-controlling the degree of parallel like a wafer; and preventing the periphery of the probe head from being contacted with the wafer.例文帳に追加

プローブヘッドがウエハに倣って自律的に並行度を調整する機能を有するとともにプローブヘッドの周辺がウエハに接触することを防止するフローティングプローブヘッド構造プローブカードを提供することを目的とする。 - 特許庁

To enable mounting of a protective cylinder for protecting a bent part of a probe or the like from the tip edge of a trocar when the probe or the like is to be pulled out on various trocars of different base end part structures.例文帳に追加

探触子等を引き抜くときにその屈曲部をトラカールの先端エッジから保護する保護筒を、基端部構造の異なる様々なトラカールに装着可能にする。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32, or the like, for measuring the interatomic force generated between the probe and a sample when scanning the sample 12 surface by the probe or the like, a sample stage 11 and an optical microscope 18.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料１２の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（２４，３２等）、試料ステージ１１、光学顕微鏡１８を備える。 - 特許庁

To provide a photodetection device and a photodetection method using an optical fiber probe applicable to a scanning probe microscope or the like.例文帳に追加

本発明は、走査型プローブ顕微鏡等に適用可能な光ファイバプローブを用いた光検出装置及び光検出方法に関する。 - 特許庁

An upper movable pin and a lower movable pin of a spring probe apparatus are comprised of plate-like members.例文帳に追加

スプリングプローブ装置の上可動ピン及び下可動ピンを平板状の部材で構成する。 - 特許庁

To provide an analyzer for controlling the washing condition of a dispensing probe on the basis of the kind or the like of the contaminant adhered to the dispensing probe, and a dispensing probe washing method.例文帳に追加

分注プローブに付着する汚れの種類等に基づき分注プローブの洗浄条件を制御する分析装置および分注プローブ洗浄方法を提供すること。 - 特許庁

To solve a problem that an error occurs as pushing quantity of a probe can not be maintained constantly because a probe is flipped up by a work due to vibration and the like at the time of probe scanning and tries to follow it.例文帳に追加

プローブ走査時の振動等により、プローブがワークより跳ね上げられ、それに追従しようするためにプローブの押込み量が一定に維持できずにエラーとなってしまう。 - 特許庁

To prevent a fixing part to fix a probe itself, a connection part between the probe and a power supply cable and the like from being destroyed in a case where shock waves are applied to a probe apparatus itself by electric discharge at the tip of the probe in a plasma crushing apparatus for destroying rocks or the like.例文帳に追加

岩石等を破壊するプラズマ破砕装置において、プローブ先端での放電により衝撃波がプローブ装置自体にも加わった場合に、プローブ自体を固定する固定部、あるいはプローブと電力供給用のケーブルの接続部等を破壊することが無いようにする。 - 特許庁

When the length of the probe cable 20 is different, the capacitance component or the like of a signal line within the probe cable 20 changes and it is thought that the transmission/reception characteristics of ultrasonic waves change for each probe cable 20 or the like as a result.例文帳に追加

プローブケーブル２０の長さが異なるとプローブケーブル２０内の信号線の容量成分などが変化し、その結果としてプローブケーブル２０ごとに超音波の送受信特性が変化してしまうことなどが考えられる。 - 特許庁

As a result, even if the alignment adjusting apparatus is inserted in a deep hole or the like, the probe does not interfere with the side surface thereof and the damage of the probe can be prevented.例文帳に追加

その結果、深穴等に挿入させてもその側面にプローブが干渉することがなくなり、プローブの破損を防止することができる。 - 特許庁

To provide a probe device in which a method of fixing a probe card has been changed to solve the problems occurring by a reinforcing member, or the like required following an increase in the diameter of the probe card.例文帳に追加

プローブカードの大口径化に伴い必要となる補強部材等により発生する問題を解決するために、プローブカードの固定方法を変更したプローブ装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since the positional relation of the probe needle with respect to the electrode pad P is displayed in a real time manner; at the time of correcting the probe needle with tweezers or the like with reference to the image, the operator can correct the probe needle while observing the state of the probe needle in a real time manner.例文帳に追加

電極パッドＰに対するプローブ針の位置関係がリアルタイムに表示されるので、画像を参照してプローブ針をピンセットなどで修正するとき、プローブ針の状態をリアルタイムに確認しながら修正することができる。 - 特許庁

Part of a probe needle 1 is machined into a fan-like shape and the part 1a machined into the fan-like shape is pressed by an electromagnet 3 and released, so that the probe needle 1 is extended and constricted, and contact and non-contact of the probe needle 1 with respect to the measuring pad 4 is executed.例文帳に追加

プローブ針１の一部を扇型に加工し、この扇型加工部分１ａを電磁石３により圧迫，解放することにより、プローブ針１を伸縮させて、プローブ針１の測定パッド４に対する接触，非接触を行なう。 - 特許庁

To enable a probe to simply access a measuring object (printed wiring of printed circuit board or the like), and to enhance a measurement sensitivity.例文帳に追加

プローブを簡単に測定対象（プリント基板のプリント配線など）にアクセスできるようにする。 - 特許庁

The ultrasonic flaw detecting part 28 includes an ultrasonic flaw detecting probe 30, a skiing-like sled 34, and springs 40.例文帳に追加

超音波探傷部28は超音波探傷プローブ30とスキー様のスレッド34とスプリング40とを備える。 - 特許庁

A mesh-like shield electrode 6 is arranged above the plasma generation probe 2 with a space.例文帳に追加

プラズマ発生プローブ２の上方に距離を隔ててメッシュ状のシールド電極６が配設されている。 - 特許庁

To align probe cards and the like to electronic devices with a simple and low cost mode.例文帳に追加

簡易かつ低コストな方法で、電子デバイスに対するプローブカード等の位置合わせが可能となる。 - 特許庁

To provide a probe head or the like, capable of executing a plurality of tests at a plurality of positions over the entire target substrate using a small number of probe heads.例文帳に追加

少ないプローブヘッド数で、ターゲット基板全体にわたる複数位置において、複数のテストを実施することが可能なプローブヘッド等を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip test socket for accurately positioning and reasonably contacting a probe and a semiconductor chip by facilitating setting or the like of the probe.例文帳に追加

プローブのセッティング等が容易であり、プローブと半導体チップを正確に位置決めし無理なく接触させることができる半導体チップテストソケットを提供する。 - 特許庁

The probe tip part 23a positioned on the tip side of the ultrasonic probe 23 is formed like a thin plate to obtain a linear section.例文帳に追加

超音波プローブ２３の先端側に位置するプローブ先端部２３ａは、直線状の切り口を得られるように薄板形状に形成されている。 - 特許庁

Even if the forward contact section 36 is damaged by an accident or the like, only the multiple pin loop probe 30 is removed from the probe positioning block 24 for exchange.例文帳に追加

前方接触部３６が事故等で損傷しても、多ピンループプローブ３０のみをプローブ位置決めブロック２４から取外し交換することができる。 - 特許庁