「process failure analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an imaging apparatus and an imaging method to simply reproduce skipping a failure image even if an analysis process is not conducted at reproducing.例文帳に追加

再生時に解析処理をしなくても簡単に失敗画像をスキップして再生することができる撮像装置および撮像方法を提供する。 - 特許庁

To provide a monitor system for analysis of business impact in a system failure, which displays a result of analyzing a business impact of the system failure on a flow chart of an operation process prepared from a view point of users, when the system failure occurs.例文帳に追加

システム障害発生時に、当該システム障害が及ぼすビジネスインパクト分析結果をユーザ視点で作成した業務プロセスの流れ図の上へ表示することが可能なシステム障害発生時のビジネスインパクト分析モニタシステムを提供する。 - 特許庁

The storage device (2) stores analysis data (21) with analysis information recorded therein about each of a plurality of failure modes pre-extracted in a product design or process design stage, and defect occurrence history data (22, 23) comprising defect information noted after the start of system operation and accumulated while associated with failure mode analysis information.例文帳に追加

記憶装置（２）には、製品設計又は工程設計の段階で事前抽出された複数の故障モードのそれぞれについての解析情報が記録された解析データ（２１）と、システム稼働後に知見される不良情報を故障モード解析情報と関連付けて累積してなる不良発生履歴データ（２２，２３）とを格納する。 - 特許庁

To enable analysis including a process leading to a failure state even for a commercially operating device by acquiring a state of a program without affecting the current operation.例文帳に追加

商用運用中の機器であっても現状の動作に影響を及ぼすことなく、プログラムの状態を把握し、異常状態に至る過程も含めた解析を可能にする。 - 特許庁

When a defective part for an arbitrary substrate is reported from a visual inspection process 14, a mounting failure analysis device 22 acquires the image data on each process work state of the substrate from the image data management apparatus 21, and analyzes the cause of failure from the image of work state in a previous process starting from the image of the process where the defective part has occurred.例文帳に追加

実装不良解析装置２２は、外観検査工程１４から、任意の基板に対する不良箇所の通知を受けた場合、基板の各工程作業状態の画像データを画像データ管理装置２１から取得し、不良箇所の発生した工程の画像を起点としてその工程より前の工程の作業状態の画像から不良原因の解析を行う。 - 特許庁

The ID of a product is used as a key, the process characteristic quantity data, a test data and a failure data are combined, and data for analysis that are generated by deleting invalid data in a data filter 10c is analyzed through data mining by an analysis part 10d to create a model.例文帳に追加

製品のＩＤをキーに、プロセス特徴量データと検査データ並びに故障データを結合し、データフィルター部１０ｃにて不正データを削除して生成した解析用データを、解析部１０ｄにてデータマイニングにより解析しモデルを作成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor evaluation device, its method, and a program, which acquires internal delay information of an LSI without using a special circuit, and enables process monitoring, failure analysis and quality determination.例文帳に追加

特別な回路を使用せず、ＬＳＩの内部遅延情報を取得し、プロセスモニタ、不良解析、良否判定を可能とする半導体評価装置およびその方法、並びにプログラムを提供する。 - 特許庁

MODELING DEVICE AND MODEL ANALYSIS METHOD, SYSTEM AND METHOD FOR PROCESS ABNORMALITY DETECTION/CLASSIFICATION, MODELING SYSTEM, AND MODELING METHOD, AND FAILURE PREDICTING SYSTEM AND METHOD OF UPDATING MODELING APPARATUS例文帳に追加

モデル化装置及びモデル解析方法並びにプロセス異常検出・分類システム及びプロセス異常検出・分類方法並びにモデル化システム及びモデル化方法並びに故障予知システム及びモデル化装置の更新方法 - 特許庁

To confirm the operation contents of a plurality of operation processes with a series of pictures for failure analysis, design change, production facility improvement, and process situation monitor or the like even with respect to a product whose producing operation is completed.例文帳に追加

生産作業が完了した製品についても、不良解析、設計変更、生産設備の改善、工程状況の監視等のために、複数にまたがる作業工程の作業内容を一連の画像で確認することを可能にする。 - 特許庁

To verify stability of an analogue circuit and to secure quality in the mass-production process, wherein waveform measurement and failure analysis of the analogue circuit, being difficult so far, are automatically performed for quicker and easier testing of the analogue circuit.例文帳に追加

従来は困難であったアナログ回路の波形測定及び不良解析を自動的に実現可能とすることで、アナログ回路の試験が短時間で且つ容易に行うことを可能とし、アナログ回路の安定性の検証及び大量生産工程での品質確保を図る。 - 特許庁

To provide the management method of a semiconductor device which can identify each semiconductor device and specify its manufacturing process information without providing a special record to a semiconductor chip itself, and can carry out quality assurance and failure analysis of each semiconductor device.例文帳に追加

半導体チップ自体に特別な記録部などを設けることなく、半導体装置個々について識別できその製造工程情報を特定でき、個々の半導体装置の品質保証及び不良解析を行うことができる半導体装置の管理方法を提供する。 - 特許庁

The invention provides a method of decreasing cycle time of the forming process, while ensuring acceptable product properties and avoiding failures, by modeling the process using finite element analysis to establish a pressure-time history that optimizes the forming operation and applies failure limits to selected variables such as minimum wall thickness or maximum strain rate, and transferring this pressure-time history to a computer 320 controlling the forming process.例文帳に追加

有限要素解析を利用して、成形操作を最適化し最小限壁厚や最大限歪み率などの選択された変数に欠陥限界を適用する圧力時間履歴を確立するプロセスをモデル化し、成形操作を制御するコンピュータ３２０にこの圧力時間履歴を伝送することによって、受け容れ可能な製品特性を保証して欠陥を回避しつつ、成形プロセスのサイクル時間を減少させる。 - 特許庁

To provide an inspection/analysis system which can use an infrared imaging device or both it and a laser imaging device to automatically measure the float or both the floats and cracks of wall surface in a single process and then automatically analyze the pick-up image to extract/determine a defect, in failure check of wall surface for tunnels, etc. by using an inspection vehicle.例文帳に追加

計測車によるトンネル等の壁面の不具合計測において、赤外線撮像装置或は該撮像装置とレーザ撮像装置の両方を使用して壁面の浮き或は浮きとひび割れの両方を１工程で自動計測し、撮像画像を自動解析して不具合を抽出・判定できるシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a data analyzing method which can efficiently extract a correlation between variables in record group, can easily extract a failure factor of product or the like when using this, for example, in a field needing a process data analysis of semiconductor product manufacturing field or the like, and can obtain industrial superiority.例文帳に追加

レコード群中の変数間の相関関係を効率的に抽出することができ、これを、例えば、半導体製品製造分野等のプロセスデータの解析を必要とする分野で利用する場合には、製品の不良要因等の抽出を簡便に行うことができ、産業上の優位性を得ることができるようにしたデータ解析方法を提供する。 - 特許庁