「program testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a data display capable of easily comparing the changes in test execution time that accompany the correction of a device testing program.例文帳に追加

デバイスの試験用プログラムの修正に伴う試験実行時間の変化を容易に比較することができるデータ表示装置を提供する - 特許庁

To provide a testing device capable of creating a test program where appropriate settling time detected automatically is reflected and reducing test costs.例文帳に追加

自動的に検出される適切なセットリングタイムが反映されたテストプログラムを作成し、テストコストを低減できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To verify the operation of a semiconductor integrated circuit device efficiently in a short time by verifying the operation of an IP itself by a testing program.例文帳に追加

テスト用プログラムによってＩＰそれ自体の動作検証を行い、短時間で効率よく半導体集積回路装置を動作検証する。 - 特許庁

Then, the test directory tree 68 is used for selecting a test script to be used at the time of testing a newly compiled application program.例文帳に追加

そして、試験ディレクトリ・ツリー（６８）は、新しくコンパイルされたアプリケーション・プログラムを試験する際に使われる試験スクリプトを選択するために使用される。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

i. Components designed for use in controlling the vibration test equipment falling under 1 and that use a program for vibration testing and digitally control vibration testing in real time in a bandwidth exceeding 5 kilohertz 例文帳に追加

１　（一）に該当する振動試験装置の制御に使用するように設計した部分品であって、振動試験用のプログラムを用いたものであり、かつ、五キロヘルツを超える帯域幅で実時間での振動試験をデジタル制御するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.例文帳に追加

マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an initial adjustment method of a card-type wireless trans mission device, in which the labor for program writing and testing is reduced and working time thereof is shortened.例文帳に追加

プログラム書込み作業及びテスト作業の労力の低減、それらの作業時間の短縮を図ったカード型無線伝送機器の初期調整方法を提供する。 - 特許庁

The fatigue evaluation system makes a subject to memorize the positions of figures or language sound using a program operating on a computing machine represented by a PC, presents stimulations for testing the memory after a prescribed time, and acquires a reaction time to the stimulations.例文帳に追加

ＰＣに代表される計算機上で動作するプログラムを用いて、被験者に図形の位置や言語音などを記憶させ、所定時間後にその記憶をテストする刺激を呈示し、その刺激に対する反応時間を取得する。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for efficiently testing a semiconductor integrated circuit by eliminating a loss time occurring whenever signals of address and data are output to an object under test having an automatic program function.例文帳に追加

自動プログラム機能を有する被試験対象に対してアドレス及びデータを出力する度に生ずる無駄時間を無くすことで効率的に試験を行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A method, system, and computer program product related to the maintenance of optimal control of diabetes, and is directed to predicting patterns of hypoglycemia, hyperglycemia, increased glucose variability, and insufficient or excessive testing for the upcoming period of time, based on blood glucose readings collected by a self-monitoring blood glucose device.例文帳に追加

最適な糖尿病の管理を維持する方法、システム、コンピュータプログラム製品であって、血中グルコース自己監視装置によって収集された血中グルコース測定値に基づいて、次の期間における、低血糖、高血糖、グルコース変動の増大、不十分または過剰な検査を予測する。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

In this automatic testing system, since a periodical command execution means 108 periodically executes a debugger command and a fault detection means 110 detects the occurrence of a fault on the basis of the state transition of a real time OS which is received from a debugging monitor 124, surely detect the occurrence of the fault in the exchange application program 121.例文帳に追加

周期コマンド実行手段１０８により、周期的にデバッガのコマンドを実行して、デバッグモニタ１２４から受信したリアルタイムＯＳの状態遷移により、障害検出手段１１０が障害発生を検出するようにしたので、効率よく確実に交換アプリケーションプログラム１２１の障害発生を検出することができる。 - 特許庁

To shorten the time arriving at a definite value in temperature and humidity by automatically washing a temperature sensing resistor to obtain accurate temperature and humidity measured values in a corrosion testing machine incorporating the cycle prescribed in a program to execute the corrosion test of a test piece, to facilitate the transfer to a next test in a transfer time within a definite range defined in JIS, and to enhance the reproducibility of the corrosion state in the natural world.例文帳に追加

プログラムに規定されたサイクルを組んで試験片の腐食試験を実施する腐食試験機において、測温抵抗体を自動的に洗浄することで、正確な温湿度の測定値を得て、これにより、温湿度が一定値に到達する時間を短縮させ、日本工業規格に定めた一定の範囲内の移行時間で次の試験への移行を容易とし、かつ、自然界における腐食状態の再現性を向上することにある。 - 特許庁