「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

This is an improved IC tester for testing an object of test.例文帳に追加

本発明は被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

DEVICE FOR SUPPORTING CREATION OF TEST SPECIFICATION AND MANUAL, AND SUPPORTING AUTOMATIC TESTING例文帳に追加

試験仕様書作成からマニュアルの作成を支援し自動試験を支援する装置 - 特許庁

This invention is the improved test system for testing a tested object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

TERMINAL BOARD FOR CONTROL PANEL TEST, CONTROL PANEL AUTOMATIC TESTING DEVICE, AND TEMPORARY CONTROL DEVICE例文帳に追加

制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置 - 特許庁

LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD例文帳に追加

無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁

To efficiently generate a test specification without any omission for testing object oriented software.例文帳に追加

オブジェクト指向のソフトウェアをテストする漏れの無いテスト仕様を効率的に生成する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PIPE LINE AND METHOD FOR GENERATING PIPE LINE TEST INSTRUCTION AND ITS STORAGE MEDIUM例文帳に追加

パイプライン試験方法、パイプライン試験命令生成方法及びその記憶媒体 - 特許庁

DIRECT TENSILE TESTING METHOD FOR CONTROLLING SECONDARY BENDING AND JIG FOR DIRECT TENSILE TEST例文帳に追加

２次曲げを制御する直接引張試験法および直接引張試験用治具 - 特許庁

To enhance the reliability of the test result of a testing apparatus for a prime mover.例文帳に追加

原動機の試験装置においてその試験結果の信頼性を向上させる。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT FOR PERFORMING BURN-IN TEST OF AC STRESS AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

交流ストレスのバーンインテスト可能な集積回路及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁

To prevent damage of a semiconductor device and a testing apparatus therefor during burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時の半導体装置及びその試験装置の損傷を回避する。 - 特許庁

To provide a test assembly (2000) for testing product circuitry (202, 302, 304) of a product die (2011, 300).例文帳に追加

製品ダイ(2011,300)の製品回路(202,302,304)をテストするためのテストアセンブリ(2000)を提供すること。 - 特許庁

MOVABLE STAGE FOR PLACING TEST PIECE, CIRCUIT PATTERN MANUFACTURING APPARATUS, AND CIRCUIT PATTERN TESTING DEVICE例文帳に追加

試料載置用可動ステージ、回路パターンの製造装置、及び回路パターンの検査装置 - 特許庁

TRANSFER DEVICE FOR MULTICHANNEL TEST DATA AND TESTING DEVICE FOR RELAY DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

多チャネル試験データの転送装置およびそれを用いる継電装置の試験装置 - 特許庁

This IC tester for testing devices under test is an improved one.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The improved IC tester for testing an object under test is provided.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

TAPE FOR AMMONIA LEAKAGE TEST USING THIN THICKNESS STACKING TAPE, AND LEAKAGE TESTING METHOD例文帳に追加

薄厚積重テープを用いたアンモニア漏れ試験用テープ及び漏れ試験方法 - 特許庁

CMIP PROTOCOL TEST AUTOMATING DEVICE AND CMIP PROTOCOL TESTING METHOD例文帳に追加

ＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置及びそれに用いるＣＭＩＰプロトコル試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR ESTIMATING UNIT WATER AMOUNT OF CONCRETE AND TESTING MACHINE USING IT例文帳に追加

コンクリートの単位水量推定試験方法および同方法に用いる試験装置 - 特許庁

The testing head 14 includes a wiper brush for rubbing a test location in the circuit board 16.例文帳に追加

試験ヘッドはプリント回路板の試験位置を擦るためのワイパーブラシ５２を含む。 - 特許庁

To test the durability of a pickup apparatus using a machine for testing a pickup apparatus.例文帳に追加

ピックアップ装置の試験機を用いてピックアップ装置の耐久試験を実行させる。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, RECORDING MEDIUM, TEST DATA GENERATING APPARATUS, AND LSI TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体集積回路、記録媒体、テストデータ生成装置およびＬＳＩ試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, DELAY TEST CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、ディレイテスト回路、及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

To test the application, run the project as described in section Testing index.php. 例文帳に追加

アプリケーションをテストするには、「index.php のテスト」節の説明に従ってプロジェクトを実行します。 - NetBeans

The system includes multiple-well test panels capable of conducting ID and AST testing on the same test panels.例文帳に追加

このシステムは、同じ試験パネル上でＩＤ試験およびＡＳＴ試験を行うことのできる多重ウェル試験パネルを含む。 - 特許庁

To provide a technique of generating test data capable of testing a verification program without preparing multiple test data.例文帳に追加

複数のテストデータを準備することなく、検証プログラムをテストすることができるテストデータを生成する技術を提供する。 - 特許庁

To provide an optical test apparatus, a test method, a driving method, and a probe card that are suitable for selectively testing an image sensor.例文帳に追加

イメージセンサを選択的にテストするのに適する光学テスト装置、テスト方法、駆動方法、及びプローブカードを提供する。 - 特許庁

A transmission test is started by sending a test request to a prescribed ATM transmission testing device during normal operation.例文帳に追加

通常の運用中、所定のＡＴＭ伝送試験装置に試験要求を出すことにより伝送試験が開始される。 - 特許庁

To provide a wind tunnel testing apparatus capable of improving working efficiency without stopping a test on the way of the test.例文帳に追加

試験の途中で停止させることなく、作業効率を向上することができる風洞試験装置を提供する。 - 特許庁

TESTING MACHINE SUPPORT TABLE, TENSILE TEST METHOD OF FASTENER, UNIT FOR TENSILE TEST, AND METHOD OF PERFORMING MOUNTING CONSTRUCTION OF PROPERTY TO BUILDING STRUCTURE例文帳に追加

試験機支持台、締結具の引張試験方法、引張試験用ユニット、建築構造物への器物取付施工方法 - 特許庁

To provide a semiconductor chip test socket, in particular, suitable for testing a bare chip, in the semiconductor chip test socket easy to be handled and operated surely.例文帳に追加

扱いやすく動作確実な半導体チップテストソケットであって、特にベアチップのテストに好適なものを提供する。 - 特許庁

To shorten testing time of semiconductor devices, while preventing mistakes in setting and altering test conditions, within a test program.例文帳に追加

試験プログラム内での試験条件の設定ミスや変更ミスを防止しながら、半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

In the high-speed test method of ICs, a test device main body 1 produces a pattern for testing and inputs it to a socket substrate 3 connected to the test device main body through connector.例文帳に追加

試験装置本体で試験のためのパターンを生成して，試験装置本体とコネクタを介して接続されたソケット基板に入力する。 - 特許庁

When manufacturing the ASIC, the test routine can execute a wide test of an ASIC block without receiving supply of a complicated test pattern from the testing device.例文帳に追加

ＡＳＩＣ製造中に、テストルーチンは、試験装置から複雑なテストパターンの供給を受ける事なく、ＡＳＩＣブロックの幅広いテストが可能である。 - 特許庁

To facilitate the generation of test specifications for testing the operations of a system to be tested and enhance the reliability of the test by reducing test leakage.例文帳に追加

試験対象システムの動作を試験する試験仕様の生成を容易にするとともに、試験漏れを少なくして、試験の信頼性を向上する。 - 特許庁

To provide a computer system, a test device, a test method, and a test program for reliably testing whether an overtaking function works normally or not.例文帳に追加

追い越し機能が正常に動作しているか否かを信頼性よく試験することができる、コンピュータシステム、試験装置、試験方法、及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To improve test accuracy, while executing economically a test equivalent to an actual vehicle test, in a vibration testing device for a railway vehicle.例文帳に追加

鉄道車両の振動試験装置において、実車両試験と同等な試験を経済的に実施可能としつつ、試験精度の向上を図ること。 - 特許庁

To provide a testing machine capable of changing part of test conditions stored in a test condition file to carry out a test without executing complicated work.例文帳に追加

煩雑な作業を行わなくても試験条件ファイル格納されている試験条件の一部を変更して試験を行うことができる試験機を提供する。 - 特許庁

To provide the novel test piece supply device of an impact resilience testing machine, capable of preliminarily incorporating a large number of test pieces to continuously supply the test pieces.例文帳に追加

予め多数の試験片を組み込み、連続して試験片を供給できる反発弾性試験機の新規な試験片供給装置を提供する。 - 特許庁

To perform at low cost the durability test of a test target, in a durability testing method for performing the durability test of the test target arranged between a drive body and the load and that receives twisting.例文帳に追加

本発明は、駆動体と負荷との間に配置されて、ねじりを受ける被試験体の耐久試験を行なう耐久試験方法等に関し、被試験体の耐久試験を安価に行なう。 - 特許庁

To provide a test pattern generation method, a test pattern generation system, and a test pattern generation device capable of efficiently generating a test pattern which is used for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストに用いるテストパターンを効率よく生成可能としたテストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

The testing method can reduce man-hours for generating the test specifications and test data to reduce human errors in generating the test specifications and test data.例文帳に追加

このようなテスト方法は、そのテスト仕様書とテストデータとを生成する工数をより低減することができ、そのテスト仕様書とテストデータとの生成時の人手によるミスを低減することができる。 - 特許庁

The method includes: a test piece creating process of creating a test piece 3 on which the tread groove 4 is formed; and a testing process of performing a groove bottom crack resistance performance test by using the test piece 3.例文帳に追加

前記トレッド溝４を形成した試験片３を作成する試験片作成工程と、該試験片３を用いて耐溝底クラック性能テストを行うテスト工程とを含む。 - 特許庁