「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing circuit that can realize a high- speed test for semiconductor device even by using a low-speed testing device.例文帳に追加

低速の試験装置を使用しつつも半導体装置の高速試験を可能にした半導体試験回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a measuring device having high reliability of an electric characteristic test, capable of testing in a short time.例文帳に追加

電気的特性試験の信頼性が高く、短時間で試験可能な半導体試験装置および測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and testing method for efficiently executing the operation test of codec software.例文帳に追加

本発明は、コーデックソフトウェアの動作試験を効率的に実行可能な試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To achieve a semiconductor testing apparatus which can absorb self-heating, produced in an IC under testing by the semiconductor test apparatus itself.例文帳に追加

試験状態のＩＣに発生する自己発熱を、試験装置自体で吸熱することができる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method optimum for testing a macro block including a physical layer circuit for data communication.例文帳に追加

データ通信用の物理層回路を含むマクロブロックのテストに最適なテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing device for concurrently testing a plurality of semiconductor devices in a short test time.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に試験する装置であって、試験時間を短縮した半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a D/A converter shortening a required time for a test even when the bits of the D/A converter are increased, and also to provide a testing method for the testing device.例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータが高ビット化しても、試験の所要時間を短縮することができるＤ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine preventing collision of a crosshead to a test piece or the like for a next test even when there is a remaining test piece after a test or a change in size or the like of a next test piece.例文帳に追加

試験終了後の試験片の残存や、次回試験片の大きさの変化等があっても、次回試験のためのクロスヘッドがこれら試験片等に衝突することがない材料試験機を提供する。 - 特許庁

The semiconductor-testing device includes: a test board including a plurality of test pins, where the semiconductor device to be tested is mounted; a test part for testing continuity between the plurality of test pins and a plurality of device pins; and a control part for identifying test pins continuous to the device pins from among the plurality of test pins to allocate test pins connected to the device pins by referring to coordinates of the device pins.例文帳に追加

試験対象の半導体装置が搭載される、複数のテストピンを含むテストボードと、複数のテストピンと複数のデバイスピンとの導通を試験するテスト部と、複数のテストピンのうち、デバイスピンと導通するテストピンを特定し、デバイスピンの座標を参照してデバイスピンに接続するテストピンを割り当てる制御部とを有する。 - 特許庁

This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern.例文帳に追加

本発明のテストパターン評価装置２は、評価条件出力部２１と、試験結果入力部２２と、テストパターン評価装置２３とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。 - 特許庁

The testing device includes: a test execution means that executes testing including one or more test items selected from among a plurality of test items as an object to be executed to a device to be tested concerning each of the test items by using one or more measuring instruments; and a test item display means that indicates a test image including one or more selected test items.例文帳に追加

複数の試験項目から実行対象として選択された１つ以上の試験項目を含む試験を、試験項目毎に、１つ以上の測定器用いて、被試験器に対して実行する試験実行手段と、選択された１つ以上の試験項目を含む試験画像を表示する試験項目表示手段と有する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a reproducible impact force to a test object, and acquiring an accurate test result, concerning the impact testing device for performing an impact test of the test object or the like in the state where an electronic component is loaded on a substrate.例文帳に追加

電子部品を基板に搭載した状態の被試験物等の衝撃試験を行う衝撃試験装置に関し、被試験物に再現性のある衝撃力を加えることができ、正確な試験結果が得られる衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS BURN-IN TESTING METHOD, ITS MANUFACTURING METHOD, BURN-IN TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置及びそのバーンインテスト方法、製造方法並びにバーンインテスト制御回路 - 特許庁

To provide an LSI testing device which can easily test an electronic device.例文帳に追加

電子デバイスについて、容易に試験を行うことのできるＬＳＩ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test jig for a metal-enclosed switch gear which is used for testing a current transformer.例文帳に追加

変流器試験などを試験する金属閉鎖型スイッチギヤ用試験治具を提供する。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

WEIGHT DROP TYPE PERFORMANCE TESTING MACHINE FOR FIBER REINFORCED PLASTIC PRODUCT AND REBOUND PERFORMANCE TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

繊維強化プラスチック製品の落錘式性能試験機及び反発性能試験方法 - 特許庁

To provide a system and a method for compressing effectively a test data for testing a device to be tested (DUT).例文帳に追加

試験対象デバイス(DUT)をテストするためのテストデータをより効果的に圧縮する。 - 特許庁

For testing the measured pin Di, a test mode signal TST is inputted.例文帳に追加

被測定ピンＤｉのテストを実施する場合には、テストモード信号ＴＳＴを入力する。 - 特許庁

To provide a highly reliable apparatus for electrical test and an electrical testing method.例文帳に追加

信頼性の高い電気的試験用装置及び電気的試験方法を提供すること。 - 特許庁

The quenching test apparatus 10 is provided with a testing member 20 and a box body 30.例文帳に追加

本発明の焼入れ試験装置１０は、試験部材２０および筐体３０を有する。 - 特許庁

To obtain a light beam path testing device with a simple structure, without reducing test items.例文帳に追加

試験項目を減らすことなく簡易な構成の光線路試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a software test method and program, reduced in testing time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することができるソフトウェアのテスト方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

TESTING TOOL FOR EXECUTING SIDE FLOW TEST CONTAINING ANALYZED OBJECTS OF TWO OR MORE SORTS例文帳に追加

２種以上の分析対象物を含む側流検定を実施するための試験具 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE COMPRESSIVE STRENGTH TESTING METHOD, STRESS ESTIMATING METHOD AND TEST DEVICE FOR CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの非破壊圧縮強度試験方法及び応力推定方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターン発生装置及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING WEIGHTED PSEUDO-RANDOM TEST PATTERN例文帳に追加

重み付けされた擬似ランダム試験パターンを用いた集積回路試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD AND TEST STAND FOR TESTING HYBRID DRIVE SYSTEM OR SUBCOMPONENT OF THE SAME例文帳に追加

ハイブリッド駆動システムまたはそのシステムのサブコンポーネントを試験するための方法および試験台 - 特許庁

DEVICE FOR INITIALIZING DIGITAL SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, TEST PATTERN, TESTING APPARATUS, MEDIUM, AND INFORMATION AGGREGATE例文帳に追加

デジタル信号処理回路初期化装置、テストパターン、テスト装置、媒体及び情報集合体 - 特許庁

LSI, TEST PATTERN CREATING METHOD FOR TESTING SCAN PATH, LSI INSPECTION METHOD AND MULTICHIP MODULE例文帳に追加

ＬＳＩ、スキャンパステスト用テストパターン生成方法、ＬＳＩ検査方法およびマルチチップモジュール - 特許庁

IMPACT TEST METHOD, IMPACT TESTING DEVICE AND RELIABILITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

衝撃試験方法、衝撃試験装置および半導体装置の信頼性評価方法 - 特許庁

To provide a surge tester for performing a surge test corresponding to the characteristics of a testing object.例文帳に追加

被試験対象の特性に応じたサージ試験を行うサージ試験装置を提供する。 - 特許庁

The present invention also provides the specimen testing kit including further a test strip 14 and a cotton rod 15.例文帳に追加

テストストリップ（１４）と、綿棒（１５）とを更に含む検体試験キットも提供されている。 - 特許庁

COLLIMATION DEVICE, RADIOLOGY APPARATUS, TEST KIT, AND METHOD OF TESTING RADIOLOGY APPARATUS例文帳に追加

コリメーション装置、放射線装置及び試験キット、並びに放射線装置を試験する方法 - 特許庁

REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF例文帳に追加

赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁

The trimming codes for testing are different from the adequate trimming code and used only when a test is conducted.例文帳に追加

テスト用トリミングコードは、適正トリミングコードと異なっており、テスト時にのみ用いられる。 - 特許庁

To provide a method for testing an integrated circuit by using an automatic test device.例文帳に追加

自動テスト装置１２を使用して、集積回路１０をテストする方法を提供すること。 - 特許庁

SPECIMEN SIMULATING REDUCTION IN THICKNESS OF PIPE INTERIOR, MANUFACTURING METHOD OF TEST SPECIMEN AND TESTING METHOD例文帳に追加

減肉の発生した配管を模した試験体、試験体の作成方法、試験方法 - 特許庁

To test a base station, without providing an extra setting place for a base station testing apparatus.例文帳に追加

基地局試験装置の設置場所を別途設けることなく基地局試験を行う。 - 特許庁

According to the derived testing position, the test of each electrode pattern part is executed.例文帳に追加

そして、この導出された検査位置に応じて各電極パターン部の検査が実施される。 - 特許庁

TEST SOCKET, METHOD OF MANUFACTURING IT, METHOD OF TESTING BY USING IT, AND TESTED MEMBER例文帳に追加

テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

Further, a testing mechanism is provided to test the redundant error detection (RED) capability itself.例文帳に追加

更に、冗長エラー検出(Redundant Error Detection, 「RED」)能力自体をテストするためのテストメカニズムが提供される。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE例文帳に追加

被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断／接続治具 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SOIL BEARING WITH FIXED BEAM IN CAISSON WORK ROOM, AND SOIL BEARING TEST METHOD例文帳に追加

ケーソン作業室における不動梁付き地耐力試験装置及び地耐力試験方法 - 特許庁