「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a browser test system and a method for it capable of efficiently testing various browsers.例文帳に追加

種々のブラウザを効率的にテストできるブラウザテストシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁

The traffic generation apparatus 32 sends test traffic data 55 to the testing server apparatus 41.例文帳に追加

トラフィック生成装置３２から試験サーバ装置４１へ試験トラフィックデータ５５を送信する。 - 特許庁

WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, WIRELESS COMMUNICATION TESTING METHOD, AND WIRELESS COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加

無線通信システム及び無線通信試験方法並びに無線通信システム試験プログラム - 特許庁

METHOD FOR DECIDING PARAMETER FOR RADIO WAVE ENVIRONMENT IN RADIO TERMINAL TEST AND RADIO TERMINAL TESTING DEVICE例文帳に追加

無線端末試験における電波環境のパラメータ決定方法、無線端末試験装置 - 特許庁

RADIO COMMUNICATION TERMINAL TESTING METHOD, RADIO COMMUNICATION TERMINAL TEST SYSTEM, AND RADIO COMMUNICATION TERMINAL例文帳に追加

無線通信端末試験方法、無線通信端末試験システム、および無線通信端末 - 特許庁

To provide a testing device which integrates a mixed signal processing circuit with a test interface.例文帳に追加

本発明は、混合信号処理回路をテストインターフェースに統合する試験機を提供する。 - 特許庁

MULTIPLE LINE GRID FOR TESTING, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TEST ELEMENT FOR CHECKING PERFORMANCE OF SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

テスト用マルティプルライングリッド、半導体チップ、並びに、半導体チップの性能チェック用テスト素子 - 特許庁

There are several testing options available to you that make it easy to unit test your application. 例文帳に追加

使用可能なテストのオプションはいくつかあり、アプリケーションの単体テストが簡単になります。 - NetBeans

A test case is the smallest unit of testing. It checks for a specific response to a particular set of inputs.例文帳に追加

テストケースはテストの最小単位で、各入力に対する結果をチェックします。 - Python

TEST METHOD FOR DETERMINING OIL SEPARABILITY OF LUBRICATING GREASE, AND TESTING DEVICE FOR EXECUTING METHOD例文帳に追加

潤滑グリースの油分離性を求める試験方法及びこれを実施する試験装置 - 特許庁

To provide a testing system that can easily confirm the implementation status of test.例文帳に追加

試験の実施状況を容易に確認することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving on an IC tester for testing a device under test.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a testing device capable of carrying out efficiently a scanning test for a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスのスキャン試験を効率よく行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce time of the performance test for a protective relay, and the cost of testing facilities.例文帳に追加

保護継電器の動作試験にかかる時間の短縮及び試験設備の経費節減。 - 特許庁

The DAC 6 can be used as a test signal generator for testing the ADC 5.例文帳に追加

ＤＡＣ６は、ＡＤＣ５をテストするためのテスト信号生成器として使用可能とされる。 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN, INFORMATION PROCESSOR, INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成方法、情報処理装置、集積回路試験システム、プログラム、記録媒体 - 特許庁

Individual test elements are stored, retained and dispensed for testing patient samples.例文帳に追加

個別検査要素は患者試料の検査のために、保管、保持、および分配されることができる。 - 特許庁

This testing device is equipped with a plurality of test modules for testing a plurality of devices to be tested, and the central processing unit for controlling test operation of the plurality of test modules based on a designated operation mode.例文帳に追加

複数の被試験デバイスの試験を行う複数の試験モジュールと、指定された動作モードに基づいて複数の試験モジュールの試験動作を制御する中央処理装置とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus which can perform a test with high precision, without causing decreases in testing accuracy, even when performing a test of a DUT having different clock delays for each application of a test signal.例文帳に追加

試験信号を印加する度にクロック遅延が異なるＤＵＴを試験する場合であっても、試験精度の低下を招くことなく高い精度で試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device having a plurality of replaceable test modules that supply test signals to devices to be tested is emulated to verify a testing environment without use of the real items such as the devices to be tested and the test modules.例文帳に追加

試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する交換可能な複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートし、被試験デバイスや試験モジュール等の実物を用いることなく試験環境を検証する。 - 特許庁

To provide a device for testing rocking rotation, capable of performing both endurance test and performance test of a machine component or the like.例文帳に追加

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行うことが可能な揺動回転試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test handler and a semiconductor element test method, capable of testing a semiconductor element under a high temperature environment and a low temperature environment.例文帳に追加

半導体素子を高温環境及び低温環境でテストできるテストハンドラー及び半導体素子テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for rocking/rotation testing for carrying out both an endurance test and a performance test on machine parts, etc.例文帳に追加

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行うことが可能な揺動回転試験装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, since the test of the I/O part and the test of the internal circuit can be executed in parallel, the testing time can be shortened.例文帳に追加

これによって、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストが並行して実行できるため、テスト時間の短縮が可能となる。 - 特許庁

To provide a system for a voluntary test for communication facility, which improves the efficiency of total testing works for the voluntary test for the communication facility prior to use.例文帳に追加

通信設備の使用前自主検査の全体の作業の効率化が図れる設備自主検査システムを提供する。 - 特許庁

To enable progress of testing work to be reported to a test manager and a man in charge of the test in real time and by push type.例文帳に追加

試験作業の進捗状況が、試験管理者、試験担当者ヘリアルタイムに、かつ、プッシュ型的に通知を可能とする。 - 特許庁

Besides, the information on the progress conditions of the entrusted test and the test schedule is disclosed to a specified or unspecified client or testing place.例文帳に追加

また、受託試験の進捗状況、試験計画の情報を特定又は不特定の顧客または試験所に公開する。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a LAPD testing apparatus that eliminates the need for connection to a test apparatus such as a protocol analyzer or a switch compatible with the ISDN when carrying out an LAPD test.例文帳に追加

ＬＡＰＤ試験のとき、プロトコルアナライザ等の試験機もしくはＩＳＤＮ対応交換機との接続を不要とする。 - 特許庁

To equally set the thermal impact to an electronic part that is a test sample in a thermal impact testing device to enhance the precision of test.例文帳に追加

熱衝撃試験装置において、被試験サンプルである電子部品の熱衝撃度を同一にし、試験の精度を上げる。 - 特許庁

ONE-SHOT PULSE GENERATING APPARATUS PROVIDED WITH CIRCUIT FOR TEST AND METHOD FOR TESTING ONE-SHOT PULSE GENERATING APPARATUS USING CIRCUIT FOR TEST例文帳に追加

テスト用回路を備えたワンショットパルス発生装置及びそのテスト用回路を使用したワンショットパルス発生装置のテスト方法 - 特許庁

To provide an engine cooling water circulation system for test which is capable of testing test pieces including more types of engines.例文帳に追加

より多くのタイプのエンジンを含む試験体の試験を実施可能な試験用エンジン冷却水循環システムを提供する。 - 特許庁

To reduce costs for a test by shortening time for testing a semiconductor memory having an error correction function and a data compression test function.例文帳に追加

誤り訂正機能およびデータ圧縮試験を有する半導体メモリの試験時間を短縮し、試験コストを削減する。 - 特許庁

The chip test machine for testing all 6 surfaces comprises a still belt including a first test part for simultaneously testing 3 surfaces of the chip, a reversal device for reversing the chips discharged out of the first test part, and a second test part for simultaneously testing another 3 surfaces of the chips reversed by the reversal device.例文帳に追加

チップの六面を検査するチップ検査機において、チップの３面を同時に検査する第１検査部；第１検査部から排出されたチップを反転させる反転装置；反転装置から反転されたチップの他の３面を同時に検査する第２検査部を含むスチルベルトが備えられたチップ検査機とする。 - 特許庁

To provide a device for pull-out testing of an eyeless needle which can perform a pull out test of a plurality of eyeless needles within short time, and to provide a testing method of the same.例文帳に追加

複数のアイレス針の引抜き試験を短時間で行うことができるアイレス針の引抜試験装置と方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the test time period by a convenient testing method about a method of testing the durability of exhaust purification devices for vehicles.例文帳に追加

車両用排気浄化装置の耐久試験方法に関し、簡便な試験方法によって試験期間を短縮できるようにする。 - 特許庁

The semiconductor testing device 1 includes a testing device body 10 for testing a DUT 40, and a signal waveform display device 20 for displaying a signal waveform acquired by a test performed by the testing device body 10.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ＤＵＴ４０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０によって行われた試験で得られた信号の波形を表示する信号波形表示装置２０とを備える。 - 特許庁

To provide a peel testing apparatus performing a 90° peel test with high precision at low cost and capable of corresponding, even for another peel test, including a new testing method which has not been developed thus far.例文帳に追加

９０度剥剥離試験を低コストで高精度に行うと共に、従来にない新たな試験方法を含むその他の剥離試験にも対応可能な剥離試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a subscriber line testing system, a subscriber line testing method and a program, for making it possible to perform a test reception board connection service (test reception, fault reception) in an IP network.例文帳に追加

ＩＰ網において、試験受付台接続サービス（試験受付、故障受付）を行うことを可能にする、加入者線試験システム、加入者線試験方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test system, a tester and a testing method for performing the test of all sensors without designating each sensor for testing a plurality of sensors.例文帳に追加

複数の感知器の試験を行なうのに、個々の感知器をその都度指定せずとも、全ての感知器の試験を行なうことの可能な試験システムおよび試験器および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device of existence of cable disconnection and a test method of existence of the cable disconnection capable of testing with high reliability on a neutron detector and a test of existence of the cable disconnection.例文帳に追加

中性子検出器とケーブルの断線有無の試験について信頼性の高い試験ができるケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a peel testing apparatus for performing 90° peel test with high precision at a low cost and capable of corresponding, even in another peel test that includes a new testing method which has not been developed thus far.例文帳に追加

９０度剥剥離試験を低コストで高精度に行うと共に、従来にない新たな試験方法を含むその他の剥離試験にも対応可能な剥離試験装置を提供する。 - 特許庁

Whether advancing a Z-test function above the shader engine for early Z-testing is possible or whether the Z-test function should be deferred until after shading operation for late Z-testing, is determined.例文帳に追加

アーリーＺテストのためにシェーダエンジンよりＺテスト機能を先行させることが可能であるか、又は、レイトＺテストのためにシェーディングオペレーション後まで延期されるべきであるかを決定する。 - 特許庁

The hardness test device 10 comprises the sample stocker 2 for stocking a sample S before test, and a hardness testing machine 1 for testing the hardness of the sample S conveyed from the sample stocker 2.例文帳に追加

硬さ試験装置１０は、試験前の試料Ｓをストックしておく試料ストッカ２と、試料ストッカ２から搬送された試料Ｓの硬さ試験を行う硬さ試験機１と、を備える。 - 特許庁

The memory test system is equipped with a memory testing device 10 having the fail memory 15 for storing a test result of the memory to be tested and a controller 1 for controlling the memory testing device 10.例文帳に追加

メモリ試験システムは、被試験メモリの試験結果を格納するフェイルメモリ１５を有するメモリ試験装置１０と、メモリ試験装置１０を制御する制御装置１とを備える。 - 特許庁