「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing device for enhancing precision of a test, by making an operation direction of expansion movement in a vibration controller consistent with an operation direction of expansion drive in the testing device.例文帳に追加

防振器の伸縮動と試験装置の伸縮駆動との動作方向を一致させて、試験の精度を向上させる試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a mobile terminal testing device which enables the test time for testing a transmission power control function of a mobile terminal to be shortened.例文帳に追加

移動端末機の送信電力制御機能を試験する際に、試験時間を短縮することができる移動端末機試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester and a testing method capable of testing characteristics of thin-type-display drivers when their output changes while reducing the test time.例文帳に追加

試験時間を抑制しつつ、薄型ディスプレイドライバの出力変化時特性の試験が行えるＩＣテスタ及び試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a test method for testing a general-purpose memory incorporated in a multi-chip module without preparing a special circuit for the testing.例文帳に追加

本発明は、試験用の特別な回路を設けることなくマルチチップモジュール内蔵の汎用メモリを試験する試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A testing part is formed in an alarm device arranged in each dwelling unit of the apartment house, and the testing part executes automatically a test on the fire sensor or the like.例文帳に追加

共同住宅の各住戸内に配置される警報装置に試験部を設け、試験部は、火災感知器などに対する試験を自動的に実施する。 - 特許庁

In this case, the test wafers TW1 and TW2 each are handled independently of the other testing wafers and wafers other than testing wafers.例文帳に追加

この場合、第１，第２のテストウェーハＴＷ１，ＴＷ２は、他方のテストウェーハおよびテストウェーハ以外のウェーハの取り扱いとは独立に取り扱われる。 - 特許庁

To provide a testing device of a semiconductor integrated circuit and its testing method capable of reducing a cost of a delay test between different clock domains.例文帳に追加

異なるクロックドメイン間のディレイテストのコストを低減することができる半導体集積回路の試験装置及びその試験方法を提供することである。 - 特許庁

(3) This scratchability testing method for floor material comprises performing a test by spraying a particulate material on the floor material by use of the testing machine according to claim 3.例文帳に追加

（３）請求項３記載の試験装置を用い、床材上に粒子状物質を散布して試験を行なう床材の傷付き性試験方法。 - 特許庁

A substituting testing gas is used as it is or is used by mixing with other gas when testing a compressor according to an ASMEPTC-10 test.例文帳に追加

代替試験ガスは、ＡＳＭＥＰＴＣ−１０試験に従って圧縮機を試験するにあたり、そのまま使用されるか、又は別のガスと混合して使用される。 - 特許庁

To provide a Web load testing method and Web load testing program for imposing a large access load on an arbitrary period in a Web load test.例文帳に追加

ウェブ負荷試験において大きなアクセス負荷を任意の時期に掛けられるようにできるウェブ負荷試験方法及びウェブ負荷試験プログラムを、提供する。 - 特許庁

To provide a communication program testing method and a communication program testing system for performing the communication load test of a program by minimizing the consumption of the resource of a server.例文帳に追加

サーバのリソースの消費を最小限にしてプログラムの通信負荷試験を行う通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a tester of a battery pack capable of testing even with reduction of the number of test terminals for testing the functions of a battery protection circuit of the battery pack.例文帳に追加

電池パックの電池保護回路の動作を検査するための検査端子の数を削減しても検査可能とした電池パックの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a vibration controller for preventing the vibration controller and the testing device from being damaged, by liberating an excessive load during a test of the vibration controller.例文帳に追加

防振器の試験中の過大な荷重を逃がし、防振器や試験装置の破損を未然に防止する防振器用の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a rubber testing machine capable of controlling the abrasion conditions and fatigue conditions, respectively independently, and to provide a rubber test method which uses the testing machine.例文帳に追加

摩耗条件と疲労条件とを各々独立して制御し得るゴム試験機、及びかかる試験機を用いたゴム試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide light-resistance testing equipment for preventing the damage of a sample while achieving the shortening of the testing time required in a light-resistance test.例文帳に追加

耐光性試験に要する試験時間の短縮を図りながら、試料の損傷を防止できる耐光性試験装置及び耐光性試験方法を提供する。 - 特許庁

The circuit testing device 100 also has a function for executing an operation test of the object circuit 102 by the generated circuit testing mechanism 110.例文帳に追加

また、回路試験装置１００は、生成した回路試験機構１１０によって、対象回路１０２の動作試験を実行する機能も備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of enhancing test efficiency and convenience by reducing the time required to preparation for testing of tested devices.例文帳に追加

被試験デバイスの試験の準備に要する時間を削減することにより、試験効率及び利便性を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a module for testing that does not damage an electrode pad of a semiconductor device and restrains test costs, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の電極パッドへの損傷を与えず、且つ、試験コストを抑える試験用モジュール及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and a method of testing a semiconductor device reliably finding a failure caused by a measurement system before testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを試験する前に測定系起因の故障を確実に発見する半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a strain control type super-high cycle fatigue testing method and a fatigue testing apparatus therefor, which can carry out a super-high cycle fatigue test for a short period of time.例文帳に追加

超高サイクル疲労試験を短時間で実施することができるひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

At this time, the primality testing unit uses a reconstruction unit to change the representation of prime candidates and the primality testing unit performs a primality test using the representation after change.例文帳に追加

このとき、再構成ユニットを使用して素数候補の表現が変換され、変換された表現形態を用いて素数性判定テストユニットが判定する。 - 特許庁

To provide a maintenance testing device for a guiding indicator panel that is provided with a maintenance test function which performs a test without undergoing the restriction of an external system and which is for quickly performing a confirmation test after a failure.例文帳に追加

外部システムの制約を受けずに試験を行え、故障後の確認試験を迅速に行うための保守試験機能を備えた案内表示盤の保守試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.例文帳に追加

半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁

To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.例文帳に追加

スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁

To provide an ultrahigh temperature thermal expansion testing device capable of simultaneously measuring a thermal expansion test by a contact method using a bar-shaped test piece and a thermal expansion test by a non-contact method.例文帳に追加

棒状試験片を用いた接触法による熱膨張試験と非接触法による熱膨張試験とを同時に計測できる超高温熱膨張試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide fire-resistance test object structure and a fire-resistance testing method capable of executing a "buckling test", in a fire resistance qualification test for a steel beam provided along a fire-resistant wall.例文帳に追加

耐火壁に沿って設けられる鉄骨梁の耐火認定試験において、「座屈試験」を実施できるような耐火試験体構造および耐火試験方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a leakage testing device capable of measuring accurately the pressure inside a test object without increasing test man-hours, and detecting leakage from the test object with extremely high accuracy.例文帳に追加

被試験体内の圧力を、試験工数を増加することなく正確に計測し、被試験体の漏れを極めて高い精度で検出することができる漏洩試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic circuit testing device suitable for testing an electronic circuit for conducting inter-substrate communication by inductive coupling, and capable of testing the electronic circuit without using a pad for a test.例文帳に追加

誘導性結合によって基板間通信を行う電子回路を試験するのに好適で、テスト用のパッドを使わなくても電子回路を試験することができる電子回路試験装置を提供すること。 - 特許庁

The cold thermal shock testing device 1 stops fans 11, 16 at the time of a change in test environment and stops air circulation inside the high-temperature testing laboratory 2 and inside the low-temperature testing laboratory 3.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え時に送風機１１，１６を停止し、高温試験室２内および低温試験室３内における空気の循環流を停止させる。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PROTECTION AGAINST DUST AND RESISTANCE TO WATER OF BODY STRUCTURE, AND POWDER FOR TEST PROTECTION AGAINST DUST USED FOR THE METHOD例文帳に追加

可動構体の防塵・防水試験方法およびその方法に用いられる防塵試験用粉体 - 特許庁

WATER-WASHABLE WATER-BASED PENETRANT FOR LIQUID PENETRANT TEST, AND LIQUID PENETRANT TESTING METHOD USING PENETRANT例文帳に追加

浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法 - 特許庁

To provide a method of testing an electric fuse capable of shortening test time, and to provide an electric fuse circuit.例文帳に追加

テスト時間を短縮することのできる、電気ヒューズのテスト方法、及び電気ヒューズ回路を提供する。 - 特許庁

To provide a high-temperature corrosion testing device that conducts a precise corrosion test and has superior durability.例文帳に追加

精度のよい腐食試験が可能でしかも耐久性に優れた高温腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

The transmitter 30 receives the test result data created by the automatic testing device 20 and transmits it.例文帳に追加

送信機３０は、自動試験装置２０が生成した試験結果データを受け取ってそれを送信する。 - 特許庁

To provide a circuit block testing method in an integrated circuit capable of carrying out a test in a short time.例文帳に追加

短時間でテストを行うことができる集積回路における回路ブロック試験方法を提供する。 - 特許庁

EXCITATION APPARATUS FOR DOWNWARD ELASTIC WAVE TEST AND DOWNWARD ELASTIC WAVE TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

下向き式弾性波試験のための加振装置及びこれを用いた下向き式弾性波試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD RELATED TO IMPREGNATION OR PENETRATION PROPERTIES OF ELECTRIC INSULATING RESIN COMPOSITION AND ITS TEST PIECE例文帳に追加

電気絶縁用樹脂組成物の含浸性または浸透性に関する試験方法およびその試験片 - 特許庁

To reduce waste when testing operations of a plurality of releases of software using two or more pieces of test data.例文帳に追加

複数のテストデータを用いてソフトウェアの複数のリリースの動作をテストする際の無駄を削減する。 - 特許庁

To provide a high- and low-temperature test device capable of efficiently performing temperature testing on an object to be temperature-tested.例文帳に追加

効率的に温度試験対象物の温度試験ができる高低温度試験装置を提供する。 - 特許庁

The performance testing data as the result from the performance test for components 22, 24, 26, 28 is recorded therein.例文帳に追加

各コンポーネント２２、２４、２６、２８にはその性能試験の結果である性能試験データが記録される。 - 特許庁

To minimally reduce an airspace around a testing apparatus in a test section in a boring hole.例文帳に追加

ボーリング孔内の試験区間における試験装置周囲の空隙をごく僅かにすることを可能とする。 - 特許庁

To provide a test beam generation device for efficiently and nondestructively testing an internal state of a concrete structure.例文帳に追加

コンクリート構造物の内部状態を効率良く非破壊検査する検査線発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a corrosion testing device that improves precision of the amount of adhered salt content and has a small dispersion of test results.例文帳に追加

付着塩分量の精度を高め試験結果のバラツキが小さい腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

To heighten test work efficiency, and to heighten versatility, in a testing device of an electronic component.例文帳に追加

電子部品の試験装置に関し、試験作業効率を高め、かつ、汎用性も高めることを目的とする。 - 特許庁