「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test method capable of detecting oil separability of lubricating grease more accurately than hitherto, and a testing device for executing the test method.例文帳に追加

潤滑グリースの油分離性を以前よりも正確に検出することができる試験方法及び当該試験方法を実施する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a CMIP protocol test automating device, capable of saving power for confirming the result of testing and for preparing the test environment of a CMIP protocol level.例文帳に追加

テスト結果確認及びＣＭＩＰプロトコルレベルのテスト環境の作成を省力化可能なＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing arrangement capable of reducing external noises as much as possible when performing duration test or acceleration test of an electronic equipment, electronic component, etc.例文帳に追加

電子機器、電子部品等の寿命試験又は加速試験を実行するに際し、外部からのノイズを出来る限り減少し得る試験装置を提供すること - 特許庁

To provide a material-testing machine with a capstan-type fixture without any damage of a rope test piece and chuck cutting due to the friction of a part for griping the test piece.例文帳に追加

試験片を把持する部分の摩擦によるロープ試験片の損傷、チャック切れのないキャプスタン型つかみ具を有する材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a tank pipe pressure test method and a tank pipe pressure testing device by a leak test, by filling water requiring only a small load from the viewpoint of cost and processes.例文帳に追加

費用面と工程面の負担が少なくて済む水張り試験によるタンク配管耐圧試験方法とタンク配管耐圧試験装置を提供すること。 - 特許庁

A high-temperature corrosion testing device 1 includes a test-piece temperature adjusting means 5 of adjusting the temperature of a test piece S to lower than the temperature of an adjusting gas G.例文帳に追加

高温腐食試験装置1は、試験片Sの温度を調整ガスGの温度よりも低いものとする試験片温度調節手段5を備えている。 - 特許庁

To provide a prober capable of conducting an accurate test without reference to variation in test temperature, and a semiconductor wafer testing method using the same.例文帳に追加

検査温度の変化にかかわらず、正確な検査を行なうことが可能なプローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a semiconductor integrated circuit which generates test pattern data and writes the test pattern data into the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体集積回路の試験装置が試験パタンデータを生成して半導体集積回路へ書き込むことを目的とする。 - 特許庁

To develop a creep testing machine capable of performing a creep test in a state of keeping actual stress constant by adjusting the tensile force acting on a test piece.例文帳に追加

試験片に作用する引張力を調整して、真応力を一定に維持しながらクリープ試験を実施できるクリープ試験機を開発すること。 - 特許庁

Further more the test device 1 is capable of testing the surface degradation promotion test while heating the sample W by heating with the heating means 5.例文帳に追加

さらに、試験装置１は、加熱手段５によって試料Ｗを加熱した状態で表面状態劣化促進試験を実施することができる。 - 特許庁

Then, the test directory tree 68 is used for selecting a test script to be used at the time of testing a newly compiled application program.例文帳に追加

そして、試験ディレクトリ・ツリー（６８）は、新しくコンパイルされたアプリケーション・プログラムを試験する際に使われる試験スクリプトを選択するために使用される。 - 特許庁

At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method.例文帳に追加

このとき、ＰＬＬカウンタコピーは、ＬＳＩをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。 - 特許庁

To provide a memory test circuit capable of testing a memory having a data width larger than that of a CPU data bus without increasing the number of test cycles.例文帳に追加

ＣＰＵのデータバスの幅よりも大きなデータ幅を有するメモリに対し、テストサイクル数を増大させずに試験をすることができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

The present invention relates to a test assembly for testing a product circuit of a product die, and a product and a test die are prepared on a semiconductor wafer.例文帳に追加

本発明は、製品ダイの製品回路をテストするためのテストアセンブリに関するもので、製品及びテストダイは別個の半導体ウェハ上に作製される。 - 特許庁

To surely perform a memory test of a serial memory device with simple constitution, in a memory test apparatus testing a semiconductor memory device.例文帳に追加

本発明は、半導体メモリデバイスを試験するメモリ試験装置に関し、シリアル・メモリデバイスのメモリ試験を簡単な構成で確実に実施できるようにする。 - 特許庁

To provide a circuit opening test system and circuit opening testing method which permit elimination of a waiting time for an opening test even when the opening tests overlap with each other.例文帳に追加

開通試験が重なっても、開通試験の待ち時間を無くすことを可能にする回線開通試験システムおよび回線開通試験方法を提供する。 - 特許庁

As a result of the collation of the acquisition conditions, the progress status of the testing work is reported to the test manager and the person in charge of the test in real time and by push type.例文帳に追加

取得条件照合の結果、試験作業の進捗状況を、試験管理者、試験担当者ヘリアルタイムに、かつプッシュ型的に通知を行う。 - 特許庁

To provide a game machine and a game test system allowing a manufacturer of the game machine or an organization for testing the game machine to easily perform a test on the change of set values.例文帳に追加

遊技機の製造者や試験機関が設定値の変更に関する試験を容易に行うことができる遊技機および遊技試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a applied force testing machine constituted so as to apply a stable test load to a test target using a support means composed of a plurality of sets of pantograph mechanisms.例文帳に追加

複数組のパンタグラフ機構から成る支持手段を用いて試験体へ安定した試験荷重を加える構成とした加力試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tire testing device which supports a load of a measured tire, constitutes a road face for a flat test, and carries out a test under a condition near an actual road face.例文帳に追加

被験タイヤの荷重を支持できると共に、平坦な試験用の路面を構成でき、実路面に近い状態で試験できるタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

As one or more test models do not depend on an environmental model, this problem will be solved by the method of testing simultaneously with the environmental model in test operation.例文帳に追加

１つないしは複数のテストモデルは環境モデルに依存せず、テスト動作時には環境モデルと同時に実行する方法によって解決される。 - 特許庁

A workstation is provided with a regression test program 62 for testing an application program developed by a workstation by using a stored test script 66.例文帳に追加

ワークステーションが、格納された試験スクリプト（６６）を利用して、ワークステーションで開発されたアプリケーション・プログラムを試験する回帰試験プログラム（６２）を備える。 - 特許庁

To restore a database of an actual system corresponding to reception data, into a database of a test system when testing the test system using reception data of the actual system.例文帳に追加

実システムの受信データを用いて試験システムを試験する場合に、受信データに対応する実システムのデータベースを試験システムのデータベースに復元する。 - 特許庁

To provide a testing system of a short message which can perform an overall verification test of short message service, and a test method of the short message.例文帳に追加

本発明は、ショートメッセージサービスの総合的な確認試験が行えるショートメッセージ試験システム及びショートメッセージの試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

(xxxi) Vibration test equipment, wind tunnels, environmental test equipment or components thereof that can be used for the development or testing of rockets or aircrafts 例文帳に追加

三十一　ロケット若しくは航空機の開発若しくは試験に用いることができる振動試験装置、風洞、環境試験装置又はこれらの部分品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

You can also run a single test file rather than testing the entire project.Select the LibClass.java tab in the Source Editor and choose Run Test File. 例文帳に追加

プロジェクト全体をテストするのではなく、1 つのテストファイルを実行することもできます。 ソースエディタで「LibClass.java」タブを選択し、「実行」「ファイルをテスト」を選択します。 - NetBeans

To separately control and test semiconductor devices under test in a semiconductor device tester for testing the semiconductor devices.例文帳に追加

複数の半導体デバイスの試験を行う半導体デバイス試験装置において、試験の対象となる半導体デバイスを個々に制御し、試験できるようにする。 - 特許庁

A solid heavy object or a liquid heavy object such as muddy water or seawater is put into the testing tank 21 as the test load, and the load test is executed.例文帳に追加

その後、試験用タンク２１内に個体の重量物あるいは泥水や海水などの液体の重量物を入れて試験荷重として荷重試験を行う。 - 特許庁

To provide a shorter test time and a reduction of a circuit area in a comparator test circuit and a semiconductor integrated circuit for testing a plurality of comparators.例文帳に追加

複数のコンパレータをテスト対象とするコンパレータテスト回路及び半導体集積回路において、テスト時間の短縮と回路面積の縮小を提供する。 - 特許庁

A test method for an electronic component for realizing the optimization of a testing period is composed of selecting earliest measurement day (Dm) by a first test day (D0).例文帳に追加

テスト期間の最適化を実現する電子部品のテスト方法は、最初のテスト日（Ｄ０）から最先の測定日（Ｄｍ）を選択することから成る。 - 特許庁

To provide a dynamic cone penetration testing and sampling machine capable of concurrently performing penetration test and sampling in the same test hole.例文帳に追加

同一試験孔にて貫入試験でもサンプリングでも同時進行的に実施することができる動的コーン貫入試験機兼サンプリング機を提供する。 - 特許庁

The undersupply of the test element is surely detected and calculated if needed by irradiating the test element to be analyzed in the testing wavelength range.例文帳に追加

検査波長領域内の分析テストエレメントの照射により、テストエレメントの過少配量が確実に検出され、必要な場合は算出することができる。 - 特許庁

To provide a test apparatus and a test method with a simple configuration for testing a device to be tested which outputs a plurality of modulation signals modulated by carrier signals with one and the same frequency.例文帳に追加

同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを簡単な構成により試験する。 - 特許庁

This IC tester is configured so as to carry out testing on test objects by mounting them on at least two or more test heads.例文帳に追加

本発明は、少なくとも２以上のテストヘッドに、被試験対象が取付けられ、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To test an integrated circuit without changing the constitution of the integrated circuit of a testing object and without providing a large capacity of test vector memory.例文帳に追加

テスト対象の集積回路の構成を変更する必要がなく、大容量のテストベクトルメモリも設けることなく、集積回路のテストを可能にする。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor integrated circuits in parallel, whose outputs in test results become a synchronized with each other, even if identical test patterns are simultaneously input in it.例文帳に追加

同じテストパタ−ンを同時に入力してもテスト結果の出力が相互に非同期となる複数の半導体集積回路を同時に並列的にテスト可能な半導体集積回路のテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method, a device and a test piece for testing rubbing strength capable of testing the rubbing strength in a bonding face end part of the test piece between a metal material and a synthetic resin material, without providing an initial crack.例文帳に追加

初期亀裂を設けることなく試験片の金属材料と合成樹脂材料との接着面端部での摺り強度を試験することができる摺り強度試験方法及び装置、試験片を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device, a semiconductor memory test device, and a semiconductor memory test method in which testing capability of a semiconductor device is maximized, and factors of rise of a device cost can be minimized, and test cost is reduced.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト能力が極大化されると共に、装置価格の上昇要因を最小化し得、テストコストも削減される半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity.例文帳に追加

従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

The invention relates to the test board locking device for testing a semiconductor chip and more particularly relates to the test board locking device capable of easily mounting/detaching a test board on/from the stiffener in the EDS test process of the semiconductor chip.例文帳に追加

本発明は半導体チップのテストのためのテストボードロッキング装置に係わり、さらに詳細には半導体チップのＥＤＳテスト工程でスチフナ上にテストボードを容易に脱付着させることができるテストボードロッキング装置に関する。 - 特許庁

Next, the room temperature test is performed, and a method of testing the semiconductor device accepts or reject the memory cell arrays 11a to 11n on the basis of the high temperature test result written on the memory cell arrays 11a to 11n and the room temperature test result of the room temperature test.例文帳に追加

次いで、常温試験を行い、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎに書き込まれた高温試験結果と、常温試験の常温試験結果とに基づいて、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの合否判定を行う。 - 特許庁

To provide a network testing apparatus which when testing whether or not a relay device for establishing an Ethernetwork mounts an Ethernet-OAM, easily carries the test and carries out the test only with the relay device which is minimally necessary for a various test.例文帳に追加

イーサネットワークを構築する中継装置がＥｔｈｅｒｎｅｔ−ＯＡＭを実装しているか否かを試験するのに際して、簡単に試験を実施することが可能であることと、各種試験に必要な最低限の中継装置のみで試験を実施することを課題とする。 - 特許庁

The test board 2 includes an interface circuit 5 which requests the test program corresponding to the semiconductor device 4 from the semiconductor testing device 3 in accordance with the semiconductor device 4 to be mounted thereon, and which instructs the semiconductor testing device 3 to read out the requested test program.例文帳に追加

試験ボード２は、搭載される半導体装置４に応じて、半導体装置４に対応する試験プログラムを半導体試験装置３に要求し、要求した試験プログラムを半導体試験装置３に読み出し指令させるインターフェース回路５を有する。 - 特許庁

To provide a pile loading test method and its loading test device capable of being tested by using a testing pile in a state to make it possible to actually use, simplifying the constitution, extending the flexibility of the test and contributing to shortening of the testing process and reduction of costs.例文帳に追加

実際に使用される状態の試験杭を用いて試験することができ、構成が簡単で、試験の自由度を広げることができ、更には試験工程の短縮及びコストの削減に寄与する杭の載荷試験方法及び載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor testing system 1 includes: a test board 2 on which a semiconductor device 4 of an object to be tested is mounted; and a semiconductor testing device 3 which outputs test signals of the semiconductor device 4 to the test board 2.例文帳に追加

本発明の一形態に係る半導体試験システム１は、試験対象の半導体装置４が搭載される試験ボード２と、試験ボード２に半導体装置４の試験信号を出力する半導体試験装置３と、を備える半導体試験システムである。 - 特許庁