「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

From a load cell and extensometer of the testing machine body, test force and an elongation amount in loading the test piece are input in the personal computer and are stored in a temporal storage area.例文帳に追加

試験機本体のロードセルと伸び計から試験片を負荷した際の試験力と伸び量がパーソナルコンピュータに入力されて一時記憶領域に保存される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a plurality of test modes, in which a set test mode is reliably determined, and to provide a method for testing the semiconductor device.例文帳に追加

複数のテストモードを有する半導体装置において、設定されたテストモードを確実に判定できる半導体装置及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner.例文帳に追加

テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。 - 特許庁

SERVER PROCESS TESTING SYSTEM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST FRAMEWORK RECORDED AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST PROGRAM RECORDED例文帳に追加

サーバプロセス試験システム、サーバプロセス試験フレームワークを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、およびサーバプロセス試験プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor integrated circuit capable of improving operability and convenience of a BOST device, and shortening a test time.例文帳に追加

ＢＯＳＴ装置の操作性、利便性を向上すると共に、試験時間を短縮することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus device capable of enhancing test efficiency by enabling free allocation of logic pins and test pins, and reducing circuit scale.例文帳に追加

論理ピンとテスタピンとの自由な割り付けを可能にすることで試験効率を高めることができ、また、回路規模を削減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A test simulate part operates a device test program 112 to be debugged under the operating system of a general computer, and constitutes a pseudo semiconductor testing device.例文帳に追加

テスタシミュレート部は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成するものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which easily inputs into a semiconductor device, test information necessary for an operation test of the semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイスである半導体装置の動作テストに必要なテスト情報を、容易に半導体装置に入力することのできる、半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive fluorescence auxiliary test apparatus with a small size and a simplified structure capable of simultaneously testing a plurality of test objects by adapting a modular structure.例文帳に追加

構造が単純、小型で、モジュラー構造を採用し、複数の試験対象物を同時に試験することができ、かつ、安価である蛍光補助試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a vehicle crash testing device capable of setting each running speed of test vehicles at mutually different speeds in a crash test of vehicle vs. vehicle.例文帳に追加

車両対車両の衝突試験において、被試験車両の各走行速度を互いに異なった速度に設定することが可能な車両衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a test device for integrated circuit devices capable of testing a plurality of integrated circuit devices with a small number of voltage sources and ammeters and reducing the test prices.例文帳に追加

少数の電圧源及び電流計で複数の集積回路装置をテストでき、テスト価格をダウンさせうる集積回路装置用のテスト装置を提供する。 - 特許庁

TutorialTutorial-- A short tutorial about PHPUnit A short introduction to the test framework PHPUnit provides a simple framework for creating a test suite to automate testing of functions and classes. 例文帳に追加

チュートリアルチュートリアル--PHPUnit 簡易チュートリアルテストフレームワークの紹介 PHPUnit は、関数やクラスを自動的にテストする"テストスイート" を作成するためのシンプルなフレームワークを提供します。 - PEAR

Although the Community Bus Yawata Route was at first established for testing purpose to conduct a real-world evaluation for the period of one year, the operation period of the route was later extended for another year from the first expiration date of the test in 2006, and again another year from the second expiration date of the test in 2007. 例文帳に追加

この経路は、当初は1年間の試験運行とされていたが、現在はその期間を1年延長し、2007年に更に1年延長している。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To realize a logic test circuit testing a logic circuit in a chip and having less over-head by constituting a test circuit in a chip without introducing a new device process named FPGA.例文帳に追加

ＦＰＧＡという新規デバイスプロセスの導入することなく、チップ内にテスト回路を構成して、チップ内のロジック回路をテストするオーバヘッドの少ないロジックテストを実現する。 - 特許庁

The software test system includes: a terminal device, in which software to be tested is installed, and a software test device that stores a test driver for testing the target software according to test data and a test procedure of the target software, wherein the test driver is transmitted to the terminal device to test the target software by combining the test data and the test procedure within the terminal device.例文帳に追加

ソフトウェアテストシステムは、テスト対象ソフトウェアがインストールされている端末装置と、前記テスト対象ソフトウェアのテストデータ、および、前記テスト対象ソフトウェアのテスト手続きに従って前記テスト対象ソフトウェアをテストするテストドライバが記憶されているソフトウェアテスト装置と、を有していて、前記テストドライバが前記端末装置に伝送され、前記端末装置において前記テストデータと前記テスト手続きとの組み合わせにより前記テスト対象ソフトウェアがテストされる。 - 特許庁

To provide a fixture for a peel strength testing machine which can surely and easily set a test piece for the peel strength testing machine for testing the peel strength of a sealed part which is formed by sealing a part of overlapped 2 pieces of film members.例文帳に追加

重ねた２枚のフィルム状部材の一部をシールしたシール部の剥離強度を試験する剥離強度試験機に対して、試験片を的確かつ容易にセットすることができる剥離強度試験機用治具を提供する。 - 特許庁

A personal computer 1 generates parallel testing programs P-1 to P-N for transmitting to parallel testing devices 2-1 to 2-N, and then transmits test start signals C-1 to C-N to the parallel testing devices 2-1 to 2-N.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ１は、並列試験プログラムＰ−１〜Ｐ−Ｎを生成して並列試験装置２−１〜２−Ｎにそれぞれ送信した後、試験開始信号Ｃ−１〜Ｃ−Ｎを並列試験装置２−１〜２−Ｎにそれぞれ送信する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and durable electronic part testing device for accurately controlling the temperature of an electronic part even when the electronic part self-heats at the time of test, and for testing the electronic part at a desired testing temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができ、しかも安価で耐久性に優れた電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing circuit, which enable the user to perform the test of ADC in a time shorter than that in conventional ones, without using a high-precision, high-resolution, and expensive analog voltage generating circuit for an ADC testing circuit.例文帳に追加

ＡＤＣの試験回路に高精度かつ高分解で高価なアナログ電圧発生回路を用いることなく、従来と比較して短時間でＡＤＣの試験を行うことができる試験方法および試験回路を提供する。 - 特許庁

To provide an optical path testing system capable of an in-service test in L-band communication of 10 Gbit/s.例文帳に追加

１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信におけるインサービス試験を可能にした光線路試験システムを提供する。 - 特許庁

To increase the efficiency of test work by eliminating the need for creating a stub program exclusively for a program to be tested or setting a testing environment.例文帳に追加

テスト対象プログラム専用のスタブプログラムの作成や、テスト環境の設定を不要とし、テスト作業を効率化する。 - 特許庁

To test a large number of LEDs in a plurality of separate times and reduce the time and labor required for testing.例文帳に追加

多数のＬＥＤを複数回に分けて試験することを可能して、試験に要する時間及び労力を低減する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PREDICTING TEST RESULT, AND FOR TESTING SEMICONDUCTOR, SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テスト結果予測装置、テスト結果予測方法、半導体テスト装置、半導体テスト方法、システム、プログラム、および記録媒体 - 特許庁

To expand an oscillatable frequency band range in a vibration testing device for improving performance of a hybrid vibration test.例文帳に追加

振動試験装置において、加振可能な周波数帯域を拡大し、ハイブリッド振動試験の性能を向上すること。 - 特許庁

To provide a high pressure cycle testing device capable of suppressing facility cost, and shortening a test time.例文帳に追加

設備コストが抑えることができ、しかも、試験時間を短くすることができる高圧サイクル試験装置を提供する。 - 特許庁

To store an output pattern of a device under test in the main memory, without increasing the band width request for the main memory by a testing apparatus.例文帳に追加

試験装置のメインメモリの要求バンド幅を増やすことなく、被試験デバイスの出力パターンをメインメモリに格納する。 - 特許庁

To provide a performance evaluation testing machine capable of simulating in a bench test misalignment occurring in a planetary gear supporting bearing.例文帳に追加

遊星歯車支持用軸受で起きるミスアライメントをベンチ試験でシミュレートできる性能評価試験機を提供する。 - 特許庁

After completion of the test, the internal liquid is discharged from a discharge port 25 to empty and recover the testing tank 21.例文帳に追加

試験終了後に、排出口２５から内部の液体を排出させて試験用タンク２１を空にして回収する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit(IC) incorporating a functional test circuit capable of testing a complicated logical process with a small circuit scale.例文帳に追加

小さな回路規模で複雑な論理処理を試験できる機能試験用の回路を内蔵したＩＣを提供する。 - 特許庁

After the test, the material testing machine calculates the distance from the detection arm 52 to the measurement position of the center between the pair of gauge marks.例文帳に追加

試験終了後、検出腕５２から一対の標点間中央の計測位置までの距離を演算する。 - 特許庁

To provide a material testing machine which enables even a beginner to distinguish a data failure in an elongation/test force characteristic.例文帳に追加

伸び−試験力特性におけるデータ異常を初心者でも判別できるようにした材料試験機の提供。 - 特許庁

To provide a force sensor testing device capable of performing a load test in 6-axis directions on a force sensor which is an object to be tested.例文帳に追加

被試験体である力センサに対して６軸方向に加重試験できる力センサ試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a material-testing machine for preventing the rapid starting operation of an electrodynamic actuator and to protect a test piece and a sensor.例文帳に追加

動電形アクチュエータの急激な起動動作を防止して試験片およびセンサを保護する材料試験機を得る。 - 特許庁

To provide a strength test device for a bag capable of easily and quantatively testing whether a bag is broken by a prescribed load.例文帳に追加

バッグが所要な荷重で破損するか否かを簡単に定量的に試験できるバッグ強度テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electrostatic testing device that increases the working efficiency of an electrostatic test and improves the inspection accuracy.例文帳に追加

静電気試験の作業効率を高め、検査精度を向上することの可能な静電気試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leak testing apparatus capable of reliably sensing a temperature change, even when an inner space of a test object is narrow.例文帳に追加

検査対象の内部空間が狭隘であっても温度変化を確実に感知できるリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

A test section 26 is provided and has a probe testing device, which tests a chip on a wafer ring.例文帳に追加

試験区２６を有し、試験区２６はプローブ試験装置を有し、プローブ試験装置はウェハーリング上のチップに試験を行なう。 - 特許庁

A dynamometer for controlling to drive a testing machine body preserves a condition file of test conditions in an EEPROM 5.例文帳に追加

試験機本体を駆動制御する動力計において、ＥＥＰＲＯＭ５に試験条件の条件ファイルを保存する。 - 特許庁

Concerning the method and a system for testing existence of a leakage in the electronic device, the electronic device is not broken in the test.例文帳に追加

電子デバイスにおける漏れの有無を試験するための方法及びシステムであり、該試験は、該電子デバイスを破壊しない。 - 特許庁

A third testing circuit 26B compares received data of the receiver 7 with the test data, and this compared result is monitored.例文帳に追加

また、第３テスト回路２６Ｂは、そのレシーバ７の受信データを上記テストデータと比較し、この比較結果がモニタされる。 - 特許庁

To provide a sealed article with which leakage test can easily be conducted, its leakage testing method and its manufacturing method.例文帳に追加

漏れ検査を容易に行うことのできる密閉品並びにその漏れ検査方法及び製造方法を提供する。 - 特許庁

In this invention, the IC tester for testing a test object having a plurality of output pins is improved.例文帳に追加

本発明は、複数の出力ピンを有する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device that can hold the data stored in a test pattern memory even when power supply is shut off.例文帳に追加

電源が遮断された際にも、テストパターンメモリのデータを保持することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The arrangement reduces the amount of test-only hardware on a chip and reduces the need to write complex testing software.例文帳に追加

この配置は、チップ上のテスト・オンリーのハードウェアの量を低減し、複雑なテスト用ソフトウェアを書く必要性を低減する。 - 特許庁

To avoid a malfunction caused by an IR drop when scan-testing a semiconductor integrated circuit, and to provide an efficient scan test.例文帳に追加

半導体集積回路をスキャンテスト時のＩＲドロップによる誤動作を回避し、効率の良いスキャンテストを実現する。 - 特許庁