「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing device of a network license system which is usable without lowering production efficiency/test efficiency.例文帳に追加

生産効率・テスト効率を低下させることなく使用できるネットワークライセンス方式の半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

To provide a substrate unit for reliability test capable of testing the reliability of a plurality of array light sources, at low cost.例文帳に追加

低コストで複数のアレイ光源の信頼性を試験することを可能とする信頼性試験用基板ユニットを提供する。 - 特許庁

To disclose a system, structure and method for performing scan-based testing of electronic circuits by generating a test clock for scan chains.例文帳に追加

スキャンチェーンのテストクロックを生成して電子回路のスキャンベースのテストを実施するためのシステム、構造、及び方法が開示される。 - 特許庁

To realize a semiconductor integrated circuit and a test system capable of easily testing in a current logic signal.例文帳に追加

容易に電流論理信号における試験が行える半導体集積回路及びテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device, whose test time can be reduced by simultaneously testing a plurality of memory devices.例文帳に追加

同時に複数個のメモリ装置をテストすることによってテスト時間を減らすことができる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

CARTRIDGE FOR MONITORING FUNCTION OF DEVICE FOR TESTING BLOOD PLATELET ACTION, METHOD FOR FUNCTION MONITORING, AND USE OF TEST FLUID例文帳に追加

血小板の働きを検査する装置の機能をモニタするためのカートリッジ、機能をモニタする方法および検査流体の使用 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit is provided with an analog/digital converter and a test circuit for testing the analog/digital converter.例文帳に追加

本発明の半導体集積回路は、アナログ／デジタル変換器と、このアナログ／デジタル変換器をテストするためのテスト回路とを備える。 - 特許庁

The IC socket, for testing an IC having many electrodes, is mounted on a test device through a socket board.例文帳に追加

ＩＣソケットは、ソケットボードを介して試験装置に設置され、多数の電極を配列したＩＣを試験するために設けられている。 - 特許庁

To provide a testing mode control circuit of a semiconductor device that can execute plural kinds of test mode in an arbitrary order.例文帳に追加

複数種類のテストモードを任意の順番で実施することができる半導体装置のテストモード制御回路を提供する。 - 特許庁

A test system for testing objects to be tested, which process correlation dual sampling waveforms, is improved to acquire the present invention.例文帳に追加

本発明は、相関二重サンプリング波形を処理する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a test circuit and method for reducing time and cost of testing a schmitt trigger buffer.例文帳に追加

シュミットトリガバッファのテストを短時間で行うことができ、テストコストを削減することができるテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TESTING ON/OF STATE OF ODT CIRCUIT DURING DATA READ MODE AND TEST METHOD OF STATE OF ODT CIRCUIT例文帳に追加

データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法 - 特許庁

Lagrange multiplier (LM) test statistics are derived for testing a linear moving average model against an asymmetric moving average model. 例文帳に追加

ラグランジュ乗数（LM）検定統計を、線形移動平均モデルを非対称移動平均モデルに対して検定するために導出する。 - コンピューター用語辞典

To provide a running test device for a vehicle for carrying out travelling testing in an environment near to the state of a practical road surface.例文帳に追加

実際の路面の状態に近い環境で走行試験を実施可能な、車両用走行試験装置を提供する。 - 特許庁

To accurately carry out a test of a man-powered steering device of an aircraft without the need for a testing device imitating an actual machine.例文帳に追加

飛行機の人力操縦装置の試験を、実機を模した試験装置を必要とせずに精度良く行えるようにする。 - 特許庁

To stably maintain test conditions and suppress deviations in the evaluation of delayed fracture in a device for testing delayed fracture.例文帳に追加

遅れ破壊試験装置において、試験条件を安定に維持して、遅れ破壊の評価のばらつきを抑制することである。 - 特許庁

To raise screening effect by IDDQ test, and further reduce a time for testing the attainment of a target commercial defective fraction.例文帳に追加

ＩＤＤＱテストによるスクリーニング効果が上がり、さらに、目標市場不良率の達成に必要なテスト時間を短縮する。 - 特許庁

In this state of the sheet, a test instrument is connected to a terminal 25 for testing to perform various kinds of tests to each semiconductor chip 50.例文帳に追加

このシートのままの状態で、テスト用端子２５にテスト装置を接続して各半導体チップ５０の各種テストを行う。 - 特許庁

To provide a mixed-signal-IC testing apparatus by which the noise test of a mixed-signal IC can be executed at a high speed with a small software amount.例文帳に追加

少ないハードウエア量でミックスドシグナルＩＣのノイズ試験を高速に実行するミックスドシグナルＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize a macro-test circuit in an LSI in which the number of external input terminals for testing is not increased even if the number of input terminals for testing provided in a macro-fashion is increased and the versatility of varying the input pattern of testing data is high.例文帳に追加

マクロに設けられるテスト入力端子の数が増加しても、テスト用の外部入力端子の数が増加することがなく、かつ、テストデータの入力パターンを可変する自由度の大きい、ＬＳＩにおけるマクロテスト回路を実現すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit-testing apparatus and a semiconductor integrated circuit-testing method for quickly and efficiently testing a semiconductor integrated circuit where analog and digital circuits are mixed, and hence for reducing costs required for the test.例文帳に追加

アナログ回路とディジタル回路とが混在する半導体集積回路を短時間で効率良く試験することができ、その結果として試験に要するコストを低減することができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To test and diagnose a storage device, more precisely to provide a testing/diagnosing method and a testing/diagnosing device for testing the storage device and performing diagnosis for specifying a repair location for the storage device which is determined as being a failure.例文帳に追加

本発明は、記憶装置の試験と診断とに関し、より詳細には記憶装置を試験し、不良と判定された記憶装置に対して修復箇所を特定する診断を行う試験・診断方法および試験・診断装置に関する。 - 特許庁

A transmission/reception message 13 described for configuring a test as a message to be transmitted and a message to be received is inserted to a test signal to be transmitted/received between a testing device 1 and a test object 7.例文帳に追加

試験装置１と試験対象７との間で送受信される試験信号のなかに、試験を構成するために記述された、送信されるメッセージと受信されるべきメッセージである送受メッセージ１３が挿入されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.例文帳に追加

半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To conduct a tolerance against identical code succession with a clear criterion and high measurement precision without using any complicated circuit in an identical code succession tolerance testing device which conducts a test with test data including a specific identical code succession tolerance test pattern.例文帳に追加

所定の同符号連続耐力テストパターンを含む試験データで試験を行う同符号連続耐力試験装置に関し、判定基準が明確であり測定精度の高い同符号連続耐力試験を複雑な回路を用いずに行う。 - 特許庁

To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.例文帳に追加

単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device for a control device capable of easily performing rearranging work of a needed test circuit in the case of performing a confirmation test for a control device housed in a control panel and appropriately performing test data collection and decision work.例文帳に追加

制御盤に収納された制御機器の確認試験を行う際に必要な試験回路の組替え作業を容易に行え、試験データの採集や判定作業を適切に行える制御機器試験装置を得ることである。 - 特許庁

This device is equipped with the test chamber 12 for testing leakage, burning and explosion of hydrogen; an air supply device 14 for supplying combustion air into the test chamber; and a flue gas treating device 16 for treating exhaust gas generated in the test chamber.例文帳に追加

水素の漏洩、燃焼、及び爆発を試験する試験室１２と、試験室に燃焼用空気を供給する給気装置１４と、試験室内で発生した排ガスを処理する排煙処理装置１６とを備える。 - 特許庁

This test pattern generator 10 for generating a test pattern for scan-testing the semiconductor integrated circuit is provided with a risky portion extracting part 110, and an ATPG 150 of a pattern generation executing part for executing the generation of the test pattern.例文帳に追加

半導体集積回路をスキャンテストするためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置１００は、危険箇所抽出部１１０と、テストパターンの生成を実行するパターン生成実行部であるＡＴＰＧ１５０を備える。 - 特許庁

The testing circuit is arranged so that the data for selecting the test mode is fed from a tester 35 to a BISI control circuit 50 provided in a BIST circuit 40, and from the control circuit 50, the result of selecting the test mode is emitted synchronously with the test clock tck.例文帳に追加

テスタ３５から、テストモード選択用のデータをＢＩＳＴ回路４０内のＢＩＳＩ制御回路５０に入力すれば、この制御回路５０から、テストクロックｔｃｋに同期してテストモード選択結果が出力される。 - 特許庁

At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.例文帳に追加

被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus whose timing of application of a test pattern waveform common to each DUT by a test waveform application circuit is not different from those of individual test pattern waveforms, and whose circuit scale has been reduced.例文帳に追加

試験波形印加回路が、各々のＤＵＴへ共通な試験パターン波形を印加する場合と個別の試験パターン波形を印加する場合とで印加タイミングのずれがなく、回路規模を縮小した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental testing apparatus capable of lowering a frost formation onto an evaporator of a cooler, even when conducting a room temperature aeration test to be conducted by introducing the outside air into a test chamber.例文帳に追加

試験室に外気を導入することによって常温曝し試験を行う場合でも、冷却器の蒸発器への着霜を低減することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can perform a test of many device en bloc even in a test device testing a semiconductor integrated device in a state in which input/output pins are short-circuited.例文帳に追加

入出力ピンを短絡した状態で半導体集積回路装置をテストするテスト装置においても、多数個の一括テストが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of conducting a smooth material test even when a pump becomes low in rotational frequency so as to conduct the material test in a low-speed area.例文帳に追加

低速度領域で材料試験を行うためにポンプの回転数が低速となった場合にも、スムースな材料試験を実行することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a pseudo-spatial transmission testing system having a small size that can simply simulate a field for a transmission test, is suitable for an indoor test, can easily shield the entire field, and bring leakage of radio waves to a low level.例文帳に追加

伝送試験のフィールドが簡易にシミュレートでき、小型で屋内試験に適し、全体のシールドが容易で、電波漏洩を低レベルする疑似空間伝送試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental test method capable of reproducing an approximately same phenomenon as frost formation generated in a natural world, and to provide an environmental testing device capable of forming frost on a test object.例文帳に追加

自然界で生じる着霜と略同一の現象を再現できる環境試験方法、及び被試験物に着霜させることができる環境試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a rotational impact test method and a rotational impact testing device capable of simulating accurately temporal transition of an acceleration applied to a test body in an environment used actually.例文帳に追加

実使用環境において被試験体に印加される加速度の時間推移を精度良く模擬可能な回転衝撃試験方法及び回転衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

A measuring tube 30 holding a test filter 50 is connected to an aperture 25 formed in a duct 10 that introduces gas for testing so that the filter plane of the test filter 50 is vertically set.例文帳に追加

試験用気体を導入するダクト１０に形設した開口部２５に、テストフィルター５０を保持する測定管３０を、テストフィルター５０のフィルター面が垂直になるように接続する。 - 特許庁

To provide a simulated application test apparatus for a computer system that facilitates changes in testing conditions, and dispenses with the new programming of test programs, when the hardware of a computer system is changed.例文帳に追加

テスト条件の変更を容易とし、かつ計算機システムのハードウェアが変更となった場合にテストプログラムの新規製作を不要とする計算機システムの模擬アプリケーション試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a high temperature high pressure reaction testing equipment in which a test can be efficiently carried out even when a high temperature high pressure reaction test is carried out under various kinds of conditions relating to the reaction time or the like.例文帳に追加

反応時間等の各種条件の高温高圧反応試験を行う場合であっても、効率よく実施することができる高温高圧反応試験装置を提供する。 - 特許庁

The standard testing piece 12 is constituted of a first to fourth standard test pieces 12a to 12d and the strengths of the test pieces 12a and 12d are set to known strengths.例文帳に追加

標準試験体１２は、第１〜第４標準試験体１２ａ〜１２ｄから構成され、標準試験体１２ａ，１２ｄの強度は、それぞれが既知の強度に設定されている。 - 特許庁

Then the access server 6 reads and analyzes the fault information from the fault management database 8 and instructs a test detection circuit 7 for testing a subscriber line to perform a test according to the result of analysis.例文帳に追加

次に、故障情報を故障管理データベース８から読み出して分析し、分析結果に従って、加入者回線の試験を行う試験装置７へ試験実施の指示を行う。 - 特許庁

Thereafter, a power supply voltage and a first test signal are supplied from a testing apparatus body through the probe pin to the semiconductor chip A under conditions determined by a specification and a sorting test is implemented.例文帳に追加

その後、試験装置本体からプローブピンを介して半導体チップＡに仕様で定められた条件で電源電圧と第１のテスト信号とを供給し、選別試験を実施する。 - 特許庁

To prevent ground water flowing out of a test drilled hole from flowing out to an outside of a hole, while elevating a device support member for inserting a testing device into the test drilled hole.例文帳に追加

試験装置を試錘孔内に挿入するための装置支持部材を昇降させながら尚且つ試錐孔から湧き出る地下水の孔外への流出を防止することを可能とする。 - 特許庁