「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a bearing testing device capable of reproducing white peeling of a test bearing with high accuracy and in a short time, and reproducing white peeling of any of a rolling element and rolling surface of the test bearing.例文帳に追加

試験軸受の白色はく離再現を短時間で精度良く行えるとともに、試験軸受の転動体、転動面のいずれの白色はく離をも再現できる軸受試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a biaxial tensile testing machine for enabling a tensile test in four directions, along two orthogonal axes by a drive means, such as one hydraulic cylinder, and preventing a test piece from being displaced.例文帳に追加

１台の油圧シリンダ等の駆動手段によって直交する二軸に沿った四方向への引張試験が可能となり、試験片の位置が変動することがない二軸引張試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method which are capable of reliably testing heat resistance, peel strength, or the like of an adhesive sheet adhered to a concave surface in a stretched state.例文帳に追加

粘着性シートが凹曲面に伸長状態で接着された状態における粘着性シートの耐熱性や剥がれ強さ等を確実に試験できる試験装置と試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the fracture toughness of a thin-walled pipe material which can easily perform a three-point bending test by fixing a holding member to the test piece sampled from the thin-walled pipe material.例文帳に追加

薄肉管材から採取した試験片に対し、保持部材を固定することにより、容易に３点曲げ試験を行うことができる薄肉管材の破壊靭性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an operational test apparatus for a USB interface capable of testing an operation of the USB interface solely by an electric device, without using a specific additional test apparatus.例文帳に追加

ＵＳＢインターフェースの動作試験を実施するに際して、特別な付加的試験装置を用いることなく、当該電子機器単独で実施することが可能なＵＳＢインターフェースの動作試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine for reducing power consumption by a servo amplifier or a servo motor in a non-operation time when a material test or an operation relating to the material test is not executed.例文帳に追加

材料試験または材料試験に関連する操作が実行されていない非稼働時に、サーボアンプまたはサーボモータによる消費電力を低減することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁

A crack is produced in the test piece 2 by an increase in the load and the thin film pattern is cut but the cutting of the thin film pattern is detected by the material testing machine 1 and the displacement and the test load at this point of time are measured.例文帳に追加

荷重の増加によって試験片２にクラックが入り薄膜パターンが切断されるが、前記材料試験装置１により切断が検知され、この時点の変位、試験荷重が測定される。 - 特許庁

The testing apparatus is equipped with a synchronization control means 2 which synchronizes the output timings of respective test results in matching with the slowest timing, in the test result output timings of the plurality of semiconductor integrated circuits.例文帳に追加

複数の半導体集積回路の各テスト結果の出力タイミングの内の最も遅いタイミングに合わせて、各テスト結果の出力タイミングを同期させる同期化制御手段２を備える。 - 特許庁

By testing the contact condition of the probes 7A and 7B with respect to the semiconductor wafer 2 before conducting a test, it is prevented that the probes 7A and 7B might be damaged by the test performed under imperfect contact condition thereof.例文帳に追加

半導体ウエハ２に対するプローブ７Ａ、７Ｂの接触状態を試験前に検査することにより、不完全な接触状態での試験によるプローブ７Ａ、７Ｂの破損を未然に防止する。 - 特許庁

To enable a test cost of a device under test to be suppressed without depending on a probing operation using an oscilloscope, a sampling scope, and the like, and to enable the production cost of a semiconductor testing apparatus to be suppressed.例文帳に追加

オシロスコープやサンプリングスコープ等によるプロービングに依存することなく、被試験体の試験コストを抑制できるようにすると共に、半導体試験装置の製造コストを抑制できるようにする。 - 特許庁

This, in turn, allows manufacturing tolerances and alignment tolerances to be relaxed, test times and test complexity to be reduced, and overall manufacturing and testing costs to be reduced.例文帳に追加

このことは、今度は、製造公差や位置合わせ公差を緩和することができ、試験時間や試験の複雑性を減らすことができ、全体的な製造及び試験に関する費用を低減させることができる。 - 特許庁

To provide a pressure regulating device capable of loading stably a liquid pressure, when executing a pressure test of a test body, and to provide a pressure testing device including the pressure regulating device.例文帳に追加

試験体の耐圧試験を実施する場合において、液体の圧力を安定して負荷させることが可能な圧力調整装置およびこれを備える耐圧試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a load test apparatus and a method of load testing for safely removing a load after reaching the maximum load, without destroying a test specimen, even with respect to specimen having a flexible structure.例文帳に追加

柔な構造をした供試体に対しても、最大荷重に達した後の除荷が供試体を破壊することなく安全に行える荷重負荷装置および荷重負荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a constitution in which testing pads are separated from an internal circuit after an all lighting test is conducted for the substrate that constitutes a flat panel display of a liquid crystal panel or the like having dedicated pads for the test.例文帳に追加

全点灯試験用の専用パッドを備えた液晶パネル等のフラットパネルディスプレイを構成する基板において、全点灯試験後に試験用パッドが内部回路から切り離される構成とすること。 - 特許庁

To provide an inexpensive corrosion test method capable of reproducing a corrosion state in an actual environment, and efficiently performing a corrosion test by accelerating corrosion, and dispensing with special testing devices.例文帳に追加

実環境における腐食状態を再現でき、腐食を加速させて効率的に腐食試験を行うことができ、しかも特殊な試験装置を必要としない安価な腐食試験方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate production of a test piece so as to provide a friction testing machine and a method thereof for carrying out measurement with good reproducibility by using the test piece requiring no V-shaped notching process.例文帳に追加

Ｖ字状切れ込み加工を必要としない試験片を利用することができ、これにより試験片の作製が容易で、再現性のよい計測が可能な摩擦試験機および方法を提供する。 - 特許庁

To establish a test method eliminating the effect of reduction in conducting a heating test for baked and densified stability evaluation of gadolinia-added uranium dioxide pellets and prevent the increase of testing cost.例文帳に追加

ガドリニア添加二酸化ウランペレットの焼きしまり安定性評価のための加熱試験を行う場合に、還元による影響を排除する試験方法を確立すると共に、試験コストの増加を防止すること。 - 特許庁

To reduce man-hours concerning a circuit for testing a gate array provided in a one-chip ASIC microcomputer and automatically convert test vectors for the gate array to test vectors for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

ゲート・アレイ部を備えたワンチップＡＳＩＣマイコンにおいて、ゲート・アレイ部の試験のための回路についての工数を削減し、ゲート・アレイ部のテストベクタを半導体集積回路装置のテストベクタに自動で変換する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus, capable of making an input test pattern associate with an abnormality of voltage in detecting the abnormality of the voltage, when the test pattern is input into a device.例文帳に追加

テストパターンをデバイスに入力した時の電圧の異常を検出する際に、入力テストパターンと電圧の異常との対応付けをすることができる半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested.例文帳に追加

被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁

A delay characteristic by edge search is detected with no time for stabilization of the delay characteristic in order to stabilize a test, and is stored in a memory, in a testing-objective chip for conducting the function test at first.例文帳に追加

最初にファンクション試験を行なう試験対象チップで、試験を安定させるためにエッジサーチによる遅延特性を、遅延特性が安定するのにかかる時間をおかずに検出してメモリに保持する。 - 特許庁

To provide an adapter for continuity test of a line which can shorten the time for the continuity test and is easy to use since pins for testing can easily be inserted into conductor insertion holes in a short time.例文帳に追加

複数の導線挿入孔に試験用のピンを容易にかつ短時間に挿入できて、導通試験の時間短縮を図れる上に、使い勝手に優れた回線の導通試験用アダプターを提供する。 - 特許庁

To provide a lamp for testing weather and light resistant property capable of reducing estrangement between deterioration due to sunlight including energy of a visible area with 500 nm as a center and a result of the weather and light resistant property test, at the weather and light resistant property test of a sample.例文帳に追加

試料の耐候光性試験において５００ｎｍを中心とした可視域のエネルギーを含む太陽光による劣化と耐候光性試験の結果との乖離を低減することができること。 - 特許庁

To provide a truck testing device capable of keeping truck levelness even if braking force or external force or disturbance input acts on a test truck, and ensuring the straight-ahead stability of the test truck.例文帳に追加

試験台車に制動力や外力や外乱入力が作用しても台車水平度を保持し、試験台車の直進安定性を確保することができる台車試験装置を提供すること。 - 特許庁

The test kit comprises a liquid impermeable support 12. a test part 13 containing a reagent for testing the humor components, and a treating part 14 which contains a viscosity reducing reagent and into which the humor components permeate.例文帳に追加

液体不浸透性の支持体１２と、体液成分検査用試薬を含有する検査部１３と、粘性低減試薬を含有し体液成分が浸透する処理部１４とを有する検査具とする。 - 特許庁

To provide a method for testing many word lines of a semiconductor memory assembly in a multiple WL wafer test in which a multiple wafer test can be performed quickly without needing much cost.例文帳に追加

迅速に、そして多大の費用を伴わずにマルチプルＷＬウエハテストを実施できるような、マルチプルＷＬウエハテストにおける半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method capable of shortening furthermore a time required for a burn-in test, and hereby reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a subscriber circuit testing system which can reduce labor- hours and manhours when a test is performed to complaint call and enables quick acquisition and unified control of test results.例文帳に追加

苦情呼に対して試験を行う際の手間や工数を低減することができ、試験結果の迅速な入手や統一的な管理を行うことができる加入者回線試験システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a test method which improves a test method performed in an atmosphere in which siloxane gas gets mixed and enables a stable control even with respect to humidity, and testing equipment.例文帳に追加

シロキサンガスが混入された雰囲気中で行う試験方法を改良し、湿度についても安定して制御することができる試験方法及び試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To prevent a damage of a measuring probe needle when performing a large-numbered parallel test, and to heighten inspection efficiency, concerning a probe card, a semiconductor integrated circuit testing device and a semiconductor integrated circuit test method.例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置及び半導体集積回路試験方法に関し、多数個並列テストを行う際の測定プローブ針の損傷を防止するとともに、検査効率を高める。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test module and its test method capable of testing a semiconductor device in a short time, while keeping reliability of the semiconductor device, without increasing the number of testers.例文帳に追加

テスタの台数を増加させることなくかつ半導体装置の信頼性を維持しつつ、短時間に半導体装置を試験する半導体装置試験モジュールおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁

The testing machine 300 for pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 to test the durability of the pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4, can test the durability of a plurality of pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 at the same time.例文帳に追加

ピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験を実行可能なピックアップ装置１，２，３，４の試験機３００であって、複数のピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験が同時に実行可能とされた。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of detecting an open failure without increasing a test cost, a semiconductor tester for testing this semiconductor device, and a semiconductor test system using this semiconductor tester.例文帳に追加

テストコストを増大させることなく、オープン不良を検出することができる半導体装置、これを試験するための半導体テスタおよびこの半導体テスタを用いた半導体テストシステムを実現する。 - 特許庁

The device for testing the semiconductor integrated circuit includes a pattern data generating means which generates test pattern data for testing a write operation in a memory of the semiconductor integrated circuit; and a write means which writes the test pattern data into a storage area of the semiconductor integrated circuit for storing the test pattern data.例文帳に追加

上記課題は、半導体集積回路のメモリへの書き込みを試験するための試験パタンデータを生成するパタンデータ生成手段と、前記試験パタンデータを前記半導体集積回路の該試験パタンデータを格納する記憶領域へ書き込む書き込み手段と、を有することを特徴とする半導体集積回路の試験装置により達成される。 - 特許庁

To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test.例文帳に追加

打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。 - 特許庁

This parallel bit test method of the semiconductor memory device comprises a step of writing data in each of many memory cells in the semiconductor memory device, a step of reading the data from each of many memory cells, a step of testing the data from each of many memory cells for a first test mode, and a step of testing the data from each of many memory cells for a second test mode.例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法は、半導体メモリ装置の多数のメモリセルのそれぞれにデータを書き込む段階と、多数のメモリセルのそれぞれからデータを読み出す段階と、第１のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、第２のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、を含む。 - 特許庁

While a constant voltage (signal level) A_0 is being inputted from a signal generation section 3 to a test target 2, a bias voltage B applied to the test target 2 is adjusted and an output voltage (signal level) D to be tested is controlled to a specific target range before testing the test target 2 by the testing apparatus 11.例文帳に追加

信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧（信号レベル）Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.例文帳に追加

半導体デバイス２０の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード１０をソケット５０に装着するステップと、ドライバ７６により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード１０に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁

To provide a scratch strength testing device and a method thereof for carrying out a scratch test while continuously varying a load at a high speed.例文帳に追加

高速で連続的に荷重を変化させながらスクラッチ試験を行うことが可能なスクラッチ強度試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can reduce a testing cost by carrying out a current leak test while constricting the number of input/output pads.例文帳に追加

入出力パッドの数を圧縮しながら、電流リーク試験を行って、試験コストの低減を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To test a medium reading device in its horizontal or upright posture on a testing stage of simple structure.例文帳に追加

媒体読み取り装置の試験用ステージに関し、簡単な構造で水平、起立姿勢での装置の試験ができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a POS probe unit which can severely test a communication state at each sampling period and to provide a testing system of the same.例文帳に追加

サンプリング期間毎の通信状況を厳密に試験することができるＰＯＳプローブ装置及び当該装置の試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a press-fit pin connection testing method, capable of detecting all the press-fit pin press-fitting defective modes using only electrical test.例文帳に追加

電気検査のみにより全てのプレスフィットピン圧入不良モードを検出可能なプレスフィットピン接続検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a vibration characteristics testing device and a vibration characteristic test method suitable for investigating a characteristic of vibration damping by an elastic member.例文帳に追加

弾性部材による振動減衰特性を調べるのに好適な振動特性試験装置および振動特性試験方法を提供する - 特許庁