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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test testingに関連した英語例文

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test testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2970



例文

To provide a novel technique capable of testing the slipperiness of a container under a test condition close to holding by fingers and utilizing the data of the test as highly reliable data.例文帳に追加

人指による把持に近い試験条件で容器の滑り性を試験することができ、かつ、その試験のデータを信頼性の高いデータとして利用すること可能な新規な技術を提案する。 - 特許庁

To significantly shorten the testing time, without having to perform metering (carrying) test from a metering initial value (all zero) up to overflow, in an electronic watthour meter that performs overflow test.例文帳に追加

オーバーフロー試験を行う電子式電力量計において、計量初期値(オール0)からオーバーフローまでの計量(桁上げ)試験を行うことなく、試験時間を大幅に短縮する。 - 特許庁

To perform a simple and efficient test by facilitating formation of a test vector, when testing the operation state of an electronic control system having a plurality of electronic control units.例文帳に追加

複数の電子制御装置を有する電子制御システムの動作状態を試験するにあたり、テストベクタの作成を容易なものとして、簡便且つ効率的に試験を行えるようにする。 - 特許庁

A semiconductor wafer, which is to be tested comprises test wirings 4 and 5 so formed on dicing lines 3 as to correspond to the lines of chips 2, and testing terminals 6 and 7 connected to the test wirings 4 and 5, respectively.例文帳に追加

被試験半導体ウェハは、各チップ2の列に対応してダイシングライン3に形成されたテスト配線4,5と、それぞれテスト配線4,5に接続されたテスト端子6,7とを備える。 - 特許庁

例文

At the time of testing, a signal directing the test is inputted from the test signal input pin 205, and an edge detection circuit 211 detects the signal to latch signals inputted from respective input pins 102.例文帳に追加

テスト時にはテスト信号入力ピン205からテストを指示する信号が入力し、エッジ検出回路211がこれを検出して各入力ピン102から得られた信号をラッチする。 - 特許庁


例文

To provide an arrangement for testing a power converter that performs a noise test equivalent to a combined noise test without the power converter of a finished product in the power converter.例文帳に追加

組み合わせノイズ試験と同等のノイズ試験を、電力変換装置における最終製品の電力変換器を用いずに行なう電力変換装置の試験装置を提供することである。 - 特許庁

To find bonding strength of a semiconductor bump electrode by replacing the attachment for fixing a sample of a bonding strength testing device, which makes full test of a wire bonding and the share test of the wire bonding.例文帳に追加

半導体バンプ電極のボンディング強度を、ワイヤボンディングのプルテスト及びシェアテストを行うボンディング強度試験装置の試料固定用アタッチメントを付け替えることによって可能にする。 - 特許庁

To provide a digital line circuit testing system for a 2W multifunctional telephone set which makes a test for a digital line circuit for a 2W multifunctional telephone set to be unmanned and automated and shortens test time.例文帳に追加

2W多機能電話機用デジタルライン回路の試験の無人化、自動化、試験時間の短縮化を期す2W多機能電話機用デジタルライン回路試験方式を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing instrument with an upper plate having matched impedance circuit trace to transmit a test signal to a tester in a test at a position with high frequency in a printed board.例文帳に追加

プリント回路基板にある高周波数の場所におけるテストで、テスタにテスト信号を伝送するため、整合インピーダンス回路トレースを有する上端プレートを含むテスト用器具である。 - 特許庁

例文

SPECIMEN-TESTING SYSTEM AND METHOD, COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM RECORDING SPECIMEN TEST PROCESSING PROGRAM BY COMPUTER, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER CONDUCT SPECIMEN TEST PROCESSING例文帳に追加

検体検査システム、検体検査方法、コンピュータによる検体検査処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、コンピュータに検体検査処理を実行させるためのプログラム - 特許庁

例文

To provide a test bottle which can be easily detected while the function of testing a bottle detecting machine is performed, and to provide a labelling apparatus which can surely and easily detect such the test bottle.例文帳に追加

瓶検査機のテストという機能を果たしつつ、容易に検出可能なテスト瓶、及び、そのようなテスト瓶を確実にかつ容易に検出するラベル貼付装置を提供する。 - 特許庁

To provide a component testing device capable of improving throughput on a test of an electronic component by shortening a time followed by exchange of the electronic component into a test socket.例文帳に追加

電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a highly reliable test by enabling to test at the most suitable operating ratio to a circuit margin of an circuit to be tested with an excellent efficiency against an electric power source noise in a short testing period of time.例文帳に追加

電源ノイズに対応して効率良く、短い試験時間で、被検査回路の回路マージンに最適な動作率で試験を行うことを可能とし、信頼性の高い試験を実現する。 - 特許庁

To prevent deviation of a wind test model from a wind tunnel measuring part, to mitigate restriction of a test range, and to reduce a transient phenomenon at the free flight shifting time, concerning a dynamic wind runnel testing device and a method.例文帳に追加

動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁

To provide a test pallet tool for game machine test system which reduces work load when testing a game machine, improves work efficiency, is high in versatility, and reduces the cost of system.例文帳に追加

遊技機器を検査する作業負荷を軽減し、作業能率を向上させ、汎用性が高く、設備コストを安価にする、遊技機器検査設備の検査用パレット治具を提供する。 - 特許庁

To provide an alternating current load device, capable of conducting load test of an inverter, by inputting pulse width alternating voltage width controlled alternating voltage, using a comparatively simple constitution, regarding the alternating loading device for testing inverter load test.例文帳に追加

インバータの負荷試験を行う交流負荷装置に関し、比較的簡単な構成により、インバータのパルス幅制御出力交流電圧を入力して、インバータの負荷試験を行う。 - 特許庁

To provide a remote testing system for a plant controller which can be easily realized without the need of manual aid on the spot for a test and without the need of new wiring or the like for the test.例文帳に追加

試験のための現地での人手を不要とし、かつ試験のための新たな配線等が不要で、容易に実現できるプラント制御装置の遠隔試験方式を提供する。 - 特許庁

A quality judging specification value for an avalanche proof level test carried out as substitution for the PBSOA proof level test for securing a PBSOA proof level is determined based on a sample of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

試験対象半導体素子のサンプルから、RBSOA耐量を保証するRBSOA耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。 - 特許庁

To provide an adhesion testing machine by which an adhesion test to test an adhesive strength between samples in a specimen pasted to be sheetlike or tapelike is made simply and precisely.例文帳に追加

シート状またはテープ状に貼り合わされた供試体における試料間の接着強度を試験する剥離試験を、簡易に、しかも正確に試験することができる剥離試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit, for example a BIST(Built-In Self Test) circuit, capable of testing any circuit to be tested (for example, a high speed semiconductor memory) easily with the actually working frequency.例文帳に追加

テスト回路(例えば、BIST(Built−In Self Test)回路)において、被テスト回路(例えば、高速の半導体メモリ)を実動作周波数で容易にテストする。 - 特許庁

When a test of a step S1 is started, a transmission protocol testing device in a step S2 transmits a control command for setting a test target device in an initial state and receives an executed response.例文帳に追加

ステップS1のテストを開始すると、ステップS2の伝送プロトコルテスト装置は、テスト対象機器を初期状態に設定する制御コマンドを送信し、実行済のレスポンスを受け取る。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of detecting generation of a glitch noise, using a scanning test circuit, irrespective of a timing window of a flip-flop in the scanning test circuit, and a testing method therefor.例文帳に追加

スキャン試験回路のフリップフロップのタイミングウインドウに関係なく、スキャン試験回路を用いてグリッチノイズの発生を検出する半導体集積回路及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time.例文帳に追加

試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the number of test contact devices, reduce an equipment cost by commonalizing components and measuring circuits of the testing apparatus, and improve AC test conditions (waveform).例文帳に追加

試験コンタクト装置の台数を削減でき、試験機の構成部品や測定回路の共通化を可能にして設備コストの低減し、かつAC試験条件(波形)の改善が可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.例文帳に追加

仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁

The tension and torsion testing machine of a structure in which the universal coupling is connected to the upper part and the lower part of a test piece is constituted, and a tension and torsion test of high accuracy can be performed without generating the bending moment.例文帳に追加

また、この自在継手を試験片の上下に接続する構造の引張り・ねじり試験機を構成し、曲げモーメントのない高精度の引張り・ねじり試験を可能とした。 - 特許庁

To provide a material testing machine including an analog indicator capable of surely moving a pointer to a position indicating a maximal value of a test force even when the test force is abruptly changed.例文帳に追加

試験力が急激に変化したときでも、指針を確実に試験力の最大値を示す位置まで移動させることが可能なアナログ指示計を備える材料試験機を提供する。 - 特許庁

A positioning means is provided to position the test head 3 with the testing part, while aside from the positioning means, a rotary means is provided to turn the test head 3 to a position that allows the loading or unloading thereof.例文帳に追加

テストヘッド3をテスト部に対して位置決めする位置決め手段を備えると共に、該位置決め手段とは別に、テストヘッド3を着脱可能な位置に回動する回動手段を備える。 - 特許庁

To provide a test pallet tool for game machine test system, which reduces work load when testing a game machine, improves work efficiency, is high in versatility, and reduces the cost of system.例文帳に追加

遊技機器を検査する作業負荷を軽減し、作業能率を向上させ、汎用性が高く、設備コストを安価にする、遊技機器検査設備の検査用パレット治具を提供する。 - 特許庁

As a result, since a test piece 60 is prevented from deforming, in a direction which is inclined with respect to the vertical direction and micro-vibrates upon the collision, testing accuracy of the test piece 60 is secured.例文帳に追加

これにより、試験片60が鉛直方向に対して斜めの方向に変形されることおよび衝突時の微振動を抑制できるので、試験片60の試験精度を確保できる。 - 特許庁

To provide a test body reaction force estimating device capable of estimating reaction force of a testing body, based on known data such as vibration table oscillation force, without measuring directly a reaction force value of the test body.例文帳に追加

試験体の反力値を直接計測しなくても、振動台加振力等の既知データから試験体の反力を推定することが可能な試験体反力推定装置を提供する。 - 特許庁

In the test pattern generation supporting device 310, if the acquisition part 311 acquires the connection information 301 of testing circuit 200 and a path exempt out of test, the detection part 312 detects paths between all FFs constituting the test objective circuit 200, and forms the extra test objective path list 400.例文帳に追加

テストパターン生成支援装置310では、取得部311がテスト対象回路200の接続情報301およびテスト対象外パスが取得された場合、検出部312はテスト対象回路200を構成する全FF間のパスを検出し、テスト対象外パスリスト400を作成する。 - 特許庁

An information processing apparatus of a trustee of the vehicle test and an information terminal of the truster is made connectable with a network, and a schedule table and a capability map concerning each test route, each test vehicle, and each testing stuff for performing the vehicle test are registered in the information processing apparatus.例文帳に追加

車両試験受託者の情報処理装置と、委託者の情報端末装置とをネットワークにより接続可能とし、車両試験を行うための各試験路、各試験車両および各試験員に関する能力マップ及びスケジュール表を情報処理装置に登録する。 - 特許庁

To provide a sample test system and a sample test method that can simply and reliably batch-change the setting conditions of a plurality of test apparatuses to the same setting conditions, in facilities, such as a testing center having a plurality of test apparatuses of the same type.例文帳に追加

検査センターなどの同一種類の検査装置を複数台有する施設において、複数の検査装置の設定条件を労することなく確実に、かつ一括してその設定条件を同一設定条件に変更できる検体検査システムおよび検体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of side slip or the like of a vehicle and its testing device having a simple formation and a small size, capable of improving test precision by releasing before the test an initial stress of wheels loaded on a test roller, being manufactured inexpensively, and improving its service life.例文帳に追加

テスト用ローラに乗り込んだ車輪の初期応力を試験前に解放し、試験精度の向上を図るとともに、構成が簡単で小形かつ安価に製作でき、その寿命の向上を図れるようにした、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁

In this counter test circuit for testing counters 3, 4 constituted by connecting two four-bit counters longitudinally, a load pulse generating part 2 generates a load pulse of the counters 3, 4 from a test mode signal for showing a test mode of the counters and a counter load pulse test input signal inputted from an external terminal.例文帳に追加

4ビットのカウンタを2個縦列接続して構成したカウンタ3,4をテストするカウンタテスト回路で、ロードパルス生成部2は、カウンタのテストモードを示すテストモード信号と外部端子により入力されるカウンタロードパルステスト入力信号とからカウンタ3,4のロードパルスを生成する。 - 特許庁

The composite deterioration testing apparatus 1 for performing the deterioration test of a test target is equipped with an expansion and contraction control unit 3 for imparting expansion and contraction force to the test target 2 and a weather factor control unit for imparting the deterioration factor caused by the weather to the test target 2.例文帳に追加

試験対象物の劣化試験を行う複合劣化試験装置において、試験対象物に伸縮力を付与する伸縮制御装置と、試験対象物に天候に起因する劣化因子を付与する天候因子制御装置と、を備えている、複合劣化試験装置 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the event pulse generating part is provided with an address generating means for generating an event pulse to make a plurality of prescribed test items executable continuously, and the storage memory, in a test execution mode where a test for a DUT is executed in order along the plurality of divided test items.例文帳に追加

DUTの試験実施が複数の試験項目に分割して順次実施される試験実施形態のとき、イベントパルス発生部は所定複数の試験項目が連続的に実施可能とするイベントパルス発生用のアドレス発生手段と格納メモリとを備える、半導体試験装置。 - 特許庁

To provide a test method for testing a servo area of a magnetic recording medium, which tests a servo area of a magnetic recording medium with an electric test device and, in particular, is suitable to test a servo area of a magnetic recording medium formed by stamping from a master disk, and a test device therefor.例文帳に追加

磁気記録媒体のサーボエリアの適否を電気的な検査装置において検査することが可能で、特に、原盤からスタンプされて形成された磁気記録媒体のサーボエリアの検査に適した磁気記録媒体のサーボエリアの検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

This IEEE1394 serial bus tester that checks the operation of various communication facilities based on a 1394 communication protocol in equipment connected to the IEEE1394 serial bus is made to be switched between a service mode for preparing and testing a test command and a test sequence for test object equipment and a test mode for performing tests for the test object equipment according to the generated test command and test sequence.例文帳に追加

IEEE1394シリアルバスに接続される機器の1394通信プロトコルに基づく各種通信機能の動作をチェックするIEEE1394シリアルバステスタであって、検査対象機器に対する検査コマンドおよび検査シーケンスの作成とテストを行う保守モードと、作成された検査コマンドおよび検査シーケンスに従って検査対象機器に対する検査を実行する検査モードに切り換えられるようにしたもの。 - 特許庁

To make a transition to a test mode easily, quickly and reliably by previously forming two electrodes for testing, which are short-circuited to each other in the test mode of a wiring board, and contriving the configuration of the two electrodes for testing.例文帳に追加

配線基板のテストモードで互いに短絡される2つのテスト用電極をあらかじめ基板本体に形成しておくと共に、2つのテスト用電極の構成に工夫を講じることによって、テストモードへの移行を容易かつ迅速に、しかも確実に行う。 - 特許庁

The shutoff valve testing device for testing each normally opened or normally closed shutoff valve arranged in a pipeline executes an operation test by sending a valve control signal of a degree not fully closing or fully opening the valve to the valve at the time of receiving a test command.例文帳に追加

パイプラインに設置される常時開または常時閉の遮断弁をテストする遮断弁テスト装置において、テスト指令を受けて全閉または全開にならない程度の弁制御信号を前記遮断弁に送出して動作テストを行う遮断弁テスト装置。 - 特許庁

A testing method includes the steps of: creating design specifications 11 and 12 indicating a plurality of individual specifications and a plurality of common specifications distinguishably; causing a computer to execute the operation of generating test specifications and test data from the design specifications 11 and 12; and testing a program created according to the design specifications 11 and 12 on the basis of the test specifications and test data.例文帳に追加

複数の個別仕様と複数の共通仕様とを判別可能に示す設計書11、12を作成するステップと、設計書11、12に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、設計書11、12に基づいて作成されたプログラムをそのテスト仕様書とそのテストデータとに基づいてテストするステップとを備えている。 - 特許庁

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization which is not verified on an empty testing disk in which no data are recorded and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization which is not verified to provide the test result.例文帳に追加

何のデータも記録されていない空テストディスク上に検証しない初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証しない初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。 - 特許庁

To provide a safety evaluation testing method and a testing device for the same, which can capture the total amount of gas that is generated in a power storage device while testing and carry out a component analysis while making unnecessary a high pressure durable and high volume testing container for storing the power storage device and carrying out a safety evaluation test.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイスを収容し、安全性評価試験を行なうために高耐圧かつ高容積な試験容器が不要でありながら、試験時に蓄電デバイスから発生したガスの全量を捕獲し、成分分析が可能な安全性評価試験方法およびその試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.例文帳に追加

ウェハプローバが発信するロケーション・データをIC試験装置が読み取り、IC試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するICテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもIC試験装置でそのロケーション・データを解読することができるICテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a static load testing method for conducting a test by applying load in only one direction, testing changes of load in a pulling-up process, and grasping properties of the ground by a simple method to conduct research on an accurate N value and geological features.例文帳に追加

載荷荷重を一方向のみに付加して試験するとともに、引き上げ過程の荷重変化をも試験し、簡素な方法で地盤の性状を把握し正確なN値、地質の調査を可能にする。 - 特許庁

To provide a horizontal load testing method of a pile capable of more accurately grasping the behavior of the pile in the actual on-the-spot ground and capable of performing a test at a low cost without making a testing machine large-scaled.例文帳に追加

実際の現地地盤中での杭の挙動をより正確に把握できると共に、試験装置が大掛かりにならず低コストで実施可能な杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an aging testing method of cement-based building material, capable of performing an aging test corresponding to an actual aging state and an aging testing apparatus used therein.例文帳に追加

実際の加齢状況に則した加齢試験を行うことができるセメント系建材の加齢試験方法およびこの試験方法に用いる加齢試験機を提供することを目的としている。 - 特許庁

例文

To provide a testing method and a testing means for simultaneous, simple reference by accurately grasping the position of each mast by a highly reliable method in the process of the installation safety test of the mast.例文帳に追加

マストの設置安全性試験の過程において信頼性の高い手法で各マストの位置を正確に把握し、同時に簡単に参照することができるような試験方法及び手段を提案する。 - 特許庁




  
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