「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

On the client side 2 remote from a test site 1 for testing a protection relay system 4, a means 7 for relaying a test unit 5 and personal computers 8 and 9 at the test site 1 is arranged with terminals 32, 33 and 34 being transmitted with the conditions of a test performed at the test site 1 and test data in real time through a router 13 and a modem 12.例文帳に追加

保護継電装置４の試験をおこなう試験地１と離間した顧客側２に、試験地１で試験装置５とパソコン８、９とを中継している中継手段７に、ルータ１３とモデム１２を介して、試験地１でおこなわれている試験の状態や試験データがリアルタイムで送られてくる端末装置３２、３３、３４を配置する。 - 特許庁

The testing apparatus extracts the code number from the generated test data, performs the test item, acquires a time when the test item ends, calculates a test time required to perform the test from the time and the time when the data are received, and reads the data transmitted to the delay buffer A after the elapse of the calculated test time.例文帳に追加

そして、この試験装置は、生成された試験データからコード番号を抽出して試験項目を実施し、当該試験項目が終了した時刻を取得して、この時刻とデータを受信した時刻とから試験を実施するのに要する試験時間を算出し、算出された試験時間経過後に、Ｄｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信されたデータを読み出す。 - 特許庁

To provide a load testing machine for performing a plurality of tests, such as a test for simultaneously applying loads of a plurality of weights to a test object and a test for applying a load to the test object while increasing the load in steps, without requiring any attachment/detachment of a dedicated tool.例文帳に追加

被試験物に複数の分銅の荷重を同時に負荷する試験、被試験物に荷重を段階的に増加させて負荷する試験等複数の試験を専用の治具の着脱を要することなく行うことができる荷重試験機を提供する。 - 特許庁

A DB retrieving part 9 retrieves a test execution situation stored in the DB 8, and a test place to a test object program module is presented by such a manner that information notified a test place outputting part 10 is supplied to a program module testing device 11.例文帳に追加

ＤＢ検索部９によってＤＢ８に記憶された試験実施状況が検索され、試験箇所出力部１０に通知された情報がプログラムモジュール試験装置１１に供給されることで試験対象プログラムモジュールに対する試験箇所が提示される。 - 特許庁

A material test is performed using a material testing machine 1 equipped with a load/displacement measuring means for applying load to a test piece 2 to measure the load and displacement of the test piece 2 and a continuity detection means for detecting the presence of continuity and the test piece 2 having a thin film pattern formed thereto.例文帳に追加

試験片２に荷重を加えてその荷重、変位を測定する荷重／変位測定手段と導通の有無を検知する導通検知手段を備えた材料試験装置１と薄膜パターンが形成された試験片２を用いて材料試験を行う。 - 特許庁

To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁

The tensile testing machine 1 holds the test strip 2 so as to be tensible by using a holding jig, irradiates the part to be observed in the test strip 2 with electromagnetic wave M, detects the electromagnetic wave M passing through the test strip 2 and observes the extended state of the test strip 2.例文帳に追加

延伸観察用引張試験装置１は、試験片２を把持治具により引っ張り可能に保持するとともに、電磁波Ｍを試験片２の被観察部に照射し、試験片２を透過した電磁波Ｍを検出して試験片２の延伸状態を観察する。 - 特許庁

To provide a vibration test system capable of exciting simultaneously in each direction of xyz-axes of a test body only by a vibration test in one direction, and exciting to acquire desired accelerations in each direction of the xyz-axes of the test body, by using a uniaxial vibration testing device.例文帳に追加

一軸振動試験装置を用いて、一方向への振動試験のみで被試験体のｘｙｚ軸の各方向に同時に加振でき、被試験体のｘｙｚ軸の各方向に所望の加速度が得られるように加振可能な振動試験システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a testing apparatus to perform DNA testing by a real-time PCR method by flowing a reaction solution containing nucleic acids through a flow channel and effective for reducing the deterioration such as fading of fluorescent label during the test.例文帳に追加

核酸を含む反応溶液を流路内に流しながらリアルタイムPCR法によりDNA検査を行う検査装置において、検査中の蛍光標識の退色などの劣化を低減させる。 - 特許庁

To acquire highly-reliable test result efficiently in a time and a cost, when testing the relation between irradiance and aging deterioration of a sample in a weather/light resistance testing device.例文帳に追加

耐候光試験装置において、放射照度と、試料の老劣化の関係を試験する場合に、時間的、費用的に効率よく、しかも信頼性の高い試験結果を得られるようにすること。 - 特許庁

The second needle body is also connected to the contact head, sends a reaction signal generated by the object for testing according to the test signal, and obtains the electric characteristics of the object for testing.例文帳に追加

さらに、第２の針本体は、コンタクトヘッドにも接続し、テスト信号にしたがってテスト用物体によって生成される反応信号を送り、テスト用物体の電気的特性を得ている。 - 特許庁

To provide a socket test device and its method capable of testing whether each contact of a socket used for testing a semiconductor device is in a good state or in a bad state.例文帳に追加

半導体デバイスをテストするために用いられるソケットのコンタクタの良好及び不良状態をテストすることができるソケットテスト装置及びその方法を提供するにある。 - 特許庁

To provide an ultraviolet flaw-detection light of a simple constitution capable of efficiently illuminating with ultraviolet light a test region of a flaw detection object to be subjected to penetrant testing or magnetic particle testing.例文帳に追加

浸透探傷試験や磁粉探傷試験に供される被探傷体の検査領域を効率的に紫外線照明することのできる簡易な構成の紫外線探傷灯を提供する。 - 特許庁

To provide the acceleration testing device and acceleration testing method of software for investigating the situations of a failure in the acceleration test of software including an application program in detail.例文帳に追加

アプリケーションプログラムを含むソフトウェアの加速試験における不具合の状況を詳細に調査することのできるソフトウェアの加速試験装置及び加速試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a specimen testing vessel set and a specimen testing kit capable of using a test strip simply and safely, and capable of preventing a specimen extract from being diffused when stored and carried.例文帳に追加

テストストリップを簡便且つ安全に使用することができ、保存および持ち運び時に検体抽出液の拡散を防止可能な検体試験容器セットおよび検体試験キットの提供。 - 特許庁

This device is equipped with a control device for controlling the test of the plurality of testing object devices having the same pin arrangement, and a plurality of pin resources provided respectively corresponding to each terminal of the testing object devices.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。 - 特許庁

To provide a fuse clip with a variable resistor, and a testing system and a testing method capable of attaining high work efficiency in an alarm output test or the like by a power company.例文帳に追加

電力会社などにおける警報出力試験などの作業の効率化を図ることができる可変抵抗付きヒューズクリップ，それを用いた試験システムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

A testing CPU 161 is a CPU for internally storing a ROM and a RAM, and makes a test signal to be supplied to a testing device connected to an external part of a game machine.例文帳に追加

試験用ＣＰＵ１６１は、ＲＯＭおよびＲＡＭを内蔵したＣＰＵであって、遊技機外部に接続される試験装置等に供給するための試験信号を作成する。 - 特許庁

To provide a weather resistance testing apparatus capable of simultaneously testing at one side and other side of one test specimen under different weather conditions.例文帳に追加

本発明は、１つの被試験体の一方側と他方側で異なる耐候条件で同時に試験を行うことが出来る耐候試験装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁

To provide a method and a device for an automatic test which make function testing operation efficient and improve reliability of the software of a portable telephone by automating the function testing operation for the software.例文帳に追加

携帯電話のソフトウエアに対する機能試験作業を自動化し、試験作業を効率化するとともに、ソフトウエアの信頼性を向上させる自動試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method capable of performing a test for evaluating pumping-out characteristics (resistance) of heat transfer grease used for accelerating heat radiation of a power module, or the like.例文帳に追加

パワーモジュール等の放熱促進用に用いられる伝熱グリースのポンピングアウト特性（耐性）を評価するための試験を実行可能な試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an air permeation testing method and its device capable of performing an accurate air permeation test without being affected by fluctuation in an air pressure for testing or in the atmospheric pressure.例文帳に追加

検査用の空圧や大気圧の変動に影響されることなく、正確な通気検査を行うことができる棒状物品の通気検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To smoothly perform the analysis and test of a testing object device by realizing the expansion of a testing case and facility of use by a higher harmonic generator with expanded versatility.例文帳に追加

汎用性を拡大させた高調波発生器により、試験ケースの拡大、使用方法の容易さを実現し、円滑に被試験装置の解析及び試験を実施することができる。 - 特許庁

To improve testing efficiency in an easy testing process without narrowing the power range of a device in which burn-in is possible, in a burn-in test method and burn-in system.例文帳に追加

本発明は、バーンイン試験方法及びバーンインシステムに関し、バーンイン可能なデバイスのパワー範囲を狭めることなく、簡単な試験工程で試験効率を向上することを目的とする。 - 特許庁

To provide an intermittent energization testing device, an intermittent energization testing method, and a heat generating electronic device, which can save power supply and a wire rod cost, and shorten time of a test cycle.例文帳に追加

電源と線材コストを抑え、かつ試験サイクルの時間を短縮することができる断続通電試験装置、断続通電試験方法、および発熱電子デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for egg capable of judging the deterioration of the lamp of a light source and precisely executing the internal test of an egg, and a testing device for egg used for the execution of this method.例文帳に追加

光源のランプの劣化の有無を判断し、精度良く卵の内部検査を実施することができる検卵方法及びその実施に使用する検卵装置を提供する。 - 特許庁

The testing device is provided with a test board having a wiring pattern connected with the channel of the testing device and an IC socket having a plurality of pogo pins that are respectively connected with the land of the wiring pattern.例文帳に追加

テスト装置は、テスト装置のチャンネルと連結される配線パターンを有するテストボードと配線パターンのランドとそれぞれ連結される複数のポゴピンを有するＩＣソケットとを備える。 - 特許庁

The testing circuit 14 includes a variable ring oscillator, performs a series of parameter tests at a nominal operation frequency of the integrated circuit, and transmitting a test result to the testing unit 12 for analysis.例文帳に追加

試験回路１４は、可変リング発振器を含み、集積回路の公称動作周波数での一連のパラメータ試験を実行し、試験結果を分析のために試験ユニット１２に送信する。 - 特許庁

To provide a density-testing device capable of optically testing a rod state material for tasting equipped with an aggregate of many small pieces or its part as a test piece in a high accuracy.例文帳に追加

多数の小片の集合体を具備する棒状の喫味用物品若しくはその部品を被検査として高精度で光学的に検査することが可能な密度検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system capable of managing unitarily information of a cooling device provided in each semiconductor test unit, from a host computer for managing the semiconductor testing system.例文帳に追加

半導体試験システムを管理するホストコンピュータから、各半導体試験ユニットが備える冷却装置の情報を一元的に管理することを可能とした半導体試験システムを実現する。 - 特許庁

To provide a test disk and a drive testing method capable of smoothly testing whether an HD DVD drive can properly record/play a two-layer type DRAW type HD DVD.例文帳に追加

ＨＤＤＶＤドライブが２層タイプの追記型ＨＤＤＶＤに対し記録再生を適正に行えるかを円滑に検査できるテストディスクおよびドライブ検査方法を提供する。 - 特許庁

The test piece 11 is grasped by the grippers 9 and 10 held to a crosshead 7 and a table 8 and a motor 1 is driven to apply testing force to the test piece 11 to display a testing force-displacement curve on the screen of an operation panel 30.例文帳に追加

クロスヘッド７、テーブル８に保着されたつかみ具９、１０により試験片１１を把持し、モータ１を駆動して試験片１１に試験力を負荷することにより、オペレーションパネル３０の画面上に試験力−変位曲線を表示する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of preventing lead-free solder from being attached to a contact terminal of a socket for test, when testing a semiconductor device having an external connection terminal soldered with lead-free solder by the socket for test.例文帳に追加

鉛フリー半田でめっきされた外部接続端子を有する半導体装置をテスト用ソケットにより検査する際に、テスト用ソケットの接触端子に鉛フリー半田が付着するのを防ぐことができる半導体装置の検査方法を得る。 - 特許庁

To provide a device for testing an insulation monitor which is prevented from being affected by the insulation monitor being a test object, by separating the device for testing from the insulation monitor physically and electrically, and thus can properly perform a test of the insulation monitor.例文帳に追加

絶縁監視装置と物理的・電気的に切り離すことで、試験対象である絶縁監視装置の影響を受けることがなく、それにより、絶縁監視装置の試験を適正に行うことができる絶縁監視装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a solderability-testing method and device for improving the accuracy and reliability of test data by reducing influence due to the temperature difference between the temperature of a metal test piece and that of solder paste when testing solderability and the difference between a setting temperature and actually measured temperature of the testing device.例文帳に追加

はんだ濡れ性試験時の金属試料片温度とはんだペーストとの温度差及び、試験装置の設定温度と実測温度との差による影響を減少させ、試験データの精度及び信頼性を向上させるはんだ濡れ性試験方法及びはんだ濡れ性試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization to be verified on a testing disk obtained by generating a well- known physical deficiency on an empty testing disk and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization to be verified to provide the test result.例文帳に追加

空テストディスク上に周知の物理的な欠陥を生成することによって得られるテストディスク上に検証する初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証する初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。 - 特許庁

After displaying all testing condition data currently held by the testing system, the tester tests the DUT 4 under an arbitrary testing condition by inputting the testing condition data so that the testing condition may be changed to a fixed condition or a condition having an arbitrary range in accordance with the purpose of the test.例文帳に追加

このとき、試験システムが現在保持している試験条件データを全て表示した上で、試験者は、試験の目的に応じて、固定の条件あるいはある任意の範囲をもつ条件に変更することができるように試験条件データを入力処理することにより、試験対象の多周波符号器を任意の条件のもとで試験する。 - 特許庁

This testing handler includes a loading device for loading a device on a testing tray, a posture changing device 100 for posture-changing the testing tray, the soaking chamber 10 for storing sequentially the posture-changed testing trays, temperature control means 150, 180 for preheating/precooling the device mounted on the testing tray, and an unloading device for unloading the test-finished device to a user tray.例文帳に追加

ディバイスをテストトレーにロードさせるロード装置と、テストトレーを姿勢変換させる姿勢変換装置１００と、姿勢変換されたテストトレーを順次収納するソークチャンバー１０と、テストトレーに積載されたディバイスを予熱／予冷する温度制御手段１５０、１８０と、テストが終了したディバイスをユーザートレーにアンロードさせるアンロード装置とを包含して構成される。 - 特許庁

The test tape unit for especially testing blood sugar is equipped with an analyzing test tape 12, a storage coil 14 for washing an unused test tape 12, a winding coil 18 for winding the used test tape 12 and a tape guide part 16 for exposing the test tape part 20 at a measuring region 22 for coating body fluids.例文帳に追加

分析用の試験テープ１２と、未使用の試験テープ１２の洗浄用の貯蔵コイル１４ならびに使用した試験テープ１２の巻付用の巻付コイル１８と、体液の塗布用の測定部位２２での試験テープ部分２０の曝露用のテープガイド部１６とを備える特に血糖試験用の試験テープユニットに関する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which is provided with a test mode capable of testing a test block selected out of a plurality of circuit blocks, and can test the test block under a condition of voltage distribution nearly equal to its real working condition even when the device is in the test mode.例文帳に追加

複数の回路ブロックから選択された試験ブロックについて試験が行われるテストモードを備える半導体集積回路装置において、テストモード時においても実使用状態に近い電圧分布のもとで、試験ブロックを試験することが可能な半導体集積回路装置を提供することである。 - 特許庁

A semiconductor test apparatus for testing a DUT 1 includes a tester section 2 provided with a plurality of test channels to be connected to the DUT 1 for testing, and a tester control section 3 provided with a hardware control section 21 for switching a connection to an unused and normal one of the test channels connectible to a faulty test channel when any one of the test channels becomes faulty.例文帳に追加

ＤＵＴ１の試験を行うための半導体試験装置であって、ＤＵＴ１に接続して試験を行うためのテストチャネルを複数備えるテスタ部２と、テストチャネルのうち何れかのテストチャネルが故障したときに、故障したテストチャネルに接続可能なテストチャネルのうち未使用且つ正常なテストチャネルに接続を切り替える制御を行うハードウェア制御部２１を備えるテスタ管理部３とを備えている。 - 特許庁

This system includes the exhalation bag capable of connecting the exhalation bag to the test tube by a hollow needle to transfer the expiration to the test tube, allows selection between the transfer of the expiration to the test tube and the direct connection to the testing device without transfer, and is applicable to the plural different types of testing devices.例文帳に追加

呼気バッグと検査管とを中空針で連結して呼気を検査管に移転可能とした呼気バッグを含み、呼気を検査管に移転するか若しくは移転せず直接検査装置に接続するかの選択を可能とし、複数の異なるタイプの検査装置に適応可能としたことを特徴とする。 - 特許庁

The wiring testing machine 100 includes a producing machine 10 for test data, a package testing machine 20 forming with a test jig 21 using a spring probe and test jig 41 using a conductive rubber 42, a flying prober 30 using a probe 31 of the flying prober, and an object 50 to be tested composed of wiring substrates and others.例文帳に追加

本発明の布線検査機１００は、検査データ作製機１０と、スプリングプローブを使った検査治具２１と、導電ゴム４２を使った検査治具４１とで構成された一括検査機２０と、フライングプローバのプローブ３１を用いたフライングプローバ３０と、配線基板等からなる被検査体５０とで構成されている。 - 特許庁

To provide a testing method which can perform a stable and accurate test even if an external signal is inputted to perform a test without connecting a crystal oscillator and shorten a test time without being affected by an oscillation start time in a testing method for measuring the current consumption of an inverter in a constant current type oscillation circuit.例文帳に追加

定電流方式の発振回路におけるインバータの消費電流を測定するテスト方法において、水晶振動子を接続することなく、外部信号を入力してテストしても、安定した正確なテストができるとともに、テスト時間も発振開始時間の影響がなく短縮できるテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test auxiliary device (BOST device) is disposed near a test circuit board for giving and receiving a signal to and from the semiconductor integrated circuit to be tested, and the testing D/A converter circuit and testing A/D converter circuit of the test auxiliary device, a measurement data memory and an analyzing part are respectively mounted on separate circuit boards.例文帳に追加

被試験半導体集積回路と信号のやり取りを行うテスト回路基板の近傍にテスト補助装置（ＢＯＳＴ装置）を設け、このテスト補助装置の試験用Ｄ／Ａ変換回路と試験用Ａ／Ｄ変換回路と、測定データメモリと、解析部とをそれぞれ別の回路基板に搭載する。 - 特許庁