「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

A quality judging specification result for the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element on a wafer carried out using the determined specification value as the specification value for the avalanche proof level test is made to serve as a quality judged result in the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

決定された規格値をアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値として行ったウエーハ上の試験対象半導体素子のアバランシェ耐量試験の合否判断結果を、その試験対象半導体素子のＲＢＳＯＡ耐量の試験での合否判断結果とする。 - 特許庁

Furthermore, the design supporting device 10 is provided with: a testing part 38 which determines whether or not the reference data can execute the processing group in a batch based on a test item preliminarily set according to the design procedure; and an output part which outputs the test result of the testing means as a test result report 44.例文帳に追加

さらに、予め設計手順に応じて設定された検査項目に基づいて、基準データが処理群の一括実行が可能かを判断する検査部３８と、検査手段による検査結果を検査結果レポート４４として出力する出力部と、を有する。 - 特許庁

To realize a burn-in test simply even by a beginner by forming a waveform forming file and a schedule file and performing the burn-in test of an IC to be tested in an apparatus and a method for testing which supplies a testing waveform to the IC to be tested and performing the test.例文帳に追加

本発明は、試験波形を被試験ＩＣに供給して試験を行う試験装置および試験方法に関し、波形成形ファイルおよびスケジュールファイルを作成してこれらをもとに被試験ＩＣのバーイン試験を行い、初心者でも簡易にバーイン試験を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

Automatic testing devices 11-1m operated by a test service provider are provided on a data communication network 2, and a test file for the call processing test of user side systems 31-3n is transmitted from the systems 31-3n through the data communication network 2 to the automatic testing devices 11-1m.例文帳に追加

データ通信ネットワーク２上に試験サービス提供事業者が運用する自動試験装置１１〜１ｍを設け、ユーザ側システム３１〜３ｎの呼処理試験のための試験用ファイルを当該システム３１〜３ｎからデータ通信ネットワーク２を介して自動試験装置１１〜１ｍに伝送する。 - 特許庁

Then, the results of the determination by the test result determination means 1c are correlated with the hash values 7 transmitted from the server 3 for testing by a test result recording means 1e to store them, as the test execution log 1g, in a test execution log storage means 1f.例文帳に追加

そして、テスト結果記録手段１ｅにより、テスト結果判定手段１ｃによる判定結果とテスト用サーバ３から送信されたハッシュ値７とが関連づけられ、テスト実施ログ１ｇとしてテスト実施ログ記憶手段１ｆに格納される。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a cross point that can test path setting even during operation of the apparatus in a shorter time than that of a conventional test method where no test is available during operation of the apparatus and that takes much test time.例文帳に追加

装置の運用中にテストできず、相当の時間を要する従来のテスト方法に比べて、短時間で、しかも装置の運用中にもパス設定のテストを行うことができるクロスポイントスイッチのテスト方法及びテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a loading test method excellent in the rapidity or economical efficiency of a test and capable of easily grasping the capacity of a ground anchor by employing a fast loading test method as a loading test for the ground anchor, and a testing apparatus therefor.例文帳に追加

グラウンドアンカーの載荷試験として急速載荷試験方法を採用することによって、試験の迅速性や経済性に優れ、かつ容易にアンカーの性能を把握することができる載荷試験方法及びその装置を提供することである。 - 特許庁

When a stub program is replaced by an actual program, a test case generation unit 14 generates test case information (2f) for testing the replaced program according to stub information stored in a stub information storage unit 23, and stores the generated test case information in a test case storage unit 22.例文帳に追加

テストケース生成部１４は、スタブ情報記憶部２３に記憶されたスタブ情報に従い、スタブプログラムが実際のプログラムに置き換わった際に、置き換わったプログラムをテストするためのテストケース情報（２ｆ）を生成し、テストケース記憶部２２に格納する。 - 特許庁

The floor material testing apparatus consists of a pair of test rods 2 for applying load to the floor material 1 and a test rod driving device 3 for moving a pair of the test rods 2 up and down alternately to apply load to the surface of the floor material 1 alternately by the leading ends of the test rods 2.例文帳に追加

床材１に荷重を加える一対の試験棒２と、一対の試験棒２を交互に上下させて試験棒２の先端で床材１の表面に交互に荷重を加えるようにした試験棒駆動装置３とから成る。 - 特許庁

To output the determined result of a test to the outside without increasing the number of pins to test a successive approximation type A/D converter mounted on an LSI, to execute the test of the A/D converter and the test of other circuits in parallel, and to shorten time for testing the LSI.例文帳に追加

LSI に搭載された逐次比較型A/D コンバータのテストを行なうためにピン数を増やすことなくテストの判定結果を外部へ出力し、A/D コンバータのテストを他の回路のテストと並行に実行でるようにし、LSI のテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

FILM TYPE SEMICONDUCTOR PACKAGE PROVIDED WITH TEST PAD HAVING SHARED OUTPUT CHANNEL, TEST METHOD FOR FILM TYPE SEMICONDUCTOR PACKAGE, TEST DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH PATTERN SHARED WITH TEST CHANNEL, AND TESTING METHOD IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

出力チャンネルが共有されるテストパッドを備えるフィルム型半導体パッケージ及びフィルム型半導体パッケージのテスト方法、テストチャンネルが共有されるパターンを備えるテスト装置及び半導体装置、並びに半導体装置におけるテスト方法 - 特許庁

To provide an interface board testing device and an interface board testing method which can test an interface board in a short period of time, and obtain an appropriate test result independently of analog characteristics of a member stored in a slot.例文帳に追加

短時間でインタフェースボードを試験することができ、かつ、スロットに格納される部材のアナログ特性に依存せず、適切な試験結果を得ることができるインタフェースボード試験装置及びインタフェースボード試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which accurately controls, in particular, a temperature in a test tank into a test temperature and to provide a compact variable fin area radiator for use in the electronic component testing device.例文帳に追加

本発明は電子部品試験装置に関し、特に試験槽内の温度を精度よく試験温度に制御する電子部品試験装置と電子部品試験装置に使用するコンパクトなフィン面積可変型ラジエーターに関するものである。 - 特許庁

To provide a compression/shear test method and its testing device capable of testing a performance test of compression deformation and/or shear deformation of a large-size sample piece without using large-scale equipment or a device.例文帳に追加

大型の供試体の圧縮変形及び／または剪断変形の性能試験を大掛かりな設備や装置を用いることなく試験することが出来る圧縮・剪断試験試験方法及びその試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing various semiconductor integrated circuit having different characteristics, and coping with diversification of an analog characteristic test by fulfillment of generation function of DAC data or the like.例文帳に追加

特性の異なる種々の半導体集積回路の試験を可能にすると共に、ＤＡＣデータの発生機能の充実化を図るなど、アナログ特性試験の多様化に対応できる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

When testing the IC card program, the IC card test device 1 successively interprets statements included in the designated test script, and makes an emulator 2 execute the interpreted processing for testing the IC card program stored in the emulator 2.例文帳に追加

ＩＣカードプログラムをテストするとき、ＩＣカードテスト装置１は、指定されたテストスクリプトに含まれるステートメントを逐次解釈し、解釈した処理をエミュレータ２に実行させることで、エミュレータ２に記憶されたＩＣカードプログラムをテストする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To facilitate finding of a wiring connection error of a test board, shorten a test time, and thereby reduce the load of a testing person.例文帳に追加

本発明の課題は、テストボードの配線接続違いの発見を容易にし、また、試験時間を短縮することによって試験する者の負担を軽減することである。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory that makes it possible to reduce test time after manufacturing and reduces cost by using an inexpensive test system, and to provide a method of testing the same.例文帳に追加

製造後のテスト時間を短縮し、また、安価なテストシステムを用いることにより、コストを低減できる不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To conduct a loop-back test including the intermediate testing device as an intermediate element even for an exchange where an intermediate element can not be specified as the address of the device conducting the loop-back test.例文帳に追加

ループバック試験を行う装置のアドレスとして中間要素を指定できない交換機であっても、中間試験装置を中間要素としたループバック試験を実施する。 - 特許庁

To provide an optical transmission system for sufficiently and surely testing normality by expanding a test range based on a return test.例文帳に追加

折り返し試験による試験範囲を拡大することができるようにし、これにより正常性を十分かつ確実に試験することの可能な光伝送システムを提供すること。 - 特許庁

From the A register 32, the test result information is read to generate replacement address data for testing, and from the B register 33, the test result information is read and output to the outside.例文帳に追加

Ａレジスタ３２よりテスト結果情報を読み出してテスト用の置換アドレスデータを生成し、Ｂレジスタ３３よりテスト結果情報を読み出して外部に出力する。 - 特許庁

When testing a frequency divider PS, a test control voltage signal TC and a RF test signal TS are supplied to input terminals IN1 and IN2 through a balun T1.例文帳に追加

分周器ＰＳのテスト時に、バランＴ１を介してテスト制御電圧信号ＴＣおよびＲＦテスト信号ＴＳが入力端子ＩＮ１、ＩＮ２に供給される。 - 特許庁

A pattern control board is mounted with a test signal output circuit 120 for externally outputting a test signal from a testing CPU and connectors 121 to 126.例文帳に追加

図柄制御基板には、試験用ＣＰＵからの試験信号を外部に出力するための試験信号出力回路１２０およびコネクタ１２１〜１２６が搭載されている。 - 特許庁

The detector power supply 4 includes a second test part 41 for testing the operation of a second auxiliary power supply Bt2 when receiving the test signal from the disaster prevention receiver 1.例文帳に追加

感知器電源４には、防災受信機１から試験信号を受信したときに第２の予備電源Ｂｔ２の動作試験を行う第２試験部４１が設けられている。 - 特許庁

To provide a power train testing device and method which can easily test a test piece of a power train under various road disturbance environments.例文帳に追加

本発明は、パワートレーン系試験装置及び試験方法に関し、様々な路面外乱下で行うパワートレーン系の供試体の試験を簡易に実現することを目的とする。 - 特許庁

An external testing device 17 as a logic tester outputs a test start command to the automatic rewriting circuit 16, and then starts the operation test of the logic circuit 14.例文帳に追加

そして、ロジックテスタとしての外部の試験装置１７は、上記自動書換え回路１６に試験開始指令を出力した後、ロジック回路１４の動作試験を開始する。 - 特許庁

A test processor 1 of the memory testing device is capable of simultaneously writing, reading, or erasing a test signal for each memory block with respect to a plurality of devices (DUT) to be tested.例文帳に追加

メモリ試験装置のテストプロセッサ１は、複数の被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して同時に、メモリブロック単位で試験信号を書き込み、読み出し、あるいは消去が可能である。 - 特許庁

To provide an environment testing device, capable of enhancing the acceleration properties of a test while ensuring the reproducibility of trouble produced in a test specimen under an actual use state.例文帳に追加

実際の使用状況下で試験体に生じる不具合の再現性を確保しつつ、試験の加速性を向上することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

At least one test connections is directed into the units of testing side loaded with the new piece of software in order to be able to test the new piece of software.例文帳に追加

当該ソフトウェアの新たな断片をテストできるようにするために、ソフトウェアの新たな断片がロードされたテスト側のユニットに向けられる１つ以上のテスト接続を備える。 - 特許庁

The holding tray is operated using an obtained map to align each individual die, with respect to a test probe, in order to execute testing, by bringing the individual die into contact with the test probe.例文帳に追加

個別ダイと試験プローブとを接触させて試験を実施するために、各個別ダイを試験プローブに相対させるよう、得られたマップを用いて保持トレイを操作する。 - 特許庁

To provide a device for testing an insulation monitoring device, capable of obtaining test results of higher accuracy by performing a test using a reactive leakage current as a parameter.例文帳に追加

無効漏れ電流をパラメータとする試験を行うことにより、より高い精度の試験結果を得ることができる絶縁監視装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of performing a tRCD test adapted to the reduction in time between command inputs even when the test employs a memory testing apparatus inoperable for a high speed clock.例文帳に追加

高速なクロックで動作できないメモリ試験装置を用いる場合でも、短縮化に対応したｔＲＣＤ試験を可能にする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To perform test more precisely in the test device for testing both or either of a control model and the control program created based on its control model.例文帳に追加

制御モデル及びその制御モデルをもとに作成される制御プログラムの両方又は一方を検査する検査装置において、検査をより精密に行えるようにする。 - 特許庁

To generate destruction without causing the deformation of a rubber test piece quickly in a rubber destructive testing machine for generating destruction such as cutout in the rubber test piece.例文帳に追加

ゴム試験片に対して欠け等の破壊を生じさせるゴム破壊試験機において、短時間でゴム試験片の変形を促すことなく破壊を生じさせるようにする。 - 特許庁

To provide system and method which can generate signals for testing optical device at a time in a plurality of remote test stations to simultaneously test a plurality of optical devices.例文帳に追加

遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるようにする。 - 特許庁

If the number of the semiconductor devices under test is larger than the residual nominal value, testing of the semiconductor devices under test mounted on the buffer tray is proceeded, while being stopped if smaller.例文帳に追加

被検査半導体素子の数が残余基準値より大きければ、バッファトレイに搭載された被検査半導体素子の検査を進行し、小さければ中止する。 - 特許庁

To realize an integrated circuit which reduces the time for DC performance test, tests even with a tester having no testing circuit necessary for DC performance test.例文帳に追加

ＤＣ特性試験に要する時間を短縮でき、ＤＣ特性試験に必要な測定回路を有さないテスタでも試験が行える集積回路の実現を目的とする。 - 特許庁

To provide a testing system capable of providing a test environment in which a wireless communication apparatus can be tested as if the test were performed in a place where the wireless communication apparatus is actually used.例文帳に追加

無線通信機器が実際に使用される場所で試験が実際的に行われるような試験環境を提供することができる試験システムを提供する。 - 特許庁

To cope with increase of the number of test ICs testable in one period and the number of input/output pins of the test ICs without increasing the number of channel circuits of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のチャンネル回路数を増設せずに、一時期に試験可能な被試験ＩＣ数、被試験ＩＣの入出力ピン数の増加に対応すること。 - 特許庁

To provide a torsion testing device capable of applying torsional stresses to a test piece, using a servo motor and applying a torsional load to the test piece at high frequency.例文帳に追加

サーボモータを用いて試験片にねじり応力を加え、且つ、高い繰り返し速度でねじり荷重を試験片に加えることができるねじり試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of measuring efficiently an input/output characteristic of a test object circuit equipped with a plurality of input terminals, synchronously with a clock.例文帳に追加

クロックに同期して、複数の入力端子を備えたテスト対象回路の入出力特性の測定を効率良く行えるテスト装置及びテスト方法の提供。 - 特許庁

To provide a power transmitter and a method for testing the power transmitter, efficiently and reliably executing a test (e.g., test by public certificate authority) for the power transmitter in a noncontact power transmission system.例文帳に追加

無接点電力伝送システムにおける送電装置の試験（例えば、公的認証機関による試験）を、効率的かつ確実に実行できるようにする。 - 特許庁

To provide a durability test method by which a durability test for testing the durability of an automobile coating film in its actual use is simply carried out.例文帳に追加

自動車用塗膜の実際の使用時における自動車塗膜の耐性を試験するための耐性試験を、簡便に行うことができる耐性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an easy-to-operate, compact, simple tensile testing machine that can execute a strength test of a spot welding test piece even at a machining site, and does not require any installation space.例文帳に追加

スポット溶接試験片の強度試験を加工現場でも実施できるような、操作が容易にでき、小型で設置のスペースを要しない簡便な強度試験機を提供する。 - 特許庁