「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

A continuity test processing unit for comparing and testing inter-bus information of each system is connected to each system.例文帳に追加

各系統には各系統のバス間の情報を比較して検定する連続検定処理部を接続する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of shortening testing time of scan test without increasing circuit scale of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の回路規模を増大させずにスキャン試験の試験時間を短縮する。 - 特許庁

COMPRESSION/DECOMPRESSION METHOD FOR PATTERN DATA FOR SEMICONDUCTOR-TESTING APPARATUS AND TEST PATTERN- COMPRESSING/EXPANDING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置用パタ—ンデ—タのコンプレッション・デコンプレッション方法及びテストパタ—ン圧縮・伸張装置 - 特許庁

To provide an IC tester and a testing method of the IC tester capable of shortening the test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮できるＩＣテスタ及びＩＣテスタの試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide an improved substrate test device for testing a substrate having a large area, and a method.例文帳に追加

大面積を有する基板の試験をさらに改良した基板の試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To correctly carry out alignment of a testing pin with a terminal of a measured device, in an electrostatic breakdown test.例文帳に追加

静電破壊試験において被測定デバイスの端子と試験用ピンとの位置合わせを正確に行う。 - 特許庁

To provide a specimen testing system capable of saving space, and to conducting a functional and rational test.例文帳に追加

省スペース化、機能的、合理的な検査が行える検体検査システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING HEAVY LOAD IN ENCRYPTION SYSTEM AND RECORDING MEDIUM STORING HEAVY LOAD TEST PROGRAM例文帳に追加

暗号化システムにおける高負荷試験方法及び装置と高負荷試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a testing machine capable of inexpensively and easily performing a functional test of a buffer.例文帳に追加

緩衝器の官能試験を安価かつ簡易に行うことが可能な試験機を提供することである。 - 特許庁

TEST CONDITION DETERMINATION METHOD OF ADHESIVE CAPACITY TO TITANIUM TYPE HARD COAT LENS BASE MATERIAL, AND TESTING METHOD例文帳に追加

チタン系ハードコ−トのレンズ基材との密着性能の試験条件決定方法及び試験方法 - 特許庁

PRETREATMENT METHOD IN PERFORMING EVALUATION TEST FOR REGENERATED AGGREGATE AND TESTING METHOD FOR REGENERATED AGGREGATE例文帳に追加

再生骨材に対する評価試験を行う際の前処理方法、および再生骨材の試験方法 - 特許庁

TRANSMISSION LINE TESTING DEVICE FOR BS ADDED CHANNEL, AND TRANSMISSION LINE TEST SIGNAL GENERATING DEVICE FOR BS ADDED CHANNEL例文帳に追加

ＢＳ追加チャンネル用伝送路試験装置およびＢＳ追加チャンネル用伝送路試験信号発生装置 - 特許庁

To provide a light stability testing method capable of keeping a designated temperature to make an accurate test.例文帳に追加

所定温度を維持し、正確な試験を行うことのできる光安定性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a washing device of a water-cooled cooling mechanism, used for a test head of an IC testing device.例文帳に追加

ＩＣ試験装置のテストヘッドに使用される水冷式冷却機構の洗浄装置を提供する。 - 特許庁

To improve the quality of testing by generating a test pattern which detects bridge failures of LSI, with high accuracy.例文帳に追加

ＬＳＩのブリッジ故障を高精度に検出するテストパターンを作成し、テストの品質を向上する。 - 特許庁

A control unit 11 of a test device 1 outputs a signal for controlling testing of an integrated circuit 6.例文帳に追加

テスト装置１の制御部１１は、集積回路６のテストを制御するための信号を出力する。 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING PATTERN FRAME, METHOD FOR COLLATING TEST PATTERN, METHOD FOR TESTING JITTER, COMMUNICATION DEVICE, AND COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

パターンフレーム生成方法およびテストパターン照合方法、並びにジッタテスト方法、通信装置、通信システム - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC TESTING DEVICE HAVING THE SAME, AND ULTRASONIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

超音波探触子並びにこれを有する超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁

To provide a testing system capable of carrying out a motion test of a relief valve of a pressure rise supply device.例文帳に追加

昇圧供給装置のリリーフ弁の動作試験を行うことができる試験システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a protocol testing apparatus capable of freely describing a free test scenario.例文帳に追加

本発明は、自由なテストシナリオを簡単に記述することのできるプロトコル試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To efficiently test the control operation of a controller by using a testing tool.例文帳に追加

テスト治具を用いて行う制御機器の制御動作のテストを効率的に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a communication system using a frame alignment test signal.例文帳に追加

フレームの位置調整検査信号を用いて通信システムの検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel.例文帳に追加

被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。 - 特許庁

The present invention is the improved test system for testing the tested object for decoding the encode data.例文帳に追加

本発明は、エンコードデータをデコードする被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

The test program 10 starts testing on the program 20 after selecting the real table 110 to be used (S4-S7).例文帳に追加

テストプログラム１０は、使用する実テーブル１１０を選択した後、プログラム２０のテストを開始する（S4〜S7）。 - 特許庁

WIRELESS COMMUNICATIONS SYSTEM AND TEST METHOD THEREOF, AND ACCESS TERMINAL FOR TESTING THE WIRELESS COMMUNICATIONS SYSTEM例文帳に追加

無線通信システム、および、その診断方法、ならびに、無線通信システムの診断に用いる無線端末 - 特許庁

To provide a method for testing memory which utilizes a general memory test program independent of an internal memory configuration.例文帳に追加

メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

3. Test Equipment designed for testing microwave integrated circuits that fall under item (ii), (c) 例文帳に追加

（三）　第二号ハに該当するマイクロ波用集積回路の試験を行うことができるように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH CIRCUIT FUNCTION OF SELF-DIAGONOSTIC TEST AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

自己診断テスト回路機能を備えた半導体集積回路および半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

This testing does not rely on inputs from the software module being tested, and hence is an independent test.例文帳に追加

このテストは、テストされるソフトウェアモジュールからの入力に依存せず、それゆえに、独立したテストである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a semiconductor device testing method, which can reduce test costs.例文帳に追加

試験コストの低減を実現できる半導体装置及び半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a handover testing device carrying out a handover test under various communication conditions.例文帳に追加

多様な通信条件においてハンドオーバー試験を実行可能であるハンドオーバー試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 100 is equipped with a unit 102 for tests housing a large number of test cards 104.例文帳に追加

試験装置１００は、多数のテスト用カード１０４が収容された試験用ユニット１０２を備える。 - 特許庁

To provide a frame work system and the test method for testing a server having a mixed workload.例文帳に追加

混合ワークロードを有するサーバをテストするためのフレームワーク・システムおよびそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

A test unit 950 is provided for testing the selected part of the coefficient register for each coefficient expression.例文帳に追加

係数レジスタの選択部分を各係数表現に対してテストするテストユニット９５０が設けられる。 - 特許庁

CONTACT GUIDING MEMBER, PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

接触子案内部材、プローブカード及び半導体装置試験装置、並びに半導体装置の試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor test system that has a plurality of stations for testing a plurality of semiconductor devices.例文帳に追加

複数の半導体装置をテストするための複数のステーションを有する半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test module capable of inexpensively testing a semiconductor device having an ADC circuit.例文帳に追加

ＡＤＣ回路を有した半導体装置を低コストで試験可能な、半導体試験モジュールを提供する。 - 特許庁

Consequently, it is necessary to prepare a system for hepatitis testing and recommend that everyone should undergo a hepatitis test.例文帳に追加

このため、肝炎ウイルス検査の受検体制を整備し、受検の勧奨を行うことが必要である。 - 厚生労働省

WATER-WASHABLE WATER-BASED PENETRANT FOR PENETRATION FLAW DETECTION TEST AND PENETRATION FLAW DETECTION TESTING METHOD USING PENETRANT例文帳に追加

浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法 - 特許庁

REFERENCE KIT FOR DIAGNOSTIC TEST AND KIT FOR TESTING NUCLEIC ACID HYBRIDIZATION, AND METHOD FOR PRODUCING THE KITS例文帳に追加

診断検定用対照キットおよび核酸ハイブリッド形成検定用キット並びにそれらの製造方法 - 特許庁

Further, in the above test state, two delay time shortening modes for testing are implemented using a fuse.例文帳に追加

さらに、ヒューズを用いて、前記テスト状態において、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。 - 特許庁

To provide a smoke exhaustion behavior test device capable of efficiently testing behavior of smoke exhaustion.例文帳に追加

効率よく排煙の挙動を試験することができる排煙挙動試験装置を提供することにある。 - 特許庁

Cryptography Research will develop software to generate test vectors for the chip for testing before the design is sent to the fab. 例文帳に追加

Cryptography Research は、チップデザインがファブリケーションに送られる前にチップをテストするための、テストベクトル生成ソフトを書く。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

Since the test sequence and the testing patterns are stored in the nonvolatile memory 16 of the display device 10, this eliminates the need for cumbersome and extensive tasks of preparing testing devices respectively corresponding to the models of the display device and the test sequence and the testing pattern which are respectively suitable for the models of the display device and storing them in the testing devices, respectively.例文帳に追加

これにより、表示装置１０の不揮発性メモリ１６に検査シーケンスおよび検査用パターンが格納されているため、モデルごとに検査装置を準備し、モデルに合わせた検査シーケンスおよび検査用パターンをそれぞれの検査装置に格納するという煩雑で大掛かりな作業が不要となる。 - 特許庁