「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a contact test set for easily actualizing sure connection between a DUT being a testing object and a load board of a test device, and sure regulation of a small-sized connector used in the test device.例文帳に追加

テスト対象となるＤＵＴとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。 - 特許庁

To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加

信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test result verification server having a test result verification part separated from a specimen testing device for performing test result verification with excellent variety and flexibility.例文帳に追加

検査結果検証部を検体検査装置より切り離した検査結果検証サーバとし、多様性、融通性に優れた検査結果検証を行うことができる検査結果検証サーバを提供すること。 - 特許庁

To provide a memory test method for a semiconductor integrated circuit in which a testing cost is reduced without providing an exclusive circuit for a memory test to perform a self-test of a memory incorporated in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたメモリの自己テストのためにメモリテスト専用回路を設けることなく、低コスト化を図った半導体集積回路のメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁

By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.例文帳に追加

このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁

An integrated testing apparatus includes an AC testing machine 16 and a DC testing machine 17, and a DUT pedestal 22 and an AC test circuit section 24 are disposed with an intermediate electrode plate 20 between them so as to be vertically lifted/lowered.例文帳に追加

統合試験装置は、ＡＣ試験機１６とＤＣ試験機１７が設けられ、中間電極板２０を挟んで、ＤＵＴ載置台２２とＡＣ試験回路部２４が上下方向に昇降可能に配置される。 - 特許庁

To provide a sealing testing device for an air conditioning pipe capable of conducting a precise sealing test and recording pressure change during the sealing test and a sealing testing method of the air conditioning pipe using the sealing testing device for the air conditioning pipe.例文帳に追加

精度のよい気密試験を達成することができ、かつ、気密試験を実施している間の圧力変化を記録することができる空調配管用気密試験装置と、その空調配管用気密試験装置を用いた空調配管の気密試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a closed vessel that a pinhole test (i.e., gas leakage test) is accurately carried out using a small quantity of testing gas and that a filling process of contents and the testing gas and a testing process of pinhole can be carried out continuously at the same place, and to provide a pinhole detecting method using the closed vessel.例文帳に追加

少量の検査用ガスによってピンホール検査（ガス漏れ検査）を正確に行うことができ、また、内容物・検査用ガスの充填工程とピンホールの検査工程とを同じ場所で連続的に行うことのできる密閉容器と、該密閉容器を用いたピンホール検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a penetration testing device securing high reliability of measurement data as the penetration testing device applied to a Swedish sounding test, the penetration testing device being capable of penetrating a penetration test rod into the ground in a mechanically clamped state and automatically conducting loading, load separation, and rotary excavation by mechanical means.例文帳に追加

スウェーデン式サウンディング試験に適用する貫入試験装置として、貫入試験用ロッドを機械的にクランプした状態で地盤中に貫入でき、荷重の負荷及び切り離し、回転掘進を機械的手段で自動的に行って測定データの高い信頼性を確保する。 - 特許庁

To generate a reasonable number of test cases capable of testing the quality of a software program while taking a business specification into account.例文帳に追加

業務仕様を考慮し、かつ、ソフトウェアプログラムの品質を検査できる妥当な量のテストケースを生成する。 - 特許庁

To provide a smoke detector sensitivity test device for much more accurately testing the sensitivity of a smoke detector.例文帳に追加

煙感知器の感度試験をより正確に行うことのできる煙感知器感度試験装置を提供する。 - 特許庁

To achieve an apparatus and a method for testing a hardness meter, capable of carrying out its test or calibration more simply.例文帳に追加

より簡便な校正又は検査が可能な、硬度計の検査装置及び硬度計の検査方法を実現する。 - 特許庁

To realize an IC test device capable of attaining a high testing rate without any increase in the number of signal conductors.例文帳に追加

信号線の数を増大せずにテストレートの高速化を図るＩＣ試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus in which the timing accuracy of a testing device is calibrated during the test of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路の試験中に試験装置タイミング精度を較正する方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a repulsion elasticity-testing device for drastically improving the accuracy in a repulsion elasticity test.例文帳に追加

従来の反発弾性試験の精度を飛躍的に向上可能とした反発弾性試験装置を提供する。 - 特許庁

In order to increase throughput of the testing station, several test cycles are operated simultaneously in a phase-shifted manner.例文帳に追加

試験ステーションのスループットを高めるために、幾つかの試験サイクルを、段階をずらして同時に実行させる。 - 特許庁

METHOD AND MECHANISM FOR CONTROLLING TEST PIECE-SETTING AND PASSAGE CORROSION-TESTING APPARATUS INCORPORATED THEREIN例文帳に追加

試験片装着制御方法と試験片装着制御機構及びその機構が組み込まれた流路耐食試験装置 - 特許庁

To provide a testing device capable of realizing a test of a device having a high operation speed, inexpensively in a small size.例文帳に追加

動作速度が高速な被試験デバイスの試験を小型且つ安価に実現できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surge test circuit that can realize the same testing condition regardless of consumption current of tested-equipment.例文帳に追加

被試験機器の消費電流によらず、同一の試験条件を実現できるサージ試験回路を提供する。 - 特許庁

To easily perform a test for signal transmission of a transmitting/receiving apparatus without using any expensive testing device.例文帳に追加

送受信装置の信号伝送に関する試験を高価な試験装置を使用することなく簡易に実施する。 - 特許庁

A third switch connects an output terminal of the testing control circuit to an input terminal of the inner circuit during the test mode.例文帳に追加

第３スイッチは、テストモード中に、テスト制御回路の出力端子を内部回路の入力端子に接続する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device test unit which is suitable for testing a three-dimensional semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

３次元半導体集積回路装置に好適な半導体集積回路装置のテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide an LSI capable of testing a signal path between two circuit blocks by a scan separation test.例文帳に追加

スキャン分離テストによって、２つの回路ブロック間の信号経路をテストすることができるＬＳＩを提供する。 - 特許庁

To provide a figure testing machine that can perform an environmental resistance test without hindering each detector.例文帳に追加

各検出器へ支障を及ぼすようなことなく、耐環境性試験の実施が可能な疲労試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an optical fiber cable testing method, capable of evaluating mechanical test characteristics of every optical fiber conductor.例文帳に追加

光ファイバ心線毎の機械試験特性の評価が可能な光ファイバケーブルの試験方法を提供すること。 - 特許庁

POWDER SUBSTANCE LEAK REPRODUCING DEVICE, POWDER SUBSTANCE LEAK TESTING DEVICE, AND POWDER SUBSTANCE LEAK TEST METHOD例文帳に追加

粉状物質漏洩再現装置及び粉状物質漏洩試験装置ならびに粉状物質漏洩試験方法 - 特許庁

The circuit interface card 4 as the testing object is based on the test bed 2 and connected to the interface converting adapter 3.例文帳に追加

試験対象の回線インタフェースカード４は、テストベッド２をベースにしインタフェース変換アダプタ３に接続される。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INFORMATION COLLECTION SYSTEM AND RECORDING WITH RECORDING INFORMATION COLLECTION SYSTEM TEST PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

情報収集システム試験装置および方法と情報収集システム試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a testing board for a semiconductor device allowing to highly accurately test in an inspection step.例文帳に追加

検査工程において高精度な試験を行うことが可能となる半導体装置の試験用ボードを提供する。 - 特許庁

To provide a load testing system capable of performing a load test of a skeleton inexpensively with high precision.例文帳に追加

低コストでかつ高精度で躯体の載荷試験を行うことができる載荷試験システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of reducing electric power consumption at testing and easily attaining compression scan test.例文帳に追加

テスト時の消費電力の低減と共に圧縮スキャンテストを容易に実現可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

In this testing method, the surfactant solution A is used as the solution in which the composite test piece 3 is immersed.例文帳に追加

かかる方法によれば、複合試験片３を浸漬させる溶液として、界面活性剤溶液Ａを用いる。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor circuit that can inexpensively and accurately perform test using a logic tester.例文帳に追加

ロジックテスタを用いて安価で正確なテストを行うことができる半導体回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a wafer which can improve test efficiency.例文帳に追加

検査効率を向上させることができることができるウェハの検査装置及びウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

The solid-state laser produces the test signals to be used for testing optical fibers in an optical fiber network.例文帳に追加

上記固体レーザは、光ファイバ・ネットワークの光ファイバを試験するために使用される試験信号を発生する。 - 特許庁

The testing device 30 has a tester 36 for controlling a prober 32 and an illuminator 34 to acquire a test result.例文帳に追加

検査装置３０は、プローバ３２と照明部３４とを制御して検査結果を取得するテスタ３６を有する。 - 特許庁

A first testing circuit 24 compares received data of the receiver 5 with the test data, and this compared result is monitored.例文帳に追加

第１テスト回路２４は、そのレシーバ５の受信データを上記テストデータと比較し、この比較結果がモニタされる。 - 特許庁

To provide a memory test device for testing setup time Tds and hold time Tdh of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリのセットアップ・タイムＴｄｓとホールド・タイムＴｄｈを試験するメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

AUDIO PLAYBACK DEVICE TEST SYSTEM, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AUDIO PLAYBACK EVALUATION SYSTEM, AND TESTING METHOD FOR AUDIO PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

音声再生装置テストシステム、集積回路装置、音声再生評価システム、音声再生装置のテスト方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS METHOD AND METHOD FOR ADJUSTING TIMING AND METHOD FOR ADJUSTING TEST VECTOR ADDRESS例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置とその試験方法、タイミング調整方法、テストベクタアドレス調整方法 - 特許庁

To provide a test method capable of efficiently carrying out a work for testing required before shipping sheet-like lens products.例文帳に追加

シート状レンズ製品の出荷前に必要な検査作業を効率よく行える検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a testing device which tests a viscoelastic body by an optional initial strain.例文帳に追加

任意の初期歪みで粘弾性体の試験を行うことが可能な試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of automating determination of an electromagnetic interference wave level and suspension of an experiment of an electrically-operated immunity test.例文帳に追加

電動イミュニティ試験の電磁妨害波レベルの決定と実験の停止を自動化した試験装置を得る。 - 特許庁

CORRECTION METHOD, LIGHT SOURCE APPARATUS, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, OPTICAL SCANNING APPARATUS, IMAGE FORMING DEVICE, TESTING DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

補正方法、光源装置、プログラム、記録媒体、光走査装置、画像形成装置、試験装置及び試験方法 - 特許庁